意味 | 例文 (999件) |
探針の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1210件
探針作製方法およびその探針例文帳に追加
PROBE MANUFACTURING METHOD AND PROBE - 特許庁
測定用探針例文帳に追加
PROBE FOR MEASUREMENT - 特許庁
探針製造方法、探針製造装置及び探針例文帳に追加
PROBE MANUFACTURING METHOD, PROBE MANUFACTURE DEVICE, AND PROBE - 特許庁
CNF探針カンチレバー例文帳に追加
CNF PROBE CANTILEVER - 特許庁
電子源用探針例文帳に追加
PROBE FOR ELECTRON SOURCE - 特許庁
尿道探針装置例文帳に追加
URETHRA SEARCH UNIT DEVICE - 特許庁
探針型医療器具例文帳に追加
PROBE TYPE MEDICAL APPLIANCE - 特許庁
探針の位置決め装置例文帳に追加
PROBE POSITIONING DEVICE - 特許庁
探針位置制御装置例文帳に追加
PROBE POSITION CONTROL DEVICE - 特許庁
探針の製造方法例文帳に追加
MANUFACTURING METHOD OF PROBE - 特許庁
探針の走査方法例文帳に追加
PROBE SCANNING METHOD - 特許庁
高速走査探針顕微鏡用高周波振動探針例文帳に追加
HIGH-FREQUENCY OSCILLATION PROBE FOR HIGH-SPEED SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
導電性探針及び磁性探針の製造方法例文帳に追加
METHODS FOR MANUFACTURING CONDUCTIVE PROBE AND MAGNETIC PROBE - 特許庁
探針評価方法及び探針評価用チップセット例文帳に追加
PROBE EVALUATION METHOD AND CHIP SET FOR PROBE EVALUATION - 特許庁
探針交換方法及び探針交換用冶具例文帳に追加
PROBE REPLACEMENT METHOD AND TOOL - 特許庁
探針収納容器、プローバ装置、探針配置方法、及び探針収納容器の製造方法例文帳に追加
PROBE HOUSING CONTAINER, PROBER, PROBE ARRANGEMENT METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ITS PROBE HOUSING CONTAINER - 特許庁
探針、探針形成用エッチングマスク及びそれを用いた探針の製造方法例文帳に追加
PROBE, ETCHING MASK FOR FORMING PROBE AND PROBE MANUFACTURING METHOD USING ETCHING MASK - 特許庁
走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法例文帳に追加
METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
探針設計支援システム、探針設計支援方法及び探針設計支援プログラム例文帳に追加
PROBE DESIGN SUPPORT SYSTEM, PROBE DESIGN SUPPORT METHOD AND PROBE DESIGN SUPPORT PROGRAM - 特許庁
ほし草の山の中に針を探す例文帳に追加
To look for a needle in a haystack. - 英語ことわざ教訓辞典
走査探針顕微鏡用プローブ例文帳に追加
PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁
ナノチューブ探針の製造方法例文帳に追加
MANUFACTURING METHOD FOR NANOTUBE PROBE - 特許庁
探針および磁気力顕微鏡例文帳に追加
PROBE AND MAGNETIC FORCE MICROSCOPE - 特許庁
4探針抵抗率測定装置例文帳に追加
FOUR-PROBE RESISTIVITY MEASURING DEVICE - 特許庁
超解像探針及びその装置例文帳に追加
SUPER RESOLUTION PROBE AND ITS DEVICE - 特許庁
磁気力顕微鏡用の磁性探針例文帳に追加
MAGNETIC PROBE FOR MAGNETIC-FORCE MICROSCOPE - 特許庁
電気信号測定用探針例文帳に追加
ELECTRICAL SIGNAL MEASURING PROBE - 特許庁
4探針抵抗率測定装置例文帳に追加
FOUR-PROBE RESISTIVITY MEASUREMENT DEVICE - 特許庁
金属探針の製造方法例文帳に追加
METHOD FOR MANUFACTURING METAL PROBE - 特許庁
光ファイバー探針の製造方法例文帳に追加
METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL FIBER PROBE - 特許庁
探触子用穿刺針アダプタ例文帳に追加
PUNCTURE NEEDLE ADAPTER FOR PROBE - 特許庁
分割探針の製造方法例文帳に追加
METHOD FOR MANUFACTURING SPLIT PROBE - 特許庁
磁気探針およびその製造方法例文帳に追加
MAGNETIC PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁
半導体装置の探針整列確認回路及び探針整列確認方法例文帳に追加
PROBE ALIGNMENT CONFIRMATION CIRCUIT AND PROBE ALIGNMENT CONFIRMATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
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