「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 179 180 181 182 183 184 185 186 187 .... 366 367 次へ＞- To determine the presence of a defect generated in an optical path in a recording/reproducing device for recording/reproducing in a hologram recording medium.
ホログラム記録媒体について記録再生を行う記録再生装置において、光路中に生じる欠陥の有無について判定できるようにする。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method capable of simply/easily determining effectiveness of the inspection by reducing man-hours such as preparation for the inspection as much as possible.
検査準備等の工数を極力減らして、検査の有効性を簡単かつ容易に判断することのできる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To easily and efficiently search the factor of a defect which has occurred due to an operation verification test in the case of developing a computer program.
コンピュータプログラムの開発の際に、動作検証試験により発生した不具合の原因の究明を容易に且つ効率的に行えるようにする。 - 特許庁 - To provide an inspection method and device capable of detecting a shape defect in a barrier rib of a PDP and capable of determining quality thereof, with high precision, in a short time.
短時間で高精度にＰＤＰの隔壁の形状不良を検出し良否判定ができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an inkjet recording head and an inkjet recording apparatus capable of complementing abnormality of dots caused by defect of discharging and suppressing deterioration of an image such as streaky and spotty.
吐出不良によるドット異常を補完し、スジムラ等の画像低下を抑制することができるインクジェット記録ヘッド及びインクジェット記録装置を提供する。 - 特許庁 - Thus, the reservoir 350 is filled with the liquid so that bubbles cannot remain, and then a defect of mistiness is prevented to properly inject liquid.
これにより、液貯留室３５０内に気泡が残留しないように液体を充填して霧化不良を防止し、適切に液体を噴射させ得るようにする。 - 特許庁 - To provide an information recording and reproducing apparatus and a display method of defect management information quantity by which a lifetime of an information recording medium is always reported to a user.
情報記憶媒体の寿命をユーザに常時知らせる情報記録再生装置及び欠陥管理情報量の表示方法を提供する。 - 特許庁 - As a result, it is made difficult for a user to recognize a pattern defect and dust deposited on the diffuser 16, and the effect of image quality degradation is suppressed.
その結果、ディフューザ１６に付着したゴミやパターン欠陥をユーザが認識し難くすることでき、画質低下の影響を抑制することができる。 - 特許庁 - To provide a conductive member which causes no development failure due to surface defect of a cover layer and has a small resistance irregularity in the circumferential direction, and to provide a manufacturing method of the conductive member.
被覆層表面欠陥に起因した現像不良が無く、周方向抵抗ムラが小さい導電性部材およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a management technique for preventing a decrease in yield due to a defect of soldering when a mounted wiring board is manufactured by using a lead-free solder.
鉛フリーはんだを用いた実装配線基板の製造において、はんだ付け不良発生による歩留まり低下を防止する管理手法を提供する。 - 特許庁 - A part from which a reflection echo above a predetermined intensity is measured continuously more than a predetermined distance in the rolling direction of the body to be inspected is detected as a defect.
所定強度以上の反射エコーが、被検査体の圧延方向に所定距離以上連続して測定された部分を欠陥として検出する。 - 特許庁 - To provide a tube joining device which can reduce a chance of a transportation fault of a cutting member and prevent a defect of a device due to a fixation of pulverized powder.
切断部材の搬送不良を低減させるとともに、微細粉固着による装置故障を防止可能なチューブ接合装置を提供する。 - 特許庁 - Thus, since such a defect that an injector is operated before pressure raising is completed is absent, the energy loss due to the wasteful operation of the injector can be suppressed.
これにより、昇圧が完了する前にインジェクタが作動する不具合がなく、インジェクタの無駄な動作によるエネルギーロスを抑えることができる。 - 特許庁 - To secure a good quality in a cast slab by reducing occurrence ratio of the most serious vertical crack among the surface defect occurring in a continuous casting.
連続鋳造において発生する表面欠陥のうちで最も深刻な縦割れの発生率を低減し、良好な鋳片品質を確保する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device for inspecting an inspecting object under a plurality of lighting conditions while maintaining a high throughput and high sensitivity.
高いスループット及び高感度を維持しながら、複数の照明条件により検査対象物の検査を行なうことが可能な欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁 - A threshold control circuit 138e detects the viterbi error caused by a defect from the length of data in which the detected viterbi errors are continuously generated.
しきい値制御回路１３８ｅは検出されたビタビエラーが連続して発生しているデータの長さから欠陥に起因するビタビエラーを検出する。 - 特許庁 - Also, methods and devices are described that provide fast and efficient defect scanning in selected regions due to utilization of error correction systems.
また、エラー訂正システムの利用による、選択された領域での高速で効果的な欠陥スキャニングを提供する方法及び装置が説明される。 - 特許庁 - To provide an integrated substrate inspection apparatus which is automated and carries out all of EBR/EEW inspection, pattern defect inspection, and reticle error inspection on a substrate.
基板のEBR/EEW検査、パターンの欠陥検査及びレティクルエラー検査を全部実施することができる自動化された統合基板検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus of a semiconductor device free from troubles such as a leak defect or a failure of a test board caused by generation of frost in the test board.
テストボードに霜が生じることで発生していたＬｅａｋ不良やテストボードの故障といった不都合のない半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a pattern modifying apparatus which can modify a disconnected electrode with a thin line that has a size of about 10 μm, having less contamination at the peripheries of defect parts.
１０μｍ前後の細線で電極断線部などを修正することができ、かつ、欠陥部周辺の汚染が小さなパターン修正装置を提供する。 - 特許庁 - The alignment defect of the liquid crystal is suppressed and the bending of the liquid crystal alignment is made uniform by means of the alignment layer 7a and 7b having the high pretilt angle.
この高プレチルト角を有する配向膜７ａ，７ｂによって液晶の配向欠陥が抑制され、液晶配向の折れ曲がりが均一化する。 - 特許庁 - A decision part 40 decides a defect according to the feature quantities CS and CR extracted by the feature extraction parts 31 and 32.
判定部４０は、特徴抽出部３１および特徴抽出部３２により抽出された特徴量ＣＳ，ＣＲに基づいて欠陥の判定を行う。 - 特許庁 - To provide a repair-processing technique for casting defect in an aluminum alloy casting with which the processing time is shortened and this productivity is remarkably improved.
処理時間を短縮してその生産性を大幅に改善したアルミニウム合金鋳物における鋳物欠陥の補修処理技術を提供する。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor memory in which a current caused by a process defect can be reduced and the power consumption at the time of a self-refresh can be reduced.
プロセス的欠陥に起因する電流を削減し、セルフリフレッシュ時の消費電力を低減することのできる半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic flaw detection method capable of acquiring quickly the dimension of a detected defect, and improving the accuracy of the dimension.
検出された欠陥の寸法を迅速に把握することができ、且つその寸法の精度を向上させることができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁 - As a result, deformation and defect of the lock arm 52 and the lock pins 56, 58 of the disk apparatus 11 due to an external shock are prevented to improve the anti-shock strength.
その結果、ディスク装置１１は、外部からの衝撃によるロックアーム５２及びロックピン５６，５８の変形や破損が防止され、耐衝撃強度が向上する。 - 特許庁 - To provide an optical disk device such that normal tracking control is performed even when a track error signal is distorted due to the defect such as the scratch on the optical disk.
光ディスク上のキズ等の欠陥により、トラックエラー信号が歪むような場合でも、正常なトラッキング制御ができる光ディスク装置を提供する - 特許庁 - To prevent a developed image from having a defect by improving agitating performance and charging performance by preventing supplied toner from cohering with simple constitution.
簡単な構成で、補給されるトナーの凝集を防止して撹拌性と帯電性とを向上し、現像される画像の欠陥発生を防止する。 - 特許庁 - To avoid a defect that a driven arm rotates by an external force applied to an intake throttle valve, a roller acts as a bolt to a cam groove and causes a cam plate to be locked.
吸気絞り弁の受ける外力により従動アームが回動してローラがカム溝に対して閂として作用してカムプレートがロックする不具合を回避する。 - 特許庁 - The groove 15 is buried with a part of the wiring layers 4, and the wiring layers 4 and insulating base 3 are prevented from being peeled more, thereby preventing the mounting defect.
溝１５は、配線層４の一部により埋設され、配線層４と絶縁基材３との剥離の進行を防止し、実装不良を防止する。 - 特許庁 - To provide an imaging device and a defect correction method which can correct void defects highly precisely without increasing storage means in comparison with conventional ones.
従来と比較して記憶手段を増大させずに精度よく白点欠陥を補正することができる撮像装置及び欠陥補正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a coating composition which improves a defect that the hardness of conventional polyurethane-based soft coating films is inferior, and imparts a coating film-recovering property.
従来のポリウレタン系ソフトコートにおける塗膜硬度に劣るという欠点を改善すると同時に、塗膜の復元性を付与した塗料組成物の提供する。 - 特許庁 - To reduce process defect of a refrigerant tube in a manufacturing process of the refrigerant tube, with respect to a heat exchanger having the bent refrigerant tube continuously meandering.
連続蛇行曲げした冷媒チューブを有する熱交換器において、冷媒チューブの製造工程における冷媒チューブの工程不良を低減する。 - 特許庁 - To provide a system capable of determining the defect distribution of an element quickly by an inspection method of a ferroelectric or a piezoelectric body.
強誘電体または圧電体の検査方法で、短時間で素子の欠陥分布が判明することが可能なシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To implement a defect inspection by accurately discriminating bubble-caused projection defects and foreign-matter-caused projection defects from surface roughness on a substrate to be inspected.
検査対象基板の気泡起因の突起欠陥と、異物起因の突起欠陥と、表面のうねり(ラフネス)を、正確に判別して、欠陥検査を行う。 - 特許庁 - To provide a process and an apparatus for producing a defect-free, filled polyurethane foam by using CO_2 dissolved as a foaming agent in a reaction component.
反応成分に発泡剤として溶解されるＣＯ_２を用いた無欠陥の充填ポリウレタンフォームの製造方法及び製造装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a gasket, capable of obtaining the gasket, prevented from the generation of a molding defect, for example, a pinhole or the like by a simple manufacturing method.
簡単な製造工程で、例えばピンホール等の成形欠陥の発生が防止されるガスケットを得ることができるガスケットの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide the mounting method of an element and a low cost and high insulating reliability semiconductor device having low conductive resistance and no connection defect.
本発明は、導通抵抗低く、接続不良がなく、絶縁信頼性が高く、低コストの素子実装方法及び半導体装置を提供するようにする。 - 特許庁 - To provide a screen for a projection television which does not cause the defect of the outside appearance in the case of assembling a Fresnel lens sheet and a lenticular lens sheet as a set in television.
フレネルレンズシートとレンチキュラーレンズシートとセットでテレビに組み込む場合に外観不良を起こさないプロジェクションテレビ用スクリーンを提供することである。 - 特許庁 - To partially test software, while examining whether a stub includes a defect deteriorating the reliability of a test result or not.
スタブがテスト結果の信頼性を損ねるような欠陥を含んでいるかどうかを検証しつつ、ソフトウェアを部分的にテストすることができるようにする。 - 特許庁 - To provide a method for joining a silicon nitride base ceramic member capable of significantly suppressing a defect of a joined part and also capable of obtaining a relatively homogeneous joined body.
接合部分の欠陥が有意に抑制されるとともに、比較的均質な接合体を得ることが可能な窒化珪素系セラミックス部材の接合方法。 - 特許庁 - To provide a group III nitride compound semiconductor substrate of high quality which has little crystal defect and a large area, a manufacturing method of the substrate, and a light emitting element.
結晶欠陥の少ない高品質かつ大面積のIII族窒化物の半導体基板およびその作製方法および発光素子を提供する。 - 特許庁 - To provide lightweight Class 2 concrete with high fluidability without the problems of material separation and force-feed defect by a pump.
材料分離及びポンプによる圧送不良の問題を生じさせることなく高流動性を実現した高流動・軽量２種コンクリートを提供する。 - 特許庁 - To provide a technique for determining a fuel cell with or without a defect without decreasing output voltage to an undesirable degree.
燃料電池における不具合の有無を判定する際に、望ましくない程度に出力電圧を低下させることなく、上記判定を行なう技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a pixel defect correction apparatus capable of more accurately discriminating a defective pixel without the need for storing positional information of the defective pixel in advance.
欠陥画素の位置情報を予め保持する必要がなく、より正確に欠陥画素の判別が可能な画素欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁 - When a defect is caused in the first system data while resetting the semiconductor memory device, the first system data is repaired by providing the second system data.
半導体メモリ装置をリセットする間に第１システムデータで欠陷が発生する時、第１システムデータは、第２システムデータの提供によってリペアされる。 - 特許庁 - To obtain a device for preventing exfoliation of a sheet material for rotary drum with which the sheet material can be promptly discharged from a rotary drum and discharge defect does not occur.
シート材を回転ドラムから迅速に排出することができ、かつ、排出不良が生じない回転ドラム用シート材剥離防止装置を得る。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device by analyzing the memory defect of an IC card or the like without acquiring contents written on a user ROM.
ユーザＲＯＭに書きこんだ内容を入手することなく、ＩＣカード等のメモリ不良の解析を解析可能にし半導体装置を提供する。 - 特許庁 - An equipment candidate causing the defect in a plurality of pieces of equipment is specified, on the basis of information displaying the substrate and production history information.
その基板を表す情報と製造履歴情報とに基づいて、複数の設備のうち不良発生の原因となった原因設備候補を特定する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device for dispensing with gain adjustment of each camera by enabling stable inspection in common threshold setting in a plurality of different imaging systems.
異なる複数の撮像系において、共通の閾値設定で安定した検査ができ、各カメラでのゲイン調整を不要とした欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁
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