「testing」を含む例文一覧(14405)
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試験システムは、一組のコンポーネントを試験し、その試験データ生成するように構成されるテスターと、試験データからデータサブセットを選択し、データサブセットの中の局所的外れ値を自動的に識別するように構成される、局所的外れ値識別システムとを備える。 - 特許庁 - To provide a test method of electronic components, containing semiconductors which secures processing efficiency, while holding back increase in cost for the entire system by enabling the testing of electric characteristics thereof in a conveying process that allows conveying of a plurality of electronic components as units.
システム全体のコストアップを抑えつつ、処理能率を確保するために複数の電子部品を単位として搬送しながら、その搬送過程で電子部品の電気的な特性を試験することのできる、半導体素子を含む電子部品の試験方法を提供する。 - 特許庁 - When evaluating the resistance to corrosion of the material under the ammonium hydrosulfide environment, a relation between concentrations of the ammonium hydrosulfide and pressures is previously simulated for a testing solution, and the concentration of the ammonium hydrosulfide is determined from the pressure, and the resistance to corrosion of the material is evaluated.
水硫化アンモニウム環境下における材料の耐腐食性を評価するに際し、予め試験溶液の水硫化アンモニウム濃度と圧力との関係をシミュレートしておき、圧力から水硫化アンモニウム濃度を判断し、材料の耐腐食性を評価する。 - 特許庁 - To provide a probe block of a probe device for testing a liquid crystal panel, which facilitates alignment of a probe block electrode with an electrode, has high flexibility to cope with a difference in size of a liquid crystal panel and enables a test with reliability.
液晶パネル検査用のプロ−ブ装置のプロ−ブブロックにおいて、プロ−ブブロック電極３と電極１２との位置合わせし易く、液晶パネル１１の大きさの違いがあっても対応できる汎用性が高く信頼性のある検査ができるようにする。 - 特許庁 - To provide a driving testing apparatus capable of accurately conforming phase synchronization of a rotary driving unit with that of an object driving apparatus to surely collide, with a high success rate, a projection object with specified one out of a plurality of objects rotated at high speed.
回転駆動装置と物体打込機器の位相同期を正確に合わせることができ、これにより高速回転する複数の対象物のうち特定の１つに、投射物を高い成功率で確実に衝突させることができる打込み試験装置を提供する。 - 特許庁 - In the filter holder 6, the inner diameter of a gas flow passage is gradually increased from the upstream side to the downstream and is throttled to a small diameter near the downstream for generating turbulence in the high-temperature gas flow, and at least a filter 81 for testing is set to the region where the turbulence cannot be extinguished.
フィルタホルダ６では、上流から下流にかけてガス流通路の内径を順次大きくし下流近傍で小径に絞って高温ガス流に乱流を起こし、その乱流の消滅しない領域に少なくとも前記試験用フィルタ８１をセットする。 - 特許庁 - The drainage testing device is provided with: a power supply part (2) for driving a drain pump based on the power voltage; and an information part (3) for informing the operation of a float switch (11) by being connected to the float switch (11) detecting the level of the drain in the drain pan of the indoor unit.
前記電源電圧に基づいて前記ドレンポンプを駆動させる電源供給部（２）と、前記室内機のドレンパン内のドレン水位を検知するフロートスイッチ（１１）と接続されることにより当該フロートスイッチ（１１）の作動を知らせる報知部（３）とを備えている。 - 特許庁 - To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.
試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁 - To solve the problem that a testing circuit in a chip applied by a conventional test facilitation designing technique must inspect whether an input/ output circuit for outputting a signal to an external terminal or capturing a signal from an external terminal is normally operated or not by using a circuit tester.
従来のテスト容易化設計技術を適用してチップ内にテスト回路の構成では、外部端子へ信号を出力したり外部からの信号を取り込む入出力回路が正常に動作するか否かの検査はテスタを用いて行なわざるを得ない。 - 特許庁 - As a result, the amount of testing gas used per sensor can be reduced, and a period for replacing the gas can be reduced thereby shortening the necessary working hours, and the amount of gas to be used can be reduced thereby reducing its cost and executing the sensor processes accurately.
この結果、センサ１個あたりの検査用ガスの使用量を減少できるため、ガス置換時間の短縮により作業所要時間を短縮でき、また、ガス使用量の現象によるコストの低減を図ることができ、さらに精度良くセンサ処理を実行できる。 - 特許庁 - The apparatus for testing the model structure, for example, measures a variation in pressure occurring when the model mobile object 1 passes through the model structure 2 and also measures a stream of air occurring at the aperture 2e when the model mobile object 1 passes through the model structure 2.
試験装置は、例えば、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに発生する圧力変動を測定したり、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに開口部２ｅから発生する気流を測定したりする。 - 特許庁 - In the method of identifying the transparent object or testing the authenticity of the transparent object utilizing an absorption spectrum, the object to be identified is formed of material containing at least one, preferably at least two light absorbing substances (coloring agents).
吸収スペクトルを利用して透明物体を同定する、又は透明物体の真偽を試験する方法において、同定される物体は、少なくとも一つのそして好ましくは少なくとも二つの光吸収物質（着色剤）を含有する材料から成る。 - 特許庁 - To provide a sequence control circuit that can perform a higher speed operation as compared with the conventional practice and to provide a pattern generating device capable of generating a high speed pattern by providing the sequence control circuit to it, and a semiconductor testing device provided with the pattern generating device.
従来よりも高速動作が可能なシーケンス制御回路を提供するとともに、当該シーケンス制御回路を備えることで高速なパターン発生が可能なパターン発生装置、及び当該パターン発生装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - The testing system includes a functional block 31 for monitoring the fluctuations in the power supply voltage, in the internal region of the semiconductor device, and a control timing adjusting function for adjusting the control timing of a load current-correcting means 15, based on the fluctuation monitored by the block.
半導体装置内部領域の電源電圧変動をモニタするための機能ブロック３１と、機能ブロックによりモニタした電源電圧変動に基づいて負荷電流補正手段１５を制御するタイミングを調整する制御タイミング調整機能とを有する。 - 特許庁 - This evaluation device for the closing material for the molten metal tapping hole comprises a high-frequency induction furnace 1 for forming and storing the molten metal 11, and a closing material pushing-out device 2 for pushing out the testing closing material 7 into the molten metal 11 through an immersion tube 9.
溶融金属出湯口用閉塞材の評価装置は、溶融金属１１を形成・収容する高周波誘導炉１と、該溶融金属１１中に試験用閉塞材７を浸漬管９を通して押し出す閉塞材押し出し装置２とからなる。 - 特許庁 - To provide an active energy ray-curable resin composition which enables a nano convex/concave structure to be formed, the nano convex/concave structure having good water repellency and high durability even under conditions of accelerated weatherability testing, and to provide a nano convex/concave structure and a water-repellent article each using the active energy ray-curable resin composition.
良好な撥水性と、耐候性促進試験条件下でも高い耐久性を有するナノ凹凸構造体を形成できる活性エネルギー線硬化性樹脂組成物、及びそれを用いたナノ凹凸構造体と撥水性物品の提供。 - 特許庁 - Further, the combination of the metal material having resistance in the surface stress corrosion cracking is discovered by observing the state of the surface stress corrosion cracking of the stainless steel test piece by removing the plurality of the test pieces (set) in a time series by using the testing apparatus for evaluating it.
さらに、その評価試験装置を使用し、複数の試験片（組）を時系列に取り外して、ステンレス鋼試験片の外面応力腐食割れ状況を観察することにより、外面応力腐食割れに抵抗性のある金属材料の組み合わせを見出す。 - 特許庁 - To provide a loading testing device capable of loading having a large mass by a deadweight having a small mass, preventing the deadweight or a device from being damaged even if a specimen is broken, and preventing fragments from being scattered to the periphery when a ring piece is broken.
少ない質量の重錘で大きな質量の載荷をすることができ、しかも試験体の破壊が生じても重錘や装置を損傷させることなく、環片の破壊時、破片が周囲に飛散することもない載貨試験装置を得ることを課題とする。 - 特許庁 - A first power shutdown switch (WTR1) is provided between a power supply line (VDD) and an internal power supply line (VDDM1) which is exclusive for a circuit block (BLK1), and has a current supply capability such that an on-state current is raised to an amplitude capable of protecting an external testing environment.
第１電源遮断スイッチ（ＷＴＲ１）は、電源線（ＶＤＤ）と回路ブロック（ＢＬＫ１）専用の内部電源線（ＶＤＤＭ１）との間に設けられ、オン電流が外部試験環境を保護可能な大きさになる電流供給能力を有する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit which can be suitably used for a measurement device, such as a semiconductor integrated circuit testing set and the like, in which junction temperature and jitters hardly fluctuate, even if the frequency of an inputted clock fluctuates, and high accuracy is demanded on time.
入力されるクロックの周波数が変動してもジャンクション温度及びジッタが殆ど変動せず、時間的に高い精度が要求される半導体集積回路試験装置等の測定装置で用いて好適な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a chemical testing device which enables a safe measurement of constantly varying NO concentration in the depth of the body such as the inside of a blood vessel or the inside of a body cavity and a diagnosis of vascular diseases relating to the NO concentration in the body without causing damage to a sensor and to blood vessel walls.
センサーや血管壁等を損傷させることなく、安全に血管内、体腔内等の体内深部での時々刻々のＮＯ濃度を測定でき、体内ＮＯ濃度に関係する血管系疾患の診断ができる化学検査装置を提供する。 - 特許庁 - This testing machine comprises a common shaft 3 for interfitting inner rings of a plurality of insulated bearings 46, 47, a plurality of respective housings 11, 12 for interfitting respectively outer rings of each insulated bearing 46, 47, and a common base 4 for installing thereon the respective housings 11, 12.
複数の絶縁軸受４６，４７の内輪を嵌合させる共通の軸３と、各絶縁軸受４６，４７の外輪をそれぞれ嵌合させる複数の個別ハウジング１１，１２と、これら個別ハウジング１１，１２を設置する共通の基台４とを備える。 - 特許庁 - To accurately confirm, in an operation terminal, configuration information of a server system, as to a configuration management testing method and program by the operation terminal of the server system provided with a plurality of partitions and server system control parts.
本発明は複数のパーティションとサーバシステム管理部を備えたサーバシステムの操作端末による構成管理試験方法及びプログラムに関し，サーバシステムの構成情報を設定した場合に操作端末において正確に確認することができることを目的とする。 - 特許庁 - To acquire a highly-accurate measurement result in a tire testing machine having a spindle device 2 for holding rotatably a test tire T and provided with a detector 29 capable of measuring a load generated from the test tire T to the spindle device 2.
供試タイヤＴを回転自在に保持するスピンドル装置２を有し、このスピンドル装置２に対して供試タイヤＴから発生される荷重を測定可能な検出器２９が設けられたタイヤ試験機において、高精度の測定結果を得ることができるようにする。 - 特許庁 - To provide a serial communication apparatus test device for specifying which circuit out of a plurality of circuits in a serial communication card for performing transmitting/receiving processing of a serial communication apparatus generates a trouble and to provide a method for testing the serial communication apparatus.
シリアル通信装置の送受信処理を行なうシリアル通信カードにおいて、そのシリアル通信カード上の複数の回路のうちいずれの回路に不具合があるかの特定する、シリアル通信装置試験装置及びシリアル通信装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for testing semiconductor integrated circuit device by which test items can be set more efficiently by setting the items based on test results and, consequently, an object to be measured can be tested efficiently.
試験結果に基づいて試験項目を設定することにより効率的に試験項目を設定することができ、その結果として効率的に被測定対象の試験をすることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a marking materials and security markings, a method for integrating these into a paper web of documents, bond paper, banknotes, packaging and goods, and a method for testing the electroconductive marking substances and security markings integrated in this way.
標識物質と安全標識、およびこれらを文書、有価証券、銀行券、包装および商品の紙料ウエブに統合するための方法、ならびにこうして統合された導電性標識物質および安全標識を試験するための方法を提供する。 - 特許庁 - The synchronous semiconductor integrated circuit device receiving an external clock signal ext.CLK in a testing operation mode executes a writing operation and a reading operation under the control of an internal clock regulator 200 for generating an internal clock signal int.CLK having a high frequency.
同期型半導体記憶装置１０００は、テスト動作モードにおいて、外部クロック信号ｅｘｔ．ＣＬＫを受けて、周波数の高い内部クロック信号ｉｎｔ．ＣＬＫを生成する内部クロック調整回路２００に制御されて、書込み動作および読出動作を行う。 - 特許庁 - A comparison and determination circuit 50 compares an output signal for testing from the selected output circuit, with an output signal for reference from the reference output circuit block 41, and determines whether or not the selected output circuit is faulty, based on the comparison result.
比較判定回路５０は、選択された出力回路からのテスト用出力信号と、参照出力回路ブロック４１からの参照用出力信号とを比較し、その比較結果に基づき、選択された出力回路が不良か否かを判定する。 - 特許庁 - To provide a material testing machine capable of performing control for holding the plastic strain amplitude of a test piece to required magnitude under automatic operation and capable of reducing the load of an operation and eliminating the possibility to perform the test error caused by an artificial mistake.
試験片の塑性歪み振幅を所要の大きさに維持する制御を自動運転のもとに行うことができ、オペレータの負担の軽減並びに人為的ミスに起因する誤った試験の行う可能性をなくすことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for testing of rubber, capable of reproducing the behavior of rubber in actual abrasion with higher precision, thereby allowing the measured degree of abrasion and abrasion form of the rubber to be more precisely matched with actual abrasion results.
実際の摩耗時におけるゴムの挙動をより高精度に再現することができ、これにより、測定されるゴム摩耗度および摩耗形態を、実際の摩耗結果に、より精度良く対応させることが可能なゴム試験機およびゴム試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device for measuring and testing a transformation plasticity coefficient and a method for identifying a transformation plasticity coefficient, which easily detect a deformation quantity of a test piece in a temperature change associated with phase transformation, and can identify a compressed transformation plasticity coefficient based on the deformation quantity.
相変態をともなう温度変化中の試験片の変形量を容易に検出し、それに基づいて圧縮の変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数測定試験装置および変態塑性係数同定方法を提供する。 - 特許庁 - To diagnose a service provision status of an image formation system while network connection for operating the image formation system is kept as it is without changing a connection configuration or the like without installing a testing device, and without performing test packet transmission work by a user.
画像形成システムを運用するネットワーク接続のままの状態で、接続構成等を変更することなく、試験用の装置を設置することなく、ユーザによるテストパケット送信作業もなく、画像形成システムのサービス提供状況を診断すること。 - 特許庁 - To provide a device for testing a semiconductor that facilitates verification as to whether control and measurement of unintended DUT are executed mistakenly, out of the DUTs in a plurality subjected to simultaneous measurement, in the case when the DUTs are subjected to the simultaneous measurement.
複数のＤＵＴを同時測定している場合、同時測定している複数のＤＵＴのうち、誤って意図しないＤＵＴに対しての制御および測定を行っていないかを容易に検証することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁 - In a multilayer interconnection substrate constituting a part of a wafer collective contact board used for collectively testing semiconductor devices formed on a wafer in multiple numbers, a resistor, for example, is provided on each I/O branch wiring 17 branching from an I/O common wiring.
ウエハ上に多数形成された半導体デバイスの試験を一括して行うために使用されるウエハ一括コンタクトボードの一部を構成する多層配線基板において、例えば、Ｉ／Ｏ共通配線から分岐した各Ｉ／Ｏ分岐配線１７上に抵抗を設ける。 - 特許庁 - Further, the burn-in testing can be efficiently performed by automatically determining the result of the burn-in tests of both of the logic circuit 403 and the hard macro 402.
スキャンテストを用いたロジック回路４０３のバーンインテストと同時にハードマクロ４０２のバーンインテストをＢＩＳＴ回路４０１を用いて行い、また、ロジック回路４０３およびハードマクロ４０２のバーンインテストの結果を自動判定することにより、効率的にバーンインテストを行うことができる。 - 特許庁 - To provide a high-reliability IC testing device by using a semiconductor relay, and to provide a semiconductor integrated circuit enabling a high speed test by applying a voltage to terminals to suppress the capacity between output terminals at the off-time of the semiconductor relay.
半導体リレーを用いることで、信頼性の高いＩＣ試験装置を提供すること及び、半導体リレーがＯＦＦ時に端子に電圧を印加し、出力端子間容量を抑えることで、高速な試験を可能とする半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test circuit and method of a semiconductor integrated circuit capable of testing whether a through via formed in a single chip on a wafer is defective, and whether a through via formed in a semiconductor integrated circuit packaged is defective.
ウェハ上の単一チップに形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができ、またパッケージングされた半導体集積回路に形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路及び方法を提供する。 - 特許庁 - This red-corpuscle reagent for testing blood-group antibodies in blood is characterized in that red corpuscles are suspended in an aqueous medium including a gelatinizer, and gelated by being refrigerated to keep a solid form while returning to a liquid state at use temperatures.
血液中の血液型抗体を試験するための赤血球試薬であって、ゲル化剤を含む水性媒質中に赤血球を懸濁させ、冷蔵保存によりゲル化して固形を維持する一方、使用時の温度では液状に復帰することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a low price semiconductor integrated circuit that can write a physical position in the wafer state to a semiconductor integrated circuit without use of a laser repair apparatus, and also to provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus that can write the physical position in the semiconductor integrated circuit.
レーザーリペア装置を用いることなく、半導体集積回路にウェハ状態時の物理位置を書き込める安価な半導体集積回路、及び該半導体集積回路に前記物理位置を書き込む半導体集積回路検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a closing device capable of automatically pinching a hose 14 after discharging air inside the hose 14 and securely closing a predetermined position of the hose 14 when testing pressure resistance and presence of leak of the hose 14.
ホース１４の耐圧性能や漏れの有無の試験に際し、試験の対象となるホース１４内の空気を排出し、然る後ホース１４内の圧力により自動的にホース１４をピンチして、ホース１４の所定位置を確実に閉鎖することのできる閉鎖装置を提供する。 - 特許庁 - The testing device includes an input terminal IN, an output terminal OUT, and a control terminal CTRL, and tests a semiconductor device 1 including operation in which the output terminal is in a high impedance state based on a control signal applied on the control terminal CTRL.
試験装置は、入力端子ＩＮ、出力端子ＯＵＴおよび制御端子ＣＴＲＬを含み、制御端子ＣＴＲＬに印加された制御信号に基づき出力端子がハイインピーダンス状態となる動作を含む半導体装置１を試験する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor apparatus which is downsized and can perform a test of electric signal between semiconductor apparatuses as a stack structure, in relation to a semiconductor apparatus whose testing terminal is formed on a substrate on which a semiconductor chip is mounted.
本発明は、半導体チップが実装される基板にテスト用端子が配設された半導体装置に関し、小型化を図ると共に、スタック構造とされた半導体装置間の電気的信号のテストを行うことのできる半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a belt-type tire testing machine of a simple constitution, capable of performing tests even at large steering angles and forming snow and ice surfaces in a short time by a reduced amount of energy for cooling, in tests on snow and ice surfaces.
本発明は、簡素な構成で、大きな操行角度でも試験が行うことができ、また、氷雪面での試験においても、冷却するためのエネルギーが少なく、且つ短時間で氷雪面を形成できるベルト式タイヤ試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.
半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁 - To provide a blood clinical testing device for performing blood coagulation test, biochemical test, or immune serum test capable of speedily heating specimens and reagents housed in reaction containers to a reaction temperature and further efficiently perfuming tests.
血液の凝固検査、生化学検査あるいは免疫血清検査を行う臨床検査装置であって、反応容器に収容した検体および試薬を反応温度まで迅速に加温でき、一層効率的に検査を実施し得る血液の臨床検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a lubricity test method of a lubricant and a friction testing device, capable of evaluating simply and quantitatively the lubricity of the lubricant by reproducing the lubrication state on a friction face between a tool and a processing material during processing.
加工中における工具と加工材料との摩擦面における潤滑状態を再現し、潤滑剤の潤滑性能を簡単かつ定量的に評価することができる潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of measurement for a new onset case of venous thrombosis, in which gene mutation becoming a risk of the venous thrombosis as reported so far can not be found, and a new method for testing the easiness of becoming the thrombosis for a subject.
従来から報告されている静脈血栓症のリスクとなるような遺伝子変異が見つからない静脈血栓症の新規発症例のための測定方法、及び、被検者の血栓症へのかかり易さを試験する新規の方法の提供を課題とする。 - 特許庁 - To verify stability of an analogue circuit and to secure quality in the mass-production process, wherein waveform measurement and failure analysis of the analogue circuit, being difficult so far, are automatically performed for quicker and easier testing of the analogue circuit.
従来は困難であったアナログ回路の波形測定及び不良解析を自動的に実現可能とすることで、アナログ回路の試験が短時間で且つ容易に行うことを可能とし、アナログ回路の安定性の検証及び大量生産工程での品質確保を図る。 - 特許庁 - We agreed that supervisors should have strong and unambiguous mandates, sufficient independence to act,appropriate resources, and a full suite of tools and powers to proactively identify and address risks, including regular stress testing and early intervention.
我々は，強固で明確なマンデート，行動に当たっての十分な独立性，適切な資源，定期的なストレステスト及び早期介入を含めたリスクを事前に特定し対処するための一揃いの手法と権限を監督当局が持つべきであることに合意した。 - 財務省
