「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 195 196 197 198 199 200 201 202 203 .... 366 367 次へ＞- To provide a power steering system of steer-by-wire type eliminating a defect in the conventional system and giving an improved torque feeling to a driver.
従来システムにおける欠点を解消し、かつ運転者に改良されたトルク感を与えるステア−バイ−ワイヤ形式のパワーステアリングシステムを提供すること。 - 特許庁 - To achieve a process without overetching or insufficient etching and a process with high accuracy in surplus defect correction of a photomask by using atomic force microscope techniques.
原子間力顕微鏡技術を用いたフォトマスクの余剰欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工や高精度な加工を実現する。 - 特許庁 - To obtain a breast image without image defect while reducing the impingement of radiation onto a subject in phase contrast magnification photographing.
位相コントラスト拡大撮影で、被写体に放射線が当たることを軽減し、かつ画像欠陥が生じることがなく乳房画像を得ることができる。 - 特許庁 - To prevent breakage and an operation defect of an imaging element of an image reader by lightening a load placed when a harness is connected to a substrate where the imaging element is mounted.
画像読取り装置において、撮像素子を搭載した基板に対するハーネスの接続時に掛かる負荷を軽減し、その破損や動作不良を防止する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory in which effective relieving for plural defective columns and defect for a boundary region in a direction of the column of a cell array can be performed.
複数カラム不良やセルアレイのカラム方向境界領域の不良に対する効果的な救済を可能とした半導体メモリを提供する。 - 特許庁 - The silicon film is doped with heavy hydrogen to higher concentration than when deposited by a CVD method, and a defect such as a dangling bond is terminated with the heavy hydrogen.
このシリコン膜はＣＶＤ法による堆積よりも高濃度に重水素ドープされ、ダングリングボンドなどの欠陥が重水素で終端されている。 - 特許庁 - To solve a conventional technical defect when a pressure sensor is manufactured by providing a wafer including a base silicon layer, a buried sacrifice layer, and a top silicon layer.
ベースシリコン層と埋め込み型犠牲層とトップシリコン層を含むウェハを設けることにより圧力センサを製造する際、従来技術の欠点を解消する。 - 特許庁 - The height of the defect being machined by electron beam or gas ion beam etching is measured with one probe in the independently actuatable probes to detect an end point.
独立に駆動できる探針のうち1本の探針で、電子ビームまたはガスイオンビームエッチングで加工中の欠陥の高さを測定して終点検出を行う。 - 特許庁 - To provide an antireflection film having a low refractive index layer excellent in strength and having a very low refractive index and causing no plane trouble (spot defect).
強度が優れ、かつ屈折率が非常に低い低屈折率層を有して、面状故障（点欠陥）が発生しない反射防止膜を提供する。 - 特許庁 - To overcome the defect of different scalar quantization in the prior art where a statistical interrelation among the sample values of source is not taken into account.
ソースの標本値の間の統計的な相互関係を考慮に入れていないといった、従来技術における別個のスカラー量子化の欠点を克服する。 - 特許庁 - To defect an obstacle existent on the surface of road while using an on-vehicle stereo camera and further to measure time for a present vehicle to collide with that obstacle.
車載のステレオカメラを用いて道路面上に存在する障害物を検出し、さらに、その障害物が自車が衝突するまでの時間を計測する。 - 特許庁 - That is, the video camera is constituted without providing a block for performing signal processings such as the defect correction of the pixel of the CCD, γ correction and color matrix transformation.
即ち、ビデオカメラは、ＣＣＤの画素の欠陥補正や、γ補正、色マトリクス変換等の信号処理を行うブロックを設けずに構成することができる。 - 特許庁 - When one sub light emitting element EL1 has a defect, it is separated from the pixel 2, and the drive current is supplied to other sub light emitting elements EL2 and EL3.
一つのサブ発光素子ＥＬ１に欠陥がある場合、これを画素２から切り離して、駆動電流を残りのサブ発光素子ＥＬ２，ＥＬ３に供給する。 - 特許庁 - METHOD FOR SPECIFYING SPECIFIC RESISTANCE OF OXIDE FILM, METHOD FOR DESIGNING OXYGEN DEFECT STRUCTURE OF THE OXIDE FILM AND PROGRAM FOR SIMULATING SPECIFIC RESISTANCE OF THE OXIDE FILM
酸化膜の比抵抗を特定する方法、酸化膜の酸素欠陥構造を設計する方法、酸化膜の比抵抗のシミュレーションを行うためのプログラム。 - 特許庁 - To avoid loss of learning processing time based on registration of incorrect teacher data, in a defect type discrimination system having a neural network.
この種のニューラルネットワークを有する欠陥種別判別システムにおいて、誤った教師データを登録することに基づく学習処理時間のロスを回避すること。 - 特許庁 - To provide a device for manufacturing a solar cell for specifying a region in which a defect exists in a compartment element composing the solar cell.
太陽電池を構成する区画素子の中で、欠陥が存在する領域を特定することが可能な太陽電池の製造装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method which performs defect inspection of a photomask, in particular, detects presence/absence of a disconnection without damaging the photomask while reducing a burden imposed on an operator.
オペレータにかかる負担を軽減し、又フォトマスクをキズつけることなくフォトマスクの欠陥検査、特に断線の有無を検出する検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an imaging apparatus which can exclude the influence of the quantity of incident light from a viewfinder and can inspect a pixel defect with good operability.
ファインダからの入射光量の影響を除外することができ、操作性良く画素欠陥を検査することができる撮像装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect detecting device, capable of monitoring the presence of defects by regarding the gear that has a synthetic resin-made gear part as the gear to be inspected.
合成樹脂製のギヤ部を有する歯車を被検歯車としてその損傷を有無を監視することができる歯車の損傷検出装置を提供する。 - 特許庁 - DEFECT JUDGING METHOD OF CURRENT DETECTING MEANS, CONTROLLER OF THREE-PHASE AC MOTOR USING ITS METHOD, AND ELECTRIC VEHICLE CONTROL SYSTEM USING ITS CONTROLLER
電流検出手段の異常判定方法、及びその方法を用いた三相交流電動機の制御装置、並びにその装置を用いた電気車制御システム - 特許庁 - The method includes a process of spraying liquid compressed between about 1,500 PSI and about 3,000 PSI onto the defect.
本発明によると、前記方法は、約１５００ＰＳＩから約３０００ＰＳＩの間で加圧された液体を前記欠陥上に噴霧することを含む。 - 特許庁 - To provide a plant panel soaking device intended for improving a defect of using a large amount of an expensive culture solution in a plant hydroponics device which performs conventional soaking.
従来の浸漬を行う植物水耕栽培装置において、高価な培養液を大量に使用する欠点を改善することを課題とする。 - 特許庁 - Further, in a review object selection processing 14, the defects are aligned and narrowed from the defect map data with the failure probability and a review object is selected.
さらに、レビュー対象選出処理１４で、不良確率付き欠陥マップデータから欠陥の整列や絞込みを行い、レビュー対象を選出する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a photomask to improve the accuracy of estimating the degree of influences when a defect on a photomask is transferred onto a substrate.
フォトマスク上の欠陥が基板へ転写されたときの影響度を見積もる際の精度の向上を図るフォトマスク製造方法を提供すること。 - 特許庁 - At least one of the density and polarity of charge defect in the high permittivity film is differentiated between the second insulation films 142 and 342 by such a doping.
かかるドーピングによって、第２絶縁膜１４２，３４２間で高誘電率膜中の荷電欠陥の密度と極性との少なくとも一方が違えられている。 - 特許庁 - The plate patterns 24 and the reference data patterns 26 are compared in the subsequent pattern inspection step S28 and the dissidence of both patterns is defected as the defect patterns.
その後のパターン検査工程Ｓ２８にて、プレートパターン２４と基準データパターン２６とを比較して、両パターンの不一致を欠陥パターンとして検出する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor laser element of long life and low threshold current density with no occurrence of multiple-mode by reducing the crystal defect of a nitrogen compound semiconductor film.
窒素化合物半導体膜の結晶欠陥を低減し、寿命が長く、閾値電流密度が低く、多重モードの発生しない半導体レーザ素子を得る。 - 特許庁 - To provide a decorative material capable of effectively putting a melamine resin decorative panel excellent in pencil hardness having a defect in a part of its decorative layer to practical use.
鉛筆硬度に優れ、化粧層に一部欠点のあるメラミン樹脂化粧板を有効に活用できる化粧材９ａ、９ｂを提供する。 - 特許庁 - To provide a waveguide which is capable of connecting a total reflection confinement type waveguide and a photonic crystal line defect waveguide with high optical coupling efficiency.
全反射閉じ込め型導波路とフォトニック結晶線欠陥導波路とを高い光結合効率で接続することが可能な導波路を提供する。 - 特許庁 - To improve the heat dissipation property and reduce a waveguide loss by diffraction on outer surfaces in a semiconductor laser consisting of a two-dimensional photonic crystal line-defect waveguide.
二次元フォトニック結晶線欠陥導波路からなる半導体レーザにおける放熱性を良く、面外回折による同派路損失を低減すること。 - 特許庁 - This laminated film with gas barrier properties has at least one inorganic layer and one layer of polysilsesquioxane (a defect compensating layer), laminated on a base material film.
基材フィルム上に、少なくとも１層の無機層と、少なくとも１層のポリシルセスキオキサンを含有する層（欠陥補填層）とを有するガスバリア性積層フィルム。 - 特許庁 - Further the surface temperature is measured by a temperature sensor when the laser beam is radiated and the welding defect is decided by analyzing the surface temperature of the welded zone.
また、レーザー照射時に表面温度を温度センサーによって測定し、溶接部の表面温度を解析することで溶接欠陥を判定する。 - 特許庁 - The Au-Ge alloy ball with this structure, has remarkably improved flowability and reduces a defect in soldering upon joining and sealing of an electronic component.
この組織を有するＡｕＧｅ合金球は、流れ性が著しく向上し、電子部品の接合、封止の半田付けにおける半田付け不良を改善する。 - 特許庁 - To provide the method and the system for a mobile telephone set using a signal message with a priority level for simply and inexpensively limiting the defect of the availability.
利用可能性の欠如を簡単且つ安価に制限するための、優先レベル付き信号メッセージを用いた移動電話の方法とシステムを提供する。 - 特許庁 - To simply mount and demount a shelf unit when a defect is generated in the shelf unit in the case of the continuous formation of shelves or after the formation of the shelves, and to easily form the shelves.
棚連続形成時もしくは棚形成後に一棚ユニットに不備が生じた場合に簡単に取り付け、取り外しができ、棚形成を容易にする。 - 特許庁 - To avoid a defect of publicly known force transmission devices, especially large gap width between a guide wheel and a turbine wheel in a transition part from the turbine wheel to the guide wheel.
公知の力伝達装置の欠点、特にタービンホイールからガイドホイールへの移行部におけるガイドホイールとタービンホイールとの間の大きなギャップ幅を回避する。 - 特許庁 - Lattice defect parts 103 are formed from the main surface of a silicon substrate 100 to the depth of 2-5 nm by irradiation of silicon atoms or the like.
シリコン原子等を照射することにより、シリコン基板１００の主表面から２ｎｍ〜５ｎｍの深さにかけて格子欠陥部１０３を形成する。 - 特許庁 - To provide a method and a system for retrieving molded product information for providing materials for estimating a cause of the defect of molded products.
成型品の欠陥に関して原因を推定するための材料を提供するための成型品情報の検索方法およびシステムを提供する。 - 特許庁 - After the phase and transmittance at an exposure wavelength are calculated from the determined values, the transfer characteristic of the phase defect is deduced by the optical simulation using these values.
求めた値から露光波長での位相、透過率を算出した後、これらを用いた光学シミュレーションにより位相欠陥の転写特性を割り出す。 - 特許庁 - To provide an optical semiconductor device which does not cause insulation defect of a bonding electrode even if the spacing between bonding electrodes is narrow when it is miniaturized.
小型化した場合に、ボンディング電極同士の間隔が狭くなっても、ボンディング電極の絶縁不良を起こさない光半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a piezoelectric oscillator capable of satisfactorily mounting a piezoelectric element package onto a semiconductor device by solving a defect in terminal arrangement.
端子配置における不具合を解消して、半導体装置上に圧電素子パッケージを良好に実装することができる、圧電発振器を提供する。 - 特許庁 - In addition, the diagnosing system is provided with a learning subsystem for automatically updating the plural trained data based on the condition of a defect inputted by the user.
さらに、診断システムは、ユーザによって入力された欠陥条件に基づいて複数のトレーニング済みデータを自動的に更新する学習サブシステムを備える。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device in which an epitaxial layer of high quality with low defect density is formed on a silicon single-crystal substrate.
シリコン単結晶基板上に、欠陥密度が低く高品質なエピタキシャル層を形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a nitride semiconductor epitaxial wafer that can relieve a trapping phenomenon of electrons and can suppress generation of a hexagonal defect.
電子のトラッピング現象を緩和すると共に、ヘキサゴナル欠陥の発生を抑制可能な窒化物半導体エピタキシャルウェハの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for securing excellent mounting quality without causing any defect such as a short circuit between electrodes 4 of a component even when the pitch between the electrodes 4 becomes narrow.
部品の電極４間ピッチが狭くなっても電極４間に短絡などの不良が起こらず、良好な実装品質を確保する方法を提供する。 - 特許庁 - CONSTANT OF CIRCUIT ELEMENT, CONSTANT DIFFERENCE DETECTING CIRCUIT, POSITION DETECTOR USING IT, IDENTIFICATION INSPECTION DEVICE FOR DEFECT OR EXISTENCE/NONEXISTENCE OF CONDUCTOR, AND TORQUE SENSOR
回路素子の定数及び定数差検出回路及びそれを用いた位置検出装置及び導体の欠陥或いは有無の識別検査装置及びトルクセンサ - 特許庁 - Then, video signal writing to a pixel where an erasing operation is performed is prevented, so that the occurrence of the display defect called a ghost is prevented.
そして、消去動作を行う画素に対してビデオ信号の書き込みが行われないようにすることで、ゴーストとよばれる表示不良の発生を防止する。 - 特許庁 - The part where the weld defect occurres and stored at the storage part 17 and is welded again after the welding is performed to the end of the welding part.
そして、溶接の終点まで溶接した後、溶接不良箇所があった場合には、記憶部１７に記憶された溶接不良箇所を再溶接する。 - 特許庁 - The bacterium of the genus Bacillus is obtained by transforming a bacterium of the genus Bacillus having a defect in a trpA gene on chromosome with an expression vector containing the trpA gene.
染色体上のｔｒｐＡ遺伝子に欠陥を有し、ｔｒｐＡ遺伝子を含む発現ベクターによって形質転換されたバチルス属細菌。 - 特許庁 - The bacterium of the genus Bacillus is obtained by transforming a bacterium of the genus Bacillus having a defect in a metK gene on chromosome with an expression vector containing the metK gene.
染色体上のｍｅｔＫ遺伝子に欠陥を有し、ｍｅｔＫ遺伝子を含む発現ベクターによって形質転換されたバチルス属細菌。 - 特許庁
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