「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 183 184 185 186 187 188 189 190 191 .... 366 367 次へ＞- To avert a contact defect of a horn for vehicle by preventing the contact surfaces of a stationary contact 8 and a moving contact 10 from biting abrasive powder.
車両用ホーンにおいて、固定接点８と可動接点１０との接触面に磨耗粉を噛み込んでしまうことを防止して接点不良を回避する。 - 特許庁 - The feature amounts are mapped therein in a two-dimensional space when the defect is the achromatic color, and calculates a Euclidean distance in each of RG, GB and RB components.
このとき、欠陥が無彩色の場合は、特徴量を二次元空間に写像し、ＲＧ、ＧＢ、ＲＢ成分色毎にユークリッド距離を算出する。 - 特許庁 - The insulating film 53 is of III nitride thin film structure, so that an interface between the insulating film 53 and the III nitride thin films 52 and 54 is never disordered, and no defect is induced.
絶縁膜５３がIII族窒化物薄膜の構造であるので、絶縁膜５３とIII族窒化物薄膜５２、５４の界面が乱れず、欠陥が生じない。 - 特許庁 - To provide an elastic blade which prevents brake squeal (abnormal noise) and roll-up of the elastic blade and the image defect by peeling of fine powders, and also to provide an image forming device.
弾性ブレードのブレード鳴き（異音）や捲れと共に微粉体の剥れによる画像不良をも防止する弾性ブレード及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - It is possible thereby to prevent the film 14 from being cramped and generating the wrinkle-like facial defect caused by this immediately after it is released from the substrate.
これにより、支持体から剥離した直後においてフィルム１４に発生するツレや、これに起因するシワ状の面状故障を防止することができる。 - 特許庁 - To provide a simple defect inspection device, capable of inspecting defects based on diffracted light and scattered light from a substrate (object to be inspected) at high throughput.
基板（被検物体）からの回折光と散乱光とに基づく欠陥検査を高スループットで行える簡素な欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of an IC card or an IC tag for improving variations of production speeds, defect rates and electrical qualities.
生産速度と不良品発生率、電気的品質のバラつきを改善することができる、ＩＣカードまたはＩＣタグの製造方法を提供する。 - 特許庁 - The obtained defect parts 3 become pinholes, having uniform particle sizes in the thin film 2 and parts from which the fine particles are not released become protruded model defects.
得られた欠損部３は薄膜２に形成される径の揃ったピンホールとなり、微粒子が脱離しなかった部分は突起状のモデル欠陥となる。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device capable of preventing a gap defect by eliminating a height difference in a conductive sealant, and to provide a method of manufacturing the liquid crystal display device.
導電性シーラントの内部の高さの差を除去することにより、ギャップ不良を防止した液晶表示装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a hologram laminate which is excellent in visibility, which facilitates discovery of a defect in inspection and has high inspection efficiency and which is excellent in the design properties on the occasion of marketing.
視認性にすぐれ、検査時に欠陥の発見が容易で検査効率が高く、また、販売時の意匠性が良好なホログラム積層体を提供する。 - 特許庁 - It is possible therefore to easily and surely release the porous body M under a flawless condition free from defect without damaging each molding pin 10A.
従って、各成形ピン１０Ａを損傷させることなく、多孔体Ｍを欠損のない無傷の状態で容易かつ確実に離型することができる。 - 特許庁 - To provide an immersion nozzle with which the sticking of alumina on the inner surface of the nozzle is prevented and development of surface defect is prevented, and a continuous casting method.
ノズル内面にアルミナが付着するのを防止し、製品の表面欠陥の発生を防止する浸漬ノズルおよび連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁 - Thus, even when there is irregularity of the gradation value between the inspection image data and the reference image data, it is possible to correctly judge the defects or defect candidates.
検査画像内の各画素について、第１の相関関係と第２の相関関係を基にその画素が欠陥を構成しているか否かを判定する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing thermoplastic resin foam, capable of preventing the generation of post-expansion defect by shortening the cooling time of a foamed resin to a large extent.
発泡樹脂の冷却時間を大幅に短縮して後膨れ不良の発生を防ぐことができる発泡体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical recording medium which is nearly free from a defect, has a large capacity and can be manufactured with satisfactory productivity and to provide a method for manufacturing the same.
欠陥の少ない大容量の光学情報媒体を生産性良く製造することができる光学情報媒体とその製造方法を提供する。 - 特許庁 - The inspection device 1 precisely inspects the defect of the inspected object having tightly arranged patterns (including rotated patterns).
本検査装置１は、密接配置された絵柄（回転移動した絵柄を含む）を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。 - 特許庁 - To dissolve trouble such as a defect, defective timing of a signal, or the like discovered after a semiconductor chip is mounted on a substrate as a finished product.
半導体チップが完成品として基板に実装された後において発見された欠陥や信号のタイミング不良などの不具合を解消する。 - 特許庁 - To provide a video signal processing apparatus capable of obtaining excellent image quality without causing a defect to a video image even when the video signal processing apparatus continuously receives one-side fields such as a non-standard signal.
非標準信号のような片側フィールドが連続して送られてきた場合でも映像破綻を来すことなく良好な画質を得る。 - 特許庁 - To provide a method for evaluating a carbon nanotube which can evaluate defect of the carbon nanotube simply and securely without deteriorating characteristics of the carbon nanotube.
カーボンナノチューブの特性を損なわずに、カーボンナノチューブの欠陥を簡単且つ確実に評価することができる、カーボンナノチューブの評価方法を提供する。 - 特許庁 - To detect a deficiency generated on the substrate or the panel of an active matrix substrate or active matrix liquid crystal panel or defect confirmed only after the packaging process.
アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルにおいて、基板又はパネルに発生している欠陥、実装工程後に確認される欠陥を検出する。 - 特許庁 - An image processing section 140 carries out the EBR/EEW inspection on the substrate based on the first image, and carries out the pattern defect inspection and the reticle error inspection based on the second image.
イメージ処理部１４０は第１イメージから基板のEBR/EEW検査を実施し、第２イメージからパターンの欠陥検査及びレティクルエラー検査を実施する。 - 特許庁 - Consequently, the formed sealant is not eluted, the display defect caused by the sealant is prevented and display quality is improved.
従って、形成されたシール材が溶出することがなく、シール材による表示不良を防止することができ、表示品質を向上させることができる。 - 特許庁 - Position information regarding a defect of a charge transfer line of an imaging sensor 16 that causes a V-line flaw in an image, is stored in a flaw information memory 54.
画像におけるＶライン傷の発生原因となる撮像センサ１６の電荷転送ラインの欠陥の位置情報を傷情報メモリ５４に記憶しておく。 - 特許庁 - To suppress effectively generation of pseudo-defects, in defect detection for detecting pattern defects on a sample surface, by inspecting a photographed image on the sample surface.
試料表面の撮像画像を検査して試料表面のパターンの欠陥を検出する欠陥検出において疑似欠陥の発生を効果的に抑制する。 - 特許庁 - That is, an activation of the impurities and the removal of a defect in the layer 14 are simultaneously performed without damaging the substrate 10 due to the heat.
すなわち、基板１０を熱により損傷することなく不純物の活性化と絶縁層１４中の欠陥の除去とが同時に行われる。 - 特許庁 - To easily and quickly set or change an optimum defect detection level according to the state change in a glass substrate, even if the state of the glass substrate is changed.
ガラス基板の状態が変化しても、ガラス基板の状態変化に応じた最適な欠陥検出レベルを容易にかつ短時間に設定変更すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory in which a mask write-in function can be easily realized even in a system by which relieving defect is performed by data line shift.
データ線シフトにより不良救済を行う方式においても簡単にマスク書き込み機能を実現できるようにした半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of an organic EL element having no failure in luminescence by giving an inorganic sealing layer having excellent barrier properties and no defect to it for a long period of time.
バリア性に優れた欠陥のない無機封止層を長期にわたり付与し、発光不良のない有機ＥＬ素子の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - On the basis of the kind of the file, whether or not it is required to retransmit the data of the file when a data defect is generated is judged (F103).
ファイルの種類に基づき、データ欠損が生じたときにそのファイルのデータを再送することが必要であるか否かが判定される（Ｆ１０３）。 - 特許庁 - To provide a vertical orientation agent with which a vertical liquid crystal orientation film having superior coating properties and free of a defect such as coating unevenness can stably be obtained.
塗布性に優れ、塗布ムラなどの欠陥のない垂直液晶配向膜を安定的に得ることのできる垂直液晶配向剤を提供すること。 - 特許庁 - The defect of a wiring pattern of a lead of the film carrier tape for electronic component mounting is detected by transmitting transmission light to a film carrier tape for electronic component mounting.
電子部品実装用フィルムキャリアテープに対して、透過光を透過させて、電子部品実装用フィルムキャリアテープのリードの配線パターンの不良を検知する。 - 特許庁 - To provide an image forming device achieving stable transfer of a toner image from an intermediate transfer belt to a recording material, and obtaining images having high quality and no image defect.
中間転写ベルトから記録材への安定したトナーの転写を実現し、画像乱れのない高画質画像が得られる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To detect a defect smaller than a magnetic head size and a recorded bit length, and a defective point which is magnetically changeable as thermal fluctuation, etc., and causes medium noise.
磁気ヘッドサイズや記録ビットサイズよりも小さな欠陥や熱揺らぎ等の磁気的に変動しやすく、媒体ノイズの原因となる欠陥箇所を検出する。 - 特許庁 - The defect net is electrically isolated from an electric correction structure by the use of laser, and a post-burning circuit is formed on and in the substrate.
レーザを使用して、電気的修正構造から欠陥ネットを電気的に分離し、これに続いて、基板上および基板内に後焼成回路を形成する。 - 特許庁 - To surely detect a defect in an insulated isolation trench even in the case wherein the insulated isolation trench is shared by adjacent elements to minimize the device size.
隣接する素子間で絶縁分離トレンチを共用してサイズの小形化を図った場合でも絶縁分離トレンチでの欠陥を確実に検出可能にすること。 - 特許庁 - Subsequently, a single crystal silicon layer 8 grows upward from the top surface of the γ-Al_2O_3 layers 4, and thus, an SOI substrate having less crystal defect can be obtained.
次に、γ−Ａｌ_２Ｏ_３層４の上面より単結晶シリコン層８が上方向に成長し、結晶欠陥の少ないＳＯＩ基板を得ることができる。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a multilayer substrate with high precision that reduces a permeation defect of paste, shortens a detection time for a position shift, and obtains efficiency.
ペーストの滲み不良の発生の低減を位置ずれの検出時間の短縮と効率化を可能にする、高精度な多層基板の製造法を提供する。 - 特許庁 - The module level defect is an unit cell trouble corrected normally by an electrically programmed fuse, in order to actuate a module level redundancy arrangement.
モジュール・レベルの欠陥は、通常モジュール・レベルの冗長構成を起動させるために電気的にプログラムされたヒューズによって矯正される単一セル障害である。 - 特許庁 - To provide a plasma display panel which suppresses the occurrence of a defect in a phosphor layer and is improved in uniformity of luminance and chrominance on the screen.
蛍光体層の欠陥発生を抑制し、画面内の輝度および色度の均一性を向上させたプラズマディスプレイパネルを提供するものである。 - 特許庁 - To obtain a method and apparatus for inspecting the appearance of a semiconductor device which can improve defect detection accuracy by optimumly determining the segmentation of pixels.
各画素のセグメント化を最適に決定することにより欠陥検出精度を向上させた半導体装置の外観検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a package manufacturing method capable of welding a whole periphery of a metal cap in uniform airtightness and having high reliability without a welding defect.
金属キャップの全周で均一な気密溶接が行われ、溶接不良のない信頼性の高いパッケージを得ることができるパッケージ製造法を提供する。 - 特許庁 - To make the crystal defect existing in a semiconductor wafer, such as the silicon wafer, etc., three-dimensionally visible.
シリコンウェーハなど半導体中に存在する結晶欠陥を三次元的に可視化することができる半導体ウェーハの結晶欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inspection apparatus and an inspection method capable of accurately and simply detecting a radial defect in a magnetic tape wound around a tape reel.
テープリールに巻回した磁気テープの放射状の欠陥を正確且つ簡便に検出することができる磁気テープの検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁 - An annealing temperature (e.g. 300 to 500≤) for activating the N-type defect layer is set at a lower temperature than the melting point (700≤) of the anode electrode 8 of aluminum.
このｎ型欠陥層の活性化のためのアニール温度（例えば300℃〜500℃）は、アルミニウムのアノード電極８の融点（700℃）よりも低い温度で十分である。 - 特許庁 - To prevent a defect in operation in the case of battery-over state during the battery operation of computer peripheral equipment connected to a portable information processor.
携帯型情報処理装置に接続するコンピュータ周辺機器のバッテリ動作中におけるバッテリ切れ時の動作不良を防止することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a panel heater with a function relaxing the mind and the body as well as heating by solving a defect of the conventional panel heater having a heating function alone.
従来のパネルヒーターのただ加熱するだけの機能しか有さない欠点を解決し、パネルヒーターに、加熱に加えて心身をリラックスさせる機能を付与する。 - 特許庁 - To manufacture a gallium nitride-based compound semiconductor substrate which eliminates a device process such as a transverse-direction growth process or the like to the substrate and whose defect is low.
基板への横方向成長等のデバイス工程を無くした低欠陥である窒化ガリウム系化合物半導体基板を製造できるようにする。 - 特許庁 - A detection part 6 detects defect of a wiring pattern 11 based on the image data acquired by imaging the printed board 1 using an imaging part 4.
そして、プリント基板１を撮像部４により撮像して得られた画像データに基づいて検出部６によって配線パターン１１の欠陥を検出する。 - 特許庁 - To form a minute circuit without causing circuit thinning or the wire breaking of the circuit by suppressing a side-etching defect.
サイドエッチング不具合を抑制し、回路細りや更には回路の断線を発生させることなく、微細な回路形成を行なうことができる微細回路の形成方法。 - 特許庁 - To provide an electrochromic display apparatus capable of providing a high display speed, an excellent mechanical strength and a high display quality suppressing an image defect.
高い表示速度、優れた機械的強度および画像欠陥の抑制された高表示品質を実現できるエレクトロクロミック型表示装置を提供する。 - 特許庁
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