「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 185 186 187 188 189 190 191 192 193 .... 366 367 次へ＞- To provide a color toner set that prevents an image defect from being generated when printed matters are stored in a stacked manner for a long time while the fixed images are in contact with each other.
定着画像同士が接触するように印刷物を重ねて長期保管した後の画像欠損が発生しないカラートナーセットを提供すること。 - 特許庁 - To eliminate a defect in a surface layer part of a crystal material such as a thick silicon wafer having a large thermal capacity thereby to enable an efficient improvement of the quality of the crystal material.
熱容量の大きな厚いシリコンウエハなどの結晶材料表層部の欠陥を除去して改質を効果的に行うことを可能にする。 - 特許庁 - To provide a honeycomb structural body which facilitates the clamping of a honeycomb sintered body, hardly occurs defect such as chipping and cracking and permits high-efficiency production.
ハニカム焼成体を把持しやすく、かつ、欠け及びクラック等の不良が発生しにくい、製造効率の良いハニカム構造体を提供すること。 - 特許庁 - To provide an information processor enabling resetting to resolve a lock phenomenon while supplementing detection of a start defect by a WDT (Watchdog Timer) function.
ＷＤＴ機能による起動不良の検知を補い、ロック現象解消のためのリセットを行うことが可能な情報処理装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent a defect of an image caused by distortion generated when correcting an inclination to the conveying direction of a planar recording medium to be conveyed.
搬送される面状の記録媒体の搬送方向に対する傾きを補正した際に生じる歪みによる画像の形成不良を防止する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an optical element which improves productivity while suppressing the generation and development of surface defect of the optical elements.
光学素子の表面欠陥の発生や発達を抑制しつつ、生産性を向上させることが可能な、光学素子の製造技術を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus that prevents an image defect or belt damage caused by flapping of a transfer belt when a transfer current is applied.
転写電流印加中の転写ベルトに発生する波打ちに起因する画像不良やベルト破損の恐れのない画像形成装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide determination standards for caring cast slab by which the degree of the defect in the surface layer of a cast slab generated in accordance with the variation of a molten metal surface can be predicted at higher precision.
湯面変動に起因して発生する鋳片表層欠陥程度をより精度よく予測できる鋳片手入れ判定基準を提供する。 - 特許庁 - To provide a pipe end face inspection device and a pipe end face inspection method capable of detecting accurately a defect of the end face of a pipe which is an inspection object.
検査対象の管の端面における欠陥を精度良く検出することが可能な管端面検査装置及び管端面検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an electronic component, which suppresses occurrence of a structure defect of a laminate without taking the composition combination of a solvent into consideration.
溶剤の組成組み合わせを考慮することなく積層体の構造欠陥の発生を抑制できる電子部品の製造方法の提供を図る。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor particularly excellent in the wear resistance and causing little deterioration in sensitivity and increase in residual potential and no image defect.
特に耐摩耗性にすぐれ、感度劣化や残留電位の上昇が少なく、画像欠陥の生じない電子写真感光体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - The use of a signal obtained at the position of the defect section region differing from the measurement position of the measurement raw signal as a reference signal is also effective.
参照信号として、計測生信号の計測位置とは異なる欠陥部領域の位置で得られる信号を用いることも有効である。 - 特許庁 - To quickly perform error recovery by reducing the number of times of retry at the time of occurrence of an error for an error caused by defect of a tape and attachment of dust of a tape and a head.
テープの欠陥、テープやヘッドへのホコリの付着に起因したエラーに対し、エラー発生時のリトライ回数を低減して速やかにエラーリカバリさせる。 - 特許庁 - To correct a point defect while decreasing an impedance of an auxiliary capacitance signal trunk line, and to suppress increase in the area of a non-display region.
補助容量信号幹線のインピーダンスを低下させながらも点欠陥の修正が可能であり、しかも、非表示領域の面積増加を抑制する。 - 特許庁 - To prevent an alignment defect from being caused by preventing film thickness unevenness of an alignment film resulting from liquid pool during aligning agent coating on the side of a color filter substrate.
カラーフィルタ基板側における配向剤塗布時の液溜りによる配向膜の膜厚ムラの発生を防止し、配向欠陥の誘発を防ぐこと。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile semiconductor memory device, along with a method of manufacturing the same, of which yield is improved without causing a defect at a step part.
本発明は、階段部に欠陥を生じさせることなく歩留まりを向上させた不揮発性半導体記憶装置、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a composition for forming a liquid crystal layer, from which the defect-free and uniform liquid crystal layer is efficiently produced and which has the pot life longer than before.
欠陥なく均一な液晶層を効率よく製造でき、従来よりも長いポットライフを有する液晶層形成用組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide a cutting insert having small cutting resistance and superior in defect resistance, a cutting tool, and a method of cutting a material to be cut using the cutting tool.
切削抵抗が小さく、耐欠損性に優れた切削インサート及び切削工具、並びにそれを用いた被削材の切削方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a matted laminate polyester film for releasing polarizing sheet, which has superior optical axis precision, and also has both visivility and defect-inspecting characteristics at the same time.
優れた光学軸精度を有し、視認性と欠点検査性の両立する偏光板離型用マット調積層ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile semiconductor memory device improved in a yield without causing a defect in a step part; and to provide a method of manufacturing the same.
階段部に欠陥を生じさせることなく歩留まりを向上させた不揮発性半導体記憶装置、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a base station device capable of highly accurately detecting antenna defect even when transmission signal power is considerably varied.
送信信号の電力が大きく変動する場合であっても、アンテナの異常を高い精度で検出することができる基地局装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a laminated electronic component by which a structural defect such as a crack after baking is suppressed and a short-circuit failure can be prevented.
焼成後のクラック等の構造欠陥が抑制され、かつショート不良を防止できる積層型電子部品の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for producing a silicon carbide single crystal in which a structural defect arises owing to the reduction in airtightness of an adhesive layer is suppressed.
接着層の気密性の低下が原因で生じる構造欠陥の発生を抑制する炭化珪素単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a substrate for epitaxial growth, which can obtain such a structure that a GaN-based semiconductor crystal with low dislocation defect density is grown on a PSS.
転位欠陥密度の低いＧａＮ系半導体結晶がＰＳＳ上に成長た構造が得られるエピタキシャル成長用基板を提供すること。 - 特許庁 - To provide an electroless plating device capable of forming a uniform plating film nearly free from a defect on a substrate surface in a uniform film thickness.
欠陥の少ない均質なめっき被膜を基板表面に均一な膜厚で形成することを可能とした無電解めっき装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor inspection device and a defect inspection method that efficiently adjusts a plurality of secondary electron beams.
複数本の二次電子ビーム調整を、効率良く実施することのできる半導体検査装置および欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Subsequently, the correction signal strength of scattered light for the EUV light is computed for every mesh when there is no defect on the EUV mask (step S03).
その後、ＥＵＶマスク上に欠陥が無い場合におけるＥＵＶ光に対する散乱光の補正信号強度を、メッシュごとに算出する（ステップＳ０３）。 - 特許庁 - The control part 101 sets one or more shot regions to the defect D included in the image acquired by the microscope part 110 after tracking.
制御部１０１は、追跡後に顕微鏡部１１０が取得した画像に含まれる欠陥Ｄに対して１つ以上のショット領域を設定する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device for which a threshold can be set so as to match an illuminance distribution of inspection light detected by a detection optical system.
検出光学系で検出された検査光の照度分布に適合するようにしきい値の設定が可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a decorative door provided for furniture for reducing a warp by the temperature and humidity by turning a melamine resin decorative sheet having a defect on a surface again into resources.
表面に欠点のあるメラミン樹脂化粧板を再資源化して、温度、湿度による反りが少ない家具用に供される化粧扉を提供する。 - 特許庁 - To produce an undulated sheet having a fine regular pattern of concavities and convexities formed on the surface, with high quality without defect, and with sufficient productivity and high line speed.
表面に規則的な微細凹凸パターンが形成された凹凸状シートを、欠陥なく高品質で、かつ高ラインスピードで生産性よく製造する。 - 特許庁 - This yarn monitoring device 63 detects the yarn defect on the basis of a monitoring result of a yarn monitor 15 and a speed detecting result of a yarn speed detecting means 61.
糸監視装置６３は、糸監視器１５の監視結果と糸速度検出手段６１の速度検出結果に基づいて糸欠点を検出する。 - 特許庁 - When the upper electrode 15 is formed, film deposition is started under unheated state in the film deposition process thus preventing an oxygen defect in the oxide film 14 from increasing.
上部電極１５を形成する際、その成膜工程では、非加熱状態で成膜を開始し、酸化膜１４中の酸素欠陥の増大を防止する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of semiconductor device for controlling aggregation of crystal defect to a conductive film within a wiring groove and preventing generation of voids within the wiring.
配線溝内の導電膜への結晶欠陥の集合を抑制し、配線内のボイドの発生を防止する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a two-colour molded product which is improved to prevent a filling defect in a secondary molding part which mates with an annular groove formed on the primary molding part.
一次成型部に形成された環状溝に対する二次成型部の充填不良が生じないように改良された２色成型品を提供する。 - 特許庁 - To produce niobium powder capable of providing a porous sintered body provided with a large surface area, and in which the defect in the deposition of a solid electrolytic film is hard to be generated.
大きい表面積を備え、固体電解質被膜の形成不良が生じにくい多孔質焼結体を提供できるニオブ粉末を得る。 - 特許庁 - To obtain a stable coating film without generating a defect such as coating irregularity in a method for forming a coating film even to the joined part of a web and another web.
ウェブと他のウェブとが接合された接合部にも塗布膜を形成する塗布方法において、塗布ムラ等の欠点を生じずに安定した塗布膜を得る。 - 特許庁 - To eliminate an operation defect of a vehicular sunvisor by making the movement of an electrical wiring smooth to follow the slide of a sunvisor body.
本発明は、電気配線の動きを滑らかにしてサンバイザ本体のスライドに追従させ、車両用サンバイザの動作不良をなくすことを目的とする。 - 特許庁 - The method for repairing an aperture and defect in a part 14 is started by removing one or more defects adjacent the aperture in a base material.
部品１４の開口および隣接欠陥を補修する方法は、まず母材の開口に隣接する１つまたは複数の欠陥が除去される。 - 特許庁 - A through type eddy current flaw detector 40 for detecting the surface defect of the wire 12 is arranged on the downstream side of the die unit 32 on the downstream side.
下流側のダイスユニット３２の下流側に、線材１２の表面欠陥を検出する貫通式の渦流探傷装置４０が配置される。 - 特許庁 - To provide a connector with a compact size, a low price, and excellent high frequency characteristics by improving the defect of a conventional connector equipped with signal contact and ground contact.
従来の信号コンタクトとグラウンドコンタクトとを備えるコネクタの欠点を改良し、コンパクトで、低価格で、かつ、高周波特性に優れたコネクタを提供する。 - 特許庁 - To suppress the occurrence of a defect in a product tire by folding a tire component around a bead core surely by one side bladder for molding a tire.
タイヤ構成部材のビードコア周りの折り返しを１つのタイヤ成型用サイドブラダーで確実に行えるようにし、製品タイヤの欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁 - A host agent module executed in the host operating system can interact with the support module to repair a defect associated with the host operating system.
ホストＯＳ内で実行されるホストエージェントモジュールが、支援モジュールと相互作用して、ホストＯＳと関係付けられる障害を修復することができる。 - 特許庁 - When the defect is not being formed, an SW1 is turned ON and an SW2 is turned OFF to supply a servo signal based on a tracking error signal to a driver 20.
欠陥が発生していない場合、ＳＷ１をＯＮし、ＳＷ２をＯＦＦしてトラッキングエラー信号に基づくサーボ信号をドライバ２０に供給する。 - 特許庁 - To provide a carrier for wet processing capable of suppressing dripping of a droplet on a wafer to suppress formation of a linear defect on the wafer.
ウェハへの液滴の落下を抑制し、ウェハに直線状の欠陥が形成されてしまうことを抑制することが可能なウェット処理用キャリアを提供する。 - 特許庁 - To provide a polycrystalline silicon reducing furnace capable of easily depositing polycrystalline silicon without causing surface profile defect or warpage, and a polycrystalline silicon rod.
表面形状不良やソリがないように多結晶シリコンを析出することが容易な多結晶シリコン還元炉及び多結晶シリコンロッドを提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an antiglare film provided with proper antiglare performance and high contrast and having extremely small point defect.
適度な防眩性と高いコントラストを備える防眩フィルムにあって、点欠陥が極めて少ない防眩フィルムの製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device of a transflective type which reduces the occurrence of an alignment defect of a liquid crystal in a rubbing down section and has a satisfactory display grade.
ラビング擦り下げ部での液晶の配向不良発生を低減し、良好な表示品位を有する半透過型の液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing mold press lens having high optical performance by preventing the appearance defect of the optical device comprising a high temperature vitreous material having ≥550°C Tg.
Tgが550℃以上となる高温硝材からなる光学素子の外観不良を防止し、光学性能の高いモールドプレスレンズの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a laminated ceramic capacitor that can suppress the generation of a short-circuit defect without making electric characteristics worse and to provide its manufacturing method.
電気的な特性を悪化させることなく、短絡不良の発生を抑制することが可能な積層セラミックコンデンサおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁
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