「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 174 175 176 177 178 179 180 181 182 .... 366 367 次へ＞- To provide a near infrared ray absorption film which is excellent in the appearance and is highly excellent in reusability (reworkability) of a member thereof upon the occurrence of a defect.
外観に優れ、かつ欠陥発生時の部材の再利用性（リワーク性）に高度に優れる近赤外線吸収フィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide a shipping method for a non-contact IC tag in which a non-contact IC tag with a defect in function is not mixed, and a non-contact IC tag product.
機能不全の非接触ＩＣタグが混入しない非接触ＩＣタグの出荷方法と非接触ＩＣタグ製品を提供する。 - 特許庁 - To provide a forging method capable forging a hard-to-work material to be worked in 5-30 forging ratio by heating once without causing any defect such as crack.
難加工材を１回の加熱で割れ等の欠陥を発生させることなく、鍛造比５〜３０で鍛造できる鍛造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a hot-dip galvanized steel sheet with good surface appearance, which suppresses an occurrence of streaking defect.
筋状欠陥の発生を有利に防止することのできる表面外観の良好な溶融亜鉛めっき鋼板の製造方法を提案する。 - 特許庁 - A nondefective/defective discrimination section 9 reads the fail/pass signal written in the defect analysis memory 8 to discriminate the propriety of the tested sample 2.
良／不良判定部９は、不良解析メモリ８に書き込まれたフェイル／パス信号を読み出して被試験試料１２の良／不良を判定する。 - 特許庁 - To provide a defect detection device having a light-receiving optical system to which high NA can be imparted, which is a light-receiving optical system having a simple constitution.
簡単な構成の受光光学系であって、光ＮＡ化が可能な受光光学系を有する欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁 - By this update, whenever a question is sent from a student's terminal, a defect point stored correlation to a portion of the educational material is accumulated.
この更新により、受講者端末から質問がある度に、教材箇所と関連付けて記憶した不具合点数が累積されていく。 - 特許庁 - A defect is inspected by comparing the number of pulses of a signal, which should be reproduced, to the head chip 15 with the number of pulses which are actually reproduced.
ヘッドチップ１５によって再生されるべき信号のパルス数と、実際に再生されるパルス数を比較することによって欠陥を検査する。 - 特許庁 - To provide a method of firing a ceramic formed body by which firing defect or the variation of characteristics are suppressed and the yield is improved.
焼成不良や特性ばらつきを抑制して、歩留りを向上させることが可能なセラミック成形体の焼成方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a film feeder for a camera, which is free from the risk of bringing about an operation defect and can be made small-sized and has a simple constitution.
作動不良の発生する虞もなく、小型化も可能であって、その構成も簡単であるカメラのフィルム給送装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a metal material for an electric/electronic component with an insulating resin coating film provided in a required portion to detect automatically a defect exactly.
欠陥を的確に自動検知できる絶縁樹脂皮膜が所要箇所に設けられた電気電子部品用金属材料を提供する。 - 特許庁 - To provide a coating apparatus and a coating method in which a coating thin film having highly precise uniformity and causing no defect due to the incorporation of air is obtained.
塗工される薄膜が高精度に均一で空気混入による欠陥が発生しない塗布装置および塗布方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent locking from occurring by detecting the operational defect of a short-circuit ring that reciprocates relative to an output shaft.
出力軸に対して相対的に往復移動する短絡リングが動作不良を生じたことを検出し、ロックするのを未然に防止する。 - 特許庁 - The hole 51 of the test piece is flaw-detected as a pseudo-defect, and a gain is regulated to bring detection intensities among elements into the fixed level.
そして、当該試験片の横孔５１を疑似欠陥として探傷し、各素子間の検出強度が一定となるようにゲインを調整する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection apparatus capable of easily, reliably detecting a defect such as a flaw and dirt on the surface of a cigarette.
シガレットの表面における傷や汚れ等の欠陥を容易に、しかも確実に検出することのできる外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce the cast defect on a die casting product by preventing molten metal from being rapidly cooled in an injection casting machine.
ダイカストマシンにおいて、射出スリーブ内で溶湯が急冷される現象を防止することによって、ダイカスト製品の鋳造欠陥の減少を図る。 - 特許庁 - To provide a color solid-state imaging apparatus wherein a colored noise caused by a pixel defect or the like of a solid-state imaging device is reduced without causing an image blur.
カラー固体撮像装置の固体撮像素子の画素欠陥等によリ発生する着色ノイズを画像ボケを伴わずに低減する。 - 特許庁 - To provide a shape measurement device capable of highly precisely measuring the pattern shape and defect on a substrate applied with microfabrication.
高い精度で、微細加工処理が施された基板上のパタン形状ならび欠陥を測定することが可能な形状測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a vertical wafer board in which stress is prevented from being generated in a semiconductor wafer by its own weight and no defect occurs in the semiconductor wafer.
半導体ウェーハに自重により応力が発生するのを抑制し、半導体ウェーハに欠陥が生じない縦型ウェーハボートを提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor storage device with an error correction function having low redundancy and high defect affirmative relief rate, and also to provide its error correction method.
冗長度が低く、不良救済率が高い誤り訂正機能付き半導体記憶装置およびその誤り訂正方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a chip-on-glass type liquid crystal display which can effectively prevent an operation defect due to migration without increasing in size.
装置を大型化することなく、マイグレーションによる動作不良を効果的に防止できるチップ・オン・グラス型の液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an image display device capable of generating an excellent image without pixel defect resulting from continuous discharge.
連続放電に起因した画素欠陥が存在せず、良好な画像を形成可能な画像表示装置を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a high-reliability optical disk which can be recorded and reproduced even if a clock mark is destroyed owing to a defect.
欠陥によりクロックマークが破壊されても記録再生が可能な信頼性の高い光ディスク，光再生装置，光記録装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for inspecting the connecting strength of an electric resistance welded tube in which a defect of the tube which is hardly discovered in a conventional method can be discovered.
従来法では発見しにくい電縫管の欠陥も発見し得る電縫管接合強度検査方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection substrate for an active matrix type liquid crystal display that facilitates defect detection of various modes by inspection using an array tester.
アレイテスタでの検査により各種モードの欠陥検出を容易にするアクティブマトリックス型液晶表示装置用検査基板を提供する。 - 特許庁 - To provide an image analysis means, an image analysis device and an inspection device enabling to detect a defect of a display panel at high detection sensitivity.
表示パネルの欠陥を高い検出感度で検出することができる画像解析方法および画像解析装置、検査装置を提供する。 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE MAPPING/PROJECTING OPTICAL SYSTEM, CHARGED PARTICLE RAY DEFECT INSPECTING DEVICE COMPRISING IT, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURED BY THE SAME
荷電粒子写像投影光学系、該光学系を備える荷電粒子線欠陥検査装置及び該装置により製造された半導体デバイス - 特許庁 - To provide a method for marking defective point of component which does not result in deterioration of manufacturing yield due to generation of secondary defect and ensures excellent flexibility.
二次不良の発生による歩留まり低下のおそれがなく、汎用性にも優れた部品不良箇所マーキング方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of repairing a metallic alloy component (10) having a defect (12) in its surface, the method that can reduce the risk of post-welding cracks, and also to provide a repaired component (10) obtainable by this method.
表面欠陥（１２）を有する金属合金部品（１０）の補修法及び該方法で得られる補修部品（１０）の提供。 - 特許庁 - To speed up an inspection speed by equipping the defect detection capacity of a surface to be inspected that is at least equivalent to a conventional capacity, at low cost.
低コストでこれまでと同等以上の被検査物表面の欠陥検出能力を備え検査速度を高速化できるようにする。 - 特許庁 - To accurately detect defect information about dust and a flaw on the image forming face and the base side face of a photographic film F which is set on a film carrier FC.
フィルムキャリアＦＣにセットした写真フィルムＦの画像形成面とベース側面とのゴミや傷の欠陥情報を精度高く検出する。 - 特許庁 - When the noise or clear defect for shot data is corrected, the light shielding data stored in the memory 107 is used.
そして、撮像データのノイズや白キズの補正を行う場合には、遮光データ記憶部１０７に記憶している遮光データを用いるようにする。 - 特許庁 - To eliminate a weakness or a defect caused by providing a conventional game machine with a selection means such as a selector button.
従来までの遊技機に選択ボタン等のような選択手段を備えることにより生じる弱点や欠点を解消することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a filter comprising a frame body for holding a filter material which can be produced at a low defect ratio of a formed product in a narrow production dispersion.
製造バラツキが小さく、成型品の不良率が低いフィルター濾材を保持する枠体を備えたフィルターを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To suppress generation of a forming defect near a joining part of a combined blank material and to facilitate a die repair in tryout, etc.
集合ブランク材の接合部付近における成形不良の発生を抑制するとともに、トライアウトなどでの金型修整を容易にする。 - 特許庁 - For example, the recessed parts can be formed by partially roughening the external surface of the fixing roll 611 within a range wherein no image defect is generated.
例えば、定着ロール６１１の外表面を、画像欠陥が起きない範囲内で部分的に荒らすことで凹部を形成することもできる。 - 特許庁 - To carry out system control in a facsimile device having a plurality of peripheral devices even when any of them has a defect.
複数の周辺装置が設けられたファクシミリ装置において、いずれかの周辺装置に不具合等があってもシステム制御を行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a detecting method for detecting simply and rapidly an insulation defect between insulated wired conductors formed in a semiconductor device.
半導体デバイス内に形成された絶縁されている配線間の絶縁不良を簡便かつ迅速に検出する検出方法を提供する。 - 特許庁 - To improve the defect in soldering and to prevent the generation of the expansion and explosion of solid flux in resin core solder.
はんだ付け不良を改善すると共にヤニ入りはんだの固体フラックスの膨張爆発の生じるおそれがないようにすること目的とする。 - 特許庁 - To provide a driving unit for an image forming apparatus realizing high image quality by preventing an image defect such as color slurring, and an image forming apparatus.
色ずれ等の画像不良を防止し、高画質化を実現させた画像形成装置の駆動ユニット及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a communication control apparatus and communication control system capable of suppressing the occurrence of a communication defect caused by a disturbance such as noise.
ノイズ等の外乱に起因する通信不良の発生を抑制することができる通信制御装置、及び通信制御システムを提供する。 - 特許庁 - To prevent a significant defect such as a liquid leakage or reduction in battery function by total inspection.
全数検査により、液漏れや電池機能低下といった重大欠陥を未然に防ぐことのできる連続袋体のシール検査装置を提供する。 - 特許庁 - To realize a manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor by which uniform picture of high grade having no defect and density uneveness can be obtained.
画像欠陥及び画像濃度ムラの無い均一で高品位の画像を得ることが出来る電子写真感光体の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device having a highly reliable via connection by preventing an open defect of vias connected to a capacitor, and to provide a manufacturing method thereof.
キャパシタにつながるビアのオープン不良を防止し、高信頼性のビア接続を有する半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - A silicon substrate 200 with an injection secondary defect 201 is immersed in a nitric acid solution to form an oxide film 202 in the surface of the silicon substrate 200.
注入二次欠陥２０１を有するシリコン基板２００を硝酸液に浸けてシリコン基板２００表面に酸化膜２０２を形成する。 - 特許庁 - Consequently, generation of pattern defect is retarded at the time of manufacture and an excellent performance for discharging bubbles in ink is provided as one structural advantage.
したがって、製造時のパターン欠陥が発生しにくく、また、その構造上の利点として、インク中の気泡の排出性に優れている。 - 特許庁 - To efficiently evaluate a state of transferring a mask defect to a wafer, and dimension and DOF of a mask on the wafer with SMO applied.
マスク欠陥のウェハ転写性を効率良く評価し、ＳＭＯが適用されているマスクのウェハ上の寸法やＤＯＦを効率良く評価する。 - 特許庁 - Also, the detection can be performed in the prestage of error correction decoding, The defect can be detected in the early stage and the erasure correction can be performed in the early stage during the error correction.
又、誤り訂正復号の前段で検出できるため、早期に検出でき、誤り訂正時に、消失訂正を早期にできる。 - 特許庁 - To provide a stator coil insulation test device and a test method capable of detecting a stator coil layer short-circuit defect after assembling it into a motor.
モータを組込んだ後において、ステータコイルのレアショート不良の検出が可能なステータコイル絶縁試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an injection system which can size in optimum dimension a component element, by relaxing the conventional defect to limit fuel heating.
従来の欠点を緩和し、燃料加熱を制限してその構成要素を最適に寸法付けることができる噴射システムを提供する。 - 特許庁
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