「Transmission electron microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡像観察装置 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

分析透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型透過電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型干渉電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡装置 - 特許庁

PHASE PLATE LENS SYSTEM FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の位相板用レンズシステム、および透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡と近接場光学顕微鏡の複合型顕微鏡 - 特許庁

ELECTRON STAINING METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION例文帳に追加

透過電子顕微鏡観察用試料の電子染色法。 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE WHICH REDUCES ELECTRON BEAM DAMAGE例文帳に追加

電子線損傷を低減する透過型電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON BEAM MICROSCOPE EQUIPPED WITH ELECTRON BEAM SPECTROMETER例文帳に追加

電子線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

ADJUSTMENT METHOD OF ELECTRON BEAM IN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡における電子ビーム調整方法 - 特許庁

ELECTRON BEAM HOLOGRAM, METHOD OF PRODUCING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電子線ホログラム及び透過電子顕微鏡像の作製方法及び透過電子顕微鏡 - 特許庁

BEDDING SPECIMEN FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE MEASURING METHOD, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡観測用下地試料、透過電子顕微鏡測定方法、および透過電子顕微鏡装置 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE AN SCAN TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型および走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁

METHOD OF PREPARING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE AND SAMPLE PIECE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料作製方法及び透過電子顕微鏡用試料片 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡用試料の作製方法及び透過電子顕微鏡用試料 - 特許庁

METHOD OF ANALYZING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用試料の解析方法および透過型電子顕微鏡用試料 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND TRANSMITTED ELECTRON EXAMINATION DEVICE AND EXAMINATION METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡装置および透過電子検査装置並びに検査方法 - 特許庁

GRID AND GRID HOLDER FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用グリッドおよびグリッドホルダー - 特許庁

ELECTRONIC SPECTROSCOPE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH ABOVE例文帳に追加

電子分光器及びそれを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

CRYSTAL ORIENTATION IDENTIFICATION SYSTEM AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

結晶方位同定システム及び透過電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRONIC SPECTROSCOPE例文帳に追加

電子分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING TELEVISION CAMERA例文帳に追加

テレビカメラを備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSING METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡および焦点合わせ方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE HAVING SCAN IMAGE OBSERVATION FUNCTION例文帳に追加

走査像観察機能を有した透過電子顕微鏡 - 特許庁

IMAGING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE IMAGE例文帳に追加

透過電子顕微鏡像の撮像装置 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING GAS AMPLIFICATION例文帳に追加

ガス増幅を使用した走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁

TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH X- RAY SPECTROSCOPE例文帳に追加

Ｘ線分光器を備えた透過型電子顕微鏡 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND PHOTOGRAPHING METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡及び撮影方法 - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

透過型電子顕微鏡及びその制御方法 - 特許庁

ABERRATION COMPENSATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の収差補正方法 - 特許庁

AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE例文帳に追加

透過電子顕微鏡の軸調整方法およびその装置 - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁

SAMPLE HOLDER OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の試料ホルダー - 特許庁

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE GRID AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

透過型電子顕微鏡グリッド及びその製造方法 - 特許庁

PHOTOGRAPHING DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過型電子顕微鏡の撮影装置 - 特許庁

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁