「Defect Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR SETTING THRESHOLD OF DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査の閾値設定方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION APPARATUS OF MICROSTRUCTURE例文帳に追加

微細構造物の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

ARTICLE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND ARTICLE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

物品の欠陥検査装置、及び、物品の欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD AND SURFACE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

表面欠陥検査方法及び表面欠陥検査システム - 特許庁

SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム - 特許庁

DEFECT-INSPECTION OPTICAL SYSTEM AND SURFACE-DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出光学系および表面欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD USING IT例文帳に追加

欠陥検査装置およびそれを用いた欠陥の検査方法 - 特許庁

UNDERWATER DEFECT INSPECTION DEVICE AND UNDERWATER DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

水中欠陥検査装置及び水中欠陥検査方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT CLASSIFICATION DEVICE, AND IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

画像欠陥検査装置、欠陥分類装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT SPECIFICATION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥特定方法 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検出方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTING APPARATUS AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT DETECTOR, AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検出装置および欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法および欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び基板検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法及び外観検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD AND INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及び検査方法 - 特許庁

INSPECTION LIGHT SOURCE APPARATUS AND DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

検査光源装置及び欠陥検査装置 - 特許庁

CYLINDRICAL BODY DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

円筒体欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DATA PROCESSING METHOD例文帳に追加

欠陥検査データ処理方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS FOR DEFECT OF TAPE CARRIER例文帳に追加

テープキャリア欠陥検査装置 - 特許庁

SURFACE SCRATCH DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面キズ欠陥検査装置 - 特許庁

INSPECTION METHOD FOR SURFACE DEFECT例文帳に追加

表面欠陥の検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD OF CRYSTAL DEFECT例文帳に追加

結晶欠陥の検査方法 - 特許庁

INSPECTION METHOD, INSPECTION DEVICE AND MASKED DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

検査方法、検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND EXTERNAL APPEARANCE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE AND VISUAL INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION APPARATUS, AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE, AND VISUAL INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

SURFACE DEFECT INSPECTION APPARATUS AND SURFACE DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE FOR FILM, AND DEFECT INSPECTION METHOD FOR FILM例文帳に追加

フィルムの欠陥検査装置およびフィルムの欠陥検査方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

不良検査方法及び装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, SCHEDULE CONTROL METHOD AND DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法、工程管理方法及び欠陥検査装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法、プログラムおよび記録媒体 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEFECT INSPECTION DEVICE USING SAME例文帳に追加

欠陥検査方法およびその方法を用いた欠陥検査装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

半導体欠陥検査装置および半導体欠陥検査方法 - 特許庁

MASK FOR DEFECT INSPECTION AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査用マスク及び欠陥検査用マスクの製造方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM FOR STORING PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査方法、欠陥検査装置、欠陥検査プログラム、このプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

RING END FACE DEFECT INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

リング端面欠陥検査装置 - 特許庁

PHOTOELECTRIC CONVERSION ELEMENT, DEFECT INSPECTION DEVICE AND DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

光電変換素子、欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - 特許庁