「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 177 178 179 180 181 182 183 184 185 .... 366 367 次へ＞- To provide a laser ultrasonic inspection device and laser ultrasonic inspection method in which defect detection can be conducted using one laser device.
一台のレーザ装置を用いて欠陥検出を行うことができるレーザ超音波検査装置及びレーザ超音波検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a spherical valve eliminating its defect while making the most of a strong point of the spherical valve of which the center of the spherical valve body is decentered.
球形弁体の中心を偏心させたスフェリカルバルブの長所を活かしながら、その欠点を取り除いたスフェリカルバルブを提供する。 - 特許庁 - To provide a signal processing circuit capable of correcting a fixed noise, a flaw such as a pixel defect, and a random noise without degrading in the resolution.
解像度の低下を招くことなく、固定ノイズや画素欠陥のようなキズ並びにランダムノイズを補正できる信号処理回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a perimeter which enables a subject to easily recognize his or her own visual field defect concretely in the process of a visual field examination and clearly shows a result of examination.
被検者が視野検査の過程で自らの視野欠損を具体的に容易に自覚でき、検査結果が分り易い視野計を提供する。 - 特許庁 - Inspection of existence of a defect in each divided pattern region is performed by using the inspection standard of each registered pattern region (S7).
その分割された各パターン領域の欠陥の有無の検査を、その登録されている各パターン領域ごとの検査基準を用いて行う（Ｓ７）。 - 特許庁 - The discharge from liability for defect means that the seller (exhibitor) should have no liability for any latent defects in the tendered product.
担保責任が免除されるとは、落札物に隠れたる瑕疵があった場合等の売主（出品者）の責任が免除されることを意味する。 - 経済産業省 - To provide a silicon substrate inspection device for precisely inspecting a defect, such as crack, in a silicon substrate, and to provide an inspection method thereof.
シリコン基板の内部に存在するクラック等の欠陥を正確に検出可能とする、シリコン基板の検査装置および検査方法を得ること。 - 特許庁 - These last-mentioned contests had indeed the incurable defect, that the premises appealed to were taken from authority, not from reason;
いま述べた論戦はなるほど、それが頼みにする前提が、理性からではなく、権威からとられているという、矯正不能な欠陥をもっています。 - John Stuart Mill『自由について』 - To provide a final defect marking apparatus which can rapidly and reliably implements the final defect marking on a film carrier tape for mounting electronic components with defect marking based on the results of various quality inspections for defects such as disconnection, short circuit, chipping and projections in a previous step before shipping at a point and by a method designated by a user.
前行程で電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良である断線、短絡、欠け、突起などの各種の品質検査の結果に基づいて不良表示を行った電子部品実装用フィルムキャリアテープについて、出荷前に電子部品実装用フィルムキャリアテープ上に、ユーザの指定する箇所ならびに指定する方法で、最終的に不良表示を迅速かつ確実に施すことの可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープの最終不良マーキング装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a composition and the like useful for stably preparing an optical anisotropic layer in which defects or the like caused by an alignment defect are eliminated or reduced.
配向欠陥に起因する欠陥等のないまたは軽減された光学異方性層を安定的に作製するのに有用な組成物等を提供する。 - 特許庁 - To provide a coloring device of a color filter, capable of executing smoothly detection of a defect of the color filter and feedback of the detected information to a coloring process.
カラーフィルタの欠陥の検出と、その検出情報の着色工程へのフィードバックをスムーズに行うことができるカラーフィルタの着色装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain a synthetic resin body not having a defect such as strain, deformation or the like from an aspect of appearance reduced in dimensional error with respect to a design value and having excellent strength.
外観的に歪み、変形等の瑕疵がなく、寸法的に設計値との間で誤差が少なく、強度的に優れた合成樹脂体を得る。 - 特許庁 - To manufacture an escalator for largely lengthening the useful life, by largely improving operational reliability together with facility of manufacture, without a conventional defect.
従来の欠点がなく、製造の容易さと併せて操作上の信頼性を大幅に向上し、耐用年数を大幅に延長するエスカレータを製造する。 - 特許庁 - A substantially reduced defect density is maintained within the axially grown material that is based on the laterally grown first stage material.
実質的に減少した欠陥密度は、横方向に成長した第１の段階の材料に基づく軸方向に成長した材料中で維持される。 - 特許庁 - Further, a resin layer is formed to uniformize the thickness since the capacitors 20 in the recessed part 32 become uniform in height, so that the defect generation rate can be lowered.
更に、凹部３２内にあるコンデンサ２０の高さが揃うため、樹脂層を均一の厚みにでき、不良品発生率を下げることが可能となる。 - 特許庁 - To provide a casting method which prevents an internal defect called a shrinkage cavity that is generated through volumetric shrinkage of the final solidification section when a product is solidified.
鋳物製造において、製品が凝固する際に最終凝固部の体積収縮により発生する引け巣と呼ばれる内部欠陥を防止する。 - 特許庁 - When the next track is formed by the main beam MB, pit rows are formed by avoiding the defective regions DF on the basis of the defect information preliminarily obtained.
メインビームＭＢで次のトラックを形成する場合には、予め取得したディフェクト情報に基づいて、この欠陥領域ＤＦを避けてピット列を形成する。 - 特許庁 - To provide a reflection type or a transmission/reflection type liquid crystal display device high in display quality without causing a display defect due to variation in cell gap.
セルギャップのバラツキによる表示不良の無い、表示品質の高い反射型または反射透過両用型液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - The movement of electron across the insulated layer 54 is supposed to be realized by the operation of the minute defect, i.e., a pin hole formed on the insulated layer 54.
絶縁層５４に形成される微細な欠陥すなわちピンホールの働きで絶縁層５４をまたぐ電子の移動は実現されると考えられる。 - 特許庁 - To provide a casting method for obtaining a steel ingot or a casting free from an internal defect such as a blowhole or a center cavity, in a high Cr-containing steel.
高Ｃｒ含有鋼において、ザクまたはセンターキャビティなどの内部欠陥の発生のない鋼塊または鋳片を得るための鋳造方法の提供。 - 特許庁 - To provide a joining structure and a joining method for a steel pipe column and an H-steel beam which will not cause breakage due to a welding defect and is simple in structure.
溶接欠陥による破断が生ぜず、しかも構造が簡単な鋼管柱とＨ形鋼製梁の接合構造及び接合方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defective mask that can form a fine pseudo defect and is used even in a next-generation lithography technique, and to provide a method for manufacturing the defective mask.
微細な擬似欠陥を形成可能とし、次世代のリソグラフィ技術においても利用できる欠陥マスクおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Hence, a through current is not made to flow between the power source and ground even if the fuse is not a cut off state when necessity of relieving the defect is tested.
従って、欠陥救済の要否を検査する際にヒューズが未切断状態であっても、電源と接地との間に貫通電流が流れない。 - 特許庁 - In the temperature-reducing process after growing a p-type GaAs cap layer 508, the substrate is exposed to AsH3 atmosphere to prevent introduction of group-V defect into the active layer.
p型GaAsキャップ層５０８成膜後の降温過程において、基板をAsH_3雰囲気に曝し、活性層にＶ族欠陥が導入されることを防止する。 - 特許庁 - To provide a developing device capable of suppressing an image defect caused by foreign matters such as paper powder mixed into a developer, and to provide an image forming apparatus.
現像剤に混入した紙粉等の異物に起因する画像不良を抑制することのできる現像器および画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a light source of an image forming device which unerringly prevents a defect from occurring and has high reliability and a manufacturing method therefor.
欠陥の発生を確実に防止することができるとともに、高い信頼性を有する画像形成装置の光源及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - At this time, a thick oxide film 203, indicated by a protruded protruberance in comparison with a part without defects, is formed in the vicinity of the injection secondary defect 201.
このとき注入二次欠陥２０１近傍では、欠陥のない部分に比べて凸型の盛り上がりで示される厚膜の酸化膜２０３が形成される。 - 特許庁 - Positions of bright points on a black screen in the first image are compared with positions of bright points in the first image, to discriminate the defect in the liquid crystal panel from the dust.
第１画像における黒画面の中の輝点の位置と第２画像における輝点の位置とを比較して、液晶パネルの欠陥とゴミとを区別する。 - 特許庁 - To provide a technology capable of correcting a defect, in a photographed image, caused by abnormality in a primary-color filter for an image pixel.
本発明は、撮像画素の原色透過フィルタの異常に起因する撮影画像の不具合を補正することができる技術を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an ink jet recorder in which troubles due to lack of ink, defect of image or lowering of print speed, are prevented.
インク切れによる画像欠陥を引き起こしたり、印字処理速度が遅くなるなどの不具合が生じるのを防止できるインクジェット記録装置を提供する - 特許庁 - An adding means 12 adds the signal S11 to the signal S13 and outputs a defect compensation signal S12.
加算手段１２はディスク物理的歪補正信号Ｓ１１と外乱パルス補正信号Ｓ１３とを加算して欠陥補償信号Ｓ１２を出力する。 - 特許庁 - To provide a printed wiring board which has capacitors inside at high density and is low in defect generation rate and to provide a manufacturing method for the printed wiring board.
コンデンサを高密度で内蔵し、不良品発生率が低いプリント配線板およびプリント配線板の製造方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a technology for confirming a detective location within a short period of time during physical analysis in the in-line defect inspecting process of a semiconductor device.
半導体装置のインライン欠陥検査工程において、物理解析時に短時間で故障箇所の位置を確認することのできる技術を提供する。 - 特許庁 - To prevent repeated rejection for the same reason by feeding back defect information on an application filed, in an electronic document examination/approval work system.
電子文書の審査・承認ワークシステムにおいて、既に行われた申請における不具合情報をフィードバックして、同じ理由による却下の再発を防止する。 - 特許庁 - Image data of a pattern, etc., which is continuously present are erased by differentiating the image data in the fixed direction to detect only an image of the defect.
画像データを一定方向に微分計算することにより、連続的に存在するパターン等の画像データを消去して、欠陥の画像のみを検出できる。 - 特許庁 - The SEM apparatus searches the defect several times as a view field is moved in the direction of the distribution of the coordinate system offset obtained by the offset information.
このとき、ＳＥＭ装置は、ずれ情報から得た座標系のずれの分布の方向に沿って視野を移動させながら複数回、欠陥の探索を行う。 - 特許庁 - A pattern addition processing section 23 adds a prescribed pattern to a prescribed position of the image without any defect and of the image whose defective part is corrected.
欠損箇所の無いイメージと欠損箇所が補正されたイメージの所定の位置に、パターン追加処理部２３によって予め定められたパターンが追加される。 - 特許庁 - To provide a thermal transfer image receiving sheet which has remarkably few face defect compared with conventional one and can obtain a good image, and its manufacturing method.
面状故障がこれまでに比べ格段に少なく、良好な画像の得られる感熱転写受像シートおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a proximity correction mask with high accuracy and no defect in a short period of time while keeping a process margin in a complicated LSI pattern.
複雑なＬＳＩパターンにおいて、プロセス余裕度を保ちながら欠陥の無い高精度な近接効果補正マスクを短時間で提供することを課題とする。 - 特許庁 - A recognition rule for a defect peculiar for the spot of photo via/laser via is set to the logical recognizing part of a space filter for binary image in the examining processing part 6 for via.
ビア用検査処理部６の２値画像用空間フィルタのロジカル認識部には，フォトビア・レーザビアの箇所に特有な欠陥の認識ルールを設定する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a thin-film capacitor that hardly causes insulation deterioration due to segregation of an oxygen defect and can effectively prevent a chamber from corroding.
酸素欠陥の偏析による絶縁劣化が起きにくく、チャンバーの腐食を有効に抑えることができる薄膜コンデンサの製造方法を提供する。 - 特許庁 - A defective signal level of the image pickup sensor 101 caused on a line including the defect-generating position and in parallel with the one direction is corrected.
特定された不良発生位置を含みかつ前記一方向に平行な線上に生じる撮像センサ１０１の信号レベル不良を補正する。 - 特許庁 - To provide a defect inspecting device having a function to generate a high performance discriminating means in short period even when few pieces of sample data of defects exist.
欠陥のサンプルデータが少ない場合においても、短期間で高性能な判別手段を生成する機能を有した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To eliminate adhesion defect due to generation of bubbles in an optical fiber crossing point when resin films are laminated together, and to improve flexibility as a wiring sheet.
樹脂フィルムを貼り合わせる際の光ファイバクロス点での気泡発生による接着不良をなくし、また、配線シートとしての柔軟性を向上させる。 - 特許庁 - To provide a display device which can surely detect a wiring defect on a panel and yet can suppress the degradation in production yield.
パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - CREATING METHOD FOR STANDARD IMAGE FOR EVALUATING COAT DEFECT, RECORD MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR IT, AND RECORD MEDIUM RECORDING CREATED STANDARD IMAGE
塗膜欠陥評価用標準画像の作成方法、そのプログラムを記録した記録媒体、及び作成した標準画像を記録した記録媒体 - 特許庁 - To suppress the defect in a process caused by static electricity in the surface of a substrate by suitably controlling the electrified state of the substrate in accordance with the kind of a wet process.
基板の帯電状態を、湿式プロセスの種類に合わせて適切にコントロールすることで、基板表面の静電気によるプロセス不良を抑制する。 - 特許庁 - Since a P-N junction is not formed in the lattice defect regions 53 and 54, the parasitic capacity among the N+ region 14 and the P+ regions 15 and 16 is reduced.
格子欠陥領域５３、５４にはＰＮ接合が形成されないので、Ｎ^+領域１４とＰ^+領域１５、１６との間の寄生容量が少ない。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus capable of preventing the transfer defect of a developer in a sheet material while minimizing the reduction in a sheet conveyance speed.
シート搬送速度を低減を最小限に抑えつつ、シート材における現像剤の転写不良を防止することが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To eliminate trouble of reassembly due to defect of characteristics by enabling independent characteristic test of a pump part before integration of a control apparatus and a motor.
ポンプ部の特性試験を、制御機器及びモータとの一体化の前に単独にて実施可能とし、特性不良に伴う組み直しの手間を不要とする。 - 特許庁
- 経済産業省
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- 特許庁
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- 日英対訳文対応付けデータ
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- 原題：”On Liberty”
邦題：『自由について』 - This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide.
Copyright on Japanese Translation (C) 2004 Ryoichi Nagae 永江良一
本翻訳は、この著作権表示を付すかぎりにおいて、訳者および著者に一切断ることなく、商業利用を含むあらゆる形で自由に利用し複製し配布することを許諾します。
改変を行うことも許諾しますが、その場合は、この著作権表示を付すほか、著作権表示に改変者を付加し改変を行ったことを明示してください。
- 原題：”On Liberty”
