Laueとは 意味・読み方・使い方

A CBED pattern which contains the second-order Laue zone reflections was taken for the analysis.発音を聞く 例文帳に追加

二次のラウエ帯反射を含む1つのCBED図形が、その分析に採られた(選ばれた)。 - 科学技術論文動詞集

The Laue conditions guarantee that the scattered plane waves with wave vector k do indeed overlap and interfere constructively.発音を聞く 例文帳に追加

ラウエ条件は、波動ベクトルkを持った散乱面の波(同士)がたしかに重なり(強め合うように)干渉することを、保証する。 - 科学技術論文動詞集

Centric patterns produced by acentric crystals belong to the eleven Laue classes.発音を聞く 例文帳に追加

中心対称のない結晶によって作られる中心対称のある(電子回折)図形は、11個のラウエ群に属する。 - 科学技術論文動詞集

To provide a technique capable of shortening a processing time when the lattice constant or lattice strain quantity of a crystal is measured and analyzed on the basis of a high-order Laue zone (HOLZ) line appearing in a converged electron beam diffraction (CBED) image.例文帳に追加

収束電子線回折（ＣＢＥＤ）像に現れる高次ラウエゾーン（ＨＯＬＺ）線に基づいて結晶の格子定数又は格子歪み量の測定・解析を行う場合において、処理時間を短縮することができる技術を提供する。 - 特許庁

In the phase cotrast X-ray imaging device using an X-ray interferometer, a simultaneous reflection type X-ray interferometer is used wherein a signal wave is coupled to a reference wave by the simultaneous reflection of a coplanar or nonplanar Bragg case instead of coupling the signal wave to the reference wave by the diffraction of a Laue case as in the past.例文帳に追加

Ｘ線干渉計を利用した位相コントラスト型Ｘ線撮像装置において、従来のラウエケースの回折による信号波と参照波の結合の代わりに、coplanarあるいはnonplanarのブラッグケースの同時反射により信号波と参照波を結合する同時反射型Ｘ線干渉計を用いる。 - 特許庁

A SAW application apparatus in which a solid surface where SAW is distributed is mechanically contacted with a control board on which a convex structure group with spatial periodicity almost of the two dimensional or the one dimensional Laue condition along a propagation direction of SAW in an intended frequency band or almost of the Bragg condition, is formed to make it possible to induce a change of resonance characteristics due to the spatial periodicity.例文帳に追加

本発明のＳＡＷ応用装置は、意図する周波数帯域のＳＡＷの伝搬方向に沿った２次元あるいは１次元のラウエ条件、あるいはブラッグ条件に近い空間周期性を持つ凸構造群が形成された制御板を用いて、ＳＡＷが分布する固体表面に機械的に接触させる事で、その空間周期性による共振特性の変化を誘起することが可能とした。 - 特許庁