「test object」を含む例文一覧(1171)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 23 24 次へ＞- To provide a leakage testing device capable of measuring accurately the pressure inside a test object without increasing test man-hours, and detecting leakage from the test object with extremely high accuracy.
被試験体内の圧力を、試験工数を増加することなく正確に計測し、被試験体の漏れを極めて高い精度で検出することができる漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁 - The location information of failure in the wafer of the object wafers within the object lot for the test is extracted.
テストにおける対象ロット内の対象ウェーハのウェーハ内の不良の位置情報を抽出する。 - 特許庁 - The WWW server 20 for a test decides the acceptance/ rejection of a test for a security hole test object, on the basis test contents from the terminal 1, performs a security hole test, when there is a system where a security hole test can be performed and generates security hole test results.
検査用ＷＷＷサーバ２０は、端末１からの検査内容に基づいて、セキュリティホール検査対象に対する検査の可否を判断し、セキュリティホール検査が実施可能なシステムであれば、セキュリティホール検査を実施し、セキュリティホール検査結果を生成する。 - 特許庁 - With this, the leak test treatment means 71 equipped in the control unit 55 automatically executes a leak test of a flow channel to be an object for test.
こうすると、制御装置５５に備えたリーク検査処理手段７１が、検査対象となる流路のリーク検査を自動的に処理実行する。 - 特許庁 - To provide a test item preparation aiding device capable of preparing test items necessary for a test of an object directional program with less manhour.
オブジェクト指向プログラムのテストに必要なテスト項目を少ない工数で作成することができるテスト項目作成支援装置を提供すること。 - 特許庁 - To efficiently perform high-accuracy fatigue test on a minute test specimen according to the material characteristics of an inspecting object component that is the test specimen.
微小な供試体に対する高精度な疲労試験をその供試体の検査対象部品の材料特性に応じて効率的に行う。 - 特許庁 - To provide a temperature test device of performing test by increasing only the temperature of an atmosphere in the vicinity of a module of a test object of electronic equipment.
本発明は、電子機器の試験対象のモジュール近傍の雰囲気のみを昇温して試験を行う温度試験装置を提供する。 - 特許庁 - The tester simulation device for simulating a test of the test object by a tester based on the test program is improved.
本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - Reference image data of a prescribed test chart and object image data generated by imaging a test chart are acquired.
所定のテストチャートの基準画像データとテストチャート撮像により生成された対象画像データを取得する。 - 特許庁 - The network test device uses at least two PN sequences applied to the network which is the object of the test.
ネットワーク試験装置は、試験対象のネットワークに対して印加する少なくとも２つのＰＮシーケンスを用いる。 - 特許庁 - The present invention has improved a semiconductor testing apparatus testing a test object with a test head.
本発明は、被試験対象をテストヘッドにより試験する半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - Thereafter, thickness or resistance value of the unwanted film remaining at the bottom surface of the contact hole of the test object is estimated by measuring potential contrast of the secondary electron image of the test object, by radiating the electron beam to the contact hole as the test object, and then comparing the potential contrast of the standard sample 1 for test with potential contrast of the test object.
その後、被検査対象のコンタクトホールへ電子線を照射して被検査対象の二次電子画像の電位コントラストを測定し、検査用標準試料１の電位コントラストと被検査対象の電位コントラストとを比較することにより、被検査対象のコンタクトホールの底面に残る不要残存膜の厚さまたは抵抗値を推定する。 - 特許庁 - TEST OBJECT FOR TESTING ADHESIVENESS AND ADHESIVENESS TESTING METHOD USING IT
接着性試験用試験体およびそれを用いた接着性試験方法 - 特許庁 - Typically, this is the name of the object or file that the test was extracted from.
通常、この値はテストを取り出したオブジェクトかファイルの名前になります。 - Python - A characteristic line extraction unit 105 extracts a characteristic line of a test object from data of a test object image taken by an imaging device being in a predetermined attitude.
特徴線抽出部１０５は、撮像装置が所定の姿勢で検査対象を撮像した画像データから検査対象の特徴線を抽出する。 - 特許庁 - The action to the hair of the test object is judged by using a cell cycle of a hair related cell with or without existence of the test object as an index.
被験物の存在下及び非存在下に於ける、毛髪関連細胞の細胞周期を指標とし、被験物の毛髪への作用を鑑別する。 - 特許庁 - A pattern object preparing means 13 prepares a pattern object 9 on the basis of the dummy pattern added test pattern 8, test item information 4, and timing information 5.
パターンオブジェクト作成手段１３は、ダミーパタン追加テストパターン８，テスト項目情報４，およびタイミング情報５に基づいてパターンオブジェクト９を作成する。 - 特許庁 - A solid heavy object or a liquid heavy object such as muddy water or seawater is put into the testing tank 21 as the test load, and the load test is executed.
その後、試験用タンク２１内に個体の重量物あるいは泥水や海水などの液体の重量物を入れて試験荷重として荷重試験を行う。 - 特許庁 - To continuously concentrate analysis object substances in test a water to high level without causing a form change of the analysis object substances or pollution of the test water.
分析対象物質の形態変化や検水の汚染を引き起こすことなく、検水中の分析対象物質を連続的に高度に濃縮する。 - 特許庁 - To provide an internal inspection device capable of observing a test object while suppressing a halation even when the internal shape of the test object changes.
被検体の内部の形状が変化しても、ハレーションが生じることを抑えて被検体を観察することが可能な内部検査装置を提供する。 - 特許庁 - A wrong processing result detection means 20 obtains sequence data of the malware, and a test object processing result detection means 21 obtains sequence data being the test object.
不正処理結果検知手段２０が、マルウェアの系列データを得るとともに、検査対象処理結果検知手段２１が、検査対象の系列データを得る。 - 特許庁 - A mock object is used to test the behavior of another object since it mimics the behavior of the real object in a controlled manner.
モックオブジェクトは、実際のオブジェクトの動作を制御された方法で再現するので、別のオブジェクトの動作をテストするために使用されます。 - NetBeans - The test factor classification table generating part 12 analyzes design information of a class of software designed by object orientation and generates a test factor that affects the operation of a method of a test object and a model of a test factor classification table that enumerates conditions of the test factor.
テスト因子分類表生成部１２は、オブジェクト指向により設計されたソフトウェアのクラスの設計情報を解析して、テスト対象のメソッドの動作に影響するテスト因子とその条件を列挙したテスト因子分類表の雛型を生成する。 - 特許庁 - The signal processing block duplicates a test signal applied from the outside, applies each of a plurality of duplicated test signals to a test object device respectively, and provides a plurality of determination signals based on test result signals received from the test object device respectively.
信号処理ブロックは外部から印加されるテスト信号を複製して複製された複数のテスト信号それぞれをテスト対象デバイスにそれぞれ印加し、テスト対象デバイスからそれぞれ受信されたテスト結果信号に基づいた複数の判定信号を提供する。 - 特許庁 - Thereby, a detection output of the test object inside masked by the detection output of the test object surface layer part can be extracted and flaw inspection and thickness inspection of the inside and rear face of the test object can be performed.
これにより、被検体表層部の検出出力によってマスキングされていた被検体内部の検出出力を取り出すことができ、被検体の内部や裏面の探傷および肉厚検査などができるようになった。 - 特許庁 - To provide a horn antenna used for transmitting radio wave for test in an EMC test, the horn antenna being capable of appropriately, easily and inexpensively irradiating an object for test with the radio wave for test.
ＥＭＣ試験で，試験用電波を送信するのに用いられるホーンアンテナを，簡単且つ安価に試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。 - 特許庁 - To structure a piled raft test object, a spread foundation test board having a predetermined size and being in contact with the peripheral ground is formed on a pile head part of the test pile protruding from the ground, in a manner that the test board is structurally integrated with the test pile.
地盤から突き出した試験杭の杭頭部に、周辺地盤と接する一定大きさの直接基礎試験盤を前記試験杭と構造的に一体化して形成し、パイルド・ラフト試験体を構成する。 - 特許庁 - An execution means 12 reads a test scenario stored in a scenario DB 11, and makes test object integrated equipment 20 execute an operation based on the test scenario.
実行手段１２は、シナリオＤＢ１１に記憶されるテストシナリオを読み出し、テストシナリオに基づく動作を試験対象の組み込み機器２０に実行させる。 - 特許庁 - A test controller 300 collects test data outputted from a test object, i.e. a power converter 20, during the operation of a control power supply 400.
テスト制御装置３００は、制御電源４００の動作中に、試験対象である電力変換器２０から出力された試験データを収集する。 - 特許庁 - An electronic test system having an object oriented hierarchical structure including classes that allow a test developer to design a desired electronic test system is provided.
試験開発者が所望の電子テストシステムを設計できるクラスを含むオブジェクト指向型階層構造を有する電子テストシステムが提供される。 - 特許庁 - To provide a test system capable of performing a dynamic characteristic test of a test object for inputting a TMDS signal by an IC tester.
ＩＣテスタにより、ＴＭＤＳ信号を入力する被試験対象のダイナミック特性試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁 - To quickly and also accurately extract the test place of a program module being an object and to present it to a person in charge of a test when a software test is performed.
ソフトウェア試験を実施する際、対象となるプログラムモジュールの試験箇所を迅速かつ的確に抽出して試験担当者に提示する。 - 特許庁 - An improved semiconductor test device performing test of an object to be tested by a test part to which electricity is supplied from a power source part is provided.
本発明は、電源部より給電される試験部により、被試験対象の試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - To provide a method, device and program for creating the test scenario, capable of effectively obtaining the test scenario meeting to the test object of high level importance.
テスト目的に即した重要度の高いテストシナリオを効率的に得ることができるテストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a reliable test result for the whole system as an object.
システム全体を対象として信頼性の高いテスト結果を提供すること。 - 特許庁 - To effectively insert a test point into a logic circuit of a tested object.
テスト対象の論理回路に対してテストポイントを効果的に挿入すること - 特許庁 - The edge of the existing pile of a test object and a foundation building frame of the existing building is cut.
試験対象の既存杭と既存建物の基礎躯体との縁を切る。 - 特許庁 - To change easily a constitution according to a motorcycle which is a test object.
試験対象の自動二輪車に応じて容易に構成を変更可能とする。 - 特許庁 - The antibody is useful for treatment or prevention of cancer in a test object.
該抗体は、被験体中の癌を処置または予防するために有用である。 - 特許庁 - To provide ATM communication equipment that can conduct a test for object ports by generating a test cell and traffic.
ＡＴＭ通信装置において、テストセルおよびトラフィックを生成して試験対象ポートに対する試験を可能とする。 - 特許庁 - The system is provided with plural kinds of test modules for improving a test system that tests an object to be tested.
本発明は、複数種類の試験モジュールにより、被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁 - A test pattern storage part 32 stores the test pattern to be supplied to a semiconductor integrated circuit as an object to be tested.
試験パターン記憶部３２は、被試験対象としての半導体集積回路に供給する試験パターンを記憶する。 - 特許庁 - A design rule extracting part 1 in a test device 10 extracts a certain design rule from a test object rule file RF.
テスト装置１０におけるデザインルール抽出部１は、テスト対象ルールファイルＲＦからあるデザインルールを抽出する。 - 特許庁 - To provide an infrared inspection device which can appropriately detect micro anomaly at the end of a test object, when infrared rays are given to the test object and the transmitting light is observed so as to detect abnormal portion of the test object.
赤外線を照射して、その透過光を観測することによって被検体の異常部分を検出する場合において、特に被検体の端部において適切に微少な異常部分を検出できる赤外検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an impact testing device capable of applying a reproducible impact force to a test object, and acquiring an accurate test result, concerning the impact testing device for performing an impact test of the test object or the like in the state where an electronic component is loaded on a substrate.
電子部品を基板に搭載した状態の被試験物等の衝撃試験を行う衝撃試験装置に関し、被試験物に再現性のある衝撃力を加えることができ、正確な試験結果が得られる衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁 - The prober system is provided with probe sections each positioning a test object by driving chucks each supporting the test object in a fore-and-aft direction and a rotating direction, and executing a test by allowing the test object to contact with a probe needle; alignment sections each aligning the test object; and a chuck moving mechanism for moving the chucks between the probe sections and the alignment sections.
プローバシステムは、被検査体を支持したチャックを前後左右および回転方向に駆動させて前記被検査体の位置合わせを行い、当該被検査体をプローブ針に接触させて試験を行うプローブ部と、前記被検査体のアライメントを行うアライメント部と、前記チャックを前記プローブ部と前記アライメント部との間で移動させるチャック移動機構とを具備している。 - 特許庁 - To provide useful information to analyze a test result by expressing the test result by paying attention to the test contents of an object program for test of a GUI program and logical structure regarding screen structure elements as its test result.
ＧＵＩプログラムのテスト対象プログラムのテスト内容とそのテスト結果としての画面構成要素に関わる論理的構造に着目してテスト結果を表し、テスト結果の解析を行うために有用な情報を提供する。 - 特許庁 - When monitoring information 401 received from a communication device 201 indicates "initializing the test associated apparatus", the maintenance terminal applies test release and test acquisition to an object test part 302 on the basis of the monitoring information 401 and the stored test execution state.
そこで、通信装置201から受信した監視情報401が「試験関連装置が初期化」を示すと、この監視情報401と保持されている試験実行状態とに基づいて、対象試験箇所302の試験解放および試験捕捉を行なう。 - 特許庁 - This device is obtained by improving an IC tester for testing a test object.
本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁 - To provide a large-size tested object test device capable of measuring a maximum surface temperature of a large-size tested object, in an environment temperature test of an optical module.
光モジュールの環境温度試験において、大型の被試験物の最高表面温度を測定できることができる大型の被試験物試験装置を提供する。 - 特許庁
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