「testing」を含む例文一覧(14405)
＜前へ 1 2 .... 256 257 258 259 260 261 262 263 264 .... 288 289 次へ＞- In the case of testing the DRAM etc., after externally inputted writing data or incorporated pattern data are written, data for one row are read and compared with the writing data or externally inputted reference data to determine whether a device passes or fails.
DRAM等のテストに際して、外部入力した書き込みデータあるいは内蔵したパターンデータを書き込んだ後、１行分のデータを読み出し、書き込みデータあるいは外部入力した参照データと比較することにより良否(Pass/Fail) 判定を行う。 - 特許庁 - To provide a mm wave radar testing apparatus that is incorporated into a mm wave radar apparatus for measuring the distance between mobile units and the relative speed especially by using an FM-CW system regarding the mm wave radar apparatus, and can perform an analog test singly by the apparatus.
ミリ波レーダ装置に関し、特にＦＭ−ＣＷ方式を用いて移動体間の車間距離及び相対速度を測定するミリ波レーダ装置に組み込まれ、装置単体でアナログ試験が可能なミリ波レーダ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing the liquefaction and dynamic properties of ground in situ by utilizing a borehole, which can provide dynamic deformation properties with respect to a repeated load on a soil layer in an arbitrary position in the ground by using the simple method.
地盤内の任意の位置の土層の繰り返し荷重に対する動的な変形特性を簡易な方法で得ることができるボーリング孔を利用した原位置での地盤の液状化および動的特性試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and a system for evaluating whether adjustment factors used in a process of testing or monitoring an operation system need to be updated or varied and varying and updating those adjustment factors when so.
運転システムを試験又は監視するプロセスで使用される調整因子を更新又は変更する必要があるか否かを評価し、且つ必要又は希望がある場合にはそれらの調整因子を変更し、更新する方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - To suppress the increase of the test time even if the number of chips on a wafer increases, differently from a conventional method of testing the chips on the wafer one by one and marking the chips to identify good/defective products or storing information about the good/defective products.
ウェハー上のチップを１個ずつテストし、良品/不良品の識別が出来るようにマークをつけていくか、良品/不良品の情報を記憶していく従来の方式では、ウェハー上のチップ数が増えるに従ってテスト時間が増える。 - 特許庁 - To provide a stress measuring and testing method, capable of easily extracting a sample to be measured from dies without the adhesion of part of the sample to be measured to the surface of a tester, such as a die or a rotating shaft after the completion of stress measurement and test.
応力測定試験終了後の被測定試料の一部がダイあるいは回転軸など試験機の表面に付着することなく、被測定試料をダイから簡単に取り出すことができる応力測定試験方法を提供する。 - 特許庁 - The inspecting apparatus for a semiconductor device for testing durability of the semiconductor device against a temperature, comprises: a match plate; and a contact module connected with the match plate, and having a radiating part radiating the heat generating from the semiconductor device to the outside and a test part for press-contact of lead wires of the semiconductor device.
このように正確なテストが行われ、テスト時発生する半導体素子の熱によって良品の半導体素子を不良品と判定する誤判定が抑制されることにより、生産性向上及び費用を節減することができる。 - 特許庁 - The thin film stripping test method and the apparatus use a method for testing and beating the test piece (3) having the thin film (3b) formed on one surface and fixed to a support table (15) on the side (3D) opposite to the thin film by using the mass element (14) such as the hammer etc.
本発明による薄膜剥離試験方法および装置は、一表面に薄膜（３ｂ）が形成され支持台（１５）に固定された試験片（３）の反薄膜側（３Ｄ）を質量体（１４ハンマ等）により打撃して試験する方法である。 - 特許庁 - To provide an inserting/ejecting technique of connectors, an inserting/ejecting device of connectors, and a testing device of circuit substrate using the inserting/ejecting device of connectors, all capable of inserting/ejecting the connectors in more easy and more correct fashion, while attempting exact maintenance of wiring material (cable).
配線材（ケーブル）の的確な保全を図りつつ、コネクタの着脱をより容易に、しかもより正確に行うことのできるコネクタ着脱方法及びコネクタ着脱装置及び該コネクタ着脱装置を用いた回路基板検査装置を提供する。 - 特許庁 - To make easily and quickly detectable a critical magnetic defect without destroying information after transfer processing in the case of the testing of a magnetic disk having a magnetic information containing track information recorded beforehand by a magnetic transfer system.
トラック情報を含む磁気的情報が磁気転写方式により予め記録される磁気ディスクを試験するに当たり、転写処理後の情報を破壊することなく、重大な磁気的欠陥を簡単かつ迅速に検出し得るようにする。 - 特許庁 - The sealant composition has a performance that the sealant composition forms a substantially non-damaged cured product, in a curing test which comprises charging the sealant composition into a joint disposed in a testing machine for giving movements to the joint and then gives one or more cycle movements to the joint a day.
このシーリング材組成物は、目地に対してムーブメントを与える試験機に設けた目地に充填後、１日に１サイクル以上のムーブメントを目地に与える硬化試験において、実質的に損傷のない硬化物となる性能を有する。 - 特許庁 - After recording the test data in each of the sectors, a value for a filter factor of an FIR filter arranged in a data reproduction system is changed from the optimal value, frequency gain is reduced, the testing data is reproduced, and the sector in which the reproduction failure occurs is registered as the defect.
各セクタに試験データを記録したあと、データ再生系に設けたＦＩＲフィルタのフィルタ係数の値を最適な値から変更して周波数利得を低下させて試験データを再生し、再生エラーが発生したセクタを欠陥登録する。 - 特許庁 - A measuring unit 2 for detecting the soil condition by contacting with the field side of a soil condition-testing system attached to a traveling machine body 1 is supported to be slidable in the cross direction to the traveling direction of the traveling machine body 1 by a support mechanism 50.
走行機体１に取り付けられた土壌状態測定システムの圃場側との接触によって土壌状態を検出する測定部２を、走行機体１の走行方向に交差する方向に支持機構５０によってスライド自在に支持した。 - 特許庁 - The method for testing the disease caused by Streptococcus pneumoniae of the patient includes detecting ribosomal protein L7/L12 of Streptococcus pneumoniae in the urine or serum of the patient using the antibodies against ribosomal protein L7/L12 of Streptococcus pneumoniae.
肺炎球菌リボゾーム蛋白質Ｌ７／Ｌ１２に対する抗体を用いて、患者の尿又は血清中の肺炎球菌リボゾーム蛋白質Ｌ７／Ｌ１２を検出することを含む、該患者の肺炎球菌に起因する病態を検査する方法。 - 特許庁 - By staggering or phasing the starts of the RMW cycles in a wraparound fashion, each histogram bin is spread out over multiple banks, but testing can proceed faster than if only a single bank was used.
ＲＭＷサイクルの開始をラップアラウンド方式で交互にずらすことまたは段階的にすることによって、各ヒストグラムビンは複数のバンクにわたることになるが、利用されるバンクの数が１つである場合よりも試験を高速に行うことができる。 - 特許庁 - The testing device is provided with a wheel frame 11 horizontally directing a rotating shaft, and is provided with the tire mounting shaft 12 on the wheel frame, and an expandable and contractable collet member 13 and a flange face 14 inserted in a hub hole 5 of the wheel 3.
回転軸を水平方向に向けたホイール架台１１を備え、ホイール架台１１にタイヤ取り付け軸１２とホイール３のハブ穴５内に挿入される拡縮自在のコレット部材１３とフランジ面１４とを設けた試験装置を用いる。 - 特許庁 - To efficiently perform notification testing of coordinated emergency alarm notifications in which notifications of abnormal event warnings by an alarm and notifications of emergency earthquake information including emergency earthquake news flash or tsunami warnings by an emergency warning device are associated with each other.
警報器による異常警報と緊急警報装置による緊急地震速報や津波警報を含む緊急地震情報の報知を相互に連携させた場合の連携した報知機能の試験を効率よく行うことを可能とする。 - 特許庁 - A probe head for testing the properties of a semiconductor device (10) under test includes a dielectric film (24) supporting at least one semiconductor device (10) under test with a support frame (26) tautly supporting the dielectric film (24).
テストを受ける半導体装置（１０）の特性をテストするためのプローブヘッドがテストを受ける少なくとも一つの半導体装置（１０）を支持する誘電体フィルム（２４）を含み、この誘電体フィルム（２４）を支持フレーム（２６）がぴんと張って支持する。 - 特許庁 - To provide an inspection device of motor thrust and its inspection method capable of easily reproducing an operation conditions simulating a complicated load pattern without change of constitution of dummy for testing and inspecting by dynamically changing the complicated load pattern.
試験用ダミーの構成変更がいらず、複雑な負荷パターンをシミュレートした運転条件を容易に再現でき、また複雑な負荷パターンを動的に変更して検査が行えるモータ推力の検査装置およびその検査方法を提供すること - 特許庁 - The semiconductor memory testing apparatus constructed to allow fail bit map display for every wafer based on fail data taken from a fail memory is provided with a section for setting a chip retrieving condition for arbitrarily setting the fail chip retrieving condition.
フェイルメモリから取り込んだフェイルデータに基づきウェハ単位でフェイルビットマップ表示するように構成された半導体メモリ検査装置において、フェイルチップ検索条件を任意に設定できるチップ検索条件設定部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁 - The scanning tester 10 for printed circuit boards capable of performing a test at a location with a tight space on a printed circuit board 16 can be three-dimensionally moved and includes a desktop robot 12 with a testing head 14 provided over the circuit board 16.
プリント回路板１６上の間隔が密な試験位置を試験することができるプリント回路板用走査テスタ１０は、３次元で移動でき、回路板の上方に設けられた試験ヘッド１４を有しているデスクトップのロボット１２を含む。 - 特許庁 - This method includes inserting test points into a circuit for reducing the number of specified bits required for transition fault testing of the circuit by reducing the dependency of a second time-frame pattern of the circuit on a first time-frame pattern of the circuit.
方法は、回路の第１時間フレームパターンに対する回路の第２時間フレームパターンの依存性を減らすことによって回路の遷移故障試験に必要な指定されるビットの個数を減らすために回路に試験点を挿入することを含む。 - 特許庁 - To provide a low frequency sound generator for fitting testing capable of efficiently generating low frequency sound even when a frequency is low and faithfully reproducing an amplitude / phase for the pressure waveform of the low frequency sound desired to be reproduced.
周波数が低くても効率よく低周波音を発生することができ、再生したい低周波音の圧力波形に対して振幅・位相を忠実に再生できることができる建具試験用低周波音発生装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a vibration testing apparatus for a superconducting magnet for a superconducting magnetic levitation type railroad which has high reliability, and which can diversely reproduce the vibration modes generated during the traveling of the superconducting magnet for the superconducting magnetic levitation type railroad.
超電導磁気浮上式鉄道用超電導磁石の走行中に発生する振動モードを多様に再現させることができる信頼性の高い超電導磁気浮上式鉄道用超電導磁石の振動試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an expandable powdery dispersant for magnetic particle liquid which exhibits very excellent dispersibility and solubility in water when preparing a magnetic particle liquid for wet magnetic particle testing performed in steel plants, automobile manufacturing plants, etc.
鉄鋼工場や自動車工場などにおいて実施されている湿式磁粉探傷試験方法における磁粉液の調製に際して、水中での分散・溶解性が非常に優れている磁粉液用発泡性粉末状分散剤を提供する。 - 特許庁 - To solve a problem wherein a data format used in a semiconductor testing device is not controlled seamlessly with versatile network equipment controlled using an SNMP, even when connected to the same network, because the data format is a peculiar format.
半導体テスト装置で用いるデータ形式は独自の形式であるため、同じネットワークに接続されていても、ＳＮＭＰを用いて管理することができる汎用ネット機器とシームレスに管理することができなかったという課題を解決する。 - 特許庁 - To obtain a hose-mounting tool in a hydraulic shock pressure-testing machine for easily changing the mounting angle of a hose, at the same time easily performing angle adjustment operation, and improving the accuracy of a hydraulic shock test.
ホースの取付け角度の変更を容易に行うことが出来ると共に、角度調整作業も容易に行うことが出来、油圧衝撃試験の精度を向上させることが出来る油圧衝撃圧力試験機におけるホース取付け治具を提供する。 - 特許庁 - Different processing speeds of the digital logical circuit 202 can be tested by this method, and can be tested without making a special automatic testing device such as supporting the whole different possible voltage levels in response to the supporting different data rates.
この方法で、ディジタル論理回路の異なる処理速度をテストすることができ、サポートされる異なるデータ・レートに対応してすべての異なる可能な電圧レベルをサポートするような特殊な自動テスト装置を作ることなしにテストすることができる。 - 特許庁 - To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which the probe can be touched to various semiconductor wafer with an appropriate pressing force.
本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、種々の半導体ウエハに対して、適切な押圧力によりプローブを接触させることができるようにする。 - 特許庁 - To provide a test method for relevancy testing of an identifier able to be transmitted to a communication means by way of a communication network in a message, a test module therefore and a generating module for building a relevancy table provided for the testy method.
メッセージ中にあり、通信ネットワークを介して通信手段への伝達が可能な識別子の関連性テストのためのテスト法、そのためのテストモジュール及び上記のテスト法のために提供される関連表を作り上げる作成モジュールの提供。 - 特許庁 - A value obtained by adding an offset amount to a maximum value of the response waveform is set as a drive limit value before starting testing.
加振機の特性を目標波形と応答波形より計算した伝達関数を計測し、加振する目標波形から予想される応答波形を計算し、その応答波形の最大値にオフセット量を加えた値を駆動限界値として試験開始前に事前に設定する。 - 特許庁 - The polyimide film is continuously manufactured at a width of at least 1,000 mm and gives a distortion ratio of a specified value or less over the entire width when subjected to a trouser tear testing in the MD direction.
幅１０００ｍｍ以上で連続的に生産されるポリイミドフィルムであり、ＭＤ方向のトラウザー引き裂き試験を行った場合、全幅においてずれ率が一定の値以下となるようなポリイミドフィルムの製造方法により得られるポリイミドフィルムを提供する。 - 特許庁 - To execute an improved test with higher precision at higher speed, concerning a testing device of a semiconductor integrated circuit including an A/D conversion circuit or a D/A conversion circuit and a test method of the semiconductor integrated circuit using the device.
Ａ／Ｄ変換回路またはＤ／Ａ変換回路を含んだ半導体集積回路の試験装置およびこれを用いた半導体集積回路の試験方法において、試験を、より高精度、より高速度で実行できるよう、改良する。 - 特許庁 - To provide a transformation plastic coefficient testing device for measuring successively deformation of a test piece during a rapid cooling time by assuming rapid-cooling thermal treatment after heating a material, and identifying a transformation plastic coefficient from the deformation.
材料を加熱した後に急速冷却する熱処理を想定し、急速冷却時の試験片の変形量を逐次測定可能とし、その変形量から変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数試験装置を提供する。 - 特許庁 - The method for preparing and testing specimens for high-throughput screening assays for identifying bonding between a chemical target and a library compound and the use of a calorimeter device for measuring reaction enthalpy on the bonding are disclosed.
薬剤標的とライブラリ化合物の間の結合の同定のための、ハイスループットスクリーニングアッセイ用の標本調製および検査のための方法、結合に関する反応エンタルピーを測定する熱量計装置を用いた使用について開示される。 - 特許庁 - To provide an electric connection device provided with contacts different in arrangements capable of testing a plurality of types of electronic devices different in specifications of the size, number, arrangement and the like of electrodes, and capable of saving space for arranging the contacts.
電極の大きさ、数、配列などの仕様の異なる複数種類の電子デバイスを試験することができる異なる配列の接触子を備え、それらの接触子を配列するスペースを節約することができる電気的接続装置を提供する。 - 特許庁 - If a semiconductor integrated circuit 3 under test has a less required number of terminals for tests, a plurality of testers corresponding to the semiconductor integrated circuit 3 under test one to one are used for testing a plurality of semiconductor integrated circuits 3 at once.
試験対象となる半導体集積回路の、試験で必要とされる端子が少なかった場合に、半導体集積回路と一対一に対応づけられた複数の試験装置を用いて、複数の半導体集積回路を同時に試験する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device which shortens time required for a test or achieves flexible correspondence in accordance with a DUT, by generating a steeply-changing test signal or a mildly-changing test signal.
急峻に変化する試験信号或いは緩やかに変化する試験信号を生成することができ、これにより試験に要する時間の短縮やＤＵＴに合わせた柔軟な対応を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide examination techniques compatible with each tooth and periodontal tissue including those of utilizing reagents for testing each tooth and periodontal tissue in high accuracy, particularly utilizing reagents for culturing bacteria, namely media used for culturing bacteria.
個々の歯牙や歯周組織を精度良く検査する試薬を有効利用する技術であり、とくに細菌を培養する試薬すなわち細菌培養に供する培地を有効利用する技術など、個々の歯牙や歯周組織に対応する検査技術の提供。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of producing a test program which can shorten a test time even without having the knowledge about multithreading and capable of shortening the time required for preparation and debugging of the test program.
マルチスレッドに関する知識を有しなくとも試験時間を短縮し得る試験プログラムを作成することができるとともに、その試験プログラムの作成及びデバッグに要する時間を短縮することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of improving yield of a semiconductor device, and saving the labor and the time required from start until finish of an interface test of the semiconductor device even when an abnormality occurs.
半導体デバイスの歩留まりの向上を図ることができるとともに、異常が発生したときにおいても半導体デバイスのインターフェーステストを開始してから終了するまでにかかる手間と時間とを省くことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - The method and the device for data analysis according to various aspects are so constituted that a statistical outlier which includes a local outlier for showing an outlier in a subset of larger data population at testing data of a component can be identified.
様々な局面に従ったデータ解析のため方法および装置は、より大きなデータ母集団のサブセットの中の外れ値を表す、局所的外れ値を含む、コンポーネントの試験データの中の統計的外れ値を識別するように構成される。 - 特許庁 - To provide an attachment for sockets capable of automatically adapting to the performance test of IC devices and increasing thermal radiation from IC devices while curving increases in size, and also to provide a semiconductor device testing apparatus having the same.
本発明は、ＩＣデバイスの性能試験の自動化に対応することができ、また、サイズの大型化を抑制しつつ、ＩＣデバイスからの熱放出を高めることができるソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁 - The circuit 124 sets up the data pattern of diagnosis testing data in each of an address output register 115, a data output register 117 and a bus control output register 119 and instructs the output of the data pattern to respective buses 101 to 103.
バスインターフェース制御回路１２４は診断試験用データのデータパターンをアドレス出力レジスタ１１５と、データ出力レジスタ１１７と、バス制御出力レジスタ１１９とのそれぞれにセットし、各バス１０１，１０２，１０３への出力を指示する。 - 特許庁 - 16.3. A person, who provided assistance in working of technical documentation, financing or testing of the invention, industrial design or utility model, or in filing an application for the invention, industrial design or utility model shall not be regarded as a co-author.
16.3. 発明、意匠若しくは実用新案の技術書類作成、資金調達若しくは試験における作業、又は発明、意匠又は実用新案の出願における作業の補助をする者は、何人も共同研究者とみなしてはいけない。 - 特許庁 - Common functions or characteristics are defined by JIS (Japanese Industrial Standards), IOS-standards (International Organization for Standardization-standards) or IEC-standards (International Electro-technical Commission-standards), or determined quantitatively by testing or measuring methods provided in those standards.
標準的なものとは、JIS（日本工業規格）、ISO規格（国際標準化機構規格）又はIEC規格（国際電気標準会議規格）により定められた定義を有し、又はこれらで定められた試験・測定方法によって定量的に決定できるものをいう。 - 特許庁 - A testing of yarns to test the accuracy of the description of count or length shall be made, in the first instance, up to the limit of one bundle in every one hundred bales or fractions of one hundred bales in a consignment.
選択すべき見本の数番手又は長さについての表示の正確性を検査するための糸の試験については，第1試験段階において，託送品の各100梱包又は100梱包未満当たり1束を限度として，これを行わなければならない。 - 特許庁 - Common functions or characteristics are defined by JIS (Japanese Industrial Standards), IOS-standards (International Organization for Standardization-standards) or IEC-standards (International Electro-technical Commission-standards), or determined quantitatively by testing or measuring methods provided in those standards.
標準的なものとは、JIS(日本工業規格)、ISO規格(国際標準化機構規格)又はIEC規格(国際電気標準会議規格)により定められた定義を有し、又はこれらで定められた試験・測定方法によって定量的に決定できるものをいう。 - 特許庁 - The "working, functions, or characteristics" of the claimed inventions are found to be convertible to other working, functions, or characteristics specified by other definitions or testing or measuring processes, and it is found that the products of the cited inventions are considered to be identical to those of the claimed inventions from the results of the conversion.
請求項に係る発明の「作用、機能、性質又は特性」が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて同一と認められる引用発明の物が発見された場合。 - 特許庁 - A semiconductor wafer is held so that probes can be brought into contact with both surfaces thereof, both surfaces of the semiconductor wafer are then heated, respectively, by a heater part and the probes are connected with both surfaces, respectively, thus testing semiconductor chips provided on the semiconductor wafer.
両面にプローブを接触可能に半導体ウエハを保持し、この半導体ウエハの両面をそれぞれヒータ部により加熱し、この両面にそれぞれプローブを接続して当該半導体ウエハに設けられた半導体チップを試験する。 - 特許庁
