「M.A.S.K.」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

MASK FOR FABRICATION OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING MASK例文帳に追加

半導体素子製造用マスク及びその製造方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD FOR SHADOW MASK AND SHADOW MASK例文帳に追加

シャドウマスクの製造方法及びシャドウマスク - 特許庁

MASK-MOUNTING DEVICE AND MASK-MOUNTING UNIT例文帳に追加

マスク装着装置及びマスク装着ユニット - 特許庁

REFLECTIVE MASK BLANK AND REFLECTIVE MASK例文帳に追加

反射型マスクブランクス及び反射型マスク - 特許庁

FILM-FORMING MASK AND METHOD OF MANUFACTURING FILM-FORMING MASK例文帳に追加

成膜マスク、及び成膜マスクの製造方法 - 特許庁

HARD MASK FOR SHADOW MASK AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

シャドウマスク用ハードマスク及びその製造方法 - 特許庁

MASK BLANK AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK例文帳に追加

マスクブランク及びマスクの製造方法 - 特許庁

PRINTING MASK AND MANUFACTURE OF PRINTING MASK例文帳に追加

印刷マスク及び印刷マスクの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR FIXING MASK FRAME AND MASK例文帳に追加

マスクフレームおよびマスクの固定方法 - 特許庁

PHASE SHIFT MASK BLANKS AND PHASE SHIFT MASK例文帳に追加

位相シフトマスクブランクス及び位相シフトマスク - 特許庁

METHOD OF PRODUCING METAL MASK, AND METAL MASK例文帳に追加

メタルマスクの製造方法およびメタルマスク - 特許庁

MASK MANUFACTURING SYSTEM AND CORRECTING METHOD OF MASK PATTERN例文帳に追加

マスク製造システム及びマスクパターン補正方法 - 特許庁

MASK BLANKS AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK BLANKS例文帳に追加

マスクブランクスおよびマスクブランクスの製造方法 - 特許庁

The mask assembly 1 is composed of the mask 2 and the hood 3.例文帳に追加

マスクアセンブリ１がマスク２とフード３とからなる。 - 特許庁

MASK FOR FILM DEPOSITION AND METHOD FOR PRODUCING MASK FOR FILM DEPOSITION例文帳に追加

成膜用マスクおよび成膜用マスクの製造方法 - 特許庁

MASK CARRYING DEVICE, MASK CARRYING METHOD, AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

マスク搬送装置、マスク搬送方法、及び露光方法 - 特許庁

INSPECTING METHOD, MASK MANUFACTURING METHOD AND INSPECTING DEVICE, AND MASK例文帳に追加

検査方法、マスクの製造方法および検査装置、マスク - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING MASK, AND THE MASK HAVING VERY SMALL OPENING例文帳に追加

マスク作製方法及び微小開口を有するマスク - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING MASK BLANK AND METHOD FOR MANUFACTURING MASK例文帳に追加

マスクブランクの製造方法及びマスクの製造方法 - 特許庁

PHASE SHIFT MASK BLANK AND PHASE SHIFT MASK例文帳に追加

位相シフトマスクブランクス及び位相シフトマスク - 特許庁

PHASE SHIFT MASK BLANK AND PHASE SHIFT MASK例文帳に追加

位相シフトマスクブランク及び位相シフトマスク - 特許庁

PHASE SHIFT MASK AND PHASE SHIFT MASK BLANK例文帳に追加

位相シフトマスク及び位相シフトマスクブランク - 特許庁

LITHOGRAPHY MASK, AND MANUFACTURING METHOD OF LITHOGRAPHY MASK例文帳に追加

リソグラフィマスク及びリソグラフィマスクの製造方法 - 特許庁

MASK BRACE AND MASK ASSEMBLY例文帳に追加

マスクブレイスおよびマスクアセンブリ - 特許庁

MASK DEVICE FOR SHOT BLAST AND MASK METHOD例文帳に追加

ショットブラスト用マスク装置およびマスク方法 - 特許庁

SHADOW MASK MATERIAL FOR TENSION MASK例文帳に追加

テンションマスク用シャドウマスク材 - 特許庁

MASK AND MASK FRAME ASSEMBLING DEVICE, AND ASSEMBLING METHOD例文帳に追加

マスク及びマスクフレーム組立て装置及び組立て方法 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING MASK AND MASK PATTERN DESIGN DEVICE例文帳に追加

マスク作成方法及びマスクパターン設計装置 - 特許庁

MASK, SHEET TO BE HOOKED TO EAR, AND MANUFACTURING METHOD OF MASK例文帳に追加

マスク並びに耳掛けシートおよびマスクの製造方法 - 特許庁

METHOD FOR FORMING MASK AND MASK FORMING APPARATUS例文帳に追加

マスク作成方法、及びマスク作成装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING MASK, MASK INSPECTING APPARATUS AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

マスク検査方法、マスク検査装置及び露光方法 - 特許庁

GRAY TONE MASK BLANK AND GRAY TONE MASK例文帳に追加

グレートーンマスクブランク及びグレートーンマスク - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING MASK, METHOD FOR MANUFACTURING MASK, AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

マスク検査方法、マスク製造方法および露光方法 - 特許庁

HEAT-CURABLE PROTECTIVE LIQUID FOR GLASS MASK AND GLASS MASK例文帳に追加

ガラスマスク用熱硬化型保護液およびガラスマスク - 特許庁

MASK TIGHTENING STRING LENGTH ADJUSTER, AND MASK例文帳に追加

マスクの締め紐長さ調整具およびマスク - 特許庁

BLANK FOR TRANSFER MASK AND TRANSFER MASK例文帳に追加

転写マスク用ブランクスおよび転写マスク - 特許庁

MASK INSPECTION SYSTEM AND MASK INSPECTION METHOD例文帳に追加

マスク検査システム及びマスク検査方法 - 特許庁

MASK EXPOSURE METHOD AND MASK REPEATER例文帳に追加

マスク露光方法およびマスクリピータ - 特許庁

MASK FACE BODY FOR MASK HAVING FILTER UNIT例文帳に追加

フィルタユニット付きマスクのマスク面体 - 特許庁

LIGHT SOURCE DEVICE FOR MASK INSPECTION, AND MASK INSPECTION DEVICE例文帳に追加

マスク検査光源装置及びマスク検査装置 - 特許庁

MASK HOLDING MEMBER AND COMPOSITE MASK USING THE SAME例文帳に追加

マスク保持部材及びこれを用いた複合マスク - 特許庁

Subsequently, the mask pattern is formed on a mask blank.例文帳に追加

マスクブランクに、マスクパターンを形成する。 - 特許庁

EVALUATION MASK AND METHOD FOR EVALUATING MASK例文帳に追加

評価用マスク及びマスク評価方法 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS FOR MASK DEFECT AND METHOD FOR INSPECTING MASK DEFECT例文帳に追加

マスク欠陥検査装置およびマスク欠陥検査方法 - 特許庁

MASK DEFECT INSPECTION APPARATUS AND MASK DEFECT INSPECTION METHOD例文帳に追加

マスク欠陥検査装置及びマスク欠陥検査方法 - 特許庁