「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 189 190 191 192 193 194 195 196 197 .... 366 367 次へ＞- To provide a method for producing an N-formylaminocarboxylate in a high yield and high selectivity, having no defect of conventional technology and usable for large-scale production.
従来技術の欠点がない、大規模製造に使用可能な、Ｎ-ホルミルアミノカルボン酸エステルの高収率、高選択率の製造方法を提供する - 特許庁 - To provide an inspection method of an optical film, capable of inspecting a defect precisely by preventing sufficiently reflection of light onto the optical film.
光学フィルムへの光の映り込みを十分に防止して、欠陥の検査を的確に行うことができる光学フィルムの検査方法を提供すること。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING DISTRIBUTION PATTERN OF SURFACE DEFECT ON THIN PLATE, COMPUTER PROGRAM AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM
薄板の表面欠陥の分布形態解析装置、薄板の表面欠陥の分布形態解析方法、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provides a display device in which the occurrence of a display defect called a ghost is prevented, and to provide a driving method thereof, and a television set.
本発明は、ゴーストとよばれる表示不良の発生を防止する表示装置及びその駆動方法、並びにテレビジョン装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a characteristic measuring method useful for analysis of generation of a defect of an element found after shipping, and a substrate used for this method.
出荷後に発見された素子の欠陥につき、その欠陥発生の解析に有用な特性測定方法及びこの方法に用いられる基板を得る。 - 特許庁 - To precisely detect a point defect portion in an STN liquid crystal display in a short time.
ＳＴＮ液晶ディスプレイの点欠陥部分を精確且つ短時間で検出するＳＴＮ液晶ディスプレイ検査システム、その処理方法及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a glass substrate for an information recording medium that suppresses defect occurrence to a clamped part on the glass substrate.
ガラス基板上の被クランプ部における欠陥の発生を抑制することが可能な情報記録媒体用ガラス基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - This construction prevents a defect that rope oil of a main cable 12 splashed from the drive sheave 27 attaches to the brake surface 37 and the brake 38.
このような構成によって、駆動綱車２７から飛散した主索１２のロープ油が、制動面３７、制動機３８に付着する不具合を防ぐ。 - 特許庁 - To stabilize temperature of a contact section N so as to set to the temperature at which a fixing defect does not occur even if only the temperature of one roller composing a fixing device is controlled.
定着装置をなす片方のロールの温度のみを制御しても、定着不良を起こさない温度に接触部Ｎの温度を安定させる。 - 特許庁 - To provide a method for producing a fiber-reinforced resin molding which can easily mold a molding having a complex shape without a defect such as a void.
空隙等の欠陥の無い複雑な形状を有する成形体を容易に成形できる繊維強化樹脂成形体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - Consequently, generation of a crystal defect in the quantum dot structure body becomes difficult because mismatching of lattice using a material having similar lattice constant is rather small.
このようにすると、格子定数の類似する材料を用いて格子不整合が小さいので、量子ドット構造体に結晶欠陥が発生しにくくなる。 - 特許庁 - To make precisely detectable a surface lug defect on a resin pipe with a simple device at a low detection cost and maintenance cost.
樹脂管等の表面突起欠陥の検出を、簡単な装置により、精度よく、かつ安価な検出コストおよびメンテナンスコストで行うことを可能にする。 - 特許庁 - Here, a processing defect or dust sticking of the nozzle storage hole 27 can be detected from an external shape of the light leaking to above the nozzle storage hole 27.
ここで、前記ノズル収納穴２７の上方に漏れてくる光の外形から、ノズル収納穴２７の加工不良やゴミ付着を検出することができる。 - 特許庁 - To provide a method and device capable of high-accuracy inspection of the defect of a photomask having a light-shielding part, light-transmitting part and fine pattern part, in a short time.
遮光部と、透過部と、微細パターン部とを有するフォトマスクにおいて、短時間でかつ高精度な欠陥検査を行うことができるを提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection device of a can lid joint (seaming part), having superior detection accuracy, capable of detecting whatever joint defect accurately and surely.
検出精度に優れ、どのような接合不良でも正確かつ確実に検出することができる缶蓋接合部（巻締め部分）の検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a periodic defect detecting device being usable even when a generation period is unknown and being indifferent even when a region required for synchronous addition is a little.
発生周期が未知であっても用いることができ、かつ、同期加算に要する領域が少なくてもよい周期性欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a recording medium having spare area for defect management and its management information, a method of allotting spare area, and a method of managing defects.
欠陥管理のための余裕空間とその管理情報を有する記録媒体、余裕空間割当方法及び欠陥管理方法を提供する。 - 特許庁 - The molded article of a composition containing a large amount of carbon black has a defect that the carbon black is easily separated from the surface of the molded article due to abrasion.
カーボンブラックを多量に添加した組成物の成形品は、摩耗により成形品の表面から、カーボンブラックが脱離し易いという欠点がある。 - 特許庁 - To provide a film deposition method capable of forming a few defect density film of silicon dioxide by a low temperature process without using film deposition under a vacuum atmosphere.
本発明は、真空雰囲気での成膜を用いずに低温プロセスで欠陥密度の少ない酸化シリコン膜の成膜を実現することを可能にする。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of controlling the type and amount of crystal defect to provide desired switching characteristics.
結晶欠陥の種類や量を制御することで、所望のスイッチング特性が実現可能となる半導体装置を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of detecting damaged material by which the damaged state of a material can be grasped by making the defect density distribution in the material measurable.
欠陥密度分布を計測可能にすることで材料の損傷状態を把握することのできる材料損傷検出方法を提供することである。 - 特許庁 - Further, a semiconductor device 1A which does not have passed the continuity inspection is disassemble in the disassembling step (d) and the cause of a defect is found through subsequent inspection.
また、導通検査が不合格の半導体装置１Ａは分解工程ｄにおいて分解され、その後の検査で不良原因が明らかになる。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM CONTROLLER, CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL DEVICE USING THE SAME, CHARGE PARTICLE BEAM DEFECT INSPECTION DEVICE AND CONTROL METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM
荷電粒子ビーム制御装置、及びそれを用いた荷電粒子ビーム光学装置、荷電粒子ビーム欠陥検査装置、並びに荷電粒子ビーム制御方法 - 特許庁 - To accurately detect a latent defect due to fluctuation in rotation, etc., of a part of an information recording medium where a data synchronizing signal is recorded.
情報記録媒体のデータ同期信号が記録される部分での回転変動等に起因する潜在的な欠陥について精度良く欠陥検出をすること。 - 特許庁 - To reduce an influence of a parameter of a gradation conversion from an extraction result of a feature quantity and to control a generation of a defect on an image.
特徴量の抽出結果から階調変換のパラメーターの影響を低減させ、画像上の不具合の発生を抑制できるようにする。 - 特許庁 - To detect a defect inside an electronic device having multi-film structure without destructing the electronic device, and to shorten the time required for detection.
多重膜構造の電子デバイス内での欠陥検出を、該電子デバイスを破壊することなく、可能とするとともに、検出に要する時間を短縮する。 - 特許庁 - To provide an electrolytic polishing device capable of polishing a pickling skin on an inner face of a metallic pipe, a micro surface defect layer, a welding deformed part and the like at low costs and at high speed.
金属管の内面の酸洗肌、微小表面欠陥層、溶接変形部等の研磨を低コストで、高速に行電解研磨装置の提供。 - 特許庁 - To execute welding, uniform and free of defect such as a notch, in welding for sealing a pipe end, in manufacturing a thermo-couple, small in diameter and thin in thickness.
小径、肉薄の熱電対保護管の製作に於いて管端を封ずる溶接に際して均一で切欠きの欠陥のない溶接を施工する。 - 特許庁 - To provide a resin roller aiming at the removal of a defect at the end of a rubber elastic body layer and at the prolongation of the life of a surface layer, and its manufacturing method.
ゴム弾性体層端部の欠陥の除去と表面層の長寿命化を目的とした樹脂ローラとその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To inspect for an existence of a defect of the like in a BGA.CSP printed wiring board, particularly in a gold-plated part, with very high accuracy including delicate difference in color tone.
ＢＧＡ・ＣＳＰプリント配線基板の、特に、金メッキ部の欠陥等の有無を、微妙な色合いの差を含めた非常に高精度な検査を行う。 - 特許庁 - An initial defect correction means 202 correct digital image information by using initial defective pixel position information previously known at the time of shipment from a plant or the like.
初期欠陥補正手段２０２は、工場出荷時等で予め分かっている初期欠陥画素位置情報を用いて画像情報を補正（修正）する。 - 特許庁 - To provide a nitride semiconductor light-emitting element adapted to reduce an effect of carrier capture caused by a lattice defect to increase substantially an effective carrier.
結晶欠陥によるキャリア捕獲効果を減少させて、実質的に有効キャリアを増加させる窒化物半導体発光素子を提供すること。 - 特許庁 - To provide an SiC epitaxial wafer in which the triangular defect and the stacking fault are reduced, the uniformity of a carrier concentration and a film thickness is high, and which is step bunching free.
三角欠陥及び積層欠陥が低減され、キャリア濃度及び膜厚の均一性が高く、ステップバンチングフリーのＳｉＣエピタキシャルウェハを提供する。 - 特許庁 - To provide an evaluation pattern-generating method of a semiconductor memory, in which the defect can be effectively detected, and to provide a signal-obtaining tool suitable for the same.
不良検出を効果的に行うことが可能な半導体メモリの評価パターン生成方法とそれに好適な信号取得治具を提供する。 - 特許庁 - To provide a sand mold casting method which can reduce defect occurrence rate and manufacture a pipe with superior strength, beautiful appearance and sufficient safety for carrying high pressured gas.
品質不良率を低くし、強度に優れ、外観に美しく、高圧気体の輸送に使用しても安全なパイプの砂型鋳造方法の提供。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device for electroluminescent element capable of surely discriminating RGB colors, and is further, capable of inspecting a plurality of pixel areas on a manufacturing line.
ＲＧＢの色を確実に識別でき、さらに製造ライン上で複数の画素領域を検査できるエレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection technology, capable of determining a defect with high sensitivity up to the most peripheral part of a memory mat part of a semiconductor device or up to a peripheral circuit that has no repeatability.
半導体装置のメモリマット部の最周辺部や、繰り返し性の無い周辺回路まで高感度に欠陥判定できる検査技術を提供する。 - 特許庁 - An oxide film is uniformly corroded, an etching pit is excellently formed, and a roughening rate is raised, by use of the defect which the oxide film has at the time of etching.
酸化皮膜が有する欠陥によって、エッチングに際し酸化皮膜が均一に浸食されて、良好にエッチングピットが形成され、粗面化率が高められる。 - 特許庁 - To provide a connector with a function eliminating a defect that a connecting part worked by a conventional procedure is damaged by vibration and diffusing shock of the connecting part.
従来の工法による連結部が振動により破損する欠陥を除去し、連結部が衝動を放散する機能を有する構成の継手を提供する。 - 特許庁 - To provide a rubber stamp material capable of shortening a working time at a low cost by overcoming a defect of sticking due to melting of the rubber or igniting at a laser processing time.
レーザ加工時にゴムが溶けてべたついたり、発火する欠点を克服すると共に加工時間を短縮でき、安価なゴム印材を提供する - 特許庁 - To provide a film deposition method, a substrate holder and a film deposition system where a pin hole defect caused by dust produced in the film deposition system is suppressed.
成膜方法、基板保持具及び成膜装置において、成膜装置内で発生した塵埃に起因するピンホール欠陥を抑制することを目的とする。 - 特許庁 - The processor (13) is provided with a function for retrieving the analysis data (22, 23) based on the defect information and detecting the failure modes associated with respective defects.
演算処理装置（１３）には、不良情報を基に解析データ（２２，２３）を検索して各不良と関連付けされた故障モードを検出する機能を付加する。 - 特許庁 - To provide a new method for producing a heat resistant resin film which can replace a metal belt method causing a serious defect in film quality by a hurt and corrosion.
傷や腐食によりフィルム品質に重大な欠点を及ぼす金属ベルト方式に代わる新規な耐熱樹脂フィルム製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a bar coating apparatus capable of preventing the occurrence of coating surface defect by suppressing the vibration of a coating bar and a bar coating method using the bar coating apparatus.
塗布バーの振動を抑制して塗布面故障の発生を防止可能なバー塗布装置と、このバー塗布装置を使用したバー塗布方法を得る。 - 特許庁 - To provide a quality management system and method capable of monitoring the defect generation of a work almost in real time, promptly reporting it and improving usability.
ワークの不良発生を略リアルタイムで監視して速やかに報知するとともに、ユーザビリティの向上を図られる品質管理システムおよび方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor storage in which increasing circuit area can be prevented while being provided with a burn-in test function by which initial defect can be screened surely.
初期不良を確実にスクリーニングし得るバーイン試験機能を備えながら、回路面積の増大を防止し得る半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a casting sand core suppressing a casting defect such as a shrinkage cavity generating in the process of forming a long-sized member, in particular a camshaft for an automobile.
長尺部材、特に自動車用カムシャフトを形成する過程で発生する引け巣等の鋳物欠陥を抑制する鋳造用砂中子を提供する。 - 特許庁 - To provide a cold extrusion method which reduces the cost and the number of heat treatments and prevents an internal defect in a material to be worked.
熱処理回数の低減によりコストダウンを図ると共に、被加工材に内部欠陥が発生することを防止することができる冷間押出し方法。 - 特許庁 - To provide a method and a device for detecting defects in a periodic pattern realizing supersensitive defect detection without causing reduction in detectivity due to moire.
モアレによって検出感度の低下をおこすことなく、高感度な欠陥検出を実現する周期性パターンの欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a line head which prevents deterioration of the printing quality even in the presence of a pixel defect in a light-emitting element and an image forming apparatus using the line head.
発光素子に画素欠陥が存在する場合でも印字品質の劣化を防止したラインヘッドおよびそれを用いた画像形成装置を提供すること。 - 特許庁
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