To provide a structure capable of preventing side deviation or local twist of a belt, and preventing drop of the belt between rollers, concerning a belt driving device provided on a vehicle traveling testing machine or the like, for supporting and driving a rotator such as a wheel. 車輌走行試験機等に備えられ、車輪などの回転体を支持し走行させるベルト駆動装置であって、ベルトの横ズレや局部的なヨレを防止し、更に、ローラ間でのベルトの落ち込みをも防止し得る構造を提案する。 - 特許庁
Article 7 No person other than one who has obtained permission under paragraph (1) of the preceding Article shall manufacture a Class I Specified Chemical Substance; provided, however, that this shall not apply to the case where a person manufactures a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes.
第七条 前条第一項の許可を受けた者でなければ、第一種特定化学物質を製造してはならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を製造するときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
Screws are embedded in the ALC panel itself, the extraction strength of the screws is measured by a screw extraction testing method, and the degree of deterioration of the ALC panel concerned is estimated according to the relationship between the screw extraction strength and the degree of carbonation. ALCパネル自体にビスを打設し、ビス引抜き試験方法により当該ビスの引抜き強度を測定し、該ビス引抜き強度と炭酸化度の関係より当該ALCパネルの劣化度を推定することを特徴とする。 - 特許庁
The method for testing the collision of the vehicle comprises a step of colliding the MDB (1) in which a high rigidity protrusion (5c) is disposed lower than a front end (bumper beam 8) of a side frame of a vehicle (6) to be examined, with a front surface of the vehicle to be examined. 車両の衝突試験方法において、被験車両(6)のサイドフレーム前端部(バンパービーム8)よりも下方に高剛性凸部(5c)を位置させたMDB(1)を被験車両の前面に衝突させるものとする。 - 特許庁
To provide a pattern control device for a game machine, which can easily and inexpensively change variation configurations of a pattern of a pattern display means, and at the same time, for which the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like. 図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する - 特許庁
To provide a measuring device and a measuring method capable of measuring, simply in a room, the temperature stress by the heat of hydration generated from a concrete structure, concerning a testing device and a method for temperature stress measurement. 本発明は温度応力測定用試験装置及び方法に関し、コンクリート構造物から発生する水和熱による温度応力を室内で簡便に測定できる測定装置及び測定方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide an analysis method of optical path characteristics, a test system of an optical path, and a monitoring system of an optical path test, capable of highly precisely evaluating losses at optical path connections even by optical pulse testing from one-end sides. 片側端からの光パルス試験でも光線路の接続点の損失を高精度で評価することができる光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システムを提供する。 - 特許庁
In the vibration testing method, a head part of a rail at a joint part where rail bonds are together joined is beaten by a beat part so as to cause a vibration approximating to a vibration occurring in the joint part to repetitively occur in the rail when a train passes thereover. この振動試験方法は、レールボンドを接合した継目部におけるレールの頭部を連打部によって、列車通過時に前記継目部で発生する振動と近似した振動をレールに繰り返し発生させるように連打する。 - 特許庁
The disaster prevention receiver 1 includes a first test part 15 for testing the operation of a first auxiliary power supply Bt1 provided therein and sending a test signal to the detector power supply 4 via a second signal line Ls2. 防災受信機1は、自身に設けた第1の予備電源Bt1の動作試験を行うとともに、第2の信号線Ls2を介して感知器電源4に対して試験信号を送信する第1試験部15が設けられている。 - 特許庁
The current conduction-testing device 1 consists mainly of the bulb socket 10 for holding a bulb 5, a switch 40 for controlling a current conduction state and a current non-conduction state, and a battery box 30 for storing a battery 7. 通電実験装置1は、電球5を保持するための電球ソケット10と、通電状態及び非通電状態を制御するスイッチ40と、電池7を収納するための電池ボックス30とから主に構成されている。 - 特許庁
To provide a bus-bar protection relay device which reduces a power interruption range smaller than that of a conventional device at the occurrence of a bus-bar accident when the bus-bar protection relay device of a power plant is not in use because of maintenance and testing, and a bus-bar protection method. 変電所の母線保護継電装置を点検や試験のため不使用中における母線事故発生時に従来より停電範囲を縮小する母線保護継電装置と母線保護方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits capable of measuring the frequency characteristics of the power current of an object to be measured at any timing regardless of whether a test pattern is impressed onto the object to be measured or not. 被測定対象に対して試験パターンを印加しているか否かに拘わらず、任意のタイミングで被測定対象の電源電流の周波数特性を測定することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁
The optical film 20 adheres on the jointing material 12 of the testing member for optical films 10 so as to be irradiated with light on the surface thereon, then the reflected light of which is observed, to determine the quality level of the optical film 20. 光学フィルム用検査部材10の接着部材12上に光学フィルム20を接着し、光学フィルム20の表面に光を照射し、その反射光を観察することにより光学フィルム20の良否を判断する。 - 特許庁
The built-in redundancy analysis circuit 400 determines a defective address to be replaced by a plurality of spare memory cell rows and spare memory cell columns, according to the detected result of an address signal from the built-in self-testing circuit 300 and a defective memory cell. ビルトイン冗長解析回路400は、ビルトインセルフテスト回路300からのアドレス信号と不良メモリセルの検出結果とに応じて、各複数の予備メモリセル行および予備メモリセル列で置換するべき不良アドレスを決定する。 - 特許庁
To obtain a recoding medium on a smooth surface of which coagulation does not occur, and which achieves and maintains both of lubricating characteristics and stable floating characteristics, in relation to a testing method and a manufacturing method of a recoding medium such as a magnetic disk medium. 本件は、磁気ディスク媒体等の記録メディアの試験方法および製造方法に関し、平滑な表面上に凝集を発生させず、かつ潤滑特性と安定浮上特性を維持両立する記録メディアを得る。 - 特許庁
To provide a burn-in device capable of making testing conditions even, by restraining dispersion of temperatures in a plurality of tested objects generating heat by an operation, and capable of enhancing thereby reliability for a burn-in test and an aging test. 動作することによって発熱する複数の被試験体の温度のばらつきを抑制することによって試験条件を揃え、バーンイン試験およびエージング試験の信頼性を向上させることができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁
To control the temperature of an electronic part testing socket such as an IC socket without adding a noise to a test signal applied to electronic parts such as an IC device or to a response signal read out from the electronic parts such as the IC device. ICデバイスなどの電子部品に印加されるテスト信号や、ICデバイスなどの電子部品から読み出される応答信号にノイズを入れることなく、ICソケットなどの電子部品試験用ソケットの温度を制御する。 - 特許庁
A pin electronics 17 of this semiconductor testing device 1 includes a sub-driver control circuit 20, a main driver MDR1, a sub-driver SDR1, a comparator COMP1, a control transistor STR1, a switch SW1, a resistance R1 and a resistance R2. 半導体試験装置1のピンエレクトロニクス17には、サブドライバ制御回路20、メインドライバMDR1、サブドライバSDR1、コンパレータCOMP1、制御トランジスタSTR1、スイッチSW1、抵抗R1、及び抵抗R2が設けられる。 - 特許庁
By evaluating the core material using an indication such as a dewatering testing, the core material having less moisture absorbing amount or high speed drying can be used, the load of a drying process can be reduced, and an amount of the used moisture adsorbent can be also reduced. 芯材を脱水試験という指標で評価することで、水分の吸湿量が少ないまたは乾燥が早い芯材を使用でき、乾燥工程の負荷を低減し、水分吸着剤の使用量も減らすことができる。 - 特許庁
This earth sampling device 4 has a rod part 5, a thin shaft part 6, an auger 7, a cylindrical body 8, a pin 11, inclined faces 11a and 13a and an inward overhang part 14; and can be connected to a connecting rod of a Swedish sounding testing machine. ロッド部5と細軸部6とオーガ7と筒体8、そして、ピン11、斜面11a,13a、内向き張出し部14が備えられている土サンプリング装置4で、スウェーデン式サウンディング試験機の連結ロッドに連結可能である。 - 特許庁
In a testing apparatus 10 for simulating the flow phenomenon of the vapor-liquid two-phase flow where droplets are dispersed in an air flow, a gas of sulfur hexafluoride is used as the air flow and alcohol, sprayed into the gas of sulfur hexafluoride as the droplets. 気流中に液滴を分散させた気液二相流の流動現象を模擬するための試験装置10において、気流として6フッ化硫黄ガスを用い、液滴として6フッ化硫黄ガス中に噴霧したアルコールを用いた。 - 特許庁
The system and method include an impedance adjustment circuit 4 incorporated into the output circuit 3 of a first LSI 1, and a test pattern generating circuit 5 for transmitting signals for testing random patterns via the circuit 4 to a second LSI 2. 第1のLSI1の出力回路3内に組み込まれたインピーダンス調整回路4と、インピーダンス調整回路4を介してランダムパターンのテスト用信号を第2のLSI2に対して送出するテストパターン発生回路5を備える。 - 特許庁
At the time of testing a circuit 40, test control information is inputted externally to a test interface circuit 14 and set in the scan register 41 of circuit modules 21-24 to be tested through a test signal chain 20. 被テスト回路(40)のテストを行なうとき、外部からテストインタフェース回路(14)にテスト制御情報を入力し、テスト対象回路モジュール(21〜24)のスキャンレジスタ(41)にテスト信号チェーン(20)を介してテスト制御情報をセットする。 - 特許庁
To achieve a semiconductor testing apparatus that writes failure data to an acquisition memory using a burst access, even in the case where the number of addresses and failure data does not match the burst length, or when irrelevant data is mixed in the failure data. アドレスとフェイルデータの数がバースト長と一致しない場合またはフェイルデータに非対象データが混在した場合でも、フェイルデータをバーストアクセスを用いて収集メモリへ書き込むことが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for testing steering stability of a vehicle, which can evaluate steering stability of a slalom state of which the reproducibility is most difficult in reproduction of various traveling states. 種々の走行状態を再現する内、最も再現性が困難なスラローム状態の操縦安定性能の評価を可能とする車両の操縦安定性能試験方法及び操縦安定性能試験装置を提供する。 - 特許庁
A testing means is directly connected to two auxiliary electrodes arranged at a predetermined distance from the pylon, and an electric current measuring means installed around the footings of the pylon for measuring electric currents flowing along the footings. 試験用手段は、鉄塔から所定の距離をおいて配置された2つの補助電極と、基礎に沿って流れる電流を測定するために鉄塔の基礎の周りに設置された電流測定手段とに直接接続される。 - 特許庁
The tire testing device measures a power loss in a tire from a difference of power of the tire 50 obtained by adding the torque measured by the tire shaft torque meter 15 and a difference of power of the roller 2 obtained by adding the torque measured by the roller shaft torque meter 5. タイヤ軸トルク計15で測定したトルクを加味して求めたタイヤ50の仕事率の差分と、ローラ軸トルク計5で測定したトルクを加味して求めたローラ2の仕事率の差分より仕事率のタイヤ損失を測定する。 - 特許庁
To provide a technology with which testing to break off concrete pieces can be performed more accurately than before by hitting a test piece to cause damage and a technology for easily generating cracks in the test piece in advance. 打撃による損傷を加えることでコンクリート片をはく落させる実験を従来よりも正確に行うことが可能な技術であって、供試体に予め設けるひび割れを容易に発生させることが可能な技術を提供する。 - 特許庁
The generation of delay constraint, the insertion of a scan path, and the extraction of the flip flop as the object of hazard check is performed by using the information of the classified flip flops and the delay constraint program, testing problem and hazard check problem are improved. 分類されたフリップフロップの情報を用いて、遅延制約の生成し、スキャンパスの挿入、ハザードチェック対象のフリップフロップの抽出を行うことで、遅延制約問題、テスト時の問題、ハザードチェックの問題を改善する。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing a processing time for collecting measurement data of all pin electronics cards into a control unit, without increasing the memory area in which the measurement data of the pin electronics cards are stored. ピンエレクトロニクスカードの測定データを格納するメモリ領域を増大させることなく制御ユニットに全ピンエレクトロニクスカードの測定データを収集するための処理時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a member for artificial dialysis which satisfies the quality and a testing method 1(2) of a dialysate supply part and a dialysate circuit among dialysis type artificial kidney apparatus permission references and which is excellent in impact resistance, transparency and molding property. 透析型人工腎臓装置承認基準のうち、透析液供給部及び透析液回路の品質及び試験法 1(2)を満足し、かつ、耐衝撃性、透明性、成形性に優れた人工透析用部材を提供する。 - 特許庁
To provide a maintenance-free and highly-accurate timing calculation circuit of a semiconductor testing device capable of removing deviation of a calibration timing caused by an on-resistance when using a semiconductor relay as a signal selection circuit for timing correction. 半導体リレーをタイミング校正用信号選択回路に用いた場合のオン抵抗による校正タイミングのずれをなくし、メンテナンスフリーかつ高精度な半導体試験装置のタイミング構成回路を実現することを目的とする。 - 特許庁
To improve an assembled unit comprising a cap and a resealable container that stores and packages some moisture-sensitive products including by edible halitosis refreshment strips, dosing strips, diagnosis testing strips and sparkling tablets but not limited by them. 食用口臭清涼ストリップ、投薬用ストリップ、診断検査用ストリップ、及び発泡性錠剤を含むがそれらに制限されない、感湿性製品を貯蔵し包装する再封可能な容器とキャップの組立体を改良する。 - 特許庁
In the testing device wherein signals from a pattern generation section put in the body section are sent to test heads through optical fibers, the optical fibers connect the pattern generation section and the test heads through WDM couplers or DWDM couplers. 本体部に収納されたパターン発生部からの信号を、光ファイバを介してテストヘッドに接続する試験装置において、光ファイバは、WDMカップラまたはDWDMカップラを介してパターン発生部とテストヘッドを接続する。 - 特許庁
This disk for testing reproduction has a transparent substrate 11 on which pits are formed and layers 12, 13 and 15 which are deposited on the transparent substrate 11 and have the same reflection characteristics as those of the layers consisting of the recording layer, protective layer and reflection layer of the reloadable disk recording medium. ピットが形成された透明基板11と、透明基板11上に成膜され、書き換え可能なディスク記録媒体の記録層、保護層及び反射層からなる層と同じ反射特性の層12,13,15とを有する。 - 特許庁
To provide an integrated DSC/digital camcorder that enables testing and evaluation before final assembly and is also easy to assemble and disassemble so as to enhance productivity and the convenience of A/S and to provide a manufacturing method thereof. 本発明は、最終セット組立の前に特性テストが可能であるだけではなく組立及び分離が容易で生産性及びA/Sの便利性を高めたDSC一体型デジタルカムコーダ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
The weathering fading test is carried out while controlling the test temperature by a thermometer of a color nearest to the color of the testing sample piece out of the respective panel thermometers of black, white, red, sky blue and yellow colors. 黒色、白色、赤色、空色、黄色の各パネル温度計中、試験する試料片の色に最も近い色の温度計によって、試験温度を管理しながら耐候光試験を行うことを特徴とする耐候光試験方法。 - 特許庁
The other end 20b of the humidification piping 20 is opened between a dehumidification device 4 and an air heater 3 in an air conditioning chamber 1b of the environmental testing device 1, and the opening is set smaller than the surface area of the water stored within the humidifier 11. 加湿配管20の他端20bは、環境試験装置1の空調室1bにおいて、除湿装置4と空気ヒータ3との間に開口し、当該開口は加湿器11内に貯留される水の表面積よりも小さい。 - 特許庁
To provide a rotary electric machine for a dynamo testing device capable of preventing bearing lubrication oil from leaking out of a casing, together with a part of cooling air flow in a high-pressure state that is introduced into the casing. 本発明は、ダイナモ試験装置用回転電機において、ケーシング内に導入された高圧状態の冷却空気流の一部と共に、軸受潤滑油がケーシング外に漏出してしまうのを防止することを課題としている。 - 特許庁
When shifted to the emergency control, a gear change stage formation testing means 64 outputs an engagement command to a clutch C-1 and a clutch C-3 forming three forward speed stages, for example, and tests whether a speed change stage is formed. エマージェンシー制御に移行すると、変速段形成試験手段64は、例えば前進3速段を形成するクラッチC−1及びクラッチC−3に係合指令を出力し、何れの変速段が形成されるかを試験する。 - 特許庁
To provide a method for setting up a system of a coloration type inspection chip analyzer adapted to modify parameters and testing conditions to improve the adaptability range of the analyzer for coloration type inspection chips of multiple specifications. 分析装置のパラメータおよび検査条件を変更することにより、分析装置の適用範囲を多種規格の呈色型の検査チップに対して拡張可能な、呈色型の検査チップ分析装置のシステム設定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a sequence monitor for semiconductor testing device which has the function of accurately and easily indicating the transition variations of power on/power off, in a specified plurality of tester pins by a unit of pin group. 半導体試験装置が備えるシーケンスモニタ機能において、所定の複数テスタピンをピングループ単位として的確容易にパワーオン/パワーオフの遷移ばらつきを表示する機能を備える半導体試験装置のシーケンスモニタを提供する。 - 特許庁
In the test apparatus, a longwise and vertically-moved pressure sensor (50) indicates a group of levers (71), while a carrier (90) simulates around tibia during testing of a leg wear (80), cross section of which is arched in shape to have two side faces (93, 94). 縦長で垂直に動く圧力センサー(50)は1群のレバー(71)を表し、脚部着衣(80)の試験中、脛骨周辺をシミュレートする担体(90)の横断面は弓形で、2つの側面(93,94)を持っている。 - 特許庁
To solve the problem that in a conventional self test, AD and DA converting circuits to be tested are used for testing and calibrating them at a low cost, while whether the self test method has a desired linearity or not can not be decided correctly when the converting circuits have opposite error characteristics mutually. AD変換回路およびDA変換回路のテストおよび較正を低コストに実施するため、被測定対象であるAD変換回路とDA変換回路を互いに利用したセルフテスト方式が提案されている。 - 特許庁
(3) In the test set forth in paragraph 1, a specified measuring instrument shall pass if the structure of the specified measuring instrument for testing conforms to the technical standards specified by the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry set forth in Article 71, paragraph 1, item 1.
3 第一項の試験においては、その試験用の特定計量器の構造が第七十一条第一項第一号の経済産業省令で定める技術上の基準に適合するときは、合格とする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
Article 69-29 A prefectural governor, when it is determined that it is necessary for ensuring the proper conduct of Examination Affairs, may give necessary orders for supervision concerning Examination Affairs to a Designated Testing Agency.
第六十九条の二十九 都道府県知事は、試験事務の適正な実施を確保するため必要があると認めるときは、指定試験実施機関に対し、試験事務に関し監督上必要な命令をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
For these reasons, we do not recommend that you blindly track FreeBSD-STABLE, and it is particularly important that you do not update any production servers to FreeBSD-STABLE without first thoroughly testing the code in your development environment.
このような理由から、わたしたちは盲目的に FreeBSD-STABLE を追いかけることを推奨しません。 特に、最初に開発環境でコードを十分に試験せずに プロダクション品質が要求されるサーバをFreeBSD-STABLE にアップグレードしてはいけません。 - FreeBSD
Generally, when internal control over financial reporting is ineffective due to material weaknesses, for the purpose of the Financial Statement Audit, the external auditor cannot apply sampling testing where he/she relies on Internal Control in accordance with the Audit Standards.
一般に、財務報告に係る内部統制に重要な欠陥があり有効でない場合、財務諸表監査において、監査基準の定める内部統制に依拠した通常の試査による監査は実施できないと考えられる。 - 金融庁
However, the details of this system of local governance are not clear because there are few historical documents, and it is considered that it did not happen consistently throughout the area controlled by the Taira clan, but was a transient phenomena while testing ways for bushi to govern.
ただし、こうした現地支配の形態は、関係史料が少ないため明らかでない部分もあるが、平氏支配地に一律で適用されたのではなく、武士による支配を模索する中で現れたに過ぎないとされている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE PROCESSOR PROVIDED WITH THE SAME, DEFECTIVE INFORMATION STORAGE METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH DEFECTIVE INFORMATION STORAGE 不良情報格納装置とその装置を備える不良情報蓄積処理装置、不良情報蓄積方法、不良情報格納装置を備える半導体装置試験装置、および不良情報格納装置を備える半導体装置 - 特許庁