「test object」を含む例文一覧(1171)

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  • The control unit 30 determines the quality of the glass plate of a test object, by comparing a previously stored reference image of a normal glass plate with the image of the glass plate of the test object, which is photographed by the photographic unit.
    制御部３０は、予め記憶された正常なガラスプレートの画像である参照画像と、撮像部が撮像した検査対象のガラスプレートの画像とを比較することによって、検査対象のガラスプレートの良否を判定する。 - 特許庁
  • To provide a surface property evaluation method capable of surely measuring a surface property of a test object, and improving yield and manufacturing efficiency even when reflected light cannot be obtained from a surface of the test object.
    被検体の表面から反射光が得られないような場合であっても、被検体の表面性状を確実に測定でき、歩留まり及び製造効率の向上を図ることができる表面性状評価方法を提供する。 - 特許庁
  • The present invention implements improvements on the tester simulation apparatus performing the simulation by a DUT model simulating the operation of an object under test and a tester model simulating the operation of a tester in testing the object under test by the tester.
    本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の動作をシミュレーションするＤＵＴモデルと、テスタの動作をシミュレーションするテスタモデルとによりシミュレーションを行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
  • If the projection area projects from the projection object after vertexes of the projection object meet the edge of the projection object, a portion of the outline of the test pattern image in a picked-up image matches a portion of the edge of the projection object.
    投写対象物の頂点が投写対象物の縁に一致した後、投写領域が投写対象物からはみ出した場合には、撮像画像に写っているテストパターン画像の輪郭の一部は投写対象物の縁の一部に一致する。 - 特許庁
  • The IC tester is acquired by improving the IC tester wherein a tester controller in which a test program is operated is communicated with a card on which a hardware function for executing a test by accessing a test object device is mounted, and a test command is transmitted from the tester controller to a firmware for controlling the hardware function in the card.
    テストプログラムが稼動するテスタコントローラと、テスト対象デバイスにアクセスしてテストを実行するハードウェア機能が実装されたカードとが通信し、カード内のハードウェア機能を制御するファームウェアに対してテスタコントローラよりテスト指令が送信されるＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To enable sure application of test signals from desired signal levels, even when applying test signals with low amplitude to an object to be tested, by especially applying a test device of integrated circuits formed on a semiconductor wafer, with respect to the test device.
    本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハ上に形成された集積回路の試験装置に適用して、小さな振幅により試験信号を試験対象に印加する場合でも、確実に所望する信号レベルにより試験信号を印加することができるようにする。 - 特許庁
  • To provide a test script processing program, which converts a test script according to a corrected content without abolishing an existing test script even in a case in which a program correction such as function extension or failure correction is caused in an operation object application in correction of the existing test script.
    既存テストスクリプトの修正において、操作対象アプリケーションに機能拡張や不良修正などのプログラム修正が生じた場合でも、既存のテストスクリプトを破棄することなく、修正された内容に従ってテストスクリプトを変換するテストスクリプト処理プログラムを提供すること。 - 特許庁
  • To more enhance the reproducibility of a test by effectively eliminating an unstable element like friction resistance when dropping a holding part for holding a test object while corresponding even to a test large in dropping height without bringing about the scaling-up of a tester, in a drop tester for performing a drop impact test by dropping the test object on a landing surface in a free fall state.
    試験対象物を自由落下状態で落下させて着地面に衝突させることで落下衝撃試験を行う落下試験装置について、試験対象物を保持した保持部の落下時における摩擦抵抗のような不安定要素を有効に解消して試験の再現性をより高めることを可能とし、また装置の大型化を招かずに落下高さの高い試験にも対応することを可能とする。 - 特許庁
  • There are provided the improved IC tester for connecting the performance board connected electrically to a tested object electrically with a testing head to test the tested object.
    本発明は、被試験対象と電気的に接続するパフォーマンスボードとテストヘッドを電気的に接続し、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • This invention is achieved by improving an IC tester which provides an object to be tested with a test pattern and compares output of the object to be tested with an expected value to perform tests.
    本発明は、被試験対象に試験パターンを与え、被試験対象の出力と期待値とを比較し、試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To eliminate the need for preliminary excitation before each vibration test, even if the weight of an object to be tested changes among the respective tests in vibration tests of the object to be tested in a 1 freedom degree system.
    １自由度系の被試験体の振動試験において、試験相互間に被試験体の重量が変化しても各振動試験前の予備加振を不要にする。 - 特許庁
  • An evaluation test device 10 includes a cooling water supply device 14 for supplying cooling water to the testing object 12, and a heater 16 for heating the testing object 12.
    評価試験装置１０は、試験体１２に冷却水を供給する冷却水供給装置１４と、試験体１２を加熱する加熱装置１６とを備える。 - 特許庁
  • To provide a measuring object tire for reproducing faults in actual market, a pretreatment method for the object tire, and a tire durability test method.
    実際の市場におけるタイヤの故障を再現することができる測定対象タイヤ、測定対象タイヤの前処理方法およびタイヤ耐久試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • A transmission/reception message 13 described for configuring a test as a message to be transmitted and a message to be received is inserted to a test signal to be transmitted/received between a testing device 1 and a test object 7.
    試験装置１と試験対象７との間で送受信される試験信号のなかに、試験を構成するために記述された、送信されるメッセージと受信されるべきメッセージである送受メッセージ１３が挿入されている。 - 特許庁
  • To provide a photometric device capable of executing accurate photometry by easily adjusting the position of a test object so that the condensing position of an illumination light flux condensed on a test surface is set to a face top position of the test surface.
    測光装置において、被検面上で集光される照明光束の集光位置が被検面の面頂位置になるように被検体の位置を容易に調整して精度よく測光を行うことができるようにする。 - 特許庁
  • To heat a circuit element up to a test temperature with a simple structure without requiring a large scale thermostat, in a circuit device, which is a test object, for measuring electrically a life time of the circuit element at the prescribed test temperature.
    回路要素の寿命時間が所定の試験温度で電気的に測定される試験対象の回路装置において、大規模な恒温槽を必要とすることなく簡単な構造で回路要素を試験温度にできるようにする。 - 特許庁
  • To provide a scatter-preventing device, capable of stably preventing a test member from scattering to the surroundings when the test member is fractured, suppressing damage in a fractured object itself, and obtaining stable test results.
    試験部材が破断した際の周囲への飛散を安定して防止することができるとともに、破断物体自体の損傷を抑え安定した試験結果を得ることができる飛散防止装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The contents of a test script under execution at present and the logical structure of the screen (ex. parentage of the screen) as the test result of the test-object program 104 are stored into a screen structure file 108 by a script interpreting means 103.
    スクリプト解釈手段１０３により現在実行中のテストスクリプトの内容、さらにテスト対象プログラム１０４のテスト結果として画面の論理構造（例．画面の親子関係）を画面構造ファイル１０８に記憶させる。 - 特許庁
  • The lighting device can be set to a test mode by one operation of a switch 25b at the time a test is performed such as on a range of an object sensor 26a and a lighting retention time at the time of adjustment at installation or after installation, thereby, the test can be performed easily.
    設置時や設置後の調整時に物体センサ２６ａの範囲や点灯保持時間等のテストを行う際に、スイッチ２５ｂ一つの操作でテストモードにすることができるので、容易にテストを行うことができる。 - 特許庁
  • To provide a frame transmission apparatus including a line test function capable of remotely controlling an opposite transmission apparatus within a test object frame transmission interval by means of a simple means and of preventing a test frame from being externally leaked.
    回線試験機能を有するフレーム伝送装置に関し、試験対象のフレーム伝達区間の対向伝送装置に対して簡易な手段で遠隔から制御を行うことができ、かつ試験フレームが外部へ流出するのを防止する。 - 特許庁
  • To allow a test object to be properly irradiated with testing purpose radio wave without incurring an increase in cost of an amplifier used for transmitting the testing purpose radio wave in the case of carrying out an EMC test (particularly, an immunity test).
    ＥＭＣ試験（特にイミュニティ試験）を行うに当たって、試験用電波を送信するのに用いられる増幅器のコストアップを招くことなく、試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。 - 特許庁
  • The subject 18 is scanned in the given arrangement as substitute for the test object to determine the projection data.
    それから、対象（１８）が、試験対象の代わりに、与えられた配置において走査されて、投影データが求められる。 - 特許庁
  • An imaging device 2 images the test object through a second polarizing element 5 which turns elliptically polarized light into linearly polarized light.
    撮像装置２は、楕円偏光を直線偏光にする第２の偏光要素５を通して検査対象を撮像する。 - 特許庁
  • To efficiently perform a comparative test with high-precision concerning an object article which is not observed as a whole only by one plane.
    １平面では全体の観察が行えない対象物品について、高精度で高能率な比較検定を行う。 - 特許庁
  • To provide ultrasonic test equipment capable of improving accuracy with which an internal defect of an inspection object is detected.
    被検査体の内部欠陥を検出する精度を向上させることができる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a force sensor testing device capable of performing a load test in 6-axis directions on a force sensor which is an object to be tested.
    被試験体である力センサに対して６軸方向に加重試験できる力センサ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To easily collect test data or survey data determined as an object of collection from each medical institute.
    収集対象として決定した試験データや調査データを、各医療機関から容易に収集できるようにする。 - 特許庁
  • To exactly measure dimensions of a defect of a test object with level difference to the optical axis direction of an imaging apparatus.
    撮像装置の光軸方向に対して高低差がある検査対象の欠陥の寸法を正確に測定する。 - 特許庁
  • To effectively test an ECU before and after connected to an object to be controlled while suppressing an equipment cost.
    設備コストを抑えながら、制御対象に対する接続の前段階と後段階でＥＣＵを効率的に検査する。 - 特許庁
  • A moving object in the test data is detected by classifying the high-level features by the trained classifier.
    テスト用の高次特徴は、訓練された分類器を用いて分類されて、テストデータ中の移動物体が検出される。 - 特許庁
  • Further the above output device 208 can output amount of capacitance 210, 212 associated with the above test object.
    また、前記出力装置２０８は、前記被験物に関連付けられたキャパシタンスの量２１０，２１２を出力可能である。 - 特許庁
  • To provide a support equipment for a wind tunnel test model capable of measuring more accurately an aerodynamic coefficient of a measured object.
    被測定物の空力係数をより正確に測定することができる風洞試験用模型支持装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a leak testing apparatus capable of reliably sensing a temperature change, even when an inner space of a test object is narrow.
    検査対象の内部空間が狭隘であっても温度変化を確実に感知できるリークテスト装置を提供する。 - 特許庁
  • The microscope measuring apparatus carries out a spectroscopic measuring of reflected light from a minute spot imaged on the test object B.
    被検体Ｂ上に結像した微小スポットからの反射光の分光測定を行う顕微鏡測定装置である。 - 特許庁
  • In this invention, the IC tester for testing a test object having a plurality of output pins is improved.
    本発明は、複数の出力ピンを有する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device.
    エンコードデータをデコードする被試験対象を、ＩＣ試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁
  • To provide an IC testing device capable of preventing a test cost from increasing in accompaniment to enhancement of performance in a testing object.
    試験対象の性能向上にともなう試験コストの増大を防ぐことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • An AD converter 2 AD-converts a signal generated by adding an object signal S to be AD-converted and a test signal St together.
    ＡＤ変換器２が、ＡＤ変換対象信号Ｓとテスト信号Ｓｔとを加算した信号をＡＤ変換する。 - 特許庁
  • A surface inspection device is constituted to visually inspect the surface of the test object 1 by irradiating the surface with light.
    被検物体（１）の表面に照明光を照射して該表面を目視で検査する表面検査装置である。 - 特許庁
  • This is an improvement over a tester simulation apparatus used for simulating a test for a tested object by using a tester.
    本発明は、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
  • To make it possible to automatically inspect also a test object system including a dynamic driving device.
    動的駆動装置を含むテスト対象システムでも自動的に検査を行うことができる自動検査装置を提供する。 - 特許庁
  • The client simulator source code for server program load test is compiled and a resulting client simulator object is executed.
    サーバプログラムの負荷試験用クライアントシミュレータソースコードをコンパイルし、コンパイル結果であるクライアントシミュレータオブジェクトを実行する。 - 特許庁
  • A logic simulator part 4 performs logic simulation of an object LSI through the use of circuit data, test vectors, and special cell data.
    論理シミュレータ部４は、回路データ、テストベクタおよび特殊セルデータを用いて、対象ＬＳＩの論理シミュレーションを行う。 - 特許庁
  • This can make it simpler to test if an object is a proxy without being dependent on naming both proxy types.
    これは両方のプロキシ型の名前付けに依存しないで、オブジェクトがプロキシかどうかのテストをより簡単にできます。 - Python
  • When s is a string or Unicode string object the in and not in operations act like a substring test.
    s が文字列または Unicode 文字列の場合、 演算操作 in および not in は部分文字列の一致テストと同じように動作します。 - Python
  • When the test object element is normally conductive, the result of sum is zero and an output of a comparator 21 is OK.
    試験対象素子が正常に導通していれば、加算結果は０になり、比較器２１の出力はＯＫとなる。 - 特許庁
  • The method for tentatively fixing a thermosensitive body to an object includes: sticking a wrap film for foods to the surface of the object to be subjected to a temperature test etc.; applying thermosensitive ink to desired parts of the wrap film and drying the thermosensitive ink to form thermosensitive bodies; and after performing the temperature test, peeling the wrap film from the object surface to remove the thermosensitive body sticking thereon from the object.
    温度試験等をすべき対象物の表面に、食品用ラップフィルムを付着させ、該ラップフィルム上の所望箇所に示温インクを塗布乾燥させて示温体を形成せしめ、温度実験等を行った後、該ラップフィルムを対象物表面から剥がすことにより、その上に付着している示温体を対象物から撤去する様にした。 - 特許庁
  • A switch SW is connected to the A side, and the viewing object distance L1 is detected (12) using a test signal from a test signal generation unit 16 and stored in an operation unit 13.
    スイッチＳＷをＡ側に接続し、テスト信号生成部１６からのテスト信号を用いて視聴対象物距離Ｌ１を検出し（１２）、これを演算部１３で記憶する。 - 特許庁
  • When a test of the Disturb state is performed, the Disturb state can be surely verified by further adding delay of Δα to the test circuit being an object of verification.
    Ｄｉｓｔｕｒｂ状態のテストの際、検証の対象となるポートのテスト回路には更にΔαの遅延を加えることで、確実にＤｉｓｔｕｒｂ状態の検証が可能となる。 - 特許庁
  • To provide an environmental test method capable of reproducing an approximately same phenomenon as frost formation generated in a natural world, and to provide an environmental testing device capable of forming frost on a test object.
    自然界で生じる着霜と略同一の現象を再現できる環境試験方法、及び被試験物に着霜させることができる環境試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁
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