「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 182 183 184 185 186 187 188 189 190 .... 366 367 次へ＞- Defective pixels which need to be corrected out of defective pixels of an imaging element are determined in accordance with the types and defect levels of individual defective pixels and imaging conditions.
撮像素子の欠陥画素のうち、補正が必要な欠陥画素を、個々の欠陥画素の種類と欠陥レベル、ならびに撮像条件に応じて決定する。 - 特許庁 - When the first receiving filter has received waveform data of reflected echoes (S205), the memory stores the waveform data to evaluate the degree of the defect caused by corrosion (S301).
第１受信フィルタで反射エコーの波形データを受信したら（Ｓ２０５）、メモリに波形データを記憶して、腐食による欠陥の程度を評価する（Ｓ３０１）。 - 特許庁 - Then, the ultrasonic energies to the respective measuring places are compared with the ultrasonic energies of the adjacent measuring places to discriminate a latent defect position.
そして、それぞれの測定箇所に対する超音波エネルギーは、隣接する測定箇所の超音波エネルギーと比較されて潜在的欠陥位置が識別される。 - 特許庁 - Subsequently, the method determines the type of the defect of the template based on time course of change of multiple images obtained by the imaging steps over multiple times.
次に、複数回の撮像する工程によって得られた複数の画像の経時的な変化に基づいて、テンプレートの欠陥の種類を判定する。 - 特許庁 - In an embodiment, a device includes a sensor configuration which senses the substrate nearby at least the two parallel ends for detecting the defect of the substrate.
一実施形態において、装置は、基板の欠陥を検出するための、少なくとも２つの平行な端部近傍で、基板をセンシングするセンサ構成を含む。 - 特許庁 - Special processing to the liquid crystal panel 2 for making the pixel 21a of the bright spot defect inconspicuous is not needed and thereby cost of operation can be suppressed.
また、輝点不良の画素２１ａを目立たなくするための液晶パネル２への特殊加工は不要であり、作業コストを抑えることができる。 - 特許庁 - To provide a polishing liquid composition for an aluminum alloy substrate plated by Ni-P for reducing scratches and nano projection defect on the surface of the substrate after being polished.
研磨後の基板表面のスクラッチ及びナノ突起欠陥の低減を実現できるＮｉ−Ｐメッキされたアルミニウム合金基板用研磨液組成物の提供。 - 特許庁 - To provide a letterpress plate for letterpress printing, preventing a print defect, minimizing foreign matters sticking to the plate surface, and allowing printing of a high definition pattern with high accuracy.
印刷不良を防ぎ、版表面に付着する異物を限りなく減らし、高精細パターンを高精度で印刷できる印刷用凸版を提供する。 - 特許庁 - To more easily detect a defect in a solid-state imaging element of an imaging apparatus having no light shielding device for shielding light, such as an iris, inexpensively.
アイリス等の、光を遮光する遮光装置を有しない撮像装置の固体撮像素子における欠陥検出を、より容易かつ低コストに行う。 - 特許庁 - To provide a mold assembly for injection molding which further promotes gas exhaust from a cavity in the mold assembly thereby providing an injection-molded product of high accuracy and high quality free from a defect.
射出成形金型において、キャビティからのガス排気をさらに促進して、欠陥のない高精度、高品質の射出成形品を提供する。 - 特許庁 - To provide a steering lock device which has excellent unlocking performance, while having high locking holding performance, without being influenced by electrical defect.
電気的な不具合に影響されることなく、高い施錠保持性能を備えつつ、優れた解錠性能を備えたステアリングロック装置を提供する。 - 特許庁 - The pixel 21a of the bright spot defect can be made inconspicuous by only information input operation to the input I/F part and time and effort of operation is reduced.
従って、入力Ｉ／Ｆ部への情報入力作業だけで輝点不良の画素２１ａを目立たなくすることができ、作業の手間が少なくなる。 - 特許庁 - To appropriately calibrate a non-destructive inspection apparatus by fully ensuring a reflection strength of defect echoes FE from a hole bottom surface 33 in a flat-bottomed hole 31.
平底穴３１の穴底面３３からの欠陥エコーＦＥの反射強度を十分に確保して、非破壊検査装置を適切にキャリブレーションすること。 - 特許庁 - Furthermore, the logic held in the first memory cell is read out; and when the read logic is different from the second logic, defect of the ferroelectric memory is detected.
そして、第１メモリセルに保持されている論理が読み出され、読み出される論理が第２論理と異なるとき、強誘電体メモリの不良が検出される。 - 特許庁 - To prevent generation of a defect due to static electricity generated at the time of sand blast when a rib of a plasma display panel is patterned by a sand blast method.
プラズマディスプレイパネルのリブをサンドブラスト法によりパターニングするに際し、サンドブラスト加工時に生じる静電気により欠陥を生じないようにする。 - 特許庁 - To provide a thin film solar cell which has an enough light trapping effect, is equipped with a silicon layer that is reduced in defect density, and superior in efficiency.
十分な光閉込効果を有しつつ、欠陥密度を低減させたシリコン層を有する高効率な薄膜太陽電池及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspecting device that embodies high resolution and a fast inspection speed for a technique for inspecting a pattern on a wafer by using an electron beam.
電子ビームを用いたウェハ上パターンを検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - A plurality of oblique sensors 10, differing in ultrasonic wave-emitting angle are mounted to detect the same defect simultaneously from a plurality of directions.
また、超音波発射角度がそれぞれ異なる複数の斜角センサ１０を搭載して、同一の欠陥を同時に複数の方向からの探傷する。 - 特許庁 - To provide a belt for forming a bent sheet glass with which the defect of the surface occurring in roll traces, belt joints and deformation is suppressed.
ロール跡や、ベルトの継ぎ目、変形に起因する表面の欠陥が抑制された曲げガラス板を製造するためのガラス板成形用ベルトを提供する。 - 特許庁 - To provide a domain partitioning system provide with a domain partioning control improved in conventional defect and to provide its method.
本発明の目的は、従来の欠陥に鑑み、改善されたドメイン区分け制御を備えたドメイン区分けシステム及びその方法を提供することである。 - 特許庁 - To prevent such defect that a range switching valve stops in an R range in the process to switch the current speed range to a P range in switching a range to another range electronically.
レンジ切り替えを電子的に行う場合において、Ｐレンジへの切り替え過程でレンジ切り替え弁がＲレンジに止まる故障を回避し得るようになす。 - 特許庁 - To provide an imaging device which enables a user to confirm the cause of an unsatisfactory image quality or a latent defect in a photoreceptive layer.
本発明は、感光層における不充分な画質または潜在的な欠陥の原因を確かめることが可能なイメージング装置を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a repairing method and a repairing apparatus of a liquid crystal panel by which a display defect caused by dust can be repaired with high yield.
ダストに起因した表示欠陥を高い歩留まりで修復できる液晶パネルのリペア方法及びリペア装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - On the other hand, measurement of line width, measurement of overlap and inspection of macro defect are carried out after the substrate is developed and heat-treated and before being returned back to an indexer ID.
一方、線幅測定、重ね合わせ測定およびマクロ欠陥検査については現像後熱処理の後、インデクサＩＤに戻される前に行われる。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display element in which the alignment state of liquid crystal molecules is stable, of which the display defect is alleviated, and which has a wide viewing angle and high contrast.
液晶分子の配向状態が安定して表示不良が軽減され、且つ広視野角で高コントラストの液晶表示素子を提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming device capable of achieving cost reduction and the prevention of transfer defect and back staining by accurately grasping the exchanging time of a transfer belt.
正確に転写ベルトの交換時期を把握することで、コストの削減、転写不良や裏汚れの防止を図ることができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - A detecting means 33 detects a defect in the screen of a liquid crystal display device 1 based on the feature amount corrected by the feature amount correcting means 32.
検出手段３３は、特徴量補正手段３２により補正された特徴量に基づいて、液晶表示装置１の画面の欠陥を検出する。 - 特許庁 - Then, a defect of the texture in each element is interpolated by the average of pixel values of non-defective parts in the element and an element image 16 is generated.
続いて、各要素における上記のテクスチャの欠損を、同要素内の非欠損部分の画素値の平均によって補間して要素画像１６を生成する。 - 特許庁 - To provide an image formation device, an image forming system, and an image forming program which can efficiently register information for easily specifying the cause of a defect.
不具合の原因を容易に特定するための情報を効率的に登録できる画像形成装置、画像形成システム、及び画像形成プログラムを提供する。 - 特許庁 - The θ-type alumina has a large specific area, the carried noble metal has no defect of being stabilized in an oxidized state, and is easily reduced to a metal state.
θ型アルミナは比表面積が大きく、担持されている貴金属は酸化状態で安定化されるような不具合がなくメタル状態へと還元されやすい。 - 特許庁 - To provide a flat panel display device capable of improving the image quality by electrically compensating a panel defect, and an image quality control method thereof.
本発明は、パネル欠陥を電気的に補償することによって、画質の向上を可能にした平板表示装置及びその画質制御方法に関する。 - 特許庁 - To perform a precise defect inspection by eliminating the influence of a fluctuation in scale factor of a mapping projection optical system and also in scan sensitivity of a multi-beam optical system.
写像投影光学系の拡大率の変動やマルチビーム光学系の走査感度の変動の影響を解消して精度のよい欠陥検査を行うこと。 - 特許庁 - To provide a method for molding a glass element capable of obtaining a glass gob free from defect on the surface and having good shape-accuracy to be used for a glass mold method.
ガラスモールド法に用いられるような、表面に欠陥が無く、形状精度のよいガラスゴブを得ることが可能となるガラス素子の成形方法を提供する。 - 特許庁 - DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR SPECIFYING DEFECT ANALYSIS PART, AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE PROGAM
不良分析箇所特定装置、不良分析箇所特定方法、不良分析箇所特定用プログラム、および不良分析箇所特定用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide a thin coil device which has the high strength of adhesion and can prevent the performance deterioration, appearance defect, and yield of its product caused by the leakage of an adhesive.
接着強度が大きく、接着剤漏出による製品性能の劣化、外観不良、及び、歩留低下を防止し得る薄型のコイル装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of a transfer defect, reversal ghost image and stains at ends which are the image defects which arise in a transfer process and to form an image having high grade.
転写プロセスで生じる画像欠陥である、転写不良、反転ゴースト像、端部汚れの発生を防止し、高品質な画像を形成する。 - 特許庁 - To easily and precisely determine presence or absence of abnormalities such as a defect causing a flow channel of the biochemical reaction cartridge to be clogged or a fluid to leak.
生化学反応カートリッジの流路の詰まりや、流体の漏れの原因となる不具合などの異常の有無を、簡単に精度良く検査できるようにする。 - 特許庁 - To provide a high-molecular electrostatic type actuator unit which is less affected even if a defect occurs, since a necessary driving force is secured and bending is reduced.
必要な駆動力を確保しつつ、屈曲が低減され、欠陥が生じても影響が小さい高分子静電型アクチュエータユニットを提供する。 - 特許庁 - To provide an electrooptical device capable of improving humidity resistance of alignment film surface and capable of obtaining high display quality by suppressing the occurrence of alignment defect and alignment irregularity.
配向膜表面の耐湿性を向上させ、配向不良、配向むらの発生を抑制して、高い表示品質を得ることができるようにする。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a liquid crystal device wherein a white point defect can be corrected without fail by surely short-circuiting a defective switching element.
動作不良の生じたスイッチング素子を確実に短絡させ、白点欠陥を確実に修正することができる液晶装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent the development of casting defect of blow hole, etc., by eliminating a partial delay in solidification of molten metal filled into the portion of a cavity near a sprue.
湯口に近いキャビティの部分に充填される溶湯の部分的な凝固遅れをなくすことにより、巣穴等の鋳造欠陥の発生を防止する。 - 特許庁 - To provide an optical waveguide element which has broad band frequency characteristics, and a bonding defect and a break of the element which can be caused in a wire bonding job are prevented.
広帯域化された周波数特性を有するともに、ワイヤボンディングの際のボンディング不良及び素子の破損を防止した光導波路素子を提供する。 - 特許庁 - To provide an inkjet printer which enhances the precision of detection of a defect in a nozzle, using an impact force at the arrival of ink ejected from the nozzle.
ノズルから吐出されたインクの着弾時の衝撃力を利用したノズル欠検知の精度が向上されたインクジェットプリンタを提供することである。 - 特許庁 - To provide an information storage medium which has high reliability and in which defect control can be performed even if it is a medium of which the durability for over-write is comparatively low.
オーバーライトに対する耐久性が比較的低い媒体であっても、信頼性の高い欠陥管理が可能な情報記憶媒体を提供すること。 - 特許庁 - To eliminate a defect wherein the use a high-pressure gas necessary during a molding operation for a publicly known hollow fan blade increases working time and cost.
公知の中空ファンブレードの成形作業中に必要な高圧ガスの使用は作業時間及びコストを増大させると云う欠点を解消する。 - 特許庁 - To provide a defect detecting method having high detection capability with respect to a malfunction of memory cells caused by variation in manufacturing magnetic random access memory.
磁気ランダムアクセスメモリ素子の製造時のバラツキによって発生するメモリセルの動作不良に対し、高い検出能力を持つ不良検出技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a prism sheet superior in scratch resistance and hard to observe optical defect while suppressing deterioration of brightness to a front direction, and to provide a backlight using the same.
正面方向への輝度の低下を抑えつつ耐擦傷性に優れ光学欠陥が見え難いプリズムシート及びこれを用いたバックライトを提供する。 - 特許庁 - To provide a position measurement method capable of eliminating a measurement function defect caused by a radio wave obstaction having a traveling object as a measurement target.
移動物体を計測の対象として、電波障害に起因する計測機能欠陥を排除することのできる位置計測方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a silver halide photographic sensitive material capable of forming a defect-free image with clear thin lines and suitable for use in a photomechanical process.
細線が鮮明で、欠陥がない画像を形成することができ、写真製版用途に適したハロゲン化銀写真感光材料を提供すること。 - 特許庁 - Also, by forming the capacitor 120, the flatness of the mounting surface of the IC 112 is raised and the connection defect of the IC 112 or the like is hardly caused.
また、コンデンサ１２０を形成することにより、ＩＣ１１２実装面の平坦度が高くなり、ＩＣ１１２を接続不良などが発生しにくくなる。 - 特許庁
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