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mut1を含む例文一覧と使い方
該当件数 : 1件
An external semiconductor memory test device 5 provided with data holding circuits F/F11-14 and switching circuits MUX21-24 is connected to a semiconductor memory test device 6, and devices MUT1-MUT4 to be tested are tested.例文帳に追加
半導体メモリ試験装置６にデータ保持回路（Ｆ／Ｆ１１〜１４）と切換回路（ＭＵＸ２１〜２４）とを備えた外付け半導体メモリ試験装置５を接続して、被試験デバイス（ＭＵＴ１〜４）の試験を行う。 - 特許庁
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