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scan basedの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 351件
The semiconductor integrated circuit 1 includes a controlling scanning test component circuit which a test value is scanned therein and outputs the test value to a combination circuit 203 and an observing scanning test component circuit which the test value scanned in the controlling scanning test component circuit is scanned therein in parallel and an output value output by the combination circuit 203 based on a test value from the controlling scanning test component circuit is input thereto to scan out the output value.例文帳に追加
本発明にかかる半導体集積回路1は、テスト値がスキャンインされ、当該テスト値を組み合わせ回路203に出力する制御用スキャンテスト構成回路と、制御用スキャンテスト構成回路にスキャンインされるテスト値が並列的にスキャンインされるとともに、組み合わせ回路203が制御用スキャンテスト構成回路から出力されたテスト値に基づいて出力する出力値が入力され、当該出力値をスキャンアウトする観測用スキャンテスト構成回路とを備えたものである。 - 特許庁
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