field ion microscopeの意味・使い方・読み方

機械工学英和和英辞典

調べた例文を記録して、効率よく覚えましょう

Weblio会員無料で登録できます

履歴機能過去に調べた単語を確認できる

語彙力診断診断回数が4回に増加

マイ単語帳便利な学習機能付き

マイ例文帳文章で意味を理解できる

Weblio英和対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

出典:『Wikipedia』 (2011/03/08 14:15 UTC 版)

ウィキペディア英語版からの引用

引用: Field ion microscopy (FIM) is an analytical technique used in materials science. The field ion microscope is a type of microscope that can be used to image the arrangement of atoms at the surface of a sharp metal tip. It was the first technique by which individual atoms could be spatially resolved. On October 11, 1955, Muller & Bahadur (Pennsylvania State University) observed individual tungsten (W) atoms on the surface of a sharply pointed W tip by cooling it to 78 K and employing helium as the imaging gas. Muller & Bahadur were the first persons to observe individual atoms directly; to do so, they used an FIM, which Muller had invented in 1951.

全履歴クリア

単語帳に追加

Wikipedia
Text is available under Creative Commons Attribution-ShareAlike (CC-BY-SA) and/or GNU Free Documentation License (GFDL).
Weblio英和・和英辞典に掲載されている「Wikipedia英語版」の記事は、WikipediaのField ion microscope (改訂履歴)の記事を複製、再配布したものにあたり、Creative Commons Attribution-ShareAlike (CC-BY-SA)もしくはGNU Free Documentation Licenseというライセンスの下で提供されています。