「Defect」を含む例文一覧(18306)

<前へ 1 2 .... 191 192 193 194 195 196 197 198 199 .... 366 367 次へ>
  • To provide a tombstone making method which hardly causes an aged deterioration even on the occurrence of a defect in a blasting step, and which enables character coating with an excellent texture.
    ブラスト工程で欠陥が生じた場合でも、経年劣化が生じにくく、質感の高い文字塗装を可能とする墓石作成方法を提供すること - 特許庁
  • To provide a production method for capacitor, with which the yield of device is prevented from being lowered by reducing a defect caused by the complexity of process in a capacitor separating process.
    キャパシタ分離工程時に工程の複雑さによって発生する欠陥を減じ、素子の収率低下を防止したキャパシタの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide such a rear surface treatment layer which has an excellent printer traveling characteristic and does not give rise to the defect of coating even if a release agent and tacky adhesive are applied thereto.
    プリンター走行性に優れ、且つ剥離剤や粘着剤を塗布しても塗工の欠陥が生じないような裏面処理層を提供する。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal panel having an ITO (indium tin oxide) film without any appearance defect, such as a crack, a wrinkle or the like, as the transparent common electrode of a color filter substrate.
    クラックやしわ等の外観不良の無いITO膜をカラーフィルタ基板の透明共通電極として有する液晶パネルを提供する。 - 特許庁
  • To obtain a cosmetic having an excellent feel in use especially during application and an excellent correction effect on a color defect.
    本発明の目的は、特に塗布時の使用感触に優れ、さらには肌の色彩的な欠点を補正する効果に優れた化粧料を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide a horizontal force transmission structure for transmitting horizontal force between a soil improvement body and a foundation part without generating a cross section defect on the soil improvement body.
    地盤改良体に断面欠損を生じさせずに、地盤改良体と基礎部の間で水平力を伝達させる水平力伝達構造を提供する。 - 特許庁
  • To provide an electrooptical device wherein existence of point defect or the like can be easily determined by full lighting inspection before cutting short circuit lines.
    短絡配線を切断する前に全点灯検査により点欠陥等の有無を容易に判断できるようにした電気光学装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a coating device and a coating method for applying a coating liquid by jetting the coating liquid as droplets, by which a streaky unevenness and a coating defect are reduced and which are superior in coating evenness.
    スジムラや塗布故障が低減され、塗布均一性に優れた塗布液を液滴として噴霧して塗布する塗布装置及び塗布方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inspection method of a rolling device component capable of accurately inspecting whether a defect exists inside the rolling device component such as a raceway ring.
    軌道輪等の転動装置部品の内部に欠陥が存在するか否かを精度よく検査することのできる転動装置部品の検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide image formation method and device in which a nonejection nozzle, if any, is not visible as an image defect.
    不吐出ノズルが存在する場合であっても画像欠陥として視認されない画像形成方法及び画像形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide an image forming apparatus which can prevent the image defect due to adhesion of a developer and can make apparatus configuration small-sized.
    この発明は、現像剤の付着による画像不良を防止でき、装置構成を小型化できる画像形成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a coating apparatus and a coating method, by which a stable coating can be performed without causing any defect such as film breaking even at the time of running a web at a high speed.
    高速でウェブを走行させても膜切れなどの欠陥が生じることがなく、安定した塗布が行なえる塗布装置および塗布方法の提供。 - 特許庁
  • To provide a method for fabricating a semiconductor device, which can suppress erosion into a gate insulating film and can suppress the generation of a failure or a defect in an FET.
    ゲート絶縁膜の侵食を抑制し、FETの故障や不良の発生を抑制することが可能な半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁
  • To solve a problem that a wafer flatness defect occurs when a wafer is polished while holding it by vacuum suction using an suction plate used for wafer polishing.
    ウエーハのポリッシングに使用される吸着プレートを使用し、真空吸着してウエーハを保持しながら研磨したときにウエーハの平面度不良が発生する。 - 特許庁
  • Hereby, even if a part of the slit for origin measurement has, for example, a defect or adhesion of a foreign matter, the origin signal can be acquired properly.
    これにより、原点計測用スリットの一部に例えば欠陥や異物の付着がある場合であっても、良好に原点信号を得ることが可能となる。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a polymer film to be used as a liquid crystal orientation support base plate used for obtaining a liquid crystal film in which defect of orientation is outstandingly reduced.
    配向欠陥を極めて低減した液晶フィルムを得るために用いる液晶配向支持基板となる高分子フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a ticket reader capable of uniformly keeping the interval of a read surface and a transfer belt without bias and preventing the read defect of an order-in-line ticket.
    読取面と移送ベルトとの間隔を偏りなく均一に保持し、整理券の読取不良を防止することができる券読取装置を提供する。 - 特許庁
  • If the applicant fails, within the time limit, to submit observations or to take steps to correct a defect which has been pointed out, the application shall be shelved.
    出願人が指定期限内に意見書を提出しないか又は指摘された欠陥を訂正する措置を取らない場合は,その出願は棚上される。 - 特許庁
  • If the patent holder fails, within the time limit, to submit observations or to take steps to correct a defect which has been pointed out, the request shall be rejected.
    特許所有者が当該期限内に意見書を提出せず又は指摘された欠陥の訂正措置を取らなかった場合は,請求は却下される。 - 特許庁
  • The defective box S_3 is removed from the production line by actuating the apparatus 20 based on a defect signal inputted to a control part 25.
    制御部25に入力される不良信号に基づき不良箱体除去装置20を作動させて不良箱体S_3 を製造ラインから取り除くようにする。 - 特許庁
  • To realize an external appearance inspecting method, by which a defect which occurs in the stripe part of an object to be inspected having a stripe patterns is detected by using an image processing.
    縞模様を有する被検査物の縞部分に発生する欠陥を画像処理を用いて検出できる外観検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To support the execution of sure inspection of all parts to be inspected without omission, and without missing a defect unnoticeable by only observation from the front.
    全ての要検査部位を脱落なく、かつ正面からの観察だけでは分からない不良をも見逃すことなく、確実な検査を行えるように支援すること。 - 特許庁
  • To provide a method by which defect such as crack and warping occurring in a thin molding is suppressed at a process in which the thin molding is obtained by a sol-gel method.
    ゾルゲル法により薄肉成形体を得る工程で、薄肉成形体に発生する割れや反り等の欠陥の発生を抑制しする方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an image forming apparatus which hardly causes an image defect by fogging toner even if a distribution period of a developer storing body or an inventory left period thereof becomes long.
    現像剤収容体の流通期間や在庫放置期間が長くても、かぶりトナーによる画像不良が発生しにくい画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a molding machine improved to rapidly mold a seamless tubular film (SL film) having no defect such as no dust or the like with a high thickness accuracy.
    高厚み精度で、かつゴミ等のない無欠点のシームレス管状フィルム(SLフイルム)を迅速に成型する為の改良された成型装置の提供。 - 特許庁
  • To solve the problem that a liquid crystal device having an entire-surface overcoat layer has a display defect nearby a liquid crystal injection hole of a seal material.
    全面オーバーコート層を備えた液晶装置において、シール材の液晶注入口の近傍に表示不良が発生することを解消する。 - 特許庁
  • To provide an image processing apparatus capable of suppressing occurrence of image quality defect caused by correcting displacement of an output image from an original image.
    原画像に対する出力画像のずれを補正することに起因する画質欠陥の発生を抑制することのできる画像処理装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a production process of a laminated substrate in which the laminated substrate of low defect density can be produced by laminating substrates of high hardness.
    硬度の高い基板を貼り合わせに用いて欠陥密度の小さい貼り合わせ基板とすることができる貼り合わせ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for producing a glare shielding substrate which can form a surface treatment film without causing a defect by applying a surface treating agent and curing it.
    表面処理剤を塗布し、硬化させて、欠陥を生ずることなく表面処理膜(11)を形成できる防眩性基板(1)を、製造し得る方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technique for stably producing a hot dip metal coated steel strip of high quality by suppressing generation of a coated surface defect caused by a splash.
    スプラッシュに起因するめっき表面欠陥の発生を抑え、高品質の溶融金属めっき鋼帯をより安定して製造する技術を提供する。 - 特許庁
  • Also, since the portions A1, A2, and A3 reduced in wall thickness are formed at a rather high temperature, the occurrence of molten metal flow defect in casting can be suppressed.
    しかも、当該肉厚を小さくした部位A_1、A_2、A_3を比較的高温で成形することで、鋳造時における湯流れ不良の発生を抑える。 - 特許庁
  • The image receiving recording medium roll 5 records information showing the defect position of the image receiving sheet 7 in the state readable by the image formation device 2.
    受像記録媒体ロール5は、受像シート7の不良箇所を示す情報が、画像形成装置2により読み取り可能な状態で記録されている。 - 特許庁
  • One method for binning defects includes binning defects into groups based on defect characteristics and the sets of inspection data in which the defects were detected.
    欠陥をビン分類する一方法は、欠陥の特性、及び、これらの欠陥が検出された検査データの組に基づいて、これらの欠陥をグループにビン分類する。 - 特許庁
  • To hold a secure and tight electric connection for a long period by eliminating a defect in connection between a wiring board and an external electric circuit board.
    配線基板と外部電気回路基板との間にて接続不良が生じなくなり、長期にわたり確実にかつ強固な電気的接続を保持する。 - 特許庁
  • To provide a substrate for a plasma display panel having a uniform height structure with a portion which subdivides an electric discharge space without defect.
    放電空間を細分化する部分の欠損が無くかつ高さの均一な構造体を有したプラズマディスプレイパネル用基板の提供を目的とする。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of semiconductor substrate provided with SiC which is controlled in generation of crystal defect due to misfit dislocation and is reduced in warpage thereof.
    ミスフィット転位による結晶欠陥の発生が抑制されたSiCを備え、反りが低減された半導体基板の製造方法を提供する - 特許庁
  • To reduce a development defect and to wash away a developer in a short time when performing developing processing by supplying the developer to a substrate.
    基板に対して現像液を供給して現像処理を行うにあたり、現像欠陥を低減し、また現像液の洗浄を短時間で行うこと。 - 特許庁
  • To provide an adhesive sheet for producing semiconductor chips very thin and free from defect and decoloration by pre-dicing method, and to provide application methods thereof.
    先ダイシング法によって極薄で欠けや変色のない半導体チップを製造するために用いられる粘着シートおよびその使用方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a honeycomb structure superior in a mechanical strength of the out side wall and a forming defect such as a twist, a distortion or the like of a partition wall is effectively protected.
    外壁部の機械的強度に優れるとともに、隔壁のヨレや歪み等の成形不良が有効に防止されたハニカム構造体を提供する。 - 特許庁
  • To provide a stencil mask assuring excellent heat radiating characteristic with less influence of crystal defect and also assuring processing characteristic and moreover provide a method for manufacturing the same stencil mask.
    放熱性が良く、結晶欠陥の影響が少なく、加工特性に優れたステンシルマスク及びステンシルマスク製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To manufacture shapes excellent in surface property by efficiently removing primary scale from the surface of steel and preventing the generation of a surface defect due to the scale.
    一次スケールを、鋼材表面から効率的に除去し、スケールに起因するの表面疵の生成を防止して、表面性状の優れた形鋼を製造する。 - 特許庁
  • To provide a laminated sheet and a method of manufacturing it which can avoid the formation of defect on the surface of an adhesive sheet when the sheet is rolled.
    巻取体としたときに、接着シートに欠点が形成されることを防止することのできる積層シートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • When the longitudinal wave angle probes 11, 12 are moved in parallel with the scanning direction 18 parallel to the weld direction 14, a defect echo shown by the figure (b) is obtained.
    縦波斜角探触子11,12を、溶接方向14と平行な走査方向18に平行移動させると、(b)に示すような欠陥エコーが得られる。 - 特許庁
  • To efficiently and effectively treat the periphery portion of a substrate having surface roughness or defect, or an unnecessary adhered material etc. becoming a pollution source which has occurred.
    表面荒れや欠陥、または汚染源となる不要な付着材などの発生した基板の周縁部を効率良くかつ効果的に処理すること。 - 特許庁
  • A transfer pattern in which a white defect exists on at least a part is formed on the surface of a substrate on the basis of an original picture of a pattern to be transferred.
    転写すべきパターンの原画に基づいて、基板の表面上に、少なくとも1箇所に白欠陥が存在する転写パターンが形成されている。 - 特許庁
  • To provide a method for defect inspection of a hollow fiber membrane module which enables the inspection of the hollow fiber membrane module for leakage with an excellent precision in a short time.
    中空糸膜モジュールにおけるリークの有無の検査を精度よく短時間で行うことができる中空糸膜モジュールの欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
  • Thus, potential variations of a semiconductor substrate whereon the electric charge storage means LM is formed are suppressed and a defect such as the formation of the longitudinal lines can be avoided.
    これにより、電荷保持手段LMが形成された半導体基板の電位変動が抑制され、縦線発生などの不具合が回避される。 - 特許庁
  • To inhibit the occurrence of a defect such as m exfoliation by improving the joining strength of a joint section of tire members rolled around the periphery of a molding drum.
    成型ドラムの外周に巻回されたタイヤ構成部材のジョイント部の接合強度を高くして剥離等の欠陥が生じるのを抑制する。 - 特許庁
  • As this result, the feature of an OB signal for every color can be strictly maintained, and the fault defect can be corrected highly precisely by using a well similar OB signal.
    その結果、色別のOB信号が持つ特徴を厳密に保ち、よく類似するOB信号を使ってキズ欠陥を高精度に補正できる。 - 特許庁
  • To evaluate a defect signal from data in flaw detection tests directly and easily, and to reduce inspection time without being affected by noise generated in lift-off.
    探傷試験時のデータから直接簡便に欠陥信号を評価し、リフトオフ時に生ずるノイズに影響されず、かつ、検査時間の短縮を実現する。 - 特許庁
<前へ 1 2 .... 191 192 193 194 195 196 197 198 199 .... 366 367 次へ>

例文データの著作権について

  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.