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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > JST科学技術用語日英対訳辞書 > 原子間力顕微鏡法の英語・英訳 

原子間力顕微鏡法の英語

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英訳・英語 atomic force microscopy


JST科学技術用語日英対訳辞書での「原子間力顕微鏡法」の英訳

原子間力顕微鏡法


「原子間力顕微鏡法」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 93



例文

原子顕微鏡用のカンチレバー、原子顕微鏡、および、原子の測定方例文帳に追加

CANTILEVER FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING INTERATOMIC FORCE - 特許庁

校正機能付き原子/水平顕微鏡原子/水平顕微鏡の感度校正方例文帳に追加

ATOMIC FORCE/HORIZONTAL FORCE MICROSCOPE WITH CALIBRATION FUNCTION AND METHOD FOR CALIBRATING SENSITIVITY THEREOF - 特許庁

原子顕微鏡における試料観察方および原子顕微鏡例文帳に追加

METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子顕微鏡微細加工装置及び原子顕微鏡を用いた微細加工方例文帳に追加

ATOMIC FORCE MICROSCOPE MICROPROCESSING DEVICE AND MICROPROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子顕微鏡及び原子顕微鏡を用いたエネルギー散逸像の形成方例文帳に追加

ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND METHOD FOR FORMING ENERGY DISSIPATION IMAGE USING THE SAME - 特許庁

原子顕微鏡のアプローチ制御方及び装置例文帳に追加

APPROACH CONTROL METHOD AND APPARATUS OF INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

例文

原子顕微鏡を用いた垂直断面加工方例文帳に追加

VERTICAL SECTION MACHINING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

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Weblio専門用語対訳辞書での「原子間力顕微鏡法」の英訳

原子間力顕微鏡法

Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「原子間力顕微鏡法」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 93



例文

原子顕微鏡を用いた微細加工方例文帳に追加

FINE PROCESSING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子顕微鏡を用いた微細加工方例文帳に追加

MICROFABRICATION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

液中セルと該液中セルを有する原子顕微鏡、及び該原子顕微鏡による測定方例文帳に追加

SUBMERGED CELL, ATOMIC FORCE MICROSCOPE HAVING THE SAME AND MEASURING METHOD USING THE ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

カンチレバー振幅測定方および非接触原子顕微鏡例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING CANTILEVER AMPLITUDE AND NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子顕微鏡を用いたフォトマスクのパーティクル除去方例文帳に追加

METHOD FOR REMOVING PARTICLE OF PHOTOMASK BY USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁

原子顕微鏡加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方例文帳に追加

PHOTOMASK DEFECT CORRECTION METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROCESSING DEVICE - 特許庁

デュアルチップ原子顕微鏡プローブとその製造方例文帳に追加

DUAL CHIP ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE AND MANUFACTURING METHOD FOR IT - 特許庁

例文

非接触型原子顕微鏡およびそれを用いた観察方例文帳に追加

NONCONTACT INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING THE SAME - 特許庁

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