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Design for Testabilityの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3件
ANALYSIS METHOD FOR EASY TESTABILITY AND ANALYSIS SYSTEM FOR EASY TESTABILITY AS WELL AS DESIGN METHOD FOR EASY TESTABILITY例文帳に追加
テスト容易性解析システムおよびテスト容易性解析方法、並びにテスト容易化設計方法 - 特許庁
SEQUENTIAL TEST PATTERN GENERATION USING CLOCK CONTROL DESIGN FOR TESTABILITY STRUCTURE例文帳に追加
クロック制御式テスト容易化デザイン構成を用いたシーケンシャルテストパターン生成 - 特許庁
The technique can be fully integrated into flows of design for testability (DFT) and automatic test pattern generation (ATPG).例文帳に追加
記載された技術は、テスト容易化設計(DFT)及び自動テストパターン生成(ATPG)のフローに完全に組込むことができる。 - 特許庁
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