「testing」を含む例文一覧(14414)

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  • A comparative determining part 6 stores the command data supplied from the main control part 1 to the pattern control part 4, compares the stored command data with command data outputted to the testing terminal 5 from the pattern control part 4, and when both data are discordant, outputs a retransmission request signal for requesting the retransmission of the same command data, to the main control part 1.
    比較判定部６は、主制御部１から図柄制御部４に供給されるコマンドデータを記憶するとともに、この記憶するコマンドデータと、図柄制御部４から試験端子５に出力されるコマンドデータとを比較し、その両者が不一致の場合に、その同一のコマンドデータの再送を要求する再送要求信号を、主制御部１に対して出力する。 - 特許庁
  • To provide a following method for creating a requirement description of an embedded system, namely a method for enabling any user to uniquely recognize what is a concrete requirement being processed according to the requirement description and for creating a requirement description suited for automatically creating a unique test for testing the embedded system from the described requirement.
    本発明の課題は、組み込みシステムの要求記述を作成する次のような方法、すなわち、要求記述によってどのユーザでも、処理されている具体的な要求が何であるかを一義的に認識することができ、かつ、記述された要求から、組み込みシステムをテストするための一義的なテストを自動生成するのに適した要求記述を作成する方法を提供することである。 - 特許庁
  • The tester comprises a section 11 generating a waveform being employed for testing an electric part, a section 20 producing an expected value to be outputted from an electric part applied with a test waveform, and a section 14 for comparing the output value from the electric part applied with a test waveform with the expected value to decide whether the electric part 16 is acceptable or not.
    電気部品の試験に用いる試験波形を生成する波形生成部１１と、試験波形を印加された電気部品から出力されるべき期待値を試験波形に基づいて出力する期待値出力部２０と、試験信号を印加された電気部品の出力値と、期待値とを比較して電気部品１６の良否を判定する比較部１４とを備える。 - 特許庁
  • To provide a mastication evaluation method capable of simply measuring a state that difference appears in the leaching degree of a component by a degree of mastication if testing food containing the component for judging mastication is used as an element, which is indispensable in the judgment of mastication in a broad sense lack in a conventional mastication evaluation method, without using a special expensive device, and a mastication judging kit.
    従来の咀嚼評価方法に欠けていた広義の咀嚼判定に不可欠な要素として、咀嚼を判定するための成分が含まれた試験用食品を用いると、咀嚼の度合により成分の浸出具合に差が現れ、それを特殊な高価な機器を用いることなく、簡便な方法で測定できるような咀嚼評価方法の構築並びに咀嚼判定キットの提供する。 - 特許庁
  • This testing method comprises a step to irradiate light on surface of the display panel and photograph the above display panel for obtaining the first image, a step to irradiate light on surface of the above display panel with pattern impressed on the display panel for obtaining the second image, and a step to compare the first image with the second image for determining whether the display panel is defective.
    ディスプレーパネルの表面に光を照射し、前記ディスプレーパネルを撮影して第１画像を得る段階と；前記ディスプレーパネルにパターンを印加した状態で前記ディスプレーパネルに光を照射し、前記ディスプレーパネルを撮影して第２画像を得る段階と；前記第１画像と前記第２画像を比較し、前記ディスプレーパネルが不良であるか否かを判断する段階とを含む。 - 特許庁
  • The semiconductor memory test pattern forming method is structured; to make the operation data of the semiconductor memory test pattern described in a format independent of the types of semiconductor testing apparatus and; to output the test specifications of the above semiconductor memory based on the above operation data after verifying the above operation data with an emulation function corresponding to the above format.
    半導体メモリの試験パターンを作成する方法において、半導体試験装置の種類に依存しないフォーマットで記述された半導体メモリ試験パターンの動作データを作成し、上記動作データを上記フォーマットに対応するエミュレート機能により検証した後、上記動作データにもとづいて上記半導体メモリの試験仕様書を出力する構成とする。 - 特許庁
  • The nonvolatile memory card has a NAND type EEPROM 11 having a cell array of electrically rewritable nonvolatile memory cells arranged repeatedly in row and column directions, test information 18 stored in a predetermined address of the NAND type EEPROM 11, and a controller 12 for testing the NAND type EEPROM 11 according to the test information 18.
    本発明の不揮発性メモリカードは、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを有するＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１と、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１の所定のアドレスに格納されたテスト情報１８と、テスト情報１８に基づいて、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１をテストするコントローラ１２を有する。 - 特許庁
  • The multifunctional fatigue testing apparatus 1 comprises a test piece holder 3 capable of holding the test piece T in any of a vertical direction and a horizontal direction, and a force applying unit 4 capable of selectively or simultaneously operating a mechanical load of the vertical direction or the horizontal direction to the held test piece T, assembled in a thermostat 2 capable of arbitrarily controlling internal temperature and humidity.
    本発明の疲労試験装置１は、試験体Ｔを垂直方向および水平方向のいずれにも保持しうる試験体保持部３と、保持された前記試験体Ｔに垂直方向または水平方向の力学的負荷を選択的に、または双方同時に作用させうる加力部４とが、内部の温湿度を任意に制御しうる恒温恒湿槽２内に組み込まれて構成される。 - 特許庁
  • The plurality of support columns 4a, 4b provided on the table 1 is integrated with the crosshead 5 thereon, the total height of the testing machine is changed with the elevation of the crosshead 5, by adopting the structure for making the support columns 4a, 4b move vertically with a vertical moving mechanism 7 provided on the table 1, and the required space is thereby reduced at storage or at transportation.
    テーブル１上に設けた複数の支柱４ａ，４ｂとクロスヘッド５とを一体化し、その各支柱４ａ，４ｂを、テーブル１に設けられた上下動機構７によって上下動させる構造を採用することにより、クロスヘッド５を昇降させることによって試験機の全高が変化し、格納時や輸送時における所要スペースを小さくすることを可能とする。 - 特許庁
  • The semiconductor testing apparatus which has the test waveform creating part 3 for creating the waveforms for the test to be fed to a semiconductor to be tested 1, is provided with a test log circuit 6 for extracting an internal signal created at a midpoint in a process in which the test waveform creating part 3 creates a final waveform for the test and outputting the internal signal to the outside of the test waveform creating part 3.
    被試験半導体１に送り込むための試験用波形を生成する試験用波形生成部３を有する半導体試験装置に、前記試験用波形生成部３が最終的な試験用波形を生成する過程の途中で生成する内部信号を取り出し、前記試験用波形生成部３の外部へ出力するテストログ回路６を設けた。 - 特許庁
  • A calculation process circuit 34 generates a plurality of measuring images from the output of the image taking element 13 and measures the profile of the testing object by using a reference image obtained from the pixels in the position crossing the principal ray of the objective lens 11, among the pixels composing the imaging area of the imaging element 13 corresponding to each of a plurality of MLs arranged on the MLA 12, as the correction information.
    演算処理回路３４は、撮像素子１３の出力から複数の測定画像を生成し、MLA１２に配列された複数のＭＬの各々に対応する撮像素子１３の撮像領域を構成する画素のうち、対物レンズ１１の主光線と交わる位置にある画素から得られる基準画像を補正情報として用いて、被検物の形状を測定する。 - 特許庁
  • The detail testing device 3 carefully and strictly checks whether the transferred information is based on an unauthorized access by comparing the information with the information in the unauthorized access database 6, and when the information is not based on the unauthorized access, transfers the information to the original destination, but when it is based on the unauthorized access, records the information in an information recording device 4 without transferring it to the original destination.
    詳細検査装置３では、転送されてきた情報が不正アクセスかどうかを、不正アクセスのデータベース６と比較し、時間をかけて厳格にその情報が不正アクセスであるか否かをチェックし、不正アクセスでなければ該当情報を本来の宛先に転送するが、不正アクセスであれば該当情報を情報記録装置４に記録し本来の宛先には転送しない。 - 特許庁
  • To provide a rubber-metal laminated raw material, having excellent LLC resistance and heat resistance without conducting harmful coating type chromate filming to metal in forming the rubber-metal laminated gasket raw material made of a complex of stainless steel plate and rubber, and not causing separation of adhesion, for example, in a LLC resistance testing method taking into consideration the environment for actually using a metal gasket for an engine.
    ステンレス鋼板とゴムとの複合体よりなるゴム-金属積層ガスケット素材を形成するに際し、有害な塗布型クロメート処理などを金属に施さなくとも耐LLC性および耐熱性に優れ、例えばエンジン用メタルガスケットの実使用環境下を考慮した耐LLC試験方法においても、接着剥がれの生じないゴム-金属積層ガスケット素材を提供する。 - 特許庁
  • To accurately measure the value of a built-in current sensing resistor in a semiconductor integrated circuit for sensing a large current having the built-in current sensing resistor without being influenced by additional resistance owing to terminals and/or a testing probe, and to adjust the threshold value for the current sensing based on the measurement result without requiring large current flow and special additional equipment.
    電流検出用抵抗を内蔵し、大きな電流を検出する半導体集積回路において、電流検出用抵抗の値を端子やテスト用プローブの付加抵抗の影響を受けることなく正確に測定すると共に、大きな電流を流したり特別な付加装置を設けることなく電流検出の閾値を測定結果に基づいて調整すること。 - 特許庁
  • An energization testing prove is equipped with a probe body having the board end which is attached to the support board via solder, and the tip connected to the board end; and a surface layer which has conductivity and wetting property with respect to the solder both that are higher than that of the probe body, and extends from the board end toward the tip over the surface of the probe body.
    通電試験用プローブは、支持基板にはんだを介して取り付けられる基端および該基端に連らなる先端を有するプローブ本体と、プローブ本体の導電性よりも高い導電性を示しかつはんだに対するプローブ本体の濡れ性よりも高い濡れ性を示しプローブ本体の表面で基端から先端へ向けて伸びる表面層とを備える。 - 特許庁
  • The reactors are classified into five types: reactors for purpose of power generation, reactors to be installed in ships, reactors for purpose of testing and research, reactors for purpose of power generation and at a stage of research and development, and reactors at a stage of research and development other than those for purpose of power generation.Competent ministers who issue the license have been determined depending on each reactor type.
    原子炉は、発電の用に供する原子炉、船舶に設置する原子炉、試験研究の用に供する原子炉、発電の用に供する原子炉であって研究開発段階にある原子炉、発電の用に供する原子炉以外の研究開発段階にある原子炉の5つに区分されており、それぞれに許可を与えることができる主務大臣が定められている。 - 経済産業省
  • He adds that in order to reduce the possibility of bubble occurrence and to protect the financial system from the effects of a bubble, micro-level policies are necessary.Some examples he cites are: (i) supervisory action to ensure capital adequacy in the banking system, stress-testing of portfolios; (ii) improvement of transparency in accounting and disclosure practices; and (iii) improvement of financial literacy.12
    その上で、バブル発生の可能性を減少させ、バブルの影響から金融システムを保護するためには、ミクロレベルの政策が必要であるとし、その例として、①銀行システム健全化のための自己資本規制とその監視システムや銀行の資産ポートフォリオにおけるストレスチェック、②会計制度と企業の情報開示習慣における透明性の改善、③金融リテラシーの改善、等に言及している12。 - 経済産業省
  • An inert gas-filled container is connected to a test liquid supply tank in the soil-filled column testing apparatus comprising a soil-filled column, where soil/sand in which contaminant-decomposing bacteria are mixed; a test liquid supply tank for storing a test liquid supplied to the column; and an effluent tank for storing effluent flowing out of the column.
    汚染物質分解菌の混入した土壌・砂を充填した土壌充填カラムと、カラムに供給する試験液を貯蔵する試験液供給タンクと、カラムから流出する流出液を貯蔵する流出液タンクを有する土壌充填カラム試験装置において、試験液供給タンクに不活性ガス充填容器を接続したことを特徴とする土壌充填カラム試験装置などによって提供。 - 特許庁
  • This system is composed of a process for performing virus elimination by using a porous separation membrane filter, a process for washing the porous separation membrane filter by using washing liquid containing a surfactant and an alkaline substance, and a process for performing the integrity testing (gold colloid method and/or liquid forward flow rate method) for the porous separation membrane filter.
    本発明は、０〜１５度において、多孔性分離膜フィルターを用いてウイルス除去処理を行う工程及び界面活性剤とアルカリ性物質を含む洗浄液を用いて多孔性分離膜フィルターの洗浄を行う工程、多孔性分離膜フィルターの完全性試験（金コロイド法及び金コロイド法あるいはＬｉｑｕｉｄ Ｆｏｒｗａｒｄ Ｆｌｏｗ Ｒａｔｅ法）を行う工程からなるシステムに関するものである。 - 特許庁
  • To provide a voltage detecting device which is used for checking or evaluating a property in a process of charging or discharging a sample such as a battery, a capacitor or the like, and measures a terminal voltage of the sample, and also to provide a testing apparatus equipped with the two or more voltage detecting devices, so that terminal voltages of all samples are detected precisely and inexpensively in charging and discharging processes.
    本発明は、電池、コンデンサ等の試料の充電または放電の過程における特性の確認あるいは評価のために、その試料の端子電圧を計測する電圧検出装置と、その電圧検出装置が複数個備えられて構成された試験装置とに関し、充放電の過程における全ての試料の端子電圧を安価に精度よく検出できることを目的とする。 - 特許庁
  • The method of testing an optical-electric converter that receives an optical input signal and provides an electric output signal comprises the steps of: applying an input signal having a parameter out of a specific application range defined by the limits of normal operation characteristics of the converter; and evaluating the electric output signal of the converter by responding to the input signal applied in order to determine the result of the test procedure.
    光入力信号を受信して電気出力信号を提供する光電気変換器を試験する方法は、変換器の正常な動作特性の限界によって規定された特定の適用範囲の外のパラメータを有する入力信号を印加するステップと、試験手順の結果を判定するために、印加された入力信号に応答して、変換器の電気出力信号を評価するステップとを包含する。 - 特許庁
  • The module for testing comprises a test substrate having a bonding pad; the semiconductor device arranged on the test substrate; an anisotropic conductive sheet having conductivity only in the thickness direction in contact with the electrode of the semiconductor device; and a metal wire whose one end is connected to the bonding pad and whose the other end is connected to the anisotropic conductive sheet in a region for covering the electrode.
    ボンディングパッドを有する試験基板と、前記試験基板の上に配置された半導体装置と、前記半導体装置の電極に接触して厚さ方向にのみ導電性を有する異方性導電シートと、前記ボンディングパッドに一端が接続され、前記電極を覆う領域において前記異方性導電シートと他端が接続された金属ワイヤとを有することを特徴とする試験用モジュールによって解決する。 - 特許庁
  • A test device of testing a device under test includes: a plurality of capacitors charged at predetermined respective prescribed voltages; a switching part for performing the switching from which of the capacitors charged at the prescribed voltages the power source voltage is to be supplied to the device under test; and a determination part determining the quality of the device under test on the basis of the operation result of the device under test.
    被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ予め定められた所定の電圧で充電される複数のコンデンサと、所定の電圧に充電されたコンデンサのうち、いずれから被試験デバイスに電源電力を供給するかを切り替える切替部と、被試験デバイスの動作結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The testing device of the semiconductor integrated circuit includes a first waveform generator 1a for supplying a first test clock generated by masking an optionlal clock pulse of a clock having a first frequency to a first clock domain and a second waveform generator 1b for supplying a second test clock generated by masking an optional clock pulse of a clock having a second frequency to a second clock domain.
    本発明にかかる半導体集積回路の試験装置は、第１の周波数を有するクロックの任意のクロックパルスをマスクすることで生成された第１のテストクロックを第１のクロックドメインに供給する第１の波形生成器１ａと、第２の周波数を有するクロックの任意のクロックパルスをマスクすることで生成された第２のテストクロックを第２のクロックドメインに供給する第２の波形生成器１ｂと、を備える。 - 特許庁
  • A testing apparatus 1 receives the input of a sample scenario 2, in which a plurality of command blocks 20 each consisting of a command element 21 and a data element 22 and regarding the operation of a device to be tested are described.
    試験装置１は、コマンド要素２１およびデータ要素２２からなる、被試験機の操作に係るコマンドブロック２０が複数記述されたサンプルシナリオ２の入力を受け付け、このサンプルシナリオ２に対して、記述順入替え処理、コマンドブロック挿入処理、コマンドブロック置換処理、コマンド要素入替え処理、およびスルー処理のうちの少なくとも一つを実施して、複数のコマンドブロック２０が試験順に記述された試験シナリオ５を生成する。 - 特許庁
  • A testing apparatus 10 for a home network has transmission means 30 that are connected to a home network 20 by which an exterior network 108 supplying network services is connected or by which terminal equipments 112 in a room are connected with each other, produce a pseudo stream which is a load equivalent to that to be burdened by the utilized network service to the home network 20, and transmit the pseudo stream to the home network 20.
    本発明のホームネットワークの試験装置１０は、ネットワークサービスを供給する外部ネットワーク１０８と、又は、室内の端末機器１１２同士と、を接続するホームネットワーク２０に接続させて、利用する前記ネットワークサービスが前記ホームネットワーク２０に掛ける負荷と同等の負荷となる擬似ストリームを作成し前記ホームネットワーク２０へ送信する送信手段３０を備えたことを特徴としている。 - 特許庁
  • The system includes a first computer which is arranged in a software developing department for developing and testing softwares, to issue the test report, based on a test result performed in the software developing department; and a second computer which is arranged in a test report managing center, so as to acquire the test report issued by the first computer via a network, and to manage the acquired test report.
    ソフトウェアの開発及びテストを実行するソフトウェア開発部署に設置され、前記ソフトウェア開発部署で実行したテスト結果に基づいたテストレポートを発行する第１のコンピュータと、テストレポート管理センターに設置され、前記第１のコンピュータが発行したテストレポートをネットワークを介して取得し、取得したテストレポートを管理する第２のコンピュータとを有することを特徴とするテストレポート管理システムである。 - 特許庁
  • This IEEE1394 serial bus tester that checks the operation of various communication facilities based on a 1394 communication protocol in equipment connected to the IEEE1394 serial bus is made to be switched between a service mode for preparing and testing a test command and a test sequence for test object equipment and a test mode for performing tests for the test object equipment according to the generated test command and test sequence.
    ＩＥＥＥ１３９４シリアルバスに接続される機器の１３９４通信プロトコルに基づく各種通信機能の動作をチェックするＩＥＥＥ１３９４シリアルバステスタであって、検査対象機器に対する検査コマンドおよび検査シーケンスの作成とテストを行う保守モードと、作成された検査コマンドおよび検査シーケンスに従って検査対象機器に対する検査を実行する検査モードに切り換えられるようにしたもの。 - 特許庁
  • The quality determination by the testing device 3 allows the pickup device to pick up only good quality chip components 6.
    外周縁部に吸着ヘッド１７が設けられ、垂直方向に揺動して、チップ部品集合体５からチップ部品６をピックアップすると共に、間欠回転しチップ部品６を反転させる回転面板１４を有するピックアップ反転機構２と、チップ部品６の良否を判定する検査装置３と、ピックアップしたチップ部品６を次工程に搬送する搬送手段４とを具備してなり、検査装置３の良否判定の結果、良品のチップ部品６だけをピックアップするものとした。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method enabling an operator to easily grasp the test state of each lot even if a semiconductor integrated circuit of a different lot is arranged in a furnace of a thermostat used when performing a burn-in test, capable of shortening furthermore a time required for the test, and hereby capable of reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.
    バーンイン試験を行う際に用いられる恒温層の炉内に異なるロットの半導体集積回路が配置されていても、作業者が各ロット毎の試験状況を容易に把握することができるとともに、試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁
  • (2) With respect to any goods for the selection and testing of samples of which provision is not made in any rules for the time being in force under sub-section (1) the Court or officer of customs, as the case may be, having occasion to ascertain the number, quantity, measure, gauge or weight or the goods, shall, by order in writing, determine the number 52 of samples to be selected and tested and the manner in which the samples are to be selected.
    (2)本条第(1)項に基づきその時点で有効ないずれの規則においても規定が制定されていない、見本の抜き取り検査が必要な商品について、当該商品の個数、数量、度量、ゲージ又は重量を確認する機会がある裁判所又は税関職員(場合に応じ)は、命令書により、抜き取り検査をすべき見本の個数と見本の選択方式を決めるものとする。 - 特許庁
  • In this information processing method, after the progress of educational program of a user is managed based on the prescribed approach applied from the user via a network according to a prescribed educational program, environment where a user can receive prescribed virtual experience for testing the fruits of study the educational program via the network is provided with respect to the user satisfying prescribed conditions based on the management result.
    所定の教育プログラムに従ってユーザからネットワークを介して与えられる所定の働きかけに基づいて当該ユーザの教育プログラムの進捗状況を管理した後、当該管理結果に基づいて、所定の条件を満たしたユーザに対し、当該ユーザがネットワークを介して教育プログラムによる学習成果を試すための所定の仮想体験を受けられる環境を提供するようにした。 - 特許庁
  • The electro-optical apparatus is provided with a plurality of external circuit connection terminals which are arrayed along one side of a projected area projected from a counter substrate on one side of a peripheral area of an element substrate, and to which an external circuit for supplying various signals for displaying images on a plurality of display elements is connected and testing image signals are collectively supplied in the case of performing display tests.
    電気光学装置は、素子基板上における周辺領域のうちその一辺において対向基板から張り出している張出領域に、その一辺に沿って配列され、複数の表示素子に画像表示させるための各種信号を供給する外部回路が接続されると共に、表示検査の際に、一括して検査用画像信号が供給される複数の外部回路接続端子を備える。 - 特許庁
  • To make it possible to detect a stable measuring value by the strain gauge bonded to a load cell without receiving the effect of a hydrogen gas in a testing machine of mechanical characteristics for measuring the load applied to a test piece using the strain gauge bonded to the load cell by arranging the test piece under a high-pressure gas atmosphere containing the hydrogen gas to apply load to the test piece.
    水素ガスを含む高圧ガス雰囲気下に試験片を配置して、この試験片に荷重を負荷し、前記試験片に負荷される荷重の測定を、ロードセルに貼着されてなる歪ゲージを用いて測定する機械特性試験装置において、前記歪ゲージが水素ガスの影響を受けることなく安定した測定値を検出することを可能ならしめる機械特性試験装置を提供する。 - 特許庁
  • This method for testing a microorganism which is contained in a specimen in which a microorganism is detected or identified by providing an environment that permits the proliferation of the microorganism, particularly a vessel containing a medium suitable for the proliferation, collecting the specimen in the vessel, and recovering the vessel to detect or identify the microorganism permits providing a whole system from the collection of a specimen to the analysis of the test result.
    被検材料中に含まれる微生物を検査するために、微生物の増殖可能な環境特に増殖に適した培地を含む容器を供給し、該容器に被検材料を採取した後、その容器を回収し微生物の検出または同定を行なう微生物検査の方法により、検体の採取から検査結果の解析まで一連のシステムを提供できることを見出し本発明を完成させた。 - 特許庁
  • To provide a new method for testing a gene expressed specifically in various bone metabolism disorders such as osteoclasis found in osteoporosis, rheumatoid arthritis and bone metastasis of cancer cell, a substance to inhibit the action of osteoclast or an agent for the prevention or treatment of bone metabolism disorder and provide a substance to inhibit the action of osteoclast or an agent for the prevention and/or treatment of bone metabolism disorder.
    骨粗鬆症、慢性関節リウマチ、ガン細胞の骨転移等に見られる、骨破壊等の種々の骨代謝異常の際に特異的に発現する遺伝子、破骨細胞の活動を阻害する物質、骨代謝異常の予防または治療剤を試験するための新規な方法、及び破骨細胞の活動を阻害する物質、骨代謝異常の予防剤および／または治療剤を提供すること。 - 特許庁
  • When the gradation voltage test of the semiconductor device having the liquid crystal driving circuit is performed, a gradation voltage (Vx) generated by the gradation voltage generation circuit 16 of the semiconductor device is compared with a comparison voltage (for example, Vx+ΔV) generated for testing the gradation voltage, and a test result is outputted as a binary voltage from the external terminal of the semiconductor device.
    液晶駆動回路を有する半導体装置であって、半導体装置の階調電圧試験時に、半導体装置の階調電圧生成回路１６で生成された階調電圧（Ｖｘ）と階調電圧を試験するために生成された比較電圧（例えばＶｘ＋ΔＶ）とを比較し、試験結果を２値電圧として半導体装置の外部端子から出力することを特徴とする。 - 特許庁
  • When a start signal for the simulation test in input, testing state keeping means outputs an instruction to input-switching means to switch an input signal to an intermediate value selecting circuit to a simulation sensor signal from a simulator, and an instruction to output switching means to output a control signal of control unit to the simulator so as to feed back an output signal to a triplicated composite circuit.
    試験状態保持手段は、シミュレーション試験の開始信号を入力すると、入力切替手段に指令を出力して中間値選択回路への入力信号をシミュレータからの模擬センサ信号に切り替えると共に、出力切換手段に指令を出力して制御部の制御信号をシミュレータに出力し３重化合成回路への出力信号をフィードバックして入力する。 - 特許庁
  • SIALON having insulating properties, high strength and high tenacity or partial stabilized zirconia is used as a support pin, which connects the testpiece and jig of hydrogen embrittlement evaluation and testing device for filling an electrolytic cell with an electrolytic solution and loading the thin steel sheet testpiece with stress while charging hydrogen in the testpiece, in order to prevent the occurrence of different metal catalytic corrosion and the breakdown of the testpiece by the loading with stress.
    電解槽中に電解溶液を満たし、薄鋼板試験片に水素チャージを行いながら、応力を負荷する水素脆化評価試験装置の試験片と治具を連結する支持ピンとして、異種金属接触腐食の発生及び高い応力の負荷による破壊を防止するため、絶縁性であり、高強度及び高靭性を有するサイアロン又は部分安定化ジルコニアを用いる。 - 特許庁
  • Stock prices (as measured by the Nikkei Average) plunged below 9,000 today. Although stock prices appeared to recover after hitting a new post-bubble low last week, they resumed a downturn and dropped below 9,000. How do you view the stock market condition? Also, could you tell me about the impact of the stock price drop below 9,000 on banks' capital adequacy, as assessed through stress testing, for example?
    株価ですけれども、今日、大幅に下落ということで、9,000円を割り込みました。先週一時バブル後最安値を付けて以来、順調に持ち直していたように見えたのですけれども、ここにきて再び9,000円割れという状況をどのようにご覧になっているのかということと、9,000円割れの状態での銀行の自己資本に与える影響について、ストレステストなどあればご紹介いただきたいのですが。 - 金融庁
  • Life insurance companies have announced their financial results for the fiscal first half, which showed a rapid deterioration of their financial conditions due to such factors as stock price drops. As stock prices have continued to drop since October, these companies’ conditions have probably deteriorated further. Could you tell me what the FSA (Financial Services Agency) intends to do about its stress testing and what supervisory measures it plans to take?
    生命保険各社の中間決算が出揃いまして、株価下落などで各社とも財務状況が急激に悪化しているという状況が明らかになったわけですが、10月以降さらに株価が下がっていまして、更に状況が悪化しているのではないかと思われますが、当局としてストレステストや監督上の対応についてどのように取り組んでいくお考えかお聞かせください。 - 金融庁
  • "pharmaceutical product" means a medicinal product which is a substance used wholly or mainly by being administered to a human being for the purpose of treating or preventing disease, but does not include--(a) any substance which is used solely--(i) for diagnosis or testing; or(ii) as a device or mechanism, or an instrument, apparatus or appliance;　or(b) any substance or class of substances specified in paragraph 2 or 3of the Schedule;
    「医薬品」とは，病気を治療又は防止する目的で全部又は大部分を人間に投与することにより用いられる物質である薬用製品をいうが，次のものは含まない。(a)専ら次のように用いられる物質　(i)診断又は検査のため　(ii)装置若しくは機械装置，若しくは計器若しくは器具として，又は(b)附則第2項若しくは第3項に定める物質若しくは定める種類に属するもの - 特許庁
  • This period begins on the date on which the testing necessary for obtaining the disposition designated by the Cabinet Order commenced or on which the relevant patent was registered, whichever comes later. This period ends on the date before the date on which the applicant is notified of the approval or registration, or in other words, the date before the date on which the applicant actually learns of the approval or registration or could have learned of it(Judgment of the Second Petty Bench of the Supreme Court of October 22, 1999, 1998(Gyo-Hi) No. 43 and No. 44).
    この期間は、政令で定める処分を受けるのに必要な試験を開始した日、又は特許権の設定登録の日のうちのいずれか遅い方の日から、承認又は登録が申請者に到達した日、すなわち申請者が現実にこれを了知し又は了知し得るべき状態におかれた日の前日までの期間である(最二小判平 11.10.22(平成 10(行ヒ)43,44)参照)。 - 特許庁
  • Article 66 An importer shall not sell any mineral or industrial product pertaining to its importation by using a certificate pertaining to product testing on which the Accreditation symbol specified in Paragraph 1 of Article 58 or a confusingly similar symbol is affixed, however, this shall not apply to the case where such symbol is affixed in accordance with the provisions of the same paragraph (including the case where it applies mutatis mutandis in Paragraph 2 of Article 65).
    第六十六条　輸入業者は、第五十八条第一項の標章又はこれと紛らわしい標章の付してある製品試験に係る証明書を用いて、その輸入に係る鉱工業品を販売してはならない。ただし、当該標章が同項（第六十五条第二項において準用する場合を含む。）の規定により付されたものである場合は、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a method of evaluation of a secondary battery conditions, which judges speedily and simply by nondestructive testing the deterioration of the secondary battery formed of electrodes consisting of a positive sheet electrode made of a laminated positive layers and a negative laminated electrode including cathode active substance.
    正極活物質を含む正極合材を層状に形成した正極合材層を有するシート状の正極と、負極活物質を含む負極合材を層状に形成した負極合材層を有するシート状の負極とを積層した電極体を備えてなる二次電池の劣化程度、電極の積層状態を非破壊により迅速かつ簡便に判断することのできる二次電池の状態評価方法を提供する。 - 特許庁
  • In the information processor 101 provided with an FPGA 102, a CPU 103, etc., first configuration data for setting a logical circuit required for displaying a normal function of the information processor 101 to the FPGA 102 and second configuration data for setting a test function for testing another integrated circuit of the CPU 103 or the like to the FPGA 102 are prepared.
    ＦＰＧＡ１０２とＣＰＵ１０３等とを備えた情報処理装置１０１において、ＦＰＧＡ１０２に対して情報処理装置１０１の通常の機能を発揮させる際に必要な論理回路を設定する第１のコンフィグレーションデータ、およびＦＰＧＡ１０２に対してＣＰＵ１０３等の他の集積回路のテストを行うためのテスト機能を設定する第２のコンフィグレーションデータを用意する。 - 特許庁
  • A simulator 20 inputs simulation data which shows an application 130 a predetermined testing condition in an ECU side communication IF120 in order to test whether the software of the ECU normally works or not, and obtains data of a result computed by the application 130 by using the simulation data, and a test result determining section inside a CPU board 210 determines a result of the test based on the computing result data.
    シミュレータ２０は、ＥＣＵのソフトウェアが正常に作動するかを試験するために、アプリケーション１３０に所定の試験条件を示すシミュレーションデータをＥＣＵ１０側の通信ＩＦ１２０に入力し、そのシミュレーションデータを用いてアプリケーション１３０が演算した結果のデータを取得して、その演算結果データからＣＰＵボード２１０内の試験結果判定部が試験結果を判定する。 - 特許庁
  • The system for testing a current-actuated-display backplane on which a circuit element is installed is provided with a conductive connection with the circuit element; a drive circuit which drives selectively the circuit element through the conductive connection; a resistance layer which covers the circuit element on the backplane; and an infrared camera which forms an infrared image of the resistance layer, while the circuit element is driven.
    その上に回路素子が設置されている電流駆動型表示体用バックプレーンを試験するためのシステムは、前記回路素子との導電接続と、前記導電接続を通じて前記回路素子を選択的に駆動するための駆動回路と、前記バックプレーン上の、前記回路素子を被覆する抵抗層と、前記回路素子が駆動されている間に、前記抵抗被膜の赤外線画像を生成する赤外線カメラと、を備える。 - 特許庁
  • This semiconductor testing device having a constitution wherein a prescribed test pattern is applied from a PE card to the DUT, and a pattern outputted from the DUT corresponding to the test pattern is compared with an expected value pattern, and coincidence of the patterns is detected, has a fail control means for summarizing fail information of the DUT input through the PE card relative to each DUT, and transferring it to the PE card.
    ＰＥカードからＤＵＴに所定のテストパターンを印加し、ＤＵＴからテストパターンに応じて出力されるパターンを期待値パターンと比較してこれらパターンの一致の有無を検出するように構成された半導体試験装置において、ＰＥカードを介して入力されるＤＵＴのフェイル情報をＤＵＴごとに集約してＰＥカードへ転送するフェイル制御手段を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁
  • To provide traffic shaping with a high efficiency in terms of a calculation amount by solving a problem of testing output queues of each virtual channel during each processing period and find whether or not cells to be sent are present, which is troublesome for a GCRA(general cell rate algorithm) equipped with a software program supporting many virtual channels, in the case of using the GCRA for a plurality of the virtual channels.
    複数の仮想回線でＧＣＲＡ（一般セルレートアルゴリズム）を使用する場合に、各処理周期中に各仮想回線の出力キューをテストして、送信すべきセルを有するかどうかを判定しなければならないが、多数の仮想回線をサポートするソフトウェアで実装されたＧＣＲＡにとってこの判定は面倒であるという問題点を解決し、計算量的に効率が高いトラフィックシェーピングを実現する。 - 特許庁
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