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interconnect testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
A system for testing a collection of the device chips by temporarily attaching them to a carrier having a plurality of receptacles with microdendritic features; the receptacles matching with and pushed in contact with a matching set of contact pads on the device chips; the carrier additionally having test pads connected to the receptacles through interconnect wiring.例文帳に追加
マイクロ樹枝状フィーチャを有する複数のレセプタクルを有するキャリアに一時的に取り付けることによってデバイス・チップの集合体を試験するためのシステムであって、レセプタクルが、デバイス・チップ上のコンタクト・パッドの合致する組と合致し、接触した状態で押され、前記キャリアがさらに、相互接続配線を介してレセプタクルに接続されたテスト・パッドを有するシステムを提供すること。 - 特許庁
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