「testing」を含む例文一覧(14414)
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キャビテーション噴流による材料試験装置の液体圧力制御方法、液体槽内圧力制御機構、噴射圧力制御機構、液体槽内圧力および／または噴射圧力の自動制御機構及び液体槽内への短時間液体給排機構 - 特許庁 - In a hardness testing machine 100, the surface of a sample S is captured by a CCD camera 12, and a pattern formation program 63a is executed by a CPU 61, then, a user can form an optional pattern to be projected on the surface of the sample S.
硬さ試験機１００において、ＣＣＤカメラ１２により試料Ｓの表面が撮像され、ＣＰＵ６１が、パターン作成プログラム６３ａを実行することによって、その試料Ｓの表面に投影する任意のパターンをユーザが作成することができる。 - 特許庁 - A dicing substrate 30 for test which is used for testing a semiconductor wafer includes: a main body portion 31; thin portions 321 and 322 extending from the main body portion 31 and being relatively thinner than the main body portion; and a bump 33 provided in the thin portions 321 and 322.
半導体ウェハの試験に用いられる試験用個片基板３０は、本体部３１と、本体部３１から延在すると共に、本体部よりも相対的に薄い薄肉部３２１，３２２と、薄肉部３２１，３２２に設けられたバンプ３３と、を備えている。 - 特許庁 - The method for testing the wire bonded connection comprises the steps of forming the bonding wire of a bonding head having a bonding tool and a wire clamp relating to the bonding tool by the operation of a pressure and an ultrasonic wave and/or a heat, connecting the wire to the surface of the board.
圧力及び超音波及び／又は熱の作用の下で、ボンディングツールを具備するボンディングヘッドとボンディングツールと関連するワイヤクランプとによって形成されたボンディングワイヤと基板表面との間のワイヤボンド接続をテストする技術が提供される。 - 特許庁 - An MPU 8 watches the state of an ejecting button 5 under the condition that a test compact disk is not loaded at startup, and when it is detected that the ejecting button 5 is pushed continuously or multiply within a prescribed period of time, the optical disk device 1 is laid under a testing operation.
ＭＰＵ８は起動時にテスト用のコンパクトディスクが搭載されていない状態でイジェクト釦５の状態を監視し、所定時間内に連続又は多重にイジェクト釦５が押されたことが検出されると、光ディスク装置１は試験動作状態となる。 - 特許庁 - To provide a production facility for hot-rolled steel plate of a high strength steel having little unevenness of mechanical testing characteristics in the length direction and the width direction, e.g. even in the case of being such comparatively thin steel plate thickness of ≤30 mm, and its production method.
例えば鋼板厚さが３０ｍｍ以下のような比較的板厚が薄い場合であっても、長さ方向及び幅方向に機械的試験特性にばらつきが少ない高強度鋼の熱間圧延鋼板の製造設備、及び製造方法を提供する。 - 特許庁 - Thus, the light quantity of light received by a light-receiving part 23 becomes smaller than a threshold light quantity set in advance in this case, so that a testing result that there is the game nail 14 which is too long due to defective nailedting into the surface 10A, on the game board 10.
そのため、この場合には、受光部２３が受光する光の光量が予め設定した閾値光量よりも少なくなることから、遊技盤１０上には打ち込み不良で長すぎる遊技釘１４があるという検査結果を導くことができる。 - 特許庁 - A testing device 11-1 for a touch panel comprises a circuit board; A rows and B columns of electrodes 13-1 to 13-16 arranged in a matrix on the circuit board; and switch elements 14 each of which is arranged between each electrode and ground and connects each electrode to the ground.
タッチパネルの検査装置１１−１を基板と、基板上にマトリクス状に配列されたＡ行Ｂ列の電極１３−１〜１３−１６と、各電極とグラウンドとの間に配設され各電極を接地接続させるスイッチ素子１４とを用いて構成する。 - 特許庁 - The apparatus for measuring exhaust gas particles is provided with a gas extracting device 36 capable of testing an internal combustion engine 16 in a transient state and certifying it, and includes a partial-flow dilution tunnel 38, mass flow rate sub controllers 80 and 60, and an air flow control device 110 for transient dilution.
過渡的状態下で内燃機関１６を試験し、証明できるガス抽出装置３６が提供され、部分流ダイリューショントンネル３８、主および従質量流量コントローラ８０、６０、および過渡的希釈用空気流制御装置１１０を含む。 - 特許庁 - In the resin magnet configured by binding and integrating magnetic powder with a coupling resin, its bending strength in a testing method of plastic bending characteristics (JIS K7171) is ≥75MPa, and its rupture distortion in bending has a value of ≥1.0%.
磁性粉末を結合樹脂によって結合して一体化した樹脂磁石において、プラスチック−曲げ特性の試験方法（ＪＩＳ Ｋ７１７１）による曲げ強さ７５ＭＰａ以上、曲げ破壊ひずみが１．０％以上を有することを特徴とする樹脂磁石。 - 特許庁 - A braking indication signal (a pseudo signal) is transmitted from an ECU between vehicles to a VSC-ECU via an engine ECU on a vehicle 12 side by a complex indication by combining predetermined switching operations with detected values of sensors for operating an actuator to realize a testing process.
所定のスイッチ操作やセンサの検出値の組み合わせによる複雑な指示により、車両１２側で、ブレーキ指示信号（擬似信号）を、車間ＥＣＵから、エンジンＥＣＵを介してＶＳＣ・ＥＣＵへ送信してブレーキアクチュエタを作動させ、検査工程を実現する。 - 特許庁 - An image covering a broad range is acquired of a mounted sample and part of testing equipment around the sample to evaluate the positioning while keeping the sample off contact, and processed to compare the relative position on the image by geometric analysis to determine whether or not the sample is properly positioned.
試料に非接触に位置決めを判定すべく、載置した試料とその周辺の装置の一部について広域の画像を取得し、それを処理して画像上にて幾何学的な解析により相対位置を比較することで、試料位置の合否を判断する。 - 特許庁 - The testing device includes a hydrophobic face 18 for keeping the contact face between the droplet 36 of the sample solution and the surface of the plate 12 in the specific sector 16, and a shaking device 34 for changing the shape of the droplet 36 of the sample solution which is dripped into the specific sector 16.
検査装置には、サンプル液の液滴３６とプレート１２の表面との接触面を特定領域１６内に保つ疎水面１８と、特定領域１６内に滴下されたサンプル液の液滴３６を変形させるための加振装置３４を備える。 - 特許庁 - The hail impact testing apparatus in which an ice ball is launched from a launcher tube through gas pressure is characterized in that it has an on-off valve and a gas introducing pipe which is connected to the launcher tube and of which the inner diameter is smaller than that of the launcher tube.
気体の圧力により発射筒より氷球を発射するヘイルインパクト試験装置において、開閉弁と気体導入管を有し、気体導入管は発射筒に接続されており、気体導入管が発射筒の内径より細い事を特徴とする。 - 特許庁 - To provide a probe card capable of testing the electrical property of an object under test correctly by contacting all the probe pins surely corresponding electrode pads when overdriven, without damage of probe pins and semiconductor elements, even when the object, such as an IC chip, is integrated highly and grown in size.
ICチップ等の被検査体が高集積化、大型化しても、プローブピンや半導体素子が損傷を受けることなく、オーバードライブ時に全てのプローブピンを対応する電極パッドに確実に接触させて、被検査体の電気的特性の検査を正確に行うこと。 - 特許庁 - A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.
試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁 - To provide a flat display device and a method for testing the flat display device which are applied, for example, to a liquid crystal display device with a driving circuit integrally formed on an insulating substrate, so as to simply and certainly detect a defect related to a potential failure.
本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができるようにする。 - 特許庁 - A solder wettability testing apparatus comprises a holding member 3 inserted into an inner cylinder of a cylindrical component 2 and having a central hole 3a and a slit 3c provided as gassing passages so as not to store a gas of the flux in the component 2 at the time of dipping in the solder tank.
筒状部品２の内筒に挿入されて当該部品を保持する保持部材３において、はんだ槽への浸漬時に筒状部品２の内部にフラックスのガスが溜まらないように、ガス抜き用通路としての中心孔３ａ、スリット３ｃを設ける。 - 特許庁 - The hot-cold shock testing device includes first control means for stopping at least one of the refrigerator, the first heater and the second heater to start a test interruption before starting the next hot-cold cycle operation after the end of the high temperature exposure state.
冷熱衝撃試験装置は、高温さらし状態が終了した後、次の冷熱サイクル動作を開始する前に、冷凍機、第１加熱器および第２加熱器のうちの少なくとも１つを停止させて試験の中断を開始する第１制御手段を備える。 - 特許庁 - A continuity inspection display unit 33 is arranged and a person in charge confirms that the prize winning sensor is connected by displaying the number of prize winning balls (1, 2, etc.), which enter prize winning ports in the unit 33 for testing in a test mode.
導通検査用表示器３３を配置し、テストモードのときは、導通検査用表示器３３にテストのために入賞口に入れた球の入賞球数を表示（例えば、１、２・・・）することで、係員は該当の入賞センサが導通していることを確認する。 - 特許庁 - To provide a deformed disk for testing which is obtained by deforming a disk, like a DVD disk, formed by bonding two substrates to each other in order to prevent deformation to a desired shape and a method of deforming the disk which is capable of easily and surely yielding such deformed disk.
ＤＶＤディスクのように変形を防ぐため２枚の基板を張り合わせて形成したディスクを所望の形状に変形させたテスト用の変形ディスク及びそのような変形ディスクを簡単、確実に得ることの出来るディスク変形方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a device for conducting a restoring test of a base isolation floor capable of safely and smoothly conducting the test without generating a flight substance in load tripping by applying a testing load to the base isolation floor, then quickly releasing the load.
免震床に試験負荷をかけ、次いでその負荷を急激に開放することにより、その免震床の復元試験を行う装置において、負荷引き外し時に飛翔物が発生することなく、安全に且つ円滑に試験を行うことができる装置の提供。 - 特許庁 - In the LSI tester for testing whether an LSI for outputting an analog signal waveform is good or not, at least a part of an arithmetic processing part for processing an output signal from an LSI to be tested (DUT) is configured by logical synthesis based on an FPGA.
アナログ信号波形を出力するＬＳＩの良否をテストするＬＳＩテスタにおいて、被測定対象ＬＳＩ(ＤＵＴ)の出力信号を処理する演算処理部の少なくとも一部がＦＰＧＡによる論理合成で構成されたことを特徴とするもの。 - 特許庁 - The semiconductor testing apparatus 100 sets a storage position to which data is allocated with a control section 101, stores a signal from a DUT 200 in data storage sections 108a, 108b and 108c, and sets the constraints on readout of registers 109a, 109b and 109c according to this signal.
半導体試験装置１００は、制御部１０１によりデータが割り当てられる格納位置を設定し、ＤＵＴ２００からの信号をデータ格納部１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃに格納し、これに応じて、レジスタ１０９ａ，１０９ｂ，１０９ｃの読み出しの制限を設定する。 - 特許庁 - To conduct tests continuously for reduction in testing time by identifying a dummy test signal at the time of operational test of an electronic circuit breaker formed so as to incorporate energization heat history properties into overcurrent tripping properties, thereby temporarily releasing the energization heat history properties.
過電流引外し特性に通電熱履歴特性を取り入れるようにした電子式回路遮断器の動作テスト時に擬似テスト信号であることを検知して一時的に通電熱履歴特性を解除して、連続テストを可能してテスト時間の短縮をはかる。 - 特許庁 - An electronic component testing device 1, which performs a test pressing an IC terminal against a contact part 51 of a test head 5, comprises a temperature operation means 501 which calculates an actual temperature of the IC based on a signal from a temperature sensor 2D provided in the IC.
ＩＣの端子をテストヘッド５のコンタクト部５１へ押し付けてテストを行う電子部品試験装置１であり、ＩＣに設けられた温度感応素子２Ｄからの信号に基づいて、当該ＩＣの実際の温度を演算する温度演算手段５０１を有する。 - 特許庁 - In an SDRAM chip 60, two signal generating circuits 63, 64 are provided corresponding to two testing circuits 61, 62 provided at both ends of a rectangular semiconductor substrate 60a, and the circuits 63, 64 are respectively provided near the circuits 61, 62.
ＳＤＲＡＭチップ６０において、長方形の半導体基板６０ａの両端部に設けられた２つのテスト回路６１，６２に対応して２つの信号発生回路６３，６４を設け、信号発生回路６３，６４をそれぞれテスト回路６１，６２の近傍に設ける。 - 特許庁 - To provide a material testing apparatus, which can apply sufficient load to micro test specimen collected from an actual machine structure while conducting tests with high accuracy, and has a size-reducible mechanism so that the collected test specimen can be tested on site.
実機構造物において採取した微小な供試体に対して、高精度に試験することができながら十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行えるように小型化できる機構を有する材料試験機を提供すること。 - 特許庁 - When testing the console 2, a computer unit 28 of the control device 3 reads a test display command DT from a database 24 to transmit the same to the console 2 via a conversion unit 30, and also reads an exact test video signal DTE to supply the same to a comparison means 40.
制御装置３のコンピュータ・ユニット２８は、コンソール２の検査時に、データベース２４から検査表示コマンドＤＴを読み出し、変換ユニット３０を介してコンソール２に送信し、また的確検査ビデオ信号ＤＴＥを読み出して、比較手段４０に供給する。 - 特許庁 - This conveying carrier tool for the semiconductor device testing device includes at least one first linear support part extending along a first direction, and at least one second linear support part extending along a second direction orthogonal to the first direction.
半導体装置試験装置用搬送キャリア冶具は、第１の方向に沿って延在する少なくとも一つの第１の線状支持部と、第１の方向に直交する第２の方向に沿って延在する少なくとも一つの第２の線状支持部とを備える。 - 特許庁 - The metallic microsphere preferably shows a deformation resistance of ≤3,500 mN for a displacement magnitude of 10% when measured at room temperature using a micro compression testing machine comprising an upper trapezoid diamond indenter and a lower pressure plate made of an SKS plate.
また、本発明の金属微小球は上部台形型ダイアモンド圧子とＳＫＳ平板である下部加圧板とからなる微小圧縮試験器を用い、室温において測定した際の変位量１０％における変形抵抗が３５００ｍＮ以下であることが好ましい。 - 特許庁 - In the method for testing the drug sensibility of the tubercle bacillus, a specimen is cultured in a culture medium containing a tuberculostat and the obtained cultured medium is subjected to immunoassay to detect the tubercle bacillus strain specific secretory protein in the cultured medium as a tubercle bacillus marker.
抗結核薬を含有する培地中で検体を培養し、得られた培養物を免疫学的測定に供することによって該培養物中の結核菌群特異的分泌タンパク質を結核菌マーカーとして検出する、結核菌の薬剤感受性検査法。 - 特許庁 - To provide an FIR active thermography testing equipment for actively heating a body surface by far infrared ray (FIR) radiation heating and imaging biological information based on the difference of the heat conduction/heat capacity/specific heat of tissue near the body surface.
本発明は、遠赤外線（ＦＩＲ）放射加熱により能動的に体表面を加熱して体表面付近の組織の熱伝導・熱容量・比熱の違いに基づく生体情報を画像化するＦＩＲアクティブ・サーモグラフィ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - As a result, it is found that a testing whether a subject is sensitive to hepatopathy caused by HCV infection can be carried out based on the presence/absence of a polymorphic mutation in each gene or a DNA domain closed thereto.
その結果、それぞれの遺伝子もしくはそれぞれ遺伝子の近傍DNA領域における多型変異の有無を指標とすることにより、被検者において、HCV感染に起因する肝疾患に対して感受性か否かの検査を行うことが可能であることを見出した。 - 特許庁 - To provide a testing tool having a hemocyte separation part, and capable of separating easily a plasma component by only dropping the whole blood specimen to a blood dropping part in a medical field, as to a specified component in blood, to conduct measurement quickly, easily, inexpensively and precisely, and a measuring method.
血球分離可能部を有し、血液中の特定成分について、診療の現場で全血検体を血液滴下部に滴下するだけで容易に血漿成分を分離し、迅速、簡便、安価に精度良く測定ができる試験用具、測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a software testing method which can accurately detect memory access and a memory leakage even for a system which should make real-time response and a system which has memory restriction as a dynamic detecting method for detecting illegal memory access and a memory leakage of a software system.
ソフトウェアシステムの不正なメモリアクセス及びメモリリークを検出するための動的な検出方法において、リアルタイム性が要求されるシステムやメモリ制限のあるシステムでも、的確にメモリアクセス及びメモリリークの検出を行えるソフトウェア試験方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain a device for inspecting the sealed state of a connected pipe joint capable of obtaining reliable test results by speedily supplying and discharging water from a test band for testing the sealed state of the sealed part of the pipe joint and performing pressure-proof tests by a manual pressurization.
接続した管継手のシール部のシール性を試験するためのテストバンドへの給排水を迅速に行ない、しかも耐圧試験は手動加圧とすることにより確実な試験結果の得られる管継手の密閉性検査装置を得ることを課題とする。 - 特許庁 - This site work managing method performs test measurement and construction management by carrying an automobile mounted with the testing apparatus for measuring properties and an environmental condition of various building materials or civil engineering materials and its display apparatus in the construction site or the civil engineering site.
本発明の現場施工管理方法は、各種建築材料又は土木材料の性状、環境条件を計測する試験機器及びその表示機器を搭載した自動車を建築現場又は土木現場に搬入し、試験測定及び施工管理を行う。 - 特許庁 - To provide a method for determining an appropriate therapy and/or prognosis for a patient diagnosed as a nervous system disease, and to provide a method for identifying human subjects with a neurological disease that are targeted for clinical trials and for testing pharmaceuticals useful in the treatment.
神経疾患であると診断された患者の適当な治療法および／または予後を決定するための方法、および、神経疾患の治療について試験する薬物の臨床試験の対象患者となるヒト被験者を同定する方法の提供。 - 特許庁 - The switching circuit 60 disconnects between one end of the phase compensation capacitor CC and an output terminal DQ of the differential part 40 during normal operation, and connects between the end of the phase compensation capacitor CC and the output terminal DQ during testing.
スイッチ回路６０は、通常動作時には位相補償用キャパシタＣＣの一端と差動部４０の出力端子ＤＱとの間の接続をオフにし、テスト時には位相補償用キャパシタＣＣの一端と出力端子ＤＱとの間の接続をオンにする。 - 特許庁 - After finish of the test, the lifting stand 20 on which the right and left tires A, A are placed is lifted, while keeping the balance in the approximately horizontal state, and the right and left tires A, A are allowed to get out from between the pair of front-and-rear testing rollers 3, 3 journaled on the right and left upper faces.
試験終了後において、左右タイヤＡ，Ａが乗せられた昇降台２０を略水平状態にバランスを保ちながら上昇動作させ、左右タイヤＡ，Ａを、左右上面に軸受された前後一対の試験ローラ３，３間から脱出させる。 - 特許庁 - In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled.
電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。 - 特許庁 - In the adhesive property testing method for evaluating adhesive properties by adding force to the adherend and the material to be tested adhered thereto, the primer is applied to the surface to be adhered of the adherend in coincidence with the adhesive surface of the adherend with the material to be tested.
被着体とこれに接着した被試験材とに力を加えて接着性を評価する接着性試験方法において、被着体と被試験材との接着面に一致させて被着体の被着面にプライマーを塗布することを特徴とする方法とする。 - 特許庁 - To prevent an inner cylinder from being displaced in a direction orthogonal to the axis of a rubber bush when a static load is imposed on the outer circumference of the rubber bush in a jig for testing characteristics of the rubber bush, and to accurately measure a static spring constant of the rubber bush in the direction orthogonal to the axis.
ラバーブッシュの特性試験装置用治具において、ラバーブッシュの外周に軸直方向の静荷重を付与したときにその静荷重で内筒が軸直方向にずれるのを防止し、ラバーブッシュの軸直方向の静ばね定数を正確に測定する。 - 特許庁 - To provide an inspection system which stores SPD data stored in a personal computer to an inspection device which cannot be connected to the personal computer in a short time, to improve the operation efficiency in testing a substrate such as DIMM, and which can be constructed at low cost.
パソコンに保存されたＳＰＤデータをパソコンに接続できない検査装置に保存する作業を短時間で簡単に行い、ＤＩＭＭ等の基板検査の作業効率を向上させることができる低コストで構築可能な検査システムを提供する。 - 特許庁 - The environmental testing device 1 includes: a sample arrangement part 2 at which a heat generation sample body W generating heat is arranged; an air blower 12; a heating means 13; an air replacement means 21 capable of replacing heated air with outside air; and at least one cooling means.
環境試験装置１は、発熱する発熱試料体Ｗが配置される試料配置部２と、送風機１２と、加熱手段１３と、加熱された空気を外部の空気と置換可能な空気置換手段２１と、少なくとも１つの冷却手段とを有している。 - 特許庁 - To provide an adhesive property testing method which enables the adhesive properties in the same state as in a state where an object, obtained by adhering a sealing material or the like to an adherend such as a building member coated with a primer or the like, is actually used to be simply and properly evaluated.
プライマーを塗布した建築用部材等の被着体にシーリング材等を接着したものが実際に使用される状況と同様の状況での接着性を、簡易かつ適切に評価することのできる接着性試験方法を提供する。 - 特許庁 - The vibration testing device includes: a servo control unit 4 for controlling the shaker 2; an excitation control unit 3 for controlling the servo control unit; a load sensor 11 for detecting a load applied from the shaker to the table; and a displacement sensor 5 and an acceleration sensor 6 for detecting the displacement of the table.
加振機を制御するサーボ制御装置４と、このサーボ制御装置を制御する加振制御装置３と、テーブルに加振機から加えられる荷重を検出する荷重センサ１１と、テーブルの変位を検出する変位センサ５および加速度センサ６とを備える。 - 特許庁 - To provide a radiation performance testing device of a radiator which is used for cooling an engine of, for example, a vehicle and can safely and promptly collects cooling water of the radiator, and a method for collecting the radiator cooling water.
車両等のエンジン冷却用に用いられるラジエータの放熱性能試験装置に関し、安全で迅速にラジエータの冷却水の回収が行えるラジエータの放熱性能試験装置及びラジエータ冷却水の回収方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - A bending deflection shape measuring device incorporated into the three-point bending testing device includes a movable noncontact displacement gage 4, its sending device 5, a sending amount control device 6, a sending amount measuring device 7, a data recording device 8 and a data analyzer 9.
３点曲げ試験装置に組み込まれた曲げたわみ形状測定装置であり、移動可能な非接触変位計４と、その送り装置５と、送り量制御装置６と、送り量測定装置７と、データ収録装置８と、データ解析装置９からなる。 - 特許庁
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