Inspectingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 12215件
LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
液晶基板検査装置 - 特許庁
FLAW INSPECTING ILLUMINATION DEVICE例文帳に追加
疵検査用照明装置 - 特許庁
OPTICAL SEMICONDUCTOR INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
光半導体検査装置 - 特許庁
DOOR OPENING/CLOSING ABNORMALITY INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD例文帳に追加
扉の開閉異常検査装置および検査方法 - 特許庁
LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL INSPECTING METHOD AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加
液晶ディスプレイパネルの検査方法及び検査装置 - 特許庁
INSPECTING APPARATUS OF INSPECTION OBJECT例文帳に追加
被検査体の検査装置 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING LENS METER AND LENS FOR INSPECTING LENS METER例文帳に追加
レンズメータ点検方法及びレンズメータ点検用レンズ - 特許庁
INSPECTING APPARATUS OF LIGHT RECEIVING ELEMENT AND INSPECTING METHOD OF THE SAME例文帳に追加
受光素子の検査装置およびその検査方法 - 特許庁
SURFACE DEFECT INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
表面欠陥検査装置 - 特許庁
COLOR FILTER PATTERN INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
カラーフィルタパターン検査装置 - 特許庁
INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF MASK例文帳に追加
検査装置および検査方法、マスクの製造方法 - 特許庁
INSPECTING METHOD OF WIRING BOARD例文帳に追加
配線板の検査方法 - 特許庁
UNDULATION INSPECTING DEVICE, UNDULATION INSPECTING METHOD, CONTROL PROGRAM OF UNDULATION INSPECTING DEVICE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加
起伏検査装置、起伏検査方法、起伏検査装置の制御プログラム、記録媒体 - 特許庁
INSPECTING DEVICE FOR COLOR FILTER, AND INSPECTING METHOD FOR COLOR FILTER例文帳に追加
カラーフィルタの検査装置及びカラーフィルタの検査方法 - 特許庁
IMAGE PROCESSING AND INSPECTING METHOD AND IMAGE PROCESSING AND INSPECTING DEVICE例文帳に追加
画像処理検査方法および画像処理検査装置 - 特許庁
METHOD OF INSPECTING TRANSPARENT BEVERAGE BOTTLE AND INSPECTING DEVICE THEREFOR例文帳に追加
透明飲料ボトルの検査方法及びその検査装置 - 特許庁
COIL ELEMENT FOR INSPECTING EDDY CURRENT AND COIL FOR INSPECTING EDDY CURRENT例文帳に追加
渦流検査用コイル素子及び渦流検査用コイル - 特許庁
INSPECTING METHOD, MASK MANUFACTURING METHOD AND INSPECTING DEVICE, AND MASK例文帳に追加
検査方法、マスクの製造方法および検査装置、マスク - 特許庁
INSPECTING METHOD AND INSPECTING APPARATUS OF ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の検査方法および電子部品の検査装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTING SYSTEM例文帳に追加
半導体装置検査システム - 特許庁
PIPE INNER FACE INSPECTING DEVICE例文帳に追加
配管内面点検装置 - 特許庁
FINE PROTRUSION INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
微小突起物検査装置 - 特許庁
MOUNTING APPARATUS, INSPECTING APPARATUS, INSPECTING METHOD, AND MOUNTING METHOD例文帳に追加
実装装置、検査装置、検査方法及び実装方法 - 特許庁
INSPECTION MASTER, DEVICE INSPECTING METHOD, AND INSULATION INSPECTING APPARATUS例文帳に追加
検査マスタ,装置検査方法および絶縁検査装置 - 特許庁
WIRING PATTERN INSPECTING APPARATUS AND WIRING PATTERN INSPECTING METHOD例文帳に追加
配線パターン検査装置及び配線パターン検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CIRCUIT INSPECTING DEVICE例文帳に追加
半導体回路検査装置 - 特許庁
CARRIER FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF INSPECTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体検査用キャリア及び半導体の検査方法 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING ELECTRODE PLATE例文帳に追加
電極板の検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTING DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス検査装置 - 特許庁
APPARATUS FOR INSPECTING SOLAR BATTERY例文帳に追加
太陽電池の検査装置 - 特許庁
PIPING INNER FACE INSPECTING DEVICE例文帳に追加
配管内面点検装置 - 特許庁
INSPECTING DEVICE AND INSPECTING METHOD USING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加
荷電粒子線を用いた検査装置および検査方法 - 特許庁
APPARATUS FOR INSPECTING COMBUSTION IN ENGINE例文帳に追加
エンジン燃焼検査装置 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING OBJECTIVE LENS DRIVING DEVICE AND APPARATUS FOR INSPECTING THE SAME例文帳に追加
対物レンズ駆動装置の検査方法、検査装置 - 特許庁
INSPECTING DEVICE FOR LIGHT EMITTING ELEMENT例文帳に追加
発光素子の検査装置 - 特許庁
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