「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(192ページ目)

「Defect」を含む例文一覧(18306)

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If the abnormity of the wafer is caused by a foreign matter on the reticle, the matter is removed, or if caused by the defect of the reticle pattern, the reticle is replaced.
さらに、ウエハの異常の原因が、レチクル上の異物にある場合には、それを取り除き、レチクルパターンの欠陥にある場合には、レチクルを交換する。 - 特許庁
When a reaction gas including hydrocarbon and oxygen is passed through the catalyst at a low temperature, the oxygen defect reacts with the oxygen to return to the original oxide.
この触媒に低温で炭化水素と酸素を含む反応ガスを流通すると、酸素欠陥が酸素と反応し元の酸化物に戻ろうとする。 - 特許庁
To reduce a dielectric breakdown defect by suppressing bubbles in a dielectric caused by resin contained in dielectric paste in a plasma display panel PDP.
プラズマディスプレイパネルＰＤＰにおいて誘電体ペーストに含有される樹脂を起因とする誘電体中の気泡を抑制し，絶縁破壊不良を低減する。 - 特許庁
To suggest a wobble demodulation device for stably performing FM demodulation even when deformation due to a defect of a medium exists in FM modulated wobble signals.
ＦＭ変調されているウォブル信号に媒体のディフェクトによる変形があっても安定してＦＭ復調できるウォブル復調装置を提案する。 - 特許庁
To solve problems resulting from charge-up upon correcting a defect in an isolated pattern with an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source.
電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームで孤立パターンの欠陥を修正するときのチャージアップに起因する問題点を解決する。 - 特許庁
This is because he followed the numeration adopted by The Japan Association for The History of Castles under his presidency and he pointed out the defect of numeration by So (tier).
主宰をしている日本城郭史学会が採用する読み方に則ったためであり、層による数え方の欠点についても指摘している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
To prevent defect caused by overcurrent when the overcurrent flows into a circuit on a game machine side from an unused power line inside island equipment.
島設備内の使用されていない電源線から遊技機側の回路に過電流が流入するときに、その過電流による不具合の発生を防止する。 - 特許庁
To provide a cutting method for a semiconductor circuit board for preventing occurrence of defect such as halation when cutting the semiconductor circuit board.
半導体回路基板を切断する際に、ハレーションなどの不具合が発生するのを防止し得る半導体回路基板の切断方法を提供する。 - 特許庁
To promote the prevention of damages to an insulator, withstand voltage defect, cross contact and deterioration in electric characteristics caused by pressure at the time of connector pressure contact, flexure or bending or the like during installation.
コネクタ圧着時の圧力や布設時の曲げ、屈曲などによる絶縁体の損傷、耐圧不良や混触、電気特性の劣化の防止を図る。 - 特許庁
To provide an appearance inspection apparatus which is improved in discharging performance of an electronic part when a feeding defect of the electronic part to a disk is generated.
円盤への電子部品の供給不良が生じた場合におけるその電子部品の排出性を向上した外観検査装置の提供。 - 特許庁
To provide an inspection method of a flat sample capable of inspecting with high sensitivity a defect not only on the surface of the flat sample but also inside or on the rear.
平板状試料の表面のみならず、内部、裏面の欠陥に対して、感度良く検査することができる平板状試料の検査方法を得る。 - 特許庁
The information of the other end part is subtracted from the information of the one end part and when the resultant value is out of a preset value, it is detected that a defect is present.
一方の端部の情報から、他方の端部の情報を引き算し、予め設定した数値から外れていた場合に欠陥として検出する。 - 特許庁
To provide an optical writing head which can prevent operation defect caused by dusts going into the head even in high dust density environment.
粉塵濃度の高い雰囲気においても、粉塵がヘッド内に侵入して動作不良が発生するのを防止できる光書込みヘッドを提供する。 - 特許庁
To provide excellent image quality, by restraining an image defect by a projection part existing on a surface of a photosensitive layer, in an electrophotographic photoreceptor.
電子写真感光体において、感光層の表面に存在する突起部による画像欠陥を抑制し、良好な画像品質を得ることができるようにする。 - 特許庁
To provide a method of inspecting an array substrate and an inspection device thereof, which allow a disconnection defect of a gate line to be detected even when potential is applied from both ends of the gate line.
ゲート線の両端から電位を印加してもゲート線の断線不良を検知できるアレイ基板の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a highly reliable image formation device capable of effectively restraining various kinds of damage such as a picture element defect caused by abnormal discharge.
異常放電に起因する画素欠陥等の各種ダメージを効果的に抑止することを可能とし、極めて信頼性の高い画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a YbTbBiFe-based magnetic garnet film that is extremely reduced in banded defect, and to provide a method of forming the garnet film by which the garnet film can be formed at a high yield.
縞状欠陥がきわめて少ないＹｂＴｂＢｉＦｅ系磁性ガーネット膜及びそれが高収率で得られる製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing q liquid crystal display element, in which no sealing defect is caused even when air bubbles are produced in a sealing material in a vacuum press method.
減圧プレス法において、シール材中に気泡が発生してもシール不良を生じない液晶表示素子の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for producing high cleanliness steel having little defect caused by inclusion by restraining the development of alumina cluster and fining the inclusion.
アルミナクラスターの生成を抑制し、かつ介在物を微細化し、介在物に起因する欠陥の少ない高清浄度鋼の製造方法を提供する。 - 特許庁
The tool defect inspection device includes a backface reflecting plate 22 for reflecting an irradiation light emitted from the ring illumination 32 in a backface side of the inspection image of the work 12 and in the periphery thereof.
リング照明３２から照射された照射光を、ワーク１２の検査面の背面側及び周囲で反射させる背面反射板２２を備える。 - 特許庁
To provide an organic simple matrix type EL display element capable of preventing occurrence of a display defect with time or hardly causing it; and to provide its manufacturing method.
経時的な表示欠陥が生じないまたは生じ難い有機単純マトリクス型ＥＬ表示素子およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an inspection device for plate glass or the like capable of detecting simply an edge and capable of detecting accurately a defect such as a flaw or a stain.
エッジの検出を簡便に行うことができ、傷、汚れなどの欠点の検出を正確に行うことができる板ガラスなどの検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a camera having a printer function capable of preventing occurrence of a defect on printing by avoiding print paper from being carelessly exchanged at printing.
印刷時に不用意にプリント用紙が交換されないようにして印刷に不具合が生じることを防止できるプリンタ機能を有するカメラを提供する。 - 特許庁
To provide a defect inspection device capable of obtaining a matrix number accurately at high speed, and not requiring a complicated operation such as designation of a retrieval range.
正確かつ高速に行列番号を求めることができ、かつ検索範囲を指定する等の煩雑な操作が不要になる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To prevent generation of processing defect in a substrate due to an increase of leak flow rate of He gas in a processing device for carrying out dry etching and plasma CVD film deposition.
ドライエッチングやプラズマＣＶＤ膜堆積する処理装置において、Ｈｅガスのリーク流量増大による基板の処理不良が発生するのを防止する。 - 特許庁
To keep high throughput in an SEM-type defect review apparatus for automatically collecting a defective image existent on a sample such as a semiconductor wafer or the like.
半導体ウェーハ等の試料上に存在する欠陥の画像を自動収集するＳＥＭ式欠陥レビュー装置において、高いスループットを提供する。 - 特許庁
To provide a method for making stepwise multilayer thin films having a small number of processes and no defect, such as deterioration of a heat resistance and a reliability.
少ない工程数で済み、しかも耐熱性や信頼性が劣化する事が起こるという欠点のない階段状多層薄膜の作製方法を提供する。 - 特許庁
To reduce noise generated caused by interference of a velocity defect region or turbulence formed downstream from a fan moving blade with a fan stationary blade.
ファン動翼の下流側に形成される速度欠損領域や乱流がファン静翼に干渉することによって発生する騒音を低減する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a green sheet which shows a good sheet characteristic with few sheet defect and good releasability, and the green sheet obtained thereby.
シート欠陥の少ない良好なシート特性と、良好な剥離性と、の双方を有するグリーンシートの製造方法およびこれを用いたグリーンシートを提供する。 - 特許庁
To keep detection precision as to foreign matter, a defect, etc., uniform above a constant level and to enable highly reliable inspection.
異物や欠陥等の検出精度を均一、かつ一定の水準以上に維持できるようにすると共に、信頼性の高い検査をできるようにする。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a multi-pole armature with each pole having wire wound thereon fully automatically without any defect and a winding machine for the method.
多極電機子の個々の極が線材で個別に巻き付けられているものを、全自動で不良品なく製造する方法とそのための巻線機を提供する。 - 特許庁
When there is at least a 5% difference between the burst measuring value of one sector and the reference value in an execution format, the sector is mapped as a sector having a defect.
一実施形態で，一セクタのバースト計測値が基準値と少なくとも５%だけ差が出る時，そのセクタは欠陥があるものとマッピングされる。 - 特許庁
Thus, oxygen defect of the host crystal caused by treatment in the reducing atmosphere is restored by being treated in the ozone atmosphere, so that the phosphor having high light emission intensity is formed.
還元雰囲気中処理工程で生じた母体結晶の酸素欠陥が、オゾン雰囲気中処理により修復され、高発光輝度の蛍光体となる。 - 特許庁
To provide a screen printing apparatus and a screen printing method which prevent a printing defect resulting from the drying of paste in a pattern hole.
パターン孔内のペーストの乾燥に起因する印刷不良を防止することができるスクリーン印刷装置およびスクリーン印刷方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a photoconductor having an undercoat layer that can minimize charge defect spots (CDS) and minimize or substantially eliminate ghosting.
帯電不良スポット（ＣＤＳ）の最小化、ゴーストの最小化もしくは実質的な除去を可能とするアンダーコート層を有する光導電体を提供する。 - 特許庁
To provide an electrophotographic toner capable of suppressing the occurrence of a streak-like image defect, when the first image is printed after the toner is left standing, under high humidity over a long period of time.
高湿度下で長期間放置後、最初の画像を印刷した際の筋状の画像欠陥の発生を抑制可能な電子写真用トナーの提供。 - 特許庁
To provide a manufacturing method for a laminated electronic component which has a small cutting clearance and a high dimensional accuracy, and in which there is no defect generation after baking by stress and strain.
切断代が小さく、寸法精度が高く、応力歪みによる焼成後の欠陥発生が無い積層電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a technique for easily and suitably evaluating whether a wafer has a high possibility of defect occurrence in a device process step.
デバイスプロセス工程において欠陥が発生する可能性が高いウェーハであるか否かを容易且つ適切に評価することのできる技術を提供する。 - 特許庁
To provide an ink-jet printer capable of stably obtaining a high image quality without defect such as blurring without depending on a recording medium and capable of fine multi-gradation recording.
滲み等の不良の無い高画質を記録媒体に依存せず安定して得られると共に精細な多階調記録が可能なインクジェットプリンタを提供する。 - 特許庁
To enable to easily determine whether the reason for causing a failure is due to a panel failure or a contact failure, when a lighting defect occurs during a lighting inspection.
点灯検査時に点灯不良が生じたとき、それがパネル不良に起因するものかコンタクト不良に起因するものかを容易に判断できるようにする。 - 特許庁
To provide a stationary power supply current measuring device for semiconductor which can precisely determine whether a semiconductor to be measured has defect parts or not.
被測定半導体に故障個所があるか否かを正確に判定することができる半導体の静止電源電流検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a dielectric element having a high-quality thin-film crystal which has no inherent defect or crack even if a substrate to be used is inferior to lattice consistency.
格子整合性が劣る基板を用いても、欠陥やクラックの内在しない、良質な薄膜結晶を有する誘電体素子を提供する。 - 特許庁
To obtain a defect inspecting apparatus suppressing adhesion of foreign substances to a substrate to be inspected, and cooling an optical system, without upsizing the apparatus.
装置の大型化を伴うことなく、被検査基板への異物の付着を抑制すると共に光学系の冷却が可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁
As a result, the movement of the balls is suppressed to eliminate a discharge defect, an increase in a discharge quantity is dealt with and the mounting to the container is facilitated.
これらにより、内容液によるボールの移動を抑え吐出不良をなくし、吐出量の増大にも対応し、容器への装着も容易とする。 - 特許庁
To solve the problem of a defect such as chips, cracks or the like, strain and warpage being generated, when a substrate which comprises irregularities suitable for a solar cell is formed by two sand blasting operations.
太陽電池に好適な凹凸を有する基板を、２度のサンドブラストにより形成すると、欠けや亀裂等の欠陥や、歪み、反りを生じてしまう。 - 特許庁
To provide a reproduced data restoration control system capable of correctly restoring reproduced data held in a storage medium when a defect occurs in the reproduced data.
再生データに不良が生じた場合、記憶媒体に保有される再生データを正当に復旧する再生データ復旧制御システムを提供する。 - 特許庁
To provide an image forming device which prevents the generation of an image defect and jamming, and executes an efficient maintenance work of a recording element conveying means.
画像不良やジャムが発生することを防止し、且つ、効率よく記録体搬送手段の保守管理を行うことができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide an evaluation method for a solid-state image pickup device by which a noise component of a pixel signal causing an image defect separated by cause of generation can be extracted for the evaluation of the solid-state image pickup device.
固体撮像装置の評価において、画像欠陥を引き起こす画素信号のノイズ成分を、発生原因別に分離して抽出する。 - 特許庁
If the fee for forwarding the Community design application has not been paid, the Hungarian Patent Office shall invite the applicant to remedy that defect.
共同体意匠出願を転送するための手数料が納付されない場合は，ハンガリー特許庁はその不備を訂正するよう出願人に求める。 - 特許庁
If the applicant does not remedy a defect constituting a bar to the granting of a patent within the given time limit, the Office shall terminate the procedure concerning the application.
出願人が所定の期限内に特許付与の障害となる瑕疵を補正しない場合は，庁は，当該出願に係る手続を終了する。 - 特許庁

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