意味 | 例文 (999件) |
半導体集積回路の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 11289件
半導体集積回路装置の出力回路例文帳に追加
OUTPUT CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
出力ドライブ回路を備える半導体集積回路例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PROVIDED WITH OUTPUT DRIVE CIRCUIT - 特許庁
内部電圧発生回路および半導体集積回路装置例文帳に追加
INTERNAL VOLTAGE GENERATION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
受信回路および半導体集積回路例文帳に追加
RECEIVING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
ESD保護回路を備えた半導体集積回路例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PROVIDED WITH ESD PROTECTION CIRCUIT - 特許庁
基準電圧発生回路および半導体集積回路例文帳に追加
REFERENCE VOLTAGE GENERATING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
半導体集積回路用電源回路例文帳に追加
フィルタ切換回路及び半導体集積回路装置例文帳に追加
FILTER SWITCHING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
半導体集積回路の温度管理回路例文帳に追加
TEMPERATURE CONTROL CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
半導体集積回路の回路設計方法例文帳に追加
半導体集積回路の雑音評価方法及び回路例文帳に追加
NOISE EVALUATION METHOD AND CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
同期遅延回路及び半導体集積回路装置例文帳に追加
SYNCHRONIZING DELAY CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
サージ保護回路および半導体集積回路例文帳に追加
SURGE PROTECTING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
信号伝送回路および半導体集積回路装置例文帳に追加
SIGNAL TRANSMISSION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
半導体集積回路の入力保護回路装置例文帳に追加
INPUT PROTECTIVE CIRCUIT DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
PLL回路を備えた半導体集積回路例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PROVIDED WITH PLL CIRCUIT - 特許庁
半導体集積回路、そのテスト回路、及びテスト方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME - 特許庁
フリップフロップ回路及び半導体集積回路例文帳に追加
FLIP FLOP CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
PLL回路を内蔵する通信用半導体集積回路例文帳に追加
COMMUNICATION-ORIENTED SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING PLL CIRCUIT THEREIN - 特許庁
発振開始検出回路及び半導体集積回路例文帳に追加
OSCILLATION START DETECTING CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
負荷駆動回路、半導体集積回路およびICテスタ例文帳に追加
LOAD DRIVING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND IC TESTER - 特許庁
試験回路および半導体集積回路装置例文帳に追加
TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
遅延回路及び半導体集積回路装置例文帳に追加
DELAY CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
半導体集積回路の回路設計検証方法例文帳に追加
CIRCUIT DESIGN VERIFICATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
半導体集積回路、スキャンテスト回路設計方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SCAN TEST CIRCUIT DESIGN METHOD - 特許庁
テスト回路,半導体集積回路および電源装置例文帳に追加
TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND POWER SUPPLY DEVICE - 特許庁
検出回路および半導体集積回路例文帳に追加
DETECTION CIRCUITRY AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
フィルタ回路及び半導体集積回路装置例文帳に追加
FILTER CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
出力回路を備えた半導体集積回路例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PROVIDED WITH OUTPUT CIRCUIT - 特許庁
基準電圧発生回路及び半導体集積回路装置例文帳に追加
REFERENCE VOLTAGE GENERATING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
半導体集積回路装置および入力回路例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND INPUT CIRCUIT - 特許庁
テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路例文帳に追加
TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING THE SAME - 特許庁
半導体集積回路における記憶装置識別回路例文帳に追加
STORAGE DEVICE IDENTIFICATION CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
半導体集積回路装置およびその遅延調整回路例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND RETARDING ADJUSTMENT CIRCUIT THEREFOR - 特許庁
半導体集積回路と回路設計方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR DESIGNING CIRCUIT - 特許庁
容量回路および半導体集積回路装置例文帳に追加
CAPACITOR CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
半導体集積回路装置、及びその回路挿入手法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND CIRCUIT INSERTION METHOD THEREOF - 特許庁
ミキサ回路および通信用半導体集積回路例文帳に追加
MIXER CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT FOR COMMUNICATION - 特許庁
電源回路及びこれを有する半導体集積回路例文帳に追加
POWER SUPPLY CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING THE POWER SUPPLY CIRCUIT - 特許庁
位相同期ループ回路および半導体集積回路装置例文帳に追加
PHASE-LOCKED LOOP CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE - 特許庁
集積回路装置、半導体ウェハ、回路検査方法例文帳に追加
INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, SEMICONDUCTOR WAFER, AND CIRCUIT INSPECTION - 特許庁
半導体集積回路装置及び電源供給回路例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND POWER SUPPLY CIRCUIT - 特許庁
半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法例文帳に追加
CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
増幅回路、半導体集積回路及び電子機器例文帳に追加
AMPLIFIER CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND ELECTRONIC APPARATUS - 特許庁
出力回路及びそれを用いた半導体集積回路例文帳に追加
OUTPUT CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME - 特許庁
遅延安定化回路および半導体集積回路例文帳に追加
DELAY STABILIZING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
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