「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 194 195 196 197 198 199 200 201 202 .... 366 367 次へ＞- A partial unevenness candidate area indicating a candidate of a partial unevenness defect, by binarizing the objective image with a prescribed threshold, in a partial unevenness detecting part 64.
部分ムラ検出部６４では、対象画像を所定の閾値にて２値化することにより、部分ムラ欠陥の候補を示す部分ムラ候補領域が検出される。 - 特許庁 - To provide the method for manufacturing a liquid crystal display device which reduces defect of a two-terminal nonlinear device such as an MIM device caused by dielectric breakdown.
ＭＩＭ素子等の２端子非線形素子の静電破壊による不良を低減することのできる液晶表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - The first computer 68 performs image processing, based on image data in each color from the CCD line sensor 66 and detects a defect of the CSP tape 16.
第１のコンピュータ６８は、ＣＣＤラインセンサ６６からの各色毎の画像データに基づいて画像処理を行い、ＣＳＰテープ１６の欠陥を検出する。 - 特許庁 - For each specified defect, a plurality of improvement examples subjected to the measure are gathered, and the plurality of improvement examples and the effects are displayed in a list.
特定された不良ごとに、対策が施された複数の改善事例が収集されて、複数の改善事例とその効果とが一覧で表示される。 - 特許庁 - The distortion or the defect is caused by the planar or spacial disarrangement of the crystal structure and is taken-off by rearranging atoms in order.
これら歪や欠陥は結晶組織の平面的或いは空間的秩序の乱れであり、原子を秩序正しく再配列することで取り除くことができる。 - 特許庁 - The inspection unit 2 comprises a complement electrode pair 22 that detects a defect against a conductive pattern portion that faces an electrode of an inspection electrode pair 21.
検査部２は、検査電極対２１の電極が対向する導電パターン部分に対して欠陥を検出する補完電極対２２とで構成される。 - 特許庁 - To provide a method of production of a piezoelectric resonator with which a piezoelectric element can be easily bonded to a base substrate and a bonding defect or damping can be effectively suppressed.
ベース基板に圧電素子を容易に接合でき、接合不良やダンピングなどを有効に抑えることができる圧電共振子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a rare-earth magnet wherein a protection layer with less defect can be formed and which can appropriately keep magnetic characteristic.
欠陥の少ない保護層を形成可能であり、しかも磁気特性を良好に維持することができる希土類磁石の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To easily manufacture a substrate device comprising two substrates, one of which is thicker than the other, at low cost in high manufacture yield without any defect.
一方が薄く他方が厚い二枚の基板からなる基板装置を、欠陥なく、製造歩留まり率高く、また、より安価に且つ簡易に製造する。 - 特許庁 - To provide a pattern inspecting apparatus that has less erroneous detection and enables relatively easy defect inspection even in a wiring pattern having different wiring widths.
異なる配線幅からなる配線パターンであっても、誤検出が少なく、比較的容易な欠陥検査を可能とするパターン検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of detecting a defect, in more detail, a dislocation emerged in an element having at least one crystalline germanium based surface layer.
欠陥を、さらに詳細には、少なくとも1つのゲルマニウム系の結晶表面層を有するエレメントに発生した転位を、検出する方法を提供する。 - 特許庁 - To correctly detect a synchronizing signal and also to suppress the deterioration of wrong detection probability small even when a large defect exists in a synchronizing signal part.
同期信号部に大きなディフェクトが存在する場合でも同期信号を正しく検出すると共に誤検出確率の悪化を小さく抑える。 - 特許庁 - This print defect automatic detection device 1 is equipped with a video camera 55 having a varifocal lens 56, and has an illumination unit 10 automatically movable on an arm 30.
印刷欠陥自動検出装置（１）は、可変焦点レンズ（56）を有するビデオカメラ（55）を備えていて、アーム（30）上で自動的に運動できる照明ユニット（10）を有する。 - 特許庁 - To provide a fixing device of an electromagnetic induction heating system which restrains an insulation defect between stacked coils without reducing the positioning accuracy of the coil.
コイルの位置決め精度を損なうことなく，積載されたコイル間の絶縁不良を抑制する電磁誘導加熱方式の定着装置を提供すること。 - 特許庁 - To eliminate an internal defect and also to improve a yield even when a substrate for a storage medium is manufactured from a resin material.
樹脂材料で記憶媒体用基板を製造する場合であっても、内部に欠陥を有することなく、しかも、歩留りを向上させることができること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a wiring substrate and an electron source substrate capable of previously preventing short circuit defect between wires layer formed.
積層形成される配線間のショート欠陥を未然に防止することのできる配線基板および電子源基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - Dust D generated due to contact between the lens holder 3 and the lens unit 4 stays in the flange part 43, so that the image defect due to the dust D can be prevented.
レンズホルダ３とレンズユニット４との接触により生じたゴミＤは、フランジ部４３に溜まるため、ゴミＤによる画像不良を防止することができる。 - 特許庁 - To provide an image forming method for forming a favorable toner image having no image defect on the back face of a sheet upon performing double-side printing.
両面プリントを行ったときに、裏面側に画像不良のない良好なトナー画像を形成することが可能な画像形成方法を提供する。 - 特許庁 - Consequently, when defect inspection of each pixel is performed based upon capacity value data of the pixel during the inspection, the inspection precision can be improved.
これにより、検査時に、各画素の欠陥検査を各画素における容量値データなどから検出する場合に、検査精度を向上させることを可能とする。 - 特許庁 - The method for putting the mark on the titanium oxide film comprises a step of causing an oxygen defect on titanium oxide forming the titanium oxide film.
本酸化チタン膜のマーク付け方法は、酸化チタン膜を形成する酸化チタンに酸素欠陥を生じさせて、酸化チタン膜にマークを付することを特徴とする。 - 特許庁 - To perform ideal plasticization processing by promptly coping with cause investigation and a countermeasure against the deterioration of a molten state and preventing a plasticizing defect.
溶融状態が不良になる原因究明と対応策を速やかに講じるとともに、可塑化不良を未然に回避して理想的な可塑化処理を実現する。 - 特許庁 - A pinhole position or a beam size is adjusted automatically so as to acquire the optimum arrangement of the optical system based on the database with respect to an input defect shape.
入力した欠陥形状に対してデータベースに基づき、最適な光学系の配置になるよう自動的にピンホール位置、ビームサイズの調整が行われる。 - 特許庁 - To provide a sector level defect management technique which performs a local track spare processing to a headerless format AV HDD which uses a variable index write technique.
可変インデックス書き込み技術を使用するヘッダーレス・フォーマットAV HDDに対してローカル・トラック・スペア処理を行うセクタ・レベルの欠陥管理技術を提供する。 - 特許庁 - To remove charges accumulated during the defect correction of a photomask by electron beams even in an electron beam defective correction device of which the test piece chamber is vacuum.
試料室内が真空である電子ビーム欠陥修正装置においても、フォトマスクを電子ビームにて欠陥修正中に蓄積される電荷を除去する。 - 特許庁 - To provide a positive photoresist composition having excellent resolution and edge roughness of line pattern and hardly causing developing defect in the manufacture of a semiconductor device.
半導体デバイスの製造において解像力、ラインパターンのエッジラフネスに優れ、現像欠陥の少ないポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal cell satisfying requirements for uniform alignment without any defect in a smectic liquid crystal and a liquid crystal device having the liquid crystal cell.
スメクティック液晶に関し、均一で欠陥のないアライメントのための条件を与える液晶セル、およびこの液晶セルを有する液晶デバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a bone prosthetic material having a bone regenerative capacity capable of regenerating a bone by filling an osseous defect site therewith, and its production method.
骨欠損部に填入することにより、骨再生を図ることができる、骨再生能を有する骨補填材およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - In one embodiment, a tissue scaffold is delivered into a patient through a cannula to a cavity formed at a defect site in a tissue, for example, a cartilage or the like.
一実施形態において、組織足場はカニューレを通して患者内に、例えば軟骨などの組織内の欠陥部位に形成された空洞に送達され得る。 - 特許庁 - To provide a merchandise label with which temperature management of merchandise can be exactly performed and a point of generation of a defect can be judged and a temperature management method.
商品の温度管理を正確に行うことができるとともに、不良の発生箇所を判断できる商品ラベル及び温度管理方法を提供する。 - 特許庁 - The first determination means 21 performs defect determination by comparing the maximum and minimum values of the pixel values of the peripheral pixels with the pixel value of the pixel of interest.
第１の判定手段２１は、複数の周辺画素の画素値の最大値及び最小値と注目画素の画素値との比較によるキズ判定を実施する。 - 特許庁 - When the target pixel is not a defective pixel, a defect correction section 144 outputs the pixel value of the target pixel received from the memory section 141 as it is.
注目画素が欠陥画素でないと、欠陥補正部１４４はメモリ部１４１から入力された注目画素の画素値をそのまま出力する。 - 特許庁 - WIRING AND ELECTRODE FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE CAUSING LESS HEAT DEFECT AND PREFERABLE SURFACE STATE, AND SPUTTERING TARGET FOR FORMING THE SAME
熱欠陥発生が少なくかつ表面状態の良好な液晶表示装置用配線および電極並びにそれらを形成するためのスパッタリングターゲット - 特許庁 - To prevent a short circuit between gate electrodes by preventing exposure of an embedded defect such as a seam caused on an inter-electrode insulating layer.
電極間絶縁膜に生じるシームなどの埋込み欠陥の露出を抑制できるようにしてゲート電極間ショートを防止できるようにする。 - 特許庁 - To improve efficiency of visual inspection of a liquid crystal panel determined as a defective unit by automatic inspection, in a defect inspection system of the liquid crystal panel which includes automatic inspection.
自動検査を含む液晶パネルの欠陥検査システムにおいて、自動検査で不良品と判定された液晶パネルの目視検査を効率化する。 - 特許庁 - To decide whether a testee has a genetic defect to metabolism of a medicine to predict changes between persons in drug metabolism.
薬剤代謝における個体間変動を予測するために、被験者が薬剤を代謝することに対する遺伝的欠損を有するかどうか決定する。 - 特許庁 - The coordinates conversion in the detection system with respect to the rotationally symmetric object 11 is dispensed with and the surface defect of the object can be detected at a high speed.
回転対称な対象物１１に対して検出系での座標変換を不要とし、高速に表面欠陥を検出することが可能となる。 - 特許庁 - To reduce the occurrence of a printing defect due to yellow fogging without grounding to all rollers having conductivity included in a film developing apparatus.
フィルム現像装置に含まれる全ての導電性を有するローラに対して接地することなく、イエローかぶりによるプリント不良の発生を軽減する。 - 特許庁 - To provide a photoresist composition to be used for the manufacture a semiconductor, superior in uniform coating and small in pattern defect after development and wide in focal depth.
半導体製造に使用されるフォトレジストであって、塗布均一性に優れ、現像後のパターン欠陥が少なく、且つ焦点深度の広い組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device that prevents occurrence of a defect due to insufficient adhesion between a protective film and a semiconductor substrate.
保護フィルムと半導体基板間での不十分な密着性に起因する不具合の発生が防止された半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - Then, on the basis of distance signals from the exciting coils 18, flaw detection signals from the respective detecting coils 20 are corrected, and a defect is judged on the basis of their correction signals.
そして、励磁コイル１８からの距離信号を基に、各検知コイル２０からの探傷信号を補正した後、その補正信号を基に欠陥判定する。 - 特許庁 - To obtain required resolution and prescribed scanning velocity (exposure velocity) in a main scanning direction and a subscanning direction and further to obtain a compensation function of illumination unevenness and pixel defect.
主・副走査方向に必要な分解能と所定の走査速度（露光速度）を得ると共に、照明ムラ、画素欠陥の補正機能を得ることを課題とする。 - 特許庁 - METHOD FOR IMAGING AND DISPLAYING BULK MICRO DEFECT IN SEMICONDUCTOR SINGLE CRYSTAL, PROGRAM AND PROGRAM-RECORDED AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM
半導体単結晶中の酸素析出物を画像化して表示する方法、プログラムおよびプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide a lower structure of an improved mobile crane capable of overcoming a defect in current technology and further advantageously improving the current technology.
現在技術における欠点を克服するとともに、現在技術をさらに有利に向上させる改良型の移動式クレーンの下部構造体を提供する。 - 特許庁 - To provide a solar battery capable of reducing any defect in a semiconductor layer functioning as a window layer, and freely changing the forbidden band width of the window layer.
窓層として機能する半導体層中の欠陥が少なく、窓層の禁制帯幅を自由に変えることができる太陽電池を提供する。 - 特許庁 - To introduce a structural defect by developing a portion in the pattern of the periodic array structure exposed with high precision by an interference exposure method.
干渉露光法で精度高く露光した周期的配列構造のパターン中の一部分が現像されるようにして、構造欠陥を導入すること。 - 特許庁 - To provide an active matrix substrate whose defect can be corrected with high precision without causing breaking of a signal wiring line nor damage to a pixel electrode.
信号配線の断線や画素電極の損傷の発生を伴うことなく、欠陥修正を高精度で行うことができるアクティブマトリクス基板を提供する。 - 特許庁 - To reduce errors in a defect position produced by positional displacement by a driving mechanism of a stage without extending total processing time required for substrate inspection.
基板検査に要するトータルの処理時間が長くすることなく、ステージの駆動機構による位置ずれによって生じる欠陥位置の誤差を低減する。 - 特許庁 - Defects with no holes formed are linearly arranged along the propagating direction of the signal light, with a linear defect waveguide 6 thereby formed.
空孔が形成されない欠陥を信号光の進行方向に沿って線状に配置させることによって、線欠陥導波路６が形成されている。 - 特許庁 - To achieve transfer connection with a conductive member without causing a short-circuiting defect between electrodes, and prevent conduction failure due to crack of the conductive member.
電極間のショート不良を引き起こすことなく導電部材によるトランスファ接続を実現し、導電部材のクラックによる導通不良を防止する。 - 特許庁 - Thus, energy required for fixing the toner image is saved and the occurrence of the image defect is restrained with the saving of energy.
これにより、トナー像の定着に必要なエネルギーを削減できると共に、このエネルギー削減に伴い画像欠陥の発生を抑制することができる。 - 特許庁
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