「testing」を含む例文一覧(14414)

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  • To provide a medical image diagnosis apparatus capable of reducing the burden of an operator and simultaneously improving throughput of the whole imaging (testing) by switching a display screen about a first subject to a display screen for registering the information on the next subject automatically before the imaging of the next subject is started after the imaging of the first subject is finished.
    前被検体の撮影が終了し後被検体の撮影が開始される前に、前被検体について表示されていた画面を自動的に後被検体の患者情報を登録するための画面に遷移させることによって、操作者の負担を軽減するとともに撮影（検査）全体のスループットの向上を図ることのできる医用画像診断装置を提供する。 - 特許庁
  • The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.
    ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁
  • The semiconductor device comprises a reset terminal inputting a reset control signal for resetting an internal circuit; a reset detection part generating, according to the input reset control signal, a reset release signal for releasing reset of the internal circuit; and a mode capture part retaining, based on the signal input to the reset terminal, a test mode for testing operations of the internal circuit.
    半導体装置は、内部回路をリセットするためのリセット制御信号を入力するリセット端子と、前記入力されたリセット制御信号に応じて、前記内部回路のリセットを解除するリセット解除信号を生成するリセット検出部と、前記リセット端子に入力される信号に基づいて、前記内部回路の動作をテストするテストモードを保持するモードキャプチャ部とを備える。 - 特許庁
  • The method for estimating the fundamental frequency of the harmonic signal comprises the steps: - forming a fundamental frequency hypothesis (f0'); - providing a comb filter based on the fundamental frequency hypothesis; - filtering the given harmonic signal using the comb filter; and - testing the fundamental frequency hypothesis for each tooth in the comb filter.
    本発明によると、高調波信号の基本周波数を推定する方法は、基本周波数仮定値（ｆ０´）を形成するステップと、基本周波数仮定値に基づいて、くし型フィルタを提供するステップと、くし型フィルタを用いて、与えられた高調波信号のフィルタリングを行うステップと、くし型フィルタにおける各歯毎に、基本周波数仮定値のテストを行うステップと、を備える。 - 特許庁
  • In this deterioration testing device 100, which is a device for performing the deterioration test of a specimen by generating deterioration by irradiating a liquid crystal panel (specimen) 15 with laser light outputted from a laser device 10, an optical correction element 26 for uniformizing illuminance of the laser light is provided between the laser device 10 for outputting the laser light and the liquid crystal panel 15.
    本発明に係る劣化試験装置１００は、レーザ装置１０から出力されたレーザ光を液晶パネル（被検物）１５に照射して劣化を生じさせ、当該被検物の劣化試験を行う装置であり、レーザ光を出力するレーザ装置１０と前記液晶パネル１５との間に、前記レーザ光の照度を均一化する光学補正素子２６が設けられている。 - 特許庁
  • The covalently bound compound is formed and synthesized as a Schiff base or a peptide compound, by reacting a terminal aldehyde or carboxyl radical derived from the polysaccharide compound with an uncombined amino radical of an interleukin, an interferon, a tumoricidal factor, an enzyme, a hemokinetic cell surface acceptor inhibitor against a virus, a fluorescein reagent used in a clinical testing, or the like, which are each the pharmaceutically active compound.
    前該多糖化合物から誘導した末端アルデヒド基またはカルボキシル基と医薬活性化合物であるインターロイキン、インターフェロン、腫瘍壊死因子、酵素、ウィルスに対する血流細胞表面受容体の阻害剤、臨床検査において使用するフルオレセイン試薬等の未結合のアミノ基との反応によりシッフ塩基またはペプチド化合物を形成して合成する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory having a transfer system for transferring data synchronized with both edges of the leading and trailing of an outside clock signal, and yet easily being tested and evaluated by a conventional memory testing device with respect to SDRM for writing/reading data synchronously with the outside clock signal and a method for controlling the SDRAM and to provide a control method for the semiconductor memory.
    本発明は、外部クロック信号に同期してデータの書き込み／読み出しを行うＳＤＲＡＭ及びその制御方法に関し、外部クロック信号の立ち上がりと立ち下がりの両エッジに同期してデータを転送する転送方式を有しながら、従来のメモリ試験装置で容易に試験、評価ができる半導体記憶装置及びその制御方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The setup time of the semiconductor testing device 2 is abridged, and the evaluation time of a microcomputer 1 becomes shorter by providing in the microcomputer 1 having a built-in flash EEPROM 20, and a faulty bit measurement circuit 60 which measures the number of faulty bits corresponding to each verify electric potential of the flash EEPROM 20.
    フラッシュＥＥＰＲＯＭ２０を内蔵したマイクロコンピュータ１内にフラッシュＥＥＰＲＯＭ２０の各ベリファイ電位に対応して不良ビットの個数をそれぞれ計測する不良ビット測定回路６０を備え、これら不良ビットの個数を半導体テスト装置２に送ることにより、半導体テスト装置２のセットアップ時間を短縮しマイクロコンピュータ１の評価時間を短くしたことを特徴とする。 - 特許庁
  • This motor function testing apparatus includes: a move sensor 2 including a transmitting coil 106 transmitting a magnetic field and a plurality of receiving coils 101 to 105 receiving the magnetic field generated from the transmitting coil 106; an analyzing means for analyzing the time-series waveform data obtained from the move sensor 2; and a display means for displaying the analysis result from analysis of the analyzing means.
    磁場を発信する発信コイル１０６および発信コイル１０６から発生した磁場を受信する複数の受信コイル１０１〜１０５を含む運動センサ２と、運動センサ２から取得された時系列の波形データを解析する解析手段と、解析手段により解析された解析結果を表示する表示手段とを備えた運動機能検査装置である。 - 特許庁
  • The method for testing a semiconductor integrated circuit having a novolatile memory element and a peripheral circuit part other than the novolatile memory element comprises a first step for applying a high voltage to all memory cells in the novolatile memory element and a second step for imparting a test pattern to the peripheral circuit part other than the novolatile memory element while applying a high voltage wherein both steps are performed simultaneously.
    不揮発性記憶素子と不揮発性記憶素子以外の周辺回路部を備えた半導体集積回路の試験方法において、不揮発性記憶素子の全メモリセルに高々電圧を印加する第１のステップと、不揮発性記憶素子以外の周辺回路部に高電圧を印加しながら試験パターンを付与する第２のステップとを有し、上記両ステップを同時に実施する。 - 特許庁
  • The sheet comprises a support having at least one layer of a polymer coating layer on both surfaces of a base paper and at least one layer of a toner image receiving layer on the support, wherein the base paper shows a Z-axis tensile strength of 350 to 650 kN/cm^2 specified in JAPAN TAPPI paper pulp testing method No.18-1.
    原紙の両面に少なくとも１層のポリマー被覆層を有してなる支持体と、該支持体上に少なくとも１層のトナー受像層を有してなり、前記原紙のＪＡＰＡＮ ＴＡＰＰＩ 紙パルプ試験法Ｎｏ．１８−１に規定するＺ軸方向引張強さが３５０〜６５０ｋＮ／ｃｍ^２であることを特徴とする電子写真用受像シートである。 - 特許庁
  • The apparatus for testing a data storage apparatus is provided with a storage part for storing original data, a data generation part for generating transfer data of a size larger than that of the original data by repeatedly using the original data in response to one command to the data storage apparatus, and a transfer part for transferring the generated transfer data to the data storage apparatus.
    オリジナル・データを格納する格納部と、データ記憶装置への一つのコマンドに対応して、前記オリジナル・データを繰り返し使用することによって、前記オリジナル・データのデータ・サイズよりも大きいデータ・サイズの転送データを生成するデータ生成部と、前記生成された転送データをデータ記憶装置に向けて転送する転送部と、を備えるデータ記憶装置の試験装置。 - 特許庁
  • The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.
    半導体試料の主面上に電極１０を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極１０に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１４で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁
  • To provide a method for automatically calibrating a detection level in a measuring part of a shutter testing machine, in which manual adjusting operation of an adjusted value VR is eliminated and an output level of a comparator to electric output (voltage) of reflected light is automatically set just by opening the shutter of a camera, whereby the shutter speed of the camera is easily, speedily and accurately detected.
    人手による調整値VRの調整操作を無くし、カメラのシャッタを開くだけで自動的に反射光の電気出力（電圧）に対するコンパレータの出力レベルを設定できるようにし、これによってカメラのシャッタスピード検出を簡便かつスピーディに精度よく行うことができるようにしたシャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法を提供すること。 - 特許庁
  • This method for testing the computer system by applying a load includes: receiving of a load specification which identifies at least one resource of the system and specifies the load applied to the resource(s); and applying of the corresponding and specified load to the resource specified by the load specification.
    本発明にかかる負荷を適用することによってコンピュータシステムをテストする方法は、負荷仕様を受け取ることであって、当該負荷仕様が、システムの少なくとも１つの資源を特定し、かつ、当該資源に適用される負荷を指定する、負荷仕様を受け取ることと、および負荷仕様で特定された各資源について、対応する指定された負荷を当該資源に適用することとを含む。 - 特許庁
  • (2) Claims to a remuneration for the use of an invention as well as claims for the reimbursement of reasonable costs related to the preparation of drawings, models or prototypes, remuneration for initiative participation in the preparation, testing or introduction of the invention and claims for remuneration for pointing out the possibility of using an invention which originated before this Act has come into force, shall be settled pursuant to the prior regulations.
    (2) 発明実施の対価についての請求，発明に関する図面，ひな形又は原型の作成に係る合理的な費用の補償請求，発明の創作，テスト又は導入への主導的参加に対する報酬，及び発明実施の可能性の指摘に対する報酬の請求で本法の施行前に生じているものは，従前の規則に従って決定される。 - 特許庁
  • With respect to any goods for the selection and testing of samples of which provision is not made in any rules for the time being in force under sub-section (1), the court or officer of customs, as the case may be, having occasion to ascertain the number, quantity, measure, gauge or weight of the goods, shall, by order in writing, determine the number of samples to be selected and tested and the manner in which the samples are to be selected.
    (1)により現に効力を有する規則にもその規定が定められていない見本の選択及び検査のための商品に関して，裁判所又は場合に応じて税関吏は，その商品の数，量，寸法，容量，又は重量を確認する場合は，書面による命令により，選択し，かつ，検査すべき見本の数及び見本を選択する方法について，決定する。 - 特許庁
  • To provide a torque pulsation damping flange-shaped joint having compact and simple construction for actualizing stable and high torque transmission to a driven side over a long period while removing torque pulsation generated on the driving shaft side of a variable speed testing device to be used in a low-high speed range over a wide low-high frequency range corresponding to a variable speed.
    低速から高速度まで使用する可変速試験装置において、駆動軸側が発生するトルク脈動を可変速度に合わせて低周波領域から高周波領域までの広範囲領域に渡り除去し、安定した高トルク伝達が従動側へ長期に渡り可能な、コンパクトで構造が容易なトルク脈動減衰フランジ形継手を提供すること。 - 特許庁
  • A content reproducing apparatus 1 stores an appliance identifier ID for identifying the content reproducing apparatus 1 so as not to be rewritten, and also stores an appliance identifier test value VM corresponding to the appliance identifier ID and a right information test value VR for testing right information INF of acquired content data D so as not to be read out separately.
    コンテンツ再生装置１は、このコンテンツ再生装置１を識別するための機器識別子ＩＤを、書き換えられないように記憶すると共に、当該機器識別子ＩＤに対応する機器識別子検査値ＶＭと、取得したコンテンツデータＤの権利情報ＩＮＦを検査するための権利情報検査値ＶＲとを、分離して読み出されないように記憶するようにした。 - 特許庁
  • The testing apparatus has a storage tank for storing a liquid, a liquid sending pump for sending the liquid from the storage tank, a production part for producing chlorine in the liquid, a defoaming part for removing air bubbles, an observation cell can seal the marine organisms, and a removing part for removing chlorine from the liquid passing through the observation cell.
    試験装置は、液体を貯留する貯留タンクと、貯留タンクから液体を送液する送液ポンプと、液体に塩素を発生させる発生部と、気泡を除去する脱泡部と、海生生物を封入できる観察セルと、観察セルを通過した液体から塩素を除去する除去部とを備え、貯留タンクは、除去部において塩素が除去された液体を貯留する。 - 特許庁
  • This method is also a method for testing a substance for its ability to inhibit binding between a fibroblast growth factor (FGF) and a heparanase substrate, comprising the steps of interacting in a solution the FGF immobilized on a solid support with the substance and a labeled heparanase substrate, and detecting the presence or absence of a label in the solution remote from the solid support.
    また、線維芽細胞成長因子（FGF）とへパラナーゼ基質との結合を阻害する能力に関して物質を試験する方法であって、固体支持体上に固定化したFGFを物質および標識ヘパラナーゼ基質と溶液中で相互作用させる段階、および固体支持体から離れた溶液中の標識の有無を検出する段階を含む方法も提供する。 - 特許庁
  • To enable accurate test data to be generated at the time of testing semiconductors, mutual conversion between simulation data and test data to be easily performed and the accuracy verification of simulation data and of a tester for semiconductors and the verification of indeterminate events and I/O dead band to be carried out.
    半導体装置のテスト時に正確なテストデータの生成及びシュミレーションデータとテストデータとの相互間の変換が容易に可能であり、シュミレーションデータ精度と半導体装置用テスタ精度との検証，不確定イベント及びＩ／Ｏデットバンドの検証を行なうことが可能となる半導体試験用データ処理装置及び方法並びに半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The testing is conducted from the surface side of the impervious sheet utilizing a system that electrostatic coupling occurs between the first electrode and the bottom side, and as a result, an electric current path is formed to thereby turn on electric current when the second electrode is moved to a nonconformity place of the impervious sheet by connecting an alternating current power source 13 via an ammeter 14 between the first electrode and the second electrode.
    第一及び第二電極間に電流計１４を介して交流電源１３を接続することにより、第二電極が移動して遮水シートの不良箇所に来た時、第一電極と遮水シート下側の間に静電結合が生じて電流経路が形成され電流が流れることを利用して遮水シートの表面側から検査を行う。 - 特許庁
  • An element testing device 1 which evaluates the electrical characteristic of a semiconductor element 20 has a support 11 whereon the semiconductor element 20 is laid so that a collector electrode of the element 20 comes into contact with it, an electroconductive resin 30 which comes into contact with an emitter electrode of the element 20, and at least one contact 30g which comes into contact with a gate electrode 20g of the element 20.
    半導体素子２０の電気的特性を評価する素子試験装置１は、半導体素子２０のコレクタ電極が接するように、半導体素子２０を載置する支持台１１と、半導体素子２０のエミッタ電極に接触する導電性樹脂３０と、半導体素子２０のゲート電極２０ｇに接触する、少なくとも一つの接触子３０ｇと、を有することを特徴とする。 - 特許庁
  • This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.
    テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁
  • A semiconductor testing apparatus comprises: a plurality of waveform shapers that shapes a driver waveform on the basis of a pattern signal and an edge signal; a driver timing generator that outputs the edge signal to each of the waveform shapers at specified timing; and a formatter that instructs the driver timing generator on the output timing of the edge signal and outputs the pattern signal independently to the plurality of waveform shapers.
    パタン信号とエッジ信号とに基づいてドライバ波形を整形する複数個の波形整形器と、指定されたタイミングでエッジ信号を各波形整形器に出力するドライバタイミング発生器と、ドライバタイミング発生器にエッジ信号の出力タイミングを指示するとともに、複数個の波形整形器に独立にパタン信号を出力するフォーマッタとを備えた半導体試験装置。 - 特許庁
  • Disclosed is the performance testing method for the HGA having a magnetic head and a microactuator precisely positioning the magnetic head over a magnetic medium, wherein the microactuator is driven in a previously set positive direction using DC voltage driving and driven in a previously set minus direction using DC voltage driving, and lastly, three track center values are calculated.
    磁気ヘッドと、磁気媒体に対して精密に磁気ヘッドの位置決めを行うマイクロアクチュエータと、を備えたＨＧＡの性能試験方法であって、直流電圧駆動を用いて予め設定された正方向にマイクロアクチュエータを駆動し、また、直流電圧駆動を用いて予め設定された負方向にマイクロアクチュエータを駆動し、最後に、３つのトラック中心値の算出を行う。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus having a delaying constitution capable of producing a delayed clock which is delayed as prescribed by application of both the front and rear edges of a reference block, without being affected by changes, if any, in the positions of the front and rear edges of the reference clock.
    基準クロックの前縁と後縁の両エッジを適用して所定に遅延した遅延クロックを発生する遅延構成を備える半導体試験装置において、基準クロックの前縁と後縁の位置の変化が生じても、この変化の影響を受けることが無く所定に遅延した遅延クロックを発生することが可能な遅延構成を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • This method for detecting the gene comprises a gene-amplifying step of carrying out a PCR by using an extract of a sample extracted from the testing sample according to a polynucleotide extraction method, and a primer for detecting the gene and for amplifying the target base sequence, and a gene-detecting step for detecting the PCR product obtained at the step by the DNA microarray.
    遺伝子検出方法は、ポリヌクレオチド抽出法に従って検査試料より抽出された試料抽出物及び目的とする塩基配列を増幅するための遺伝子検出用プライマーを用いてＰＣＲ反応を行う遺伝子増幅工程と、その工程で得られたＰＣＲ反応物をＤＮＡマイクロアレイにより検出する遺伝子検出工程とからなる。 - 特許庁
  • The test kit shown in Figure 1, which is a test kit used for the lateral flow type membrane assay method, is equipped with a test container 1 for containing samples; a testing implement 4 for membrane assays which is used by inserting from an end side 4a into the test container 1; and an analyte processing vessel 14 containing analyte processing liquid 15 for preparing measuring sample by blending with analyte.
    図１に示される試験キットは、ラテラルフロー式メンブレンアッセイ法に用いられる試験キットであって、試料を収容するための試験容器１と、一端側４ａから試験容器１に挿入されて用いられるメンブレンアッセイ用試験具４と、検体と混合することによって測定試料を調製するための検体処理液１５を収容した検体処理容器１４とを備える。 - 特許庁
  • This semiconductor testing device is provided with a memory 34 storing failure rate specified value information 38 specifying an upper limit of a failure rate of a test for every kind of test in advance and a CPU 32 which measures a failure rate of a semiconductor integrated circuit for every kind of test, compares the measured failure rate with the failure rate specified value information, and judges whether the test is interrupted or not.
    予め試験の種類毎にその試験の不良率の上限を規定した不良率規定値情報３８を記憶するメモリ３４を備え、更に、試験の種類毎に半導体集積回路の不良率を測定し、測定された不良率と上記不良率規定値情報とを比較し、試験を中断するか否かを判断するＣＰＵ３２とを備える。 - 特許庁
  • To provide an integrated circuit in which winings connecting a digital circuit and an analog circuit are inspected accurately and easily, and to provide a testing method therefor, for an integrated circuit, in which digital circuits are connected via a plurality of wirings and an analog circuit controlled, based on digital values supplied via a plurality of wirings is provided, and to provide a test method therefor.
    ディジタル回路とディジタル回路と複数の配線を介して接続され、複数の配線を介して供給されるディジタル値に基づいて制御されるアナログ回路とを有する集積回路及びその試験方法に関し、ディジタル回路とアナログ回路とを接続する配線の検査を正確、かつ、容易に行える集積回路及びその試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • (5) Vocational ability tests shall be carried out in such a manner as to develop objective and fair standards for evaluating vocational abilities and enhance testing methods and other evaluation methods, and to conduct an appropriate evaluation of the trade skills workers need for their jobs that they have acquired through vocational training, educational training on the job and work experience and of their knowledge thereon.
    ５　職業能力検定は、職業能力の評価に係る客観的かつ公正な基準の整備及び試験その他の評価方法の充実が図られ、並びに職業訓練、職業に関する教育訓練及び実務の経験を通じて習得された職業に必要な技能及びこれに関する知識についての評価が適正になされるように行われなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To dispense with a troublesome operation for inserting a pair of electrodes into sample liquid stored in each storage recessed part, to prevent the pair of electrodes from being brought into contact with each other in the sample liquid, and to test many sample liquids efficiently and stably, in a testing device using a test plate where many storage recessed parts for storing the sample liquid are provided.
    サンプル液を収容させる収容凹部が多数設けられた試験用プレートを用いた試験用装置において、各収容凹部内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなく、またサンプル液中において一対の電極が接触するのを防止し、多数のサンプル液の試験が効率よく安定して行えるようにする。 - 特許庁
  • The method for testing an electronic circuit 16 comprises selection of an input signal using a first multiplexer 208, selection of an signal to be input to the first multiplexer 208 using at least one of other multiplexers 202, 204, 206, and control of at least one of other multiplexers 202, 204, 206, using a selection signal output from a control circuit 222.
    電子回路１６をテストするための方法は、第１のマルチプレクサ２０８を用いる入力信号の選択、少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６を用いる第１のマルチプレクサ２０８に入力されるべき信号の選択、および制御回路２２２から出力される選択信号を用いる少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６の制御を含む。 - 特許庁
  • Test sample mounting devices 13a and 13b for use in a bending testing apparatus for measuring the durability of a test sample by bending the test sample by applying load to the test sample includes shaft sections 22a and 22b turning holding sections 21a and 21b with the bending and enabling the pair of holding sections 21a and 21b to move close to or away from each other.
    荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられる試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂは、前記屈曲に伴い、把持部２１ａ及び２１ｂを回動し、一対の把持部２１ａ及び２１ｂを近接又は離反するように移動可能とする軸部２２ａ及び２２ｂと、を備える - 特許庁
  • To reduce time required for reading data from devices to be controlled, and to return correct data when a read request to the devices to be controlled occurs from a control section during write in a semiconductor-testing device including the control sections having a fast data transfer speed and the devices to be controlled having a slow data transfer speed while having a register or a memory in the inside.
    データ転送速度の速い制御部と内部にレジスタもしくはメモリを有しデータ転送速度の遅い被制御デバイスとを備えた半導体試験装置において、被制御デバイスからのデータの読み出しに要する時間を短縮できるとともに、書込み中に制御部から被制御デバイスに対するリード要求が発生した場合にも正しいデータを返送することができるようにする。 - 特許庁
  • In a recording medium for an error correction capability test for testing the reading device of a recording medium recorded with an error correction code word, error correction encoded data are generated by applying error correction encoding to original data on the basis of a standard, and then, the error correction encoded data are recorded with an error added to the error correction encoded data.
    誤り訂正符号語が記録された記録媒体の読取装置を試験するための誤り訂正能力試験用記録媒体であって、規格に基づいて元データが誤り訂正符号化されて誤り訂正符号化データが生成された後に、該誤り訂正符号化データに誤りが加えられた状態で記録された、ことを特徴とする誤り訂正能力試験用記録媒体である。 - 特許庁
  • Also, a medium 62 for test being the same as the slave 2 is supplied and adhered closely for the master carrier 3 held at the prescribed position, magnetic transfer is performed for the medium 62 for test, and a supply position of the slave 2 is verified by testing a transfer position of a transfer pattern in a magnetically transferred medium 62' by the transfer position test means 66.
    また、所定位置に保持されたマスター担体３に対してスレーブ媒体２と同一の検査用媒体６２を供給密着させて、該検査用媒体６２に磁気転写を行い、磁気転写がなされた検査用媒体６２’における転写パターンの転写位置を転写位置検査手段６６により検査することによりスレーブ媒体２の供給位置を検証する。 - 特許庁
  • A method for inspecting the precision of the tire testing machine has a rotating radius different from a drum 42 and higher circularity than a tire T in place of the tire T, mounts a dummy tire 60 having rigidity capable of maintaining circularity on a spindle shaft 11 even when receiving load in a radial direction, and measure variation load generated by rotating the dummy tire 60 while giving load from the drum 42.
    タイヤＴに代えて、ドラム４２とは異なる回転半径とタイヤＴよりも高い真円度とを有すると共に、荷重を径方向に受ける場合にも真円度を維持可能な剛性を有するダミータイヤ６０をスピンドル軸１１に装着し、ダミータイヤ６０をドラム４２からの荷重を与えた状態で回転させることにより生じる変動荷重を計測する。 - 特許庁
  • In the liquid shaker for shaking the testing liquid housed in a plate 11, the plate 11 is held to a moving table 60 freely movable in a horizontal direction and the moving table 60 is subjected to eccentric rotary motion by a shaking motor 72 to perform shaking operation for mixing more than one kinds of liquids dispensed in wells 11b by the plate 11.
    プレート１１に収容された試験用の液体をシェイキングする液体のシェイキング装置において、プレート１１を水平方向に移動自在な移動テーブル６０に保持させ、シェイク用モーター７２によって移動テーブル６０を偏心回転運動させることによりプレート１１にウェル１１ｂ内に分注された複数種類の液体を混合するシェイク動作を行わせる。 - 特許庁
  • To provide an epoch-making testing method capable of sharply shortening the time from the production of a test piece to the evaluation thereof to enable evaluation using a small amount of a sample, made adaptable even to carbon fibers or a thermoplastic resin composition said to be difficult to handle heretofore and enabling anyone to easily and accurately evaluate the interfacial adhesiveness of the reinforcing fibers and the resin.
    試験片作製から評価に至るまでの時間を大幅に短縮し、少量のサンプルによる評価を可能とするばかりでなく、従来、取り扱いが困難といわれていた炭素繊維や熱可塑性樹脂組成物にも適用可能で容易に、かつ誰にでも正確に強化繊維と樹脂との界面接着性を評価できる画期的な試験方法を提供する。 - 特許庁
  • The semiconductor device manufacturing method comprises a test step of performing a predetermined testing by contacting a probe terminal with a bonding pad A of a semiconductor device, and a pad surface treatment step of performing, after the test step, processing of dissolving a surface of the bonding pad by using chemical or processing of solidifying a melted portion of the bonding pad after melted by heating the bonding pad surface using a furnace.
    半導体装置のボンディングパッドＡにプローブ端子を接触させ、所定の試験を行う試験工程と、試験工程の後、薬液を用いてボンディングパッド表面を溶かす処理、または、加熱炉を用いて加熱することでボンディングパッド表面を溶かした後、溶かした部分を固化する処理を行うパッド表面処理工程と、を有する半導体装置の製造方法。 - 特許庁
  • In the testing method for accelerating the deterioration in the electrophotographic photoreceptor in which an electrifying step by an electrifier and an exposure step by an exposure device are simultaneously carried out, a sample presser member is arranged between the photoreceptor and the electrifier and the material of the surface of the sample presser member facing the electrifier is formed of a material having insulation properties.
    電子写真用感光体に、帯電器による帯電工程と露光装置による露光工程とを同時に行う電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記感光体と前記帯電器との間にサンプル押さえ部材が配置され、該サンプル押さえ部材の前記帯電器に対向する面の材質が絶縁性を有する材料で形成されていることを特徴とする。 - 特許庁
  • The system comprises a storing device 4 having a means that classifies the test data 2 of an LSI acquired by a semiconductor testing apparatus 1 into lots/wafer/chips/measurement data/categories and a means that organically connects them to store by setting connection information from among classified items; and a displaying device 5 having a means of searching the stored test data and a means of displaying the searched results.
    半導体試験装置１にて収集されたＬＳＩのテストデータ２を、ロット・ウエハ・チップ・測定データ・カテゴリ単位に分類する手段及び分類した項目の中で連結情報を設定することで有機的に結合させて蓄積する手段を有する蓄積装置４と、蓄積されたテストデータを検索する手段及び検索結果を表示する手段を有する表示装置５とからなる。 - 特許庁
  • In terms of practical training, the companies responded that it would be possible to provide training on facility design, pump performance testing, as well as water purification technologies (water quality management and operation management), stainless steel processing, technologies to prevent leakage and water supply stoppage during construction, effluent processing and management of water storage.However, no companies responded that they would be able to provide practical training on leakage surveys, pipe-laying techniques or water quality inspection.
    実習研修については、施設設計演習、ポンプ性能試験、その他として浄水技術（水質管理、運転管理）、ステンレス鋼の加工、漏水防止・不断水工事技術、排水処理、貯水槽水道等の管理の受け入れが可能であったが漏水調査実習、配管技能実習、水質検査実習については対応可能との回答が無かった。 - 厚生労働省
  • In addition, many people fail to fully understand the infection route of the hepatitis virus, and are not fully aware of the need for hepatitis testing. This lack of understanding results in many patients with chronic viral hepatitis (including patients with cirrhosis or liver cancer as a result of viral hepatitis (hereinafter referred to as patients with hepatitis)) experiencing unjustified discrimination.
    また、肝炎ウイルスの感染経路等についての国民の理解が十分でないことや、肝炎ウイルス検査を受検する必要性に関する認識が十分でないことに加え、一部では、肝炎ウイルスに持続感染している者（ウイルス性肝炎から進行した肝硬変又は肝がんの患者を含む。以下「肝炎患者等」という。）に対する不当な差別が存在することが指摘されている。 - 厚生労働省
  • germline genetic testing method targeted to detect a specific mutation (such as a deleterious msh2 mutation previously identified in a family), panel of mutations (such as the 3 brca mutations comprising the founder mutation panel for individuals of ashkenazi jewish ancestry) or type of mutation (such as a large deletions or insertions in the brca1 gene).
    生殖細胞系の遺伝子検査法のひとつで、特定の突然変異（例、ある家系において以前に同定されたmsh2の有害突然変異）、突然変異パネル（例、アシュケナジー系ユダヤ人の子孫に対する創始者突然変異のパネルを構成するbrcaの3種の突然変異）、あるいは突然変異の種類（例、brca1遺伝子における大きな欠失または挿入）の検出を目的とするもの。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • A system for testing a collection of the device chips by temporarily attaching them to a carrier having a plurality of receptacles with microdendritic features; the receptacles matching with and pushed in contact with a matching set of contact pads on the device chips; the carrier additionally having test pads connected to the receptacles through interconnect wiring.
    マイクロ樹枝状フィーチャを有する複数のレセプタクルを有するキャリアに一時的に取り付けることによってデバイス・チップの集合体を試験するためのシステムであって、レセプタクルが、デバイス・チップ上のコンタクト・パッドの合致する組と合致し、接触した状態で押され、前記キャリアがさらに、相互接続配線を介してレセプタクルに接続されたテスト・パッドを有するシステムを提供すること。 - 特許庁
  • The method measures a processing-load rate in an apparatus during testing, compares the measured processing-load rate with a prescribed target processing-load rate range, adjusts a prescribed processing condition so that the measured processing-load rate becomes within the target processing-load rate range and repeats similar procedures while varying the target processing-load rate range in a prescribed manner.
    試験中の装置内の処理負荷率を測定する処理負荷率測定し、測定された処理負荷率を所定の目標処理負荷率範囲と比較し、測定処理負荷率が目標処理負荷率範囲内に入るように前記所定の処理条件を調整し、目標処理負荷率範囲を所定の態様で変化させながら同様の手順を繰り返す構成を有する。 - 特許庁
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