「テス」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

小説 『テス』 の正しい題名は 『ダーバービル家のテス』 です.例文帳に追加

The full title of the novel Tess is Tess of the d'Urbervilles.  - 研究社 新和英中辞典

“ベータテスト”は初期のシステムテストであった．例文帳に追加

"Beta Test" was initial system test.  - コンピューター用語辞典

フリッカーテストという,目の疲労度などを検査するテスト例文帳に追加

a {flicker test} to examine the degree of eye fatigue  - EDR日英対訳辞書

アチーブメントテストという学力テスト例文帳に追加

a scholastic ability test called an achievement test  - EDR日英対訳辞書

JUnit テスト結果で、テストに合格したことが示されます。例文帳に追加

The JUnit test result shows that the test passes. - NetBeans

RESTful Web サービスのテスト用テストクライアントの生成。例文帳に追加

Test client generation for testing RESTful web services.  - NetBeans

「テスト初期化」および「テスト終了」を選択解除します。例文帳に追加

Deselect Test Initializer and Test Finalizer.  - NetBeans

次のテストメソッドをテストクラスに追加します。例文帳に追加

Add the following test method to the test class.  - NetBeans

「テスト初期化」および「テスト終了」を選択解除します。例文帳に追加

Deselect Test Initializer and Test Finalizer.Click Finish.  - NetBeans

図 15:アプリケーションのテスト (テスト 4)例文帳に追加

Figure 15: Testing Your Application, Part 4  - NetBeans

図 17:アプリケーションのテスト (テスト 5)例文帳に追加

Figure 17: Testing Your Application, Part 5  - NetBeans

パッケージ関連テストファイル(ユニットテストなど)例文帳に追加

Package related test files (unit-tests etc)  - PEAR

Python用テストスイートを含む回帰テストパッケージ。例文帳に追加

Regression tests package containing the testing suite for Python. - Python

テスト結果を収集せずにテストを実行します。例文帳に追加

Run the test without collecting the result.  - Python

テストオブジェクトに含まれるテストの数を返します。例文帳に追加

Return the number of tests represented by the this test object.  - Python

非自明性に関する二次的テスト（サブテスト）例文帳に追加

Secondary tests (subtests) of non-obviousness  - 特許庁

非自明性に関する二次的テスト(サブテスト)例文帳に追加

Secondary tests (subtests) of non-obviousness  - 特許庁

マクロセルのテスト回路及びそのテスト方法例文帳に追加

TEST CIRCUIT FOR MACRO CELL AND TEST METHOD THEREOF - 特許庁

シュミットトリガバッファのテスト回路およびテスト方法例文帳に追加

TEST CIRCUIT AND METHOD FOR SCHMITT TRIGGER BUFFER - 特許庁

半導体ウェハ、テスト装置、半導体ウェハのテスト方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR WAFER, TEST DEVICE, TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER - 特許庁

半導体テスト回路と半導体テスト方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD - 特許庁

半導体テスト回路及びそのテスト方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT AND ITS TEST METHOD - 特許庁

半導体装置のテスト回路及びテスト方法例文帳に追加

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICES - 特許庁

半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TEST APPARATUS AND ITS TEST METHOD - 特許庁

スキャンテスト回路およびスキャンテスト回路生成装置例文帳に追加

SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST CIRCUIT GENERATING EQUIPMENT - 特許庁

半導体デバイスのテスト補助回路およびテスト方法例文帳に追加

TEST AUXILIARY CIRCUIT AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法例文帳に追加

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

ＩＣテスター用中間接続装置およびＩＣテスター例文帳に追加

INTERMEDIATE CONNECTION DEVICE FOR IC TESTER AND IC TESTER - 特許庁

ＩＣテストシステムおよびＩＣテスト方法例文帳に追加

IC TEST SYSTEM AND IC TEST METHOD - 特許庁

スキャンテスト回路およびスキャンテスト方法例文帳に追加

SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD - 特許庁

スキャンテスト方法およびスキャンテスト回路例文帳に追加

SCAN TEST METHOD AND SCAN TEST CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路のテスト回路、テスト方法例文帳に追加

TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体テスト装置および半導体テスト方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD - 特許庁

半導体集積回路のテスト回路、及びテスト方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST CIRCUIT AND TEST METHOD - 特許庁

スキャンテスト制御方法、及びスキャンテスト回路例文帳に追加

SCAN TEST CONTROL METHOD AND SCAN TEST CIRCUIT - 特許庁

テスト回路、テスト方法、及び半導体集積回路装置例文帳に追加

TEST CIRCUIT, TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁

半導体集積回路のテスト方法およびテスト回路例文帳に追加

TEST METHOD AND CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

模範的なテストは、不良ブロック・テストを含む。例文帳に追加

A model test includes a defective block test. - 特許庁

スキャンテスト回路、及びスキャンテスト制御方法例文帳に追加

SCAN TEST CIRCUIT, SCAN TEST CONTROL METHOD - 特許庁

半導体パッケージのテスト用プローブ及びテスト方法例文帳に追加

TEST PROBE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE AND TEST METHOD - 特許庁

半導体パッケージのテストシステム及びテスト方法例文帳に追加

TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE - 特許庁

ＩＣテスタ及びＩＣテスタの試験方法例文帳に追加

IC TESTER AND TESTING METHOD OF IC TESTER - 特許庁

半導体集積回路のテスト方法及びテスト回路例文帳に追加

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING CIRCUIT - 特許庁

半導体テストシステム及びこのシステムのテスト方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR THIS SYSTEM - 特許庁

半導体テスト用ソケットおよび半導体テスト装置例文帳に追加

SOCKET FOR SEMICONDUCTOR TEST, AND SEMICONDUCTOR TESTING EQUIPMENT - 特許庁