「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 186 187 188 189 190 191 192 193 194 .... 366 367 次へ＞- To provide a manufacturing method for a lithography apparatus and device, having small variations of radiation beam strength, and is capable of eliminating the defect that a beam size becomes large.
放射ビームの強度変動が小さく、ビームのサイズが大きくなる欠点をなくすことのできるリソグラフィ機器及びデバイスの製作方法の提供。 - 特許庁 - Reflection paths and reflection sources corresponding to above wave kinds are specified from relative positional relations of respective trajectories, and a position and a size of the defect are presumed.
各軌跡の相対的な位置関係から波の種類に応じた反射経路と反射源と特定し、欠陥の位置及び大きさを推定する。 - 特許庁 - Then, it is decided if any of the pens, 50, 52, 54, 56 have at least one defect, based on the read test patterns, 92, 94, 96.
読み取られたテストパターン９２、９４、９６に基づいてペン５０、５２、５４、５６のいずれかが少なくとも１つの欠陥を含むかどうかを判断する。 - 特許庁 - To produce an amorphous strip preventing occurrence of defect occurring at the casting-starting time and also, having uniform thickness in the strip width direction and casting direction.
鋳造開始時に発生する欠陥の発生を防止するとともに、帯幅方向及び鋳造方向において厚さが均一な非晶質薄帯を製造する。 - 特許庁 - To provide an abrasive cloth superior in smoothness which suppresses agglomeration of abrasive grains and grinding waste thereby performing grinding nearly free from a defect such as scratches.
砥粒や研磨屑の凝集を抑制し、スクラッチなどの欠点の非常に少ない研磨を行うことができる、平滑性に優れた研磨布を提供する。 - 特許庁 - To provide a display device which can prevent a display defect from being generated without increasing the power consumption while reduced in cost.
コストを削減しつつ、消費電力を増大することなく表示不良の発生を防止することが可能な表示装置を提供することを目的とする - 特許庁 - The blocks of a prescribed brightness level or more are extracted to serve as defect candidates, and the candidates including the blocks of a prescribed number or more are excepted from the candidates.
所定の輝度レベル以上のブロックを抽出して欠点候補とし、所定数以上のブロックを含む欠点候補を候補から除外する。 - 特許庁 - To detect a defect in a glass or on the surface thereof stably with high accuracy regardless of dust on the glass surface without requiring a clean room.
ガラス表面のチリ・ほこりに影響されず、クリーンルームも必要とせず、安定した高精度でガラス内部又は表面の欠点を検出できるようにする。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a ceramic electronic component in which a defect of a molding can be precisely inspected and the yield of the product can be improved.
成形体の欠陥を精度良く検査でき、製品の歩留まりを向上させることができるセラミック電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To reduce a frequency of an operation defect of an optical disk device caused by to deterioration with the passage of time of a laser element, and to enhance reliability as the optical disk device.
レーザ素子の経時劣化による光ディスク装置の動作不良の頻度を低減し、光ディスク装置としての信頼性を向上させる。 - 特許庁 - To realize an efficient recording method of defective regions of a disk medium capable of recording a variable number of defective regions to one-defect list input.
１つの欠陥リスト入力に可変数の欠陥領域を記録することの出来るディスク媒体の欠陥領域の効率的な記録方法を提供する。 - 特許庁 - To analyze the cause of an error if the execution of a test instruction sequence is stopped due to a processor logic defect or if an infinite loop is entered and no execution result is obtained.
処理装置論理不良により試験命令列が実行停止、もしくは無限ループに陥り実行結果が得られない場合、エラー原因を解析する。 - 特許庁 - A MPU (Micro Processing Unit) 18 included in a magnetic disk 1 writes predetermined system information on an area for executing defect management on a magnetic disk 25.
磁気ディスク装置１が備えるＭＰＵ１８が、磁気ディスク２５上において欠陥管理を実行する領域に所定のシステム情報を書き込む。 - 特許庁 - To provide a method for reducing the occurrence of metal defect, in the formation of a thick metal layer of 1 μm or more, such as an inductor in a semiconductor device.
半導体デバイスのインダクタなどの１ミクロン以上の厚い金属層の形成において、金属欠陥の発生を低減する製造方法を提供する。 - 特許庁 - The device operates in the normal mode normally, when defect is detected in verify-operation after erasing operation of the normal mode, the mode is shifted to the fail safe mode.
動作状態は、通常ノーマルモードであり、ノーマルモードの消去動作後のベリファイ動作において不良が検出されると、フェイルセーフモードに移行する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a metal forming component capable of obtaining high-quality metal forming components having no defect such as a blow hole from a metal stock in solid and liquid conditions in a compact constitution.
コンパクトな構成で、固液共存状態の金属素材から鋳巣等の欠陥のない高品質な金属成形品を得ることを可能にする。 - 特許庁 - To considerably improve assembling workability, to reduce costs, and to restrain defect with respect to a thermal stress.
組付作業性の飛躍的な向上、コストの低減を図ることができ、しかも、熱応力に対する不具合を抑制することのできる排気管を提供する。 - 特許庁 - To obtain a display apparatus having high display quality by suppressing a display defect due to a foreign matter generated in a gap between an insulating substrate and a counter substrate.
絶縁性基板と対向基板との間隙に発生した異物による表示不良の発生を抑制し、表示品質の高い表示装置を得る。 - 特許庁 - To provide a chemical supplying apparatus capable of avoiding a damage of pressurizing chemical and eliminating a defect caused at replacement of a chemical bottle.
薬液を加圧することの弊害を回避でき、薬液ボトルの交換時における不具合を解消できるようにした薬液供給装置の提供。 - 特許庁 - The wafer, in which the ratio of the diameter (d) of a defect existing zone to the diameter of the wafer is 0.8 or less, is heat treated at high temperature, which results in the disappearance of the defects.
欠陥存在領域の直径ｄと、ウェーハの直径の比が０．８以下のウェーハを、高温熱処理することにより、欠陥が消滅する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device and method capable of detecting a defective part difficult to be detected in a prior art, irrespective of a shape and a directivity thereof.
従来検出が困難であった欠陥部について、その形状や方向性に関係なく検出可能な欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - An image data operating processor 17 compares image data to be subjected to comparing inspection among the image data, detects the different data and acquires the detected data as the defect data.
画像データ演算処理部１７は、画像データ中の比較検査すべき画像データについて比較して、異なるデータを検出し欠陥データとして取得する。 - 特許庁 - To overcome such defect that 'enable' of a row selection circuit is delayed until an appropriate address source is decided in a circuit and a method for an integrated circuit memory.
集積回路メモリのための回路および方法は、適切なアドレスソースを定めるまで行選択回路のイネーブルを遅延させる欠点を克服する。 - 特許庁 - Thereby, various defect can be detected with a high sensitivity even if there is a difference in the brightness of the same pattern between the images in a wafer.
これにより、ウェハ内の画像間の同一パターンで明るさの違いが生じている場合であっても各種の欠陥を高感度に検出できるようにした。 - 特許庁 - To manufacture a rugged sheet, in which a regular fine rugged pattern is formed on its surface, with high quality without any defect at a high line speed and also at high productivity.
表面に規則的な微細凹凸パターンが形成された凹凸状シートを、欠陥なく高品質で、かつ高ラインスピードで生産性よく製造する。 - 特許庁 - To prevent a pattern defect from being caused by preventing an immersion lithography device from being contaminated by removing a bump formed on a wafer surface before immersion lithography processing.
ウェハ表面に形成したハンプを液浸露光処理前に除去することで、液浸露光装置の汚染を防止し、パターン不良の発生を防止する。 - 特許庁 - To obtain an inspection method and an inspection apparatus for semiconductor devices, which require short inspection time, are highly reliable and readily constituted, without using a defect-inspection device.
検査の所要時間が短く信頼性も高い、しかも欠陥検査装置を用いない簡易な構成の、半導体装置の検査方法及び検査装置を得る。 - 特許庁 - To easily and surely inspect a dot-like defect articulately existent on an inspection image, which is obtained by picking up the image of printed matter, together with a picture.
印刷物を撮像して得られる検査画像上に絵柄と共に明瞭に存在する点状欠陥を容易且つ確実に検査できるようにする。 - 特許庁 - To realize cost and space reduction as well as productivity improvement by shortening detection time for a two-ply defect and a crack, or a breakage.
二枚重ね不良及び割れ・欠け不良の検出時間を短縮し生産性を向上させるとともに、製造原価のコストダウン及び省スペース化を図る。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a laminate film capable of obtaining a laminate film containing a plurality of cholesteric liquid crystal layers and having a satisfactory film strength and suppressing generation of coating cissing defect.
コレステリック液晶層を複数含み、膜強度が良好な積層フィルムを得られ、塗布ハジキの発生を抑制できる積層フィルムの製法の提供。 - 特許庁 - To detect fault in a station side exchange even in the case that the fault is generated in a communication line on a terminal side and an insulation defect occurs.
端末側の通信線に障害が生じ絶縁不良となった場合でも局側交換機においてその障害の検出が可能なこと。 - 特許庁 - To provide an information recording method and a device therefor by which a digital video signal can be recorded and lack of an image is not caused at reproduction even when defect by dust or damage exists in an optical disk.
光ディスクにちりや傷によるディフェクトが存在する場合でもデジタルビデオ信号の記録ができ再生時に画像の欠落を生じないようにする。 - 特許庁 - To provide a method for highly sensitively detecting a defect on the surface of a semiconductor substrate within a relatively short period of time without requiring an expensive device.
高額な装置を必要とせず、比較的短時間に、かつ高感度にて半導体基板表面上の欠陥を検出できる方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a solder printing device and a solder printing method for preventing a printing defect by detecting the adhesion of solder onto a squeegee without omission.
スキージへの半田の付着を遺漏なく検出することで印刷不良の発生を防止する半田印刷装置および半田印刷方法を提供する。 - 特許庁 - An evaluation processing section 34 evaluates the defect and the characteristics of the magnetic disk 16 by using the result of reading the evaluation pattern written with the excessively large or small current.
評価処理部３４は過大電流や過小電流で書き込まれた評価パターンの読み出し結果から、磁気ディスク１６の欠陥や特性を評価する。 - 特許庁 - To provide an inspection device and an inspection method of a capillary array sheet capable of detecting surely a gel defect of a through hole of the capillary array sheet.
キャピラリー・アレイ・シートの貫通孔のゲル欠陥を確実に検出することができるキャピラリー・アレイ・シートの検査装置及び検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for effectively eliminating alignment characteristics of an alignment layer at a high-speed in the case of correcting a luminescent spot defect of a liquid crystal display device.
液晶ディスプレイ装置の輝点欠陥を修正する場合、配向膜の配向特性を効果的にかつ高速に除く方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent blade squaking under cleaning conditions under which the occurrence of a cleaning defect is averted even in the case the thickness of a conductive substrate is below 2.0 mm.
導電性基板の厚さ２．０ｍｍ以下の場合においてもクリーニング不良を発生させないクリーニング条件において、ブレード鳴き現象を防止する。 - 特許庁 - To suppress the occurrence of a winding defect of a forming part by winding a bead core with the forming part of a carcass ply uniformly and securely when a green tire is molded.
生タイヤの成型時に、カーカスプライの癖付け部をビードコアに均一かつ確実に巻き付け、癖付け部の巻き付け不良の発生を抑制する。 - 特許庁 - As the result, the series of operations to detect and interpolate the defective pixel (defect registration) can be accurately executed without interfering the operation of the apparatus.
その結果、装置の運用上の支障を損ねることなく欠損画素を検出して補間する一連の操作（欠損登録）を正確に行うことができる。 - 特許庁 - To reduce optical elements causing an image defect and to save space in a laser optical system used for a digital copying machine, a printer or the like.
デジタル複写機やプリンター等に使用されるレーザー光学系において、画像不良の原因となる光学要素の削減と省スペース化を行う。 - 特許庁 - Thus, occurrence of an open defect resulting from separation of the tip 4c of the inner lead wire 4a from the metallic bump electrode 6 after the bonding can be prevented.
このため、インナーリード配線４ａの先端４ｃと金属突起電極６がボンディング後に引き剥がれ、オープン不良の発生を防止することができる。 - 特許庁 - The stored images in the plurality of regions are compared to each other, to measure the defects in the region as well as the defect positions.
この記憶された複数の領域の画像同士を比較することによって、上記領域内における欠陥の有無および欠陥の位置を計測する。 - 特許庁 - To surely detect a defect of power source current at the standby time of a data processing section in a semiconductor memory having a memory array and the data processing section.
メモリアレイおよびデータ処理部を有する半導体記憶装置としてデータ処理部の待機時電源電流不良を確実に検出可能にする。 - 特許庁 - To surely detect a machining defect of a work and to protect such optical parts as mirrors installed in a machining head without using a complicated and expensive optical system.
光学系を複雑で高価なものとすることなく、ワークの加工不良を確実に検出し、加工ヘッド内に設置されたミラー等の光学部品を保護する。 - 特許庁 - An image processing device 4 detecting the defect of the panel 1 by processing the image data is installed.
更に、カメラ３ａ及び３ｂからパネル１の画像データが入力され、この画像データを画像処理してパネル１の欠陥を検出する画像処理装置４を設ける。 - 特許庁 - To efficiently manufacture an electronic part which is equipped with an external electrode that is high in dimensional accuracy and has no defect such as pinholes or the like, and excellent in reliability.
形状精度が高く、ピンホールなどの欠陥のない外部電極を備えた信頼性の高い電子部品を効率よく製造することを可能ならしめる。 - 特許庁 - Namely, a defect detection reliability judging part 112e calculates the average value of outputs (dark electric charge level) of 64×64 pixels at a center part of an image pickup area.
すなわち、欠陥検出信頼性判定部１１２ｅは、「撮像エリアの中央部６４×６４画素の出力（暗電荷レベル）の平均値を求める。 - 特許庁 - To remove a radiation beam shielding mask used for irradiation with ions etc., carried out for crystal defect formation, without damaging a semiconductor substrate etc.
半導体基板等を損傷することなく、結晶欠陥形成のために行われるイオン等の照射において用いる放射線遮蔽マスクを除去する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory and its manufacturing method in which an occupied area of a defective address memory circuit is reduced and relieving defect can be surely performed.
不良アドレス記憶回路の占有面積を低減してしかも、確実に不良救済を可能とした半導体記憶装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁
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