「testing」を含む例文一覧(14405)

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  • The test voltage 32 for testing the reliability of defect recognition at a predetermined level, duration, and frequency is applied to a fixed spark gap, and the pulse driving test voltages are generated by the high voltage generator 30 of the discharge tester.
    所定のレベルと持続時間と周波数での欠陥認識の信頼性を試験する試験電圧３２を固定スパークギャップに印加し、これらのパルス駆動試験電圧を放電試験器の高電圧発生器３０により生成する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit capable of suppressing increases in the area of a redundancy saving circuit and the area of a scan testing circuit when the redundancy saving using a BIST is realized, and its inspection method.
    ＢＩＳＴを用いたメモリの冗長救済を実現にあたり、冗長救済回路面積およびスキャンテスト用回路の面積の増加を抑えることができる半導体集積回路および検査方法を提供することである。 - 特許庁
  • The testing station (12) includes rotatable chuck and spindle assemblies mounted to the frame which include upper and lower rims that engage the beads of the tire (20) and are rotated to rotate the tire (20).
    この試験ステーション（１２）は、フレームに取付けられた回転可能なチャックアセンブリ及び主軸アセンブリを備え、これらはタイヤ（２０）の踏面に係合してタイヤ（２０）を回転させるように回転される上側リム及び下側リムを備える。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor-testing apparatus for generating a pulse (application waveform or the like) at a different period without using a number of timing memories for storing a timing set to a DUT having a plurality of ports of a different period (frequency).
    周期（周波数）の異なる複数ポートを持つＤＵＴに対して、タイミングセットを格納するタイミングメモリを多数使用することなく、異なる周期のパルス（印加波形等）が発生可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To shorten the transmission time of parameters to respective semiconductor devices to be tested in a semiconductor device testing apparatus setting parameters of different values to individual semiconductor devices to be tested to test a plurality of the semiconductor devices to be tested at the same time.
    被試験半導体デバイスの各個に異なる値のパラメータを設定して同時に複数の被試験半導体デバイスを試験する半導体デバイス試験装置において、各被試験半導体デバイスにパラメータを転送する時間を短縮する。 - 特許庁
  • To provide a conveyer of microplates capable of realizing the improvement in both high throughput and flexibility in system constitution, in a test processing system for performing a series of work processings for biochemical testing.
    生化学試験のための一連の作業処理を行う試験処理システムにおいて、ハイスループットとシステム構成におけるフレキシビリティの向上をともに実現することができるマイクロプレートの搬送装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide low cost semiconductor test equipment and a testing method by using such a semiconductor test equipment which has a storage capacity smaller than related equipment and can test a memory device under test which has a large storage capacity.
    従来よりも小さい記憶容量を有しながら、記憶容量の大きな被試験メモリデバイスを試験することができる低コストの半導体試験装置およびそのような半導体試験装置を用いた試験方法を提供する。 - 特許庁
  • In the bending testing device 1, the uniform bending stress can be generated in the whole circuit board 9 by this constitution, while determining selectively the bending direction of the circuit board 9, when performing the bending fatigue test of the circuit board 9.
    これらの構成により、曲げ試験装置１では、回路基板９の曲げ疲労試験を行う際に、回路基板９の曲げ方向を選択的に決定しつつ回路基板９全体に均一な曲げ応力を生じさせることができる。 - 特許庁
  • To easily replace contacts for contact with IC terminals and eliminate the need for preparing IC sockets for every IC package in an IC testing apparatus for the electrical connection between ICs to be tested and IC terminals.
    被試験ＩＣのＩＣ端子と電気的接続をとるためのＩＣ試験装置において、ＩＣ端子に接触させるための接触子を容易に取り替えることができ、ＩＣパッケージごとにＩＣソケットを作成しなくてもよいようにする。 - 特許庁
  • This device is equipped with the test chamber 12 for testing leakage, burning and explosion of hydrogen; an air supply device 14 for supplying combustion air into the test chamber; and a flue gas treating device 16 for treating exhaust gas generated in the test chamber.
    水素の漏洩、燃焼、及び爆発を試験する試験室１２と、試験室に燃焼用空気を供給する給気装置１４と、試験室内で発生した排ガスを処理する排煙処理装置１６とを備える。 - 特許庁
  • The durability testing method for inspecting durability of the tire includes a process for accelerating deterioration of the pneumatic tire and a process for performing drum durability traveling test by applying load on the pneumatic tire of which the deterioration is accelerated.
    空気入りタイヤの耐久性を調べるための耐久性試験方法であって、空気入りタイヤの劣化を促進させる工程と、劣化を促進させた空気入りタイヤに負荷をかけてドラム耐久走行テストを行う工程とを含む。 - 特許庁
  • In the case of testing the connection between the IP cores 32 and 33, test signals are supplied for the IP core 32 via the selector 40, and signals of a normal signal input terminal of the IP core 33 are transferred to the signal checker 45.
    ＩＰコア３２、３３間の接続試験を行う場合には、試験信号をセレクタ４０を介してＩＰコア３２に供給し、ＩＰコア３３の通常信号入力端子の信号を信号チェック器４５に転送する。 - 特許庁
  • To provide a parts testing device and a parts holder preventing the dew condensation of tested parts, shortening an normal temperature return time, enhancing the control accuracy of the temperature of parts to be tested and achieving the enhancement of throughput.
    供試験済部品の結露防止、常温復帰時間の短縮または試験前部品の温度制御の精度向上を図り、しかもスループットの向上を図ることができる部品試験装置および部品保持装置を提供するすること。 - 特許庁
  • To provide an efficient projector capable of rewriting the VT correction of red, green and blue light valves so that a projection image gets closer to an ideal spectrum, compensating the secular change of lamps and the light valves and also simultaneously testing all colors.
    投影影像が理想的なスペクトルに近くなるよう赤、緑、青のライトバルブのＶＴ補正を書き換え、ランプやライトバルブの経年変化を補償すると共に、全色を同時に試験できる効率的なプロジェクタを提供する。 - 特許庁
  • To provide a vibration-testing system for allowing continuous vibration from low frequency to high one by using a cylindrical coil being incorporated between vibration and grounding-part bodies as an electromagnetic damper.
    本発明の課題は、加振部本体２３と接地部本体２４の間に組み込んだ円筒状コイルを電磁ダンパーとして使用することにより、低周波から高周波までの連続加振を可能にした振動試験装置を提供することである。 - 特許庁
  • To provide a method of identifying a transparent object having specific optical properties, particularly a transparent object such as a measuring cuvette used in a light intensity detection system or testing the authenticity of the transparent object.
    本発明の目的は、特定の光学的性質を有する透明物体、特に光度検出システムにおいて使用される測定キュベット等の透明物体を同定する、又は透明物体の真偽を試験する方法を提供することである。 - 特許庁
  • To provide a testing device of an electronic part substrate, capable of aiming miniaturization of the device, and capable of increasing the number of trays storable in the device, a test method and trays for the electronic part substrate used therefor.
    装置の小型化を図ることができると共に、装置内に収容できるトレイ枚数を増大させることができる電子部品基板の試験装置、試験方法およびそれに用いられる電子部品基板用トレイを提供すること。 - 特許庁
  • This test bench includes a sendout chamber 1 equipped with a plurality of sound sending systems 6, and an adjacent receiving chamber 2 separated from the sendout chamber by a separating wall 3 having a test aperture for locating the object of testing 4.
    複数の音響送出装置６を備える送出チャンバ１と、試験対象物４を配置するための試験開口を有する分割壁３によって送出チャンバから分離されている隣接した受け取りチャンバ２とを含む。 - 特許庁
  • The drive subsystem includes a reciprocating motor driven block engaging the carrier and moving the carrier back and forth in a predetermined longitudinal path extending along a longitudinal axis from an entrance station to a plurality of processing stations in the same testing machine.
    駆動サブシステムは、担体と係合し、入口ステーションから試料試験機内の複数の処理ステーションまで長手軸に沿って延びる所定の長手方向経路内で担体を前後に移動させる往復運動モータ駆動ブロックを備えている。 - 特許庁
  • To provide a digital data arithmetic unit that enables minimum testing terminals and a test on a peripheral circuit as an external interface with the same normal signal transmission path and timing by a simple structure.
    テスト用に設ける端子を最小限にするとともに、簡単な構成で外部とのインターフェイスを司る周辺回路のテストを通常時と同じ信号伝達経路及びタイミングで行うことができるデジタルデータ演算装置を提供する。 - 特許庁
  • The initial standard coating pattern is corrected from the ratio of the simulation result to the result of a coating experiment by carrying out the coating film thickness simulation using the initial basic coating pattern and conducting the coating experiment using a testing piece.
    初期基準塗装パターンを用いた塗装膜厚シミュレーションを行うと共に、テストピースを用いた塗装実験を行い、シミュレーションの結果と塗装実験の結果との比率に基づき、初期基準塗装パターンを修正する。 - 特許庁
  • The on-chip circuit and the testing method can evaluate deterioration of a cell transfer device by a MOSFET deterioration mechanism that becomes active at the time of electric charge transfer or storage in an operating state or burn-in state.
    このオン・チップ回路およびテスト方法は、電荷転送の際および動作状態またはバーン・イン状態のもとでの記憶の際にアクティブになるＭＯＳＦＥＴ劣化メカニズムによるセル転送デバイスの劣化を評価することを可能にする。 - 特許庁
  • The testing apparatus (100) further comprises an overload protector (160) connected between the power coupler (120) and the receiver (140) to reduce or maintain the signal intensity of the receiving signal of the receiver in accordance with a control signal (180).
    試験装置(100)は、前記電力結合器(120)と前記レシーバ(140)の間に接続され、前記レシーバにおける受信信号の信号強度を制御信号(180)に基づいて低下させ、又は維持するための過負荷保護装置(160)を更に含む。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function.
    テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁
  • Thus, with the semiconductor memory device and the method for testing whether the ODT resistor is on/off during the data read mode, whether the ODT circuit is on/off during reading of data is tested.
    したがって、本発明によるデータ読出モードでＯＤＴ抵抗部のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法は、データが読出される間にＯＤＴ回路のオン／オフ如何をテストできる。 - 特許庁
  • To provide stable quality by predicting the number of read errors of a sync byte (SB) caused by very small defects even without testing based on a data block length for each user regarding a method for inspecting a storage disk device.
    ディスク型記憶装置の検査方法に関し，各ユーザに応じたデータブロック長で試験を行わなくても，微小欠陥によるシンクバイト（ＳＢ）のリードエラー発生個数を予測し，安定した品質の提供を可能にすることを目的とする。 - 特許庁
  • Reference installation of the assay cartridge in this instrument is made possible so as to feed the sample and reagent to the testing surface by a specified and flexible means, thereby supplying the sample type to be analyzed with specific assay protocol.
    本機器は、指定の、かつ、弾力的なやり方で、サンプルと試薬を、試験表面に搬送するよう、アッセイカートリッジを照合設置することが可能であり、それによって、分析されるサンプルの型に特異的なアッセイプロトコールを供給する。 - 特許庁
  • To provide a method for deciding necessity for exchanging a dialysis device by testing clearance of the dialysis device in a simple and reliable at- home blood dialysis system requiring minimum labor of a patient by automating all processes.
    全過程を自動化し最小の患者労力で簡単で信頼性のある在宅用血液透析システムにおいて透析器のクリアランス試験を行い前記透析器の交換の必要性を決定する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device testing apparatus capable of conducting highly reliable electrical characteristic tests, having a contact holder for precisely bringing the connecting leads of a semiconductor device into contact with contactors during the electrical characteristic tests.
    電気的特性試験の際、半導体デバイスの接続用リードを接触子に的確に接触させるコンタクト押さえを備え、信頼性の高い電気的特性試験を行うことができる半導体デバイスの試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus that reduces the number of unusable tester pins even when a pin multiplex function is used, and also reduces the number of processes for creating data necessary for generation of a test signal.
    ピンマルチプレクス機能を用いる場合であっても使用不可となるテスタピンの数を減らすことができ、且つ試験信号の生成に必要なデータ作成の作業工数を低減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A humidifying device 10 included in the environmental testing device 1 includes a humidifier 11 storing water, a water supply pipe 18, a water discharge pipe 19 and humidification piping 20 connected to the water supply pipe 18 and having a pipe heater 21.
    環境試験装置１に含まれる加湿装置１０は、水を貯留する加湿器１１、給水管１８、排水管１９、及び、給水管１８に接続されると共にパイプヒータ２１が設けられた加湿配管２０を有する。 - 特許庁
  • To provide a test device for testing the characteristics of each semiconductor chip by bringing a probe into contact therewith from both surfaces of a semiconductor wafer, in which each semiconductor chip can be tested by heating the semiconductor wafer to a desired temperature.
    半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各半導体チップの特性を試験する試験装置において、所望の温度に半導体ウエハを加熱して各半導体チップを試験することができる試験装置を提案する。 - 特許庁
  • The gas sensor testing apparatus 1 includes ten gas room forming sections 23 with respective gas rooms 53, and the respective ten gas rooms 53 covering sensor containing sections 15 (gas inlet holes 13) for respective gas sensors 11.
    ガスセンサ検査装置１は、個別ガス室５３を有する１０個のガス室形成部２３を備えており、各ガスセンサ１１のセンサ収容部１５（ガス導入孔１３）をそれぞれ個別に覆う１０個の個別ガス室５３を備えている。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for drug-susceptibility testing that are effective in eliminating a medicine ineffective in inhibiting the activity of targeted cells and also makes it easy to select an effective medicine.
    対象とする細胞の活性を抑制する効果のない薬剤を排除するのに有効なだけではなく、効果のある薬剤を選択するのを容易とすることのできる薬剤感受性試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device which can make even distribution of threshold voltage by accurately controlling threshold voltage distribution after writing data in a plurality of memory cells in a nonvolatile semiconductor memory device being electrically erasable and writable.
    電気的消去・書き込み可能な不揮発性半導体記憶装置における複数のメモリセルにデータを書き込み後の閾値電圧分布を正確に制御して閾値電圧の分布を揃えることができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • This test selection circuit 10 is integrated in a semiconductor integrated circuit, and selects one out of a plurality of digital signals appearing in its inside, to be output to an outside via a test output terminal 114, when testing the semiconductor integrated circuit.
    テストセレクト回路１０は、半導体集積回路に集積化され、半導体集積回路のテスト時において、内部に現れる複数のデジタル信号から、ひとつを選択して外部にテスト出力端子１１４を介して出力する。 - 特許庁
  • Terminal devices 24, 34 connected to the network N transmit the diagnosis result of the self- diagnosis program function of the testing devices 20, 30 to the maintenance information providing server 12 corresponding to user operation, and acquires information on the defect generation spot.
    ネットワークＮに接続された端末装置２４，３４は、ユーザの操作に応じて試験装置２０，３０の自己診断プログラム機能の診断結果をメンテナンス情報提供サーバ１２へ送信して不良発生箇所に関する情報を得る。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus capable of concurrently generating an expectation value pattern and a determination mask pattern using pattern data stored in a pattern memory, thereby enhancing the flexibility in creating a test program and the efficiency of test.
    パターンメモリに記憶されたパターンデータを用いて期待値パターンと判定マスクパターンとを同時に生成することができ、これにより試験プログラム作成の自由度及び試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Biologically or pharmacologically active mixtures of compounds obtained from the same biological origin are standardized by testing products isolated by carrying out a plurality of different operations for producing a plurality of the products.
    複数の生成物を生産するための複数の異なる操作の実施により単離された生成物の試験により同一の生物原から得られる化合物の、生物学的または薬理学的に活性な混合物の標準化を行う。 - 特許庁
  • To provide an IC testing device with improved IC test reliability and productivity, its control method, and a storage medium by combining a plurality of ICs under an optional judgement criterion for performing the test.
    本発明の課題は、任意の判定基準下で複数のＩＣを組み合わせて試験を行うことにより、ＩＣ試験の信頼性と生産性を向上したＩＣ試験装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供することである。 - 特許庁
  • The functions or characteristics of the claimed inventions are found to be convertible to other functions or characteristics specified by other definitions or by testing or measuring processes, and it is found that the products of the cited inventions are considered to be identical to those of the claimed inventions from the results of the conversion
    請求項に係る発明の機能・特性等が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて同一と認められる引用発明の物が発見された場合 - 特許庁
  • (2) Cities establishing health centers and special wards shall set up the necessary facilities for inspections where the business affairs concerning the testing of food, additives, apparatus or containers and packaging that have been removed pursuant to the provisions of paragraph (1) of the preceding Article are to be carried out.
    ２　保健所を設置する市及び特別区は、前条第一項の規定により収去した食品、添加物、器具又は容器包装の試験に関する事務を行わせるために、必要な検査施設を設けなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (ix) Digital video magnetic tape recorders, digital instrumentation magnetic tape data recorders, equipment designed to convert digital video magnetic tape recorders for use as digital instrumentation data recorders, or magnetic tapes used in the testing of these recorders and equipment
    （九）　デジタル方式のビデオ磁気テープ記録装置、計測用の磁気テープ記録装置若しくはデジタル方式のビデオ磁気テープ記録装置を計測用の磁気テープ記録装置として使用するための装置又はこれらの試験用の磁気テープ - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide an apparatus for testing a filter, capable of precisely measuring removal efficiency of the filter being disposed in a duct channel, such as a large-sized duct channel in which concentration values of a test-use object are varied widely.
    本発明は、大型ダクト経路のように、検査用対象物の濃度のばらつきが大きいダクト経路内に設置されたフィルタの除去効率を、高い精度で測定することができるフィルタ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A testing substrate 91 formed with no resist film is mounted on a stage 10, pulse lights PL are emitted from optical heads 32a, 32d, 32g, and projection images SPI thereof are photographed by irradiation position measuring cameras 51, 52, 53.
    レジスト膜が形成されていない試験用基板９１をステージ１０上に載置し、光学ヘッド３２ａ，３２ｄ，３２ｇからパルス光ＰＬを照射するとともに、その投影像ＳＰＩを照射位置計測カメラ５１，５２，５３により撮影する。 - 特許庁
  • Water content corresponding to optimum water-containing ratio obtained by JIS A 1210 'soil compaction testing method by stamping is added to the mixture 5 and the material is sufficiently compacted with a multiple strong tamper 7 so that the density becomes maximum dry density.
    この混合物に、ＪＩＳ Ａ １２１０「突固めによる土の締固め試験方法」によって求めた最適含水比に相当する水分を加えたのち、その密度が最大乾燥密度となるように多連式強力タンパーで十分突固める。 - 特許庁
  • A calibration processing section 21a automatically adjusts the magnification of an amplifier for calibration so that the output of the load cell 18 becomes the reference testing force, and then calculates the measurement value from the output of the load cell 18, based on this automatically adjusted value.
    校正処理部２１ａでは、ロードセル１８の出力が基準試験力となるように校正用アンプの倍率を自動調整し、以降、この自動調整した値に基づきロードセル１８の出力から計測値を算出する。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for estimating residual magnetic flux of a transformer for estimating residual magnetic flux after testing or inspection, when an onsite test and inspection accompanying the application of a direct-current voltage to a transformer coil are executed.
    変圧器巻線への直流電圧印加を伴う現地試験や点検を実施した場合において、試験や点検後の残留磁束を推定する変圧器の残留磁束推定方法及び残留磁束推定装置を提供する。 - 特許庁
  • In a state, in which the unit 17 is inserted into the tube 5a and the base end of the unit 17 is connected to the conductor 13, a testing voltage is applied to the conductor 13.
    そして、この電極ユニット１７を常温収縮チューブ５ａに挿入すると共に、この電極ユニット１７の基端部を上記課電用導体１３に接続した状態で、この課電用導体１３に試験用電圧を印加する。 - 特許庁
  • In a process that CO_2 as testing gas flows in the nozzle model 1 while expanding, its ratio κ of specific heat is changed from about 1.2 to 1.3, so that a flow similar to a flow in the rocket nozzle in the actual machine can be realized.
    試験用気体であるＣＯ_２が当該ノズルモデル１内を膨張しながら流れる過程で、その比熱比κはおよそ１．２から１．３近傍まで変化するので、実機のロケットノズル内における流れと相似の流れが再現できる。 - 特許庁
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