「testing」を含む例文一覧(14414)

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  • (2) Cities establishing health centers and special wards shall set up the necessary facilities for inspections where the business affairs concerning the testing of food, additives, apparatus or containers and packaging that have been removed pursuant to the provisions of paragraph (1) of the preceding Article are to be carried out.
    ２　保健所を設置する市及び特別区は、前条第一項の規定により収去した食品、添加物、器具又は容器包装の試験に関する事務を行わせるために、必要な検査施設を設けなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (ix) Digital video magnetic tape recorders, digital instrumentation magnetic tape data recorders, equipment designed to convert digital video magnetic tape recorders for use as digital instrumentation data recorders, or magnetic tapes used in the testing of these recorders and equipment
    （九）　デジタル方式のビデオ磁気テープ記録装置、計測用の磁気テープ記録装置若しくはデジタル方式のビデオ磁気テープ記録装置を計測用の磁気テープ記録装置として使用するための装置又はこれらの試験用の磁気テープ - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide an apparatus for testing a filter, capable of precisely measuring removal efficiency of the filter being disposed in a duct channel, such as a large-sized duct channel in which concentration values of a test-use object are varied widely.
    本発明は、大型ダクト経路のように、検査用対象物の濃度のばらつきが大きいダクト経路内に設置されたフィルタの除去効率を、高い精度で測定することができるフィルタ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A testing substrate 91 formed with no resist film is mounted on a stage 10, pulse lights PL are emitted from optical heads 32a, 32d, 32g, and projection images SPI thereof are photographed by irradiation position measuring cameras 51, 52, 53.
    レジスト膜が形成されていない試験用基板９１をステージ１０上に載置し、光学ヘッド３２ａ，３２ｄ，３２ｇからパルス光ＰＬを照射するとともに、その投影像ＳＰＩを照射位置計測カメラ５１，５２，５３により撮影する。 - 特許庁
  • Water content corresponding to optimum water-containing ratio obtained by JIS A 1210 'soil compaction testing method by stamping is added to the mixture 5 and the material is sufficiently compacted with a multiple strong tamper 7 so that the density becomes maximum dry density.
    この混合物に、ＪＩＳ Ａ １２１０「突固めによる土の締固め試験方法」によって求めた最適含水比に相当する水分を加えたのち、その密度が最大乾燥密度となるように多連式強力タンパーで十分突固める。 - 特許庁
  • A calibration processing section 21a automatically adjusts the magnification of an amplifier for calibration so that the output of the load cell 18 becomes the reference testing force, and then calculates the measurement value from the output of the load cell 18, based on this automatically adjusted value.
    校正処理部２１ａでは、ロードセル１８の出力が基準試験力となるように校正用アンプの倍率を自動調整し、以降、この自動調整した値に基づきロードセル１８の出力から計測値を算出する。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for estimating residual magnetic flux of a transformer for estimating residual magnetic flux after testing or inspection, when an onsite test and inspection accompanying the application of a direct-current voltage to a transformer coil are executed.
    変圧器巻線への直流電圧印加を伴う現地試験や点検を実施した場合において、試験や点検後の残留磁束を推定する変圧器の残留磁束推定方法及び残留磁束推定装置を提供する。 - 特許庁
  • In a state, in which the unit 17 is inserted into the tube 5a and the base end of the unit 17 is connected to the conductor 13, a testing voltage is applied to the conductor 13.
    そして、この電極ユニット１７を常温収縮チューブ５ａに挿入すると共に、この電極ユニット１７の基端部を上記課電用導体１３に接続した状態で、この課電用導体１３に試験用電圧を印加する。 - 特許庁
  • In a process that CO_2 as testing gas flows in the nozzle model 1 while expanding, its ratio κ of specific heat is changed from about 1.2 to 1.3, so that a flow similar to a flow in the rocket nozzle in the actual machine can be realized.
    試験用気体であるＣＯ_２が当該ノズルモデル１内を膨張しながら流れる過程で、その比熱比κはおよそ１．２から１．３近傍まで変化するので、実機のロケットノズル内における流れと相似の流れが再現できる。 - 特許庁
  • To provide an information processing device capable of testing in what form relay control of electronic data such as electronic mails is performed after modification when modifying relay control rules used for deciding whether or not the electronic data is relayed to an external network.
    電子メール等の電子データを外部ネットワークに中継する／しないを決定する際に用いる中継制御ルールの変更を行う際に、変更後にどのような形での電子データの中継制御が行われるかをテストする。 - 特許庁
  • To carry out the compensation of a resonance mode of an object to be controlled such as a moving head and the adjustment of the loop gain of a control system without using a testing signal anew nor impairing convenience on the product user side.
    移動ヘッドなどの被制御対象の共振モードの補償や制御系のループゲインの調整を、テスト用信号を新たに用いることなしに、また製品使用者側の利便性をそこなうことなしに実行することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a data transmission device and an input/output interface circuit with a jitter transmission circuit, capable of testing for jitter tolerance in data transmission/reception at the time of a mass production test and of improving a fault detection rate.
    量産試験時にデータ送受信におけるジッタトレランスについて試験することができ、故障検出率の向上を図ることができるデータ送信装置およびジッタ送信回路を備える入出力インタフェース回路を提供する。 - 特許庁
  • The invention relates to the test board locking device for testing a semiconductor chip and more particularly relates to the test board locking device capable of easily mounting/detaching a test board on/from the stiffener in the EDS test process of the semiconductor chip.
    本発明は半導体チップのテストのためのテストボードロッキング装置に係わり、さらに詳細には半導体チップのＥＤＳテスト工程でスチフナ上にテストボードを容易に脱付着させることができるテストボードロッキング装置に関する。 - 特許庁
  • To provide a signal measuring device capable of simultaneously achieving, at high levels, a plurality of items of performance such as DC performance, noise performance, strain performance or spurious performance, and a semiconductor testing device with the signal measuring device.
    ＤＣ性能、ノイズ性能、歪み性能、スプリアス性能等の複数の性能を高いレベルで同時に満足することができる信号測定装置、及び当該信号測定装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • This test pattern generator 10 for generating a test pattern for scan-testing the semiconductor integrated circuit is provided with a risky portion extracting part 110, and an ATPG 150 of a pattern generation executing part for executing the generation of the test pattern.
    半導体集積回路をスキャンテストするためのテストパターンを生成するテストパターン生成装置１００は、危険箇所抽出部１１０と、テストパターンの生成を実行するパターン生成実行部であるＡＴＰＧ１５０を備える。 - 特許庁
  • Further, since an immersion testing ultrasonic probe 6 is provided, the thickness when a normal echo is generated is obtained from a CRT monitor 13 of an ultrasonic thickness meter 8, and data obtained from the RFEC method at its position is constituted.
    さらに、水浸法超音波探触子６を設けてあるので、超音波厚み計８のＣＲＴモニタ１３から、正常なエコーが生じているときの厚みをもとめ、その位置でＲＦＥＣ法から得られるデータを構成する。 - 特許庁
  • The optimum erasure condition capable of simultaneously erasing the most recording layers and the optimum sequence capable of erasing data of each recording layer with the minimum number of times according to the optimum erasure condition are determined from the result of the testing erasure.
    試し消去の結果から、同時に最も多くの記録層を消去可能な最適消去条件と、最適消去条件に従い各記録層のデータを最小回数で消去可能な最適シーケンスを決定する。 - 特許庁
  • To provide a test system that makes testing automatically only measurement items where a plurality of component parts used for each measurement item uses only component parts normally connected with a controller controlling those operations.
    各測定項目に使用する複数の構成品が、それらの動作を制御する制御器に正常に接続されている構成品のみを使用する測定項目のみを、自動的に試験するようにした試験システムを提供する。 - 特許庁
  • An IC 21 is so structured that pull-up resistors are connected to a plurality of external signal terminals 22 via FETs (field effect transistors) in a testing level setting section 25 to enable control of the turning on/off of the FETs from the outside via a test control section 26.
    ＩＣ２１を、複数の外部信号端子２２に対し、テスト用レベル設定部２５においてプルアップ抵抗をＦＥＴを介して接続し、ＦＥＴのオンオフを、テスト制御部２６を介して外部より制御可能に構成する。 - 特許庁
  • When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether or not the data contents of the data ROMs 124-1 to 3 are correct using the read out data and the data for confirmation.
    データチェック用の制御データが設定されると、データＲＯＭ１２４−１〜３に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データＲＯＭ１２４−１〜３のデータ内容が正しいか否かがチェックされる。 - 特許庁
  • The connecting machine for watt-hour meter 10 is a connecting machine for connecting the watt-hour meter 1 provided with a lower external terminals 2 provided under the meter and a profile external terminals 3 provided on the profile side and the electric power side of the testing apparatus.
    電力量計用結線器１０は、下面に設けられた下方外部端子２と側面に設けられた側方外部端子３とを有する電力量計１と、試験装置の電源側とを結線するものである。 - 特許庁
  • To solve a problem in which temperature adjustment of cooling water circulated in an engine under test by means of a gain controller with the fixed time constant, causes supercooling or undercooling of the cooling water to occur due to change in engine's number of revolutions (rpm), which has an adverse effect on testing accuracy.
    一定時定数、ゲインのコントローラにより、供試エンジンに循環させる冷却水の温度調節をするのでは、エンジン回転数の変化により冷却水の過冷却や不足冷却が生じ、試験精度に影響する。 - 特許庁
  • A loading testing jack together with a load meter and a displacement meter are installed on the loading slab in an approximately vertical posture to have such a constitution that loading test reaction force is taken in a beam of the existing structure or a slab, and the jack is driven to perform a loading test.
    載荷版の上に荷重計、変位計と共に載荷試験用のジャッキを略垂直姿勢に設置して載荷試験反力を既存構造物の梁又はスラブにとる構成とし、ジャッキを駆動して載荷試験を行う。 - 特許庁
  • To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer.
    シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。 - 特許庁
  • The testing circuit is arranged so that the data for selecting the test mode is fed from a tester 35 to a BISI control circuit 50 provided in a BIST circuit 40, and from the control circuit 50, the result of selecting the test mode is emitted synchronously with the test clock tck.
    テスタ３５から、テストモード選択用のデータをＢＩＳＴ回路４０内のＢＩＳＩ制御回路５０に入力すれば、この制御回路５０から、テストクロックｔｃｋに同期してテストモード選択結果が出力される。 - 特許庁
  • Hence, in order to assure a testing accuracy by intimately contacting the glass sample with the heating element during the test, the elasticity of the heating element should be 50 to 500 MPa and the time required for the glass sample to break down after heating should be 7 seconds or less during the test.
    このため、試験中に、ガラス試料と発熱体を密着させて試験精度を確保するため、発熱体の弾性率を５０〜５００ＭＰａとし、ガラス試料が加熱後破壊するまでの時間を７秒以下にして試験する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.
    健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近（１ｍｍ以内）した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A DC power source is formed by a battery corresponding part 11 to be supplied to an inverter 15 as a test body and the a drive power source from the inverter 15 is supplied to a motor corresponding part 12 to perform testing of the inverter 15.
    バッテリ相当部１１で直流電源を形成し、この直流電源を供試体としてのインバータ１５に供給し、インバータ１５からの駆動電源をモータ相当部１２に供給して、インバータ１５の試験を行う。 - 特許庁
  • The fuel cell separator material is made of the graphite/hardened resin molded body, on the surface layer part of which, a hydrophilic treatment depending on the air blast treatment is applied, and a wet tension of the surface measured by using a wet tension testing liquid is 40 mN/m or higher.
    黒鉛／硬化樹脂成形体からなり、その表層部がエアブラスト処理による親水化処理が施され、濡れ張力試験液による表面の濡れ張力が４０ｍＮ／ｍ以上の燃料電池用セパレータ材。 - 特許庁
  • The coating amount of the microcapsules is in the range of 1-50 g/m^2, and the smoothness of the surface coated with the microcapsules is set at 20-600 sec when tested by a smoothness testing method using a Beck tester described in JIS-P8119.
    マイクロカプセルの塗工量は１ｇ／ｍ^2から５０ｇ／ｍ^2の範囲にあり、マイクロカプセルの塗工面の平滑度がＪＩＳ−Ｐ８１１９記載のベック試験器による平滑度試験方法で２０〜６００秒の範囲に設定する。 - 特許庁
  • The IC tester is characteristically constituted of: a memory for storing the test program composed of pass test and fail test; and performing means for controlling the testing part by performing either all of the test program or performing the pass test.
    本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • To attain high testing efficiency by downsizing and simplifying a test apparatus in additionally installing field apparatuses such as signal lights in a railroad station yard on a signal maintenance system which controls the field apparatuses with an electronic interlock device.
    鉄道の駅構内における信号機等の現場機器の制御を電子連動装置を用いて行う信号保安システムに現場機器を増設して試験する際、試験装置を小型化、簡略化して、試験効率を向上を図る。 - 特許庁
  • This tire testing device 10 is equipped with the endless belt 16 having a belt surface 16S abutting on a tire T, and a primary side coil 18 of a linear motor for generating an eddy current and generating a running force on the endless belt 16.
    タイヤ試験装置１０は、タイヤＴに当接するベルト路面１６Ｓを有する無端ベルト１６と、無端ベルト１６に渦電流を発生させて走行力を生じさせるリニアモータの一次側コイル１８と、を備えている。 - 特許庁
  • To provide an anvil for a hardness testing machine for reducing the irregularity of measurement by attaching a sample support mechanism, which performs measurement even if a measuring person does not lay his hands, to a spot anvil.
    本発明は、測定者が手を添えなくても測定が行える試料支持機構をスポットアンビルに取り付けることにより、測定のばらつきを小さくすることができる硬さ試験機用アンビルを提供することを目的とするものである。 - 特許庁
  • The on-chip circuit forces and senses voltage in each DRAM storage capacitor, displays each storage capacitor charge leakage rate and enables a pulse testing method for calculating an electric charge transfer rate between a bit line of the DRAM cell and the storage capacitor.
    オン・チップ回路は、個々のＤＲＡＭ記憶キャパシタに電圧をフォースおよびセンスして、個々の記憶キャパシタ電荷漏洩率を表し、ＤＲＡＭセルのビットラインと記憶キャパシタとの間の電荷転送率を求めるパルス・テスト方法を可能にする。 - 特許庁
  • The testing station 12 includes a rotatable chuck assembly and a spindle assembly attached to the frame, and those are provided with an upper rim and a lower rim rotated to rotate the tire 20 while engaged with a tread of the tire 20.
    この試験ステーション（１２）は、フレームに取付けられた回転可能なチャックアセンブリ及び主軸アセンブリを備え、これらはタイヤ（２０）の踏面に係合してタイヤ（２０）を回転させるように回転される上側リム及び下側リムを備える。 - 特許庁
  • In addition, to obtain responses of the components corresponding to changes in the added operating parameters, the parameter adjuster sets the added parameters to one or a plurality of testing values in response to a command signal from the controller.
    さらに、加えられた動作パラメータの変化に対するこれらのコンポーネントの応答を引き出すために、パラメータ調整器は、コントローラからのコマンド信号に応答して、加えられた動作パラメータを１つまたは複数の試験値に設定する。 - 特許庁
  • To provide a power supply capable of discharging charges stored in the power supply during testing and maintenance without using large components, and a high-frequency circuit system equipped with the power supply.
    大型の部品を用いることなく、試験や保守時に電源装置に蓄積された電荷の放電を可能にして、作業の安全性を向上させることができる電源装置及びそれを備えた高周波回路システムを提供する。 - 特許庁
  • An optical fiber measurement system 1 comprises: an optical fiber sensor line 2; a position display module 3 provided at at least one position on the optical fiber sensor line 2; and a light pulse testing device 10 for making test light incident on the optical sensor line 2.
    光ファイバセンサ線路２と、光ファイバセンサ線路２の少なくとも１箇所に設けられた位置表示モジュール３と、光ファイバセンサ線路２に試験光を入射する光パルス試験器１０と、を備えた光ファイバ計測システム１。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus for an apnea syndrome which detects a respiratory standstill condition or a low respiratory condition with precision which is close to that for the discrimination of the respiratory standstill condition or the low respiratory condition, which is performed by an expert such as a doctor.
    医者等の専門家が行う無呼吸状態もしくは低呼吸状態の判断の精度により近づいた、無呼吸状態もしくは低呼吸状態を検出する無呼吸症候群の検査装置を提供する。 - 特許庁
  • In an apparatus and a method in which a tilted strand connection part 22 in a small electric component 23 is tested, a testing tool 21 which can be moved simultaneously along two mutually orthogonal exes in a direction at right angels to the direction of a strand is provided.
    小型電気素子における傾斜したストランド接続部を試験するための装置および方法は、ストランドの方向に直交する方向に互いに直交する２軸に沿って同時に移動可能な試験工具を備えている。 - 特許庁
  • The testing system executes a ground fault test on the plurality of ground fault direction relays 135_1-135_3 by opening at least one of the first-third switches 11_1-11_3 to break the balance of anti-ground electrostatic capacity of the plurality of power distribution lines 102_1-102_3.
    第１乃至第３のスイッチ１１_1〜１１_3の少なくとも１つを開いて複数の配電線１０２_1〜１０２_3の対地静電容量のバランスを崩すことにより、複数の地絡方向継電器１３５_1〜１３５_3の地絡試験を行う。 - 特許庁
  • To provide a pattern control device for a game machine, for which the variable configurations of patterns of a pattern display means can be easily and inexpensively changed, and at the same time, the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.
    図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing a characteristic of a magnetic head in which a characteristic of a read element can be tested exactly in the form of a wafer, especially the characteristic of the read element under heating and under cooling can be exactly tested.
    ウエハ段階においてリード素子の特性を的確に試験することを可能とし、とくに加熱下、冷却下におけるリード素子の特性を的確に試験することを可能にする磁気ヘッドの特性試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an SRAM device having a configuration for effectively detecting a product, which is small in noise margin and has possibility to cause a malfunction in a market, and the defective connection of one of a pair of read-out bit lines, and to provide a method for testing the SRAM device.
    ノイズマージンが小さく市場で誤動作をする可能性が高い物や、読み出しビット線対の片側の接続不良を有効に検出するための構成を有するＳＲＡＭ装置とそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To solve problems caused by limited assembling space in the case of connecting a clutch and/or transmission capable of automatically operating, that is, for example, the problems such as assembling difficulties, high costs, plenty of man-hours in the case of testing systems.
    オートマチック操作可能なクラッチ及び／又は伝動装置の接続により制限された組み込みスペースにより生じる問題、即ち例えば、組み付け困難性、高いコスト、システムの試験の際の大きな手間といった問題を解消する。 - 特許庁
  • Thus, it is possible to perform the diversion of an equipment side cable 11 or a case body itself at the time of updating the monitor controller main body 30, and to reduce any design work, job site installing work, or control testing work or the like.
    これにより、監視制御装置本体３０の更新時における機器側ケーブル１１や筐体そのものの流用を可能すると共に、設計作業、現地据付け作業及び調整試験作業等が削減できるようにする。 - 特許庁
  • The testing station 12 is provided with a rotatable chuck assembly and a spindle assembly attached to the frame, and those are provided with an upper rim and a lower rim rotated to rotate the tire 20 while engaged with a tread of the tire 20.
    この試験ステーション（１２）は、フレームに取付けられた回転可能なチャックアセンブリ及び主軸アセンブリを備え、これらはタイヤ（２０）の踏面に係合してタイヤ（２０）を回転させるように回転される上側リム及び下側リムを備える。 - 特許庁
  • To provide a system, or the like for testing shutter running characteristics that facilitates checking normal or abnormal conditions in running characteristics of a mechanical focal plane shutter without arranging any special members, or the like by an image sensor drivable by an electronic rolling shutter.
    電子ローリングシャッタにより駆動され得る撮像素子を用いて、特別な部材等を配設することなく、メカニカルフォーカルプレーンシャッタの走行特性の正常／不良を容易に確認し得るシャッタ走行特性試験システム等を提供する。 - 特許庁
  • This semiconductor testing device 100 is provided with main body memory circuits 30, 31 storing defective information on the main body memory of the memory to be examined, and auxiliary memory circuits 40, 41 storing defective information on the auxiliary memory of the memory to be examined.
    本発明の半導体試験装置１００は、被試験メモリの本体メモリの不良情報を格納する本体メモリ回路３０，３１と、被試験メモリの予備メモリの不良情報を格納する予備メモリ回路４０，４１とを備える。 - 特許庁
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