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The radiation test comprises Single Event Upset, Single Event Latch-up, Micro Latch-up, and Gate Rupture Test.例文帳に追加
放射線試験は、シングルイベントアップセット(ＳＥＵ：Single Event Upset)、シングルイベントラッチアップ(ＳＥＬ：Single Event Latch-up)、マイクロラッチアップ(Micro Latch-up)、およびゲートラプチャ−テスト(Gate Rupture Test)を含む。 - 特許庁
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