「testing」を含む例文一覧(14405)

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  • In this method, every testing emitted light separately containing different energy density for measuring or predefined radiation is simultaneously-irradiated on some sample volumes 1211-1233 in the optical material, in order to determine radiation damage resistance of the optical material, where any radiation used for all sample volumes arises from a common radiation source 13.
    光学材料の耐照射損傷性を決定するために、光学材料内の幾つかのサンプル体積１２１１〜１２３３に、異なった測定または所定放射エネルギ密度を有する試験放射光線を同時に照射する。 - 特許庁
  • A reaction load testing device is composed of an approval pump 1, a check valve 2, a delivery pipe 3, a reaction load balance valve 4, a water feeding valve 5, an exhaust valve 6, a drain valve 7, a pressure meter 8, a pressure communicator 9, a water absorbing pipe, a compound gauge, and a dam 12.
    反力負荷試験装置は、試供ポンプ１、逆止め弁２、吐出管３、反力負荷平衡弁４、給水弁５、排気弁６、排水弁７、圧力計８、圧力発信器９、吸水管、連成計、せき１２で構成する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device which enables testing of each semiconductor LSI chip, as it is, in a state of a lamination, e.g. system verification as to presence or absence of an internal fault of the chip, a connection fault between chips, etc., with respect to a laminated LSI chip formed by laminating a plurality of semiconductor LSI chips.
    半導体LSIチップを複数積層した積層LSIチップに対して、積層状態のまま各チップのテスト、例えばチップ内部不良やチップ間接続不良の有無などのシステム検査を行うことのできる方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a large glass substrate without a melting defect by properly testing the melting defect over the entire surface of the glass substrate when the substrate size is 1,100 mm×1,250 mm or more, particularly 2,000 mm×2,000 mm or more.
    基板寸法が１１００ｍｍ×１２５０ｍｍ以上、特に２０００ｍｍ×２０００ｍｍ以上である場合に、ガラス基板の全面に亘って、溶融欠陥検査を適正に行うことにより、溶融欠陥がない大型のガラス基板を得ること。 - 特許庁
  • A circuit testing device 2A, a bump forming device 2C, an IC chip bonding device 2D, a cutting device 2E, and a control device 1 that controls the above devices are provided to a system 100 which manufactures a semiconductor part that the IC chips are mounted three-dimensionally.
    ＩＣチップが三次元実装されてなる半導体部品を製造するシステム１００に、回路試験装置２Ａ、バンプ形成装置２Ｃ、ＩＣチップ接合装置２Ｄ、切断装置２Ｅ、およびこれらの装置を制御する制御装置１を設ける。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method for a semiconductor device, capable of accurately putting chips in a shell, preventing an offset phenomenon upon closing a cover of the shell, and radiating heat generated upon testing, and a shell for use in the method.
    シェル内にチップを投入する際に正確に投入でき、またシェルのカバーを閉じる際に片寄せ現象を防止でき、さらに試験時に発生する熱を放熱できる半導体装置の製造方法、およびこれに用いられるシェルを提供する。 - 特許庁
  • To accurately adjust the pressure of a proportional solenoid control valve in a short time independently of existence of an individual difference of the proportional solenoid control valve when testing a pressure control of the proportional solenoid control valve and to provide a device for the same method.
    比例電磁制御弁の圧力調整試験において、比例電磁制御弁の個体差の有無に関係なく短時間でかつ精度の高い比例電磁制御弁の圧力調整を行うこと及び、その装置の提供をすること。 - 特許庁
  • On a substrate for testing, a clock signal corresponding to an actual operation of the semiconductor device is supplied, and a test program for conducting a performance test on the first memory circuit is written from a tester to the second memory circuit of the second semiconductor device.
    試験用基板上において、上記半導体装置の実動作に相当したクロック信号を供給し、テスト装置から上記第２半導体装置の第２メモリ回路に上記第１メモリ回路の動作試験を行うテストプログラムを書き込む。 - 特許庁
  • This testing apparatus A generates change in a load corresponding to body motion obtained by respiration of a sleeping person, and discriminates the respiratory standstill condition or the low respiratory condition of the sleeping person on the basis of the change in a frequency of this respiratory signal.
    検査装置Ａは、就寝者の呼吸による体動に応じた、荷重変化を呼吸信号として生成し、この呼吸信号の周波数の変化に基づいて、就寝者の無呼吸状態もしくは低呼吸状態を判定する。 - 特許庁
  • The sensors are elongate test strips 32 for in vitro testing, each having a substrate 34, at least one electrode 42, 44, an embossed channel 54 in the electrode, and lidding tape 38 covering at least a portion of the embossed channel 54.
    センサは、インビトロ試験のための細長い試験ストリップ３２であり、基板３４と、少なくとも１つの電極４２、４４と、電極内にエンボス加工されたチャネル５４と、エンボス加工されたチャネル５４の少なくとも一部分をカバーする蓋テープ３８とを含む。 - 特許庁
  • To provide a memory error correction and detection circuit test system which utilizes the validity/invalidity switching function of an ECC circuit and simply performs an operation test of the ECC circuit without adding a circuit for test, and also to provide its testing method.
    ＥＣＣ回路の有効／無効切り替え機能を利用して、試験用の回路を追加することなく簡単にＥＣＣ回路の動作試験を行うことができるメモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a voice signal processing device which automatically changes an emphasis degree of utterance voice, according to articulation of voice in an input voice signal which is actual utterance voice, without using a sound source for testing, such as impulse.
    インパルス等の試験用音源を用いることなく、実際の発話音声である入力された音声信号における音声の明瞭度に応じて、自動的に発話音声の強調度合いを変更する音声信号処理装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an in-plane shearing testing method for a rubbery elastic laminate capable of easily performing the laborary test of shearing fatique durability at a member level by a relatively simple tester to evaluate the same, and in-plane shearing test equipment therefor.
    部材レベルでの剪断疲労耐久性を比較的簡単な試験装置により室内試験で容易に行うことが出来ると共に、その評価をすることが出来るゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
  • Moreover, the driver board 32 of each test unit 3 performs a test specific to the driver board with respect to the burn-in board 4 connected via the motherboard 33, according to the instruction for starting testing the control unit 2, and outputs the test result to the control unit 2.
    また、各テストユニット３のドライバボード３２は、そのドライバボード固有の試験を、制御装置２のテスト開始の指示に応じて、マザーボード３３を介して接続したバーンインボード４に対して行い、試験結果を制御装置２に出力する。 - 特許庁
  • Also, the yield can be improved by testing by using optimum stress applying voltage and discrimination voltage in accordance with internal generation voltage characteristics in a test method of a nonvolatile semiconductor memory in which the gate voltage of a memory cell is generated internally in read-out.
    また、読み出し時にメモリセルのゲート電圧が内部生成される不揮発半導体記憶装置の検査方法においては内部生成電圧特性に応じた最適なストレス印加電圧と判定電圧で検査することで歩留り向上が図れる。 - 特許庁
  • Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).
    このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁
  • To provide a method and a device which is provided with semiconductor switching means for calculation control for high-voltage load, capable of precisely and continuously tracking the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.
    発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a creep testing machine allowing a person to precisely know the point of time a test piece is actually loaded to a test piece and obtain precise data even for a material having a deforming characteristic sensitive to the loading of a resin or the like.
    試験片に対して荷重が実際に負荷される時点を正確に知ることができ、樹脂等の負荷に対して敏感な変形特性を有する材料にでも、正確なデータを得ることができるクリープ試験機の提供を課題とする。 - 特許庁
  • Then, when the operation to alter the order of the thumbnail images is performed through an operational part, the image testing device alters by rewriting the image number attached to the medical images of the thumbnail images related to the alteration operation in accordance with the altered order (Step S16).
    そして、前記サムネイル画像の並び順を変更する操作が操作部を介してなされると、変更された並び順に応じて、変更操作に係るサムネイル画像の医用画像に付帯されている画像番号を書き換えて変更する（ステップＳ１６）。 - 特許庁
  • To provide a material testing device and an external output method for a measured load therein, capable of generating a sufficient processing time in a servo loop as far as possible, and of outputting a detected signal proportional to the load as far as possible.
    サーボループにおける処理時間に余裕を極力生じさせるとともに、負荷に極力比例した検出信号を出力することができる材料試験装置における計測負荷の外部出力方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A line type environment tester 40 comprises a low- and high- temperature test tanks 42, 43 for testing a plurality of boards 1 with adapters at once during transporting of the boards housed in a transport box 20 via the test tanks.
    ライン型環境試験装置４０は低温試験槽４２および高温試験槽４３を備え、アダプタ付き基板１は一度に複数枚が搬送ボックス２０に収納された状態でこれらの試験槽を経由して搬送され、試験が行われる。 - 特許庁
  • A testing device 100 decides test items and when performing the wireless transmission characteristic test, a layer-3 signal is transmitted between the device and mobile terminal equipment 150 to realize wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.
    試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁
  • When an external circuit is connected to the outside balls 2 of IC 1 by IC socket and testing is performed, a plurality of contact terminals 3 made of spherical conductive material are provided at the IC socket and these contact terminals 3 are disposed to press the outside ball.
    ＩＣソケットによってＩＣ１の外部ボール２に外部回路を接続し、試験を行なう際、ＩＣソケットに球形の導電材で作られた複数の接触端子３を設け、この接触端子３が外部ボール２に接圧されるよう構成する。 - 特許庁
  • To provide a vertical load testing method for an existing pile performed for confirming support performance of a pile whether or not the existing pile used for an existing building can be reused as the pile for a new building when reconstructing the building.
    既存建物の建て替えに際し、既存建物の柱の直下に位置する既存杭を、新築建物の杭として再利用できるかどうか、同杭の支持性能を確認するために実施する既存杭の鉛直載荷試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To prevent damage due to losses and falls of specimens when a lid is opened by enabling the visual recognition of the spots where the specimens are located in a cassette in a process for preparing the specimens for testing pathological tissues and previously drawing workman's attention.
    病理組織検査標本をつくる工程において検体がカセット内のどこにあるかを視認できるようにし、作業者にあらかじめ注意を促すことができるようにして、開蓋時の検体の紛失や落下による損傷を防止する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit in which an influence of phase noise of a sampling clock on transfer characteristics of a DAC and an ADC can be detected and the quality of a loop-back test can be improved, and to provide a method of testing the same.
    サンプリングクロックの位相ノイズがＤＡＣおよびＡＤＣの変換特性に与える影響を検出することができ、ループバックテストのテスト品質を向上させることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • Because the vertical force from the mount 3 supporting the work of the assembled rotation boy is distributed on the whole region of the piezoelectric plastic sheet 2, the load per unit area is small, therefore, the durability of the dynamic balance testing machine can be improved.
    組立回転体ワークを支持する架台３からの鉛直方向の力が圧電プラスティックシート２の全領域に分散して付勢されるため、単位面積当たりの負荷が小さくなり、動釣合試験機の耐久性の向上を図ることができる。 - 特許庁
  • The display controller 81 of the slot machine 10 is connected with a second relay terminal board 202 through an electric wire such as a harness, and the second relay terminal board 202 is connected with the performance testing machine 301 through an electric wire such as a harness.
    また、スロットマシン１０の表示制御装置８１と第２中継端子基板２０２とをハーネス等の電気配線を通じて接続し、該第２中継端子基板２０２と性能試験機３０１とをハーネス等の電気配線を通じて接続する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor-testing device capable of successively storing, in a normal order, code data being continuously outputted from a DUT (a device to be tested) in an interleave type digital capture memory without depending on the conditions of a pattern program.
    ＤＵＴから連続的に出力されるコードデータを受けてインターリーブ方式のデジタル・キャプチャー・メモリへの格納をパターンプログラムの条件に依存することなく正常な順番で順次格納可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Additional protease inhibitors, reducing agents, stabilizers and buffering agents may be combined with the disclosed compositions in devices for sampling or testing biological fluids for levels of peptides of interest, or methods therefor.
    追加のプロテアーゼ阻害物質、還元剤、安定剤、および緩衝剤が、興味の対象であるペプチドのレベルについて生物学的液体をサンプリングもしくはテストするための装置、またはそのための方法において、開示された組成物と併用されてもよい。 - 特許庁
  • To readily constitute a system for surely preventing an error of mistaking cells and cross-over contamination even in the case of installing a plurality of thermostatic devices for medical use having different specifications caused by a variety of makers and types in a testing room and integratively controlling them.
    メーカーや型式の違いによる異なる仕様の医療用恒温器を試験室に複数台設けて統合管理する場合でも、細胞の取り違えミスや交叉汚染を確実に防止するためのシステムを容易に構築することができる。 - 特許庁
  • Article 62 Those who have an objection to the disposition to the designated testing agency in accordance with the provisions in this Act may submit an application for examination to the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism pursuant to the Administrative Appeal Act (Act No. 160 of 1962).
    第六十二条　この法律の規定による指定試験機関の処分に不服がある者は、国土交通大臣に対し、行政不服審査法（昭和三十七年法律第百六十号）による審査請求をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (2) A notifying manufacturing business operator who intends to take the test set forth in the preceding paragraph shall, pursuant to the provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, submit a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents to said designated verification body.
    ２　前項の試験を受けようとする届出製造事業者は、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を当該指定検定機関に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (5) The competent minister may, when recognizing that a person as provided for in paragraph (3) has violated the provisions of the said paragraph, order that person to use Organisms Subject to Testing based on the conditions in the said paragraph or take other necessary measures.
    ５　主務大臣は、第三項に規定する者が同項の規定に違反していると認めるときは、その者に対し、同項の条件に基づいて検査対象生物の使用等をすることその他の必要な措置を執るべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • kbluetoothd: Bluetooth Meta Server.kbtsearch: Bluetooth device/service search utility.khciconfig: KDE Bluetooth Monitor.kioclient: KIO command line client.qobexclient: Swiss army knife for obex testing/development.kbtobexclient: A KDE Bluetooth Framework Application.kioobex_startkbtserialchatkbemusedsrv: KDE Bemused Server.kbtobexsrv: KDE OBEX Push Server for Bluetooth. kbluepin: A KDE KPart Application.auth-helper: A helper program for kbtobexsrv that sends an authentication request for a given ACL link.Code Listing6.3: Installing kdebluetooth
    kbluetoothd:Bluetoothメタサーバkbtsearch:Bluetoothデバイス・サービス検索ユーティリティkhciconfig:KDEBluetoothモニタkioclient:KIOコマンドラインクライアントqobexclient:obexテスト・開発用の高度なクライアントkbtobexclient:KDEBluetoothフレームワークアプリケーションkbemusedsrv:KDEBemusedサーバkbtobexsrv:KDEBluetooth用OBEXPushサーバkbluepin:KDEKPartアプリケーションauth-helper:与えられたACLリンクに対して認証要求を送信する、kbtobexsrvのためのヘルパーです。 - Gentoo Linux
  • The NetBeans PHP editor is dynamically integrated with NetBeans HTML, JavaScript and CSS editing features such as syntax highlighting and the JavaScript debugger.NetBeans IDE 6.5 fully supports iterative development,so testing PHP projects follows the classic patterns familiar to web developers.
    NetBeans PHP エディタは、構文の強調表示や JavaScript デバッグなどができる NetBeans HTML、JavaScript、CSS 編集機能と動的に統合されています。 NetBeans IDE 6.5 では反復開発が完全にサポートされているので、PHP プロジェクトのテストは、Web 開発者によく知られている従来のパターンに従います。 - NetBeans
  • Since the period of bubble economy, 'Kanji of the Year,' one Chinese character representing the social conditions of the year, have been announced every year at Kiyomizu-dera Temple under the auspices of The Japan Kanji Aptitude Testing Foundation on December 12, 'the day for Kanji' (however, the day may be shifted according to circumstances).
    バブル期より毎年漢字の日の12月12日（ただし事情によりずれる場合もある）に、財団法人日本漢字能力検定協会主催によりその年の世相を漢字一字で表現する「今年の漢字」が清水寺で発表される。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • Specifically, whether review implementation plans for checking the reviews conducted on a stage-by-stage basis and managing the quality condition, or a testing plan suitable for the development associated with system integrations is formulated and a system for implementation is developed.
    具体的には、工程毎のレビュー実施状況を検証し、品質状況を管理するためのレビュー実施計画や、システム統合に伴う開発内容に適合したテスト計画が策定され、実施するための体制が整備されているか。 - 金融庁
  • To provide a built-in self test (BIST) network using a hierarchy of a universal BIST scheduler (UBS) for scheduling and coordinating testing of elements such as regular structure BIST (RSB) elements and random logic BIST (RLB) elements.
    規則構造組込み自己テスト（ＢＩＳＴ）（ＲＳＢ）要素およびランダム・ロジックＢＩＳＴ（ＲＬＢ）要素などの要素のテストをスケジューリングし、調整するためのユニバーサルＢＩＳＴスケジューラ（ＵＢＳ）の階層を使用したＢＩＳＴネットワークを提供すること。 - 特許庁
  • To provide an edge signal generating apparatus reliably detecting generation errors of edge signals and easily analyzing the causes of errors of the edge signals in a short period of time, and also to provide a semiconductor testing apparatus provided with the apparatus.
    エッジ信号の発生エラーを確実に検出することができ、これによりエッジ信号のエラーの原因を短時間且つ容易に解析することができるエッジ信号生成装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a tool for generating test data on a corresponding cycle base having a format characteristic to specific ATE for testing a physical serial device by extracting and removing timing irregularity such as drift or jitter from simulation test data on an event base.
    イベントベースのシミュレーション試験データからドリフトやジッタなどのタイミング不規則性を抽出及び除去し、物理的シリアルデバイスを試験する特定のＡＴＥに固有のフォーマットを有する対応するサイクルベースの試験データを生成するツールを提供する。 - 特許庁
  • To provide a smoke exposure testing module which enables the efficient and easy recovery of cells in an amount sufficient for performing highly precise observation with microscopes and various biological measurements without damaging the exposed cells.
    曝露された細胞に損傷を与えることなく、顕微鏡での高精度の観察、及び様々な生物学的測定を行うのに十分な量の細胞を効率的かつ容易に回収することができる煙曝露試験用モジュールを提供する。 - 特許庁
  • To provide a new method for testing an agent for treating or preventing various bone metabolism diseases including osteoclasia in osteoporosis and chronic rheumatic arthritis and bone metastasis and osteoclasia of a cancer cell, and to provide a DNA used in the method.
    骨粗鬆症、慢性関節リウマチにおける骨破壊、ガン細胞の骨転移と骨破壊等を含むさまざまな骨代謝疾患の治療又は予防剤を試験するための新規な方法及び該方法において用いられるＤＮＡの提供。 - 特許庁
  • To efficiently judge whether a semiconductor device is good or not without depending on the number of comparator pins provided at a tester regarding the semiconductor device having a structure which is suitable for efficiently testing a plurality of semiconductor devices.
    本発明は複数の半導体装置の試験を効率的に行う上で好適な構造を有する半導体装置に関し、テスターが備えるコンパレータピンの数に依存することなく、効率的な良否判定の実行を可能とすることを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a method for testing therapeutic or preventive effect of a sample for diseases selected from a group consisting of arteriosclerosis, diabetes, thrombosis, inflammation, immune abnormality, allergy and metastasis of cancer and obtain a DNA used for the method.
    動脈硬化、糖尿病、血栓、炎症、免疫異常、アレルギー、癌および癌の転移からなる群から選択される疾患に対する、被験物質の治療または予防効果を試験する方法および該方法に用いられるＤＮＡを提供する。 - 特許庁
  • TEST METHOD OF INTEGRITY OF GPS MEASURING, ERROR DETECTION METHOD IN SPECIAL VEHICLE, MAPPING METHOD AND SYSTEM OF GPS MULTIPATH LEVEL, AND SYSTEM INSTALLED IN VEHICLE FOR TESTING INTEGRITY OF GPS MEASURING
    ＧＰＳ測定の完全性の検査方法及び特定の車両におけるエラー検出方法及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピング方法及びＧＰＳ測定の完全性を検査するために車両内に設けられているシステム及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピングシステム - 特許庁
  • Several pads 18 for inspection which are electrodes for testing the semiconductor wafer 11 are formed in regions among the semiconductor devices 15 on the semiconductor wafer 11 except the regions under the wires.
    半導体ウェハ１１の上における各半導体デバイス１５同士の間の領域であり且つ前記ワイヤの下側となる領域を除く領域には、半導体ウェハ１１のテスト用の電極である複数の検査用パッド１８が形成されている。 - 特許庁
  • To provide a method and device for testing a semiconductor device capable of evaluating an exact interface state density and its energy distribution of the semiconductor device having an insulating film permitting the tunnel current to easily flow.
    トンネル電流が流れやすい絶縁膜を有する半導体装置について正確な界面準位密度及びそのエネルギー分布を評価することを可能とする半導体装置の試験方法及び試験装置を提供することを提供する。 - 特許庁
  • The receptor may be useful in isolating molecules for the treatment of disorders such as prostate cancer, benign prostatic hyperplasia, osteoporosis or cardiovascular disorders and in the testing of substances for estrogenic and other hormonal effects.
    該レセプターは、前立腺癌、良性前立腺過形成、骨粗鬆症、または心臓血管疾患のような疾患の治療のための分子を単離するのに、及びエストロゲンおよび他のホルモン的影響に関して物質をテストするのに有用であり得る。 - 特許庁
  • This software testing device that obtains information about the dynamic characteristics of a software system, uses a static analysis 130 and a dynamic analysis 131 and dynamically changes positions for obtaining the information about the dynamic characteristics of a program and acquisition conditions.
    ソフトウェアシステムの動的特性に関する情報を得るソフトウェア試験装置において、静的な分析１３０と動的な分析１３１を用い、プログラムの動的特性に関する情報を得るための位置と取得条件を動的に変更する。 - 特許庁
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