「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 176 177 178 179 180 181 182 183 184 .... 366 367 次へ＞- By eliminating the step 1a from the device pattern 1 of the photomask, correction in the event of a defect at an edge thereof can be facilitated.
また、フォトマスクのデバイスパターン１から段差１ａを消失させることで、そのエッジに欠陥が発生した場合の修正の容易化が図られる。 - 特許庁 - To provide an image forming device which suppresses the occurrence of a printing defect arising from dew condensation and nitrogen oxide(NOx) and an image forming method.
結露や窒素酸化物（ＮＯx）を原因とする印字欠陥の発生を抑制した画像形成装置及び画像形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide single crystal(SC) and directional solidified(DS) nickel base superalloys exhibiting only the minimum defect of crystal grains at the time of casting.
鋳造時に最小限の結晶粒欠陥しか呈さない単結晶（ＳＣ）及び方向性凝固（ＤＳ）ニッケル基超合金の提供。 - 特許庁 - To solve the defect of losing the information of an overhead in the case of exchanging data traffic between a SONET network and an SDH network.
ＳＯＮＥＴネットワークとＳＤＨネットワークとの間でデータ・トラフィックを交換する場合、オーバーヘッドの情報が失われる欠点を解決する。 - 特許庁 - To provide a polyoxymethylene molding composition which is stable during processing, and has negligible formaldehyde release, negligible surface defect, and high color fastness.
加工中に安定で、無視できるホルムアルデヒド放出、表面欠陥、及び高い色堅牢度を有するポリオキシメチレン成形用組成物を提供する。 - 特許庁 - A micro-prober is bonded to a sample 2, and the sample 2 containing foreign matter supposed as a cause of defect is separated from the element forming part.
さらに、マイクロプローバを試料２に接着させて、不良の原因と考えられる異物を含む試料２を素子形成部から切り離す。 - 特許庁 - The vibration sensor (62) obtains (101) wideband signals (78) having frequencies including a bearing defect peak (94) of a monitored bearing (54).
振動センサ（６２）は、監視される軸受（５４）の軸受欠陥ピーク（９４）を含む周波数を有する広帯域の信号（７８）を獲得する（１０１）。 - 特許庁 - A conduct tube (104) includes a means for freely dropping the load object onto the test specimen (106) until the peel defect occurs from the height.
導管（１０４）には、荷重体を上記高さから試験片（１０６）に、剥離不良が発生するまで自由落下可能にする手段を含む。 - 特許庁 - To simply obtain a surface protection film which is excellent in surface protection of a semiconductor element and visibility of laser marking and has only a little defect.
半導体素子表面の保護特性およびレーザーマーキングによる視認性が優れ、かつ欠陥の少ない表面保護フィルムを簡便に得ること。 - 特許庁 - To provide a photomask making a large processing precision tolerance margin for a correction part of defects in HT mask defect correction.
ＨＴマスクの欠陥修正において、欠陥の修正部分の加工精度許容マージンを大きくすることができるフォトマスク等を提供する。 - 特許庁 - To provide a reference voltage generating circuit in which defect can be actualized without affecting to operation of an internal circuit in a burn-in acceleration test.
バーイン加速試験で内部回路の動作に支障を与えず不良を顕在化することができる参照電圧生成回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a process for manufacturing a silicon semiconductor wafer by which the defect density can be made very low and the silicon semiconductor wafer containing satisfying GOI can be produced.
欠陥密度を可能な限り小さくでき、かつ満足されるＧＯＩを含むシリコン半導体ウェーハを製造できるプロセスを提供する。 - 特許庁 - An operator can thereby recognize visually the connection condition between the elements in the network, and can find easily a defect in the network.
従ってオペレータは、ネットワークにおける要素間の接続状態を視覚的に認識でき、ネットワーク不良を容易に発見することができる。 - 特許庁 - She's a healthy 12yearold girl with a bum knee, not an i.v. drug user or someone with a congenital heart defect.
彼女は 膝を痛めただけの 健康な12歳の少女よ 静脈注射の薬物常用者でもないし 生まれつきの心臓障害でもない - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書 - To easily detect a defect that occurs when a desired pattern formed in a mold is transferred to a molding material to form a molded article.
モールドに形成された所望のパターンを被成形材料へ転写して被成形物を形成する際に発生する欠陥を容易に検出する。 - 特許庁 - To provide a pattern transfer method which attains high throughput by suppressing the occurrence of pattern defect in a step for removing a template from a resist.
レジストからテンプレートを離す工程において、パターン欠陥の発生を抑制し高スループットを実現するパターン転写方法を提供する。 - 特許庁 - In addition, the resist composition obtains a high resolution pattern since the dissolution speed is remarkably improved and can prevent substrate defect formation such as development inferiority.
また、溶解速度が著しく向上することから高解像度なパターンが得られ、現像不良などの基板欠陥形成を防止できる。 - 特許庁 - To eliminate defect such as a charge-discharge balance is not balanced and an engine speed varies, in a vehicle having a plurality of electric loads.
電気負荷を複数備えた車両において、充・放電収支が釣り合わない、エンジン回転速度が変動するといった不具合を解消する。 - 特許庁 - To provide high quality color filter without bright defect and color shading, etc. of a colored layer and to provide its manufacturing method.
本発明は、着色層の白抜けや色ムラ等がない、高品質なカラーフィルタおよびその製造方法を提供することを主目的としている。 - 特許庁 - To prevent an image defect caused by the faulty separation of paper from a drum because an image exists at the leading edge of paper at the time of forming a frameless image.
縁なし像形成時に紙先端に画像があることで、紙のドラム分離不良起因の画像不良が発生することを防止する。 - 特許庁 - To provide an image signal processing method for significantly increasing the compression rate, without causing a defect to the image quality, when producing a compressed image.
圧縮画像を作成する際、画質障害を起こすことなく、圧縮率を大幅に上げる画像信号処理方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide coated fuel particles with surely higher quality compared with conventional one, causing little defect in a thermally decomposed carbon layer for coating a fuel kernel.
燃料核に被覆される熱分解炭素層に欠陥が生じ難く、従来より確実に高品質の被覆燃料粒子を提供する。 - 特許庁 - DEFECT DETECTION METHOD AND APPARATUS FOR PROTRUDED PART OF OBJECT HAVING THE PROTRUDED PARTS OF THE SAME SHAPE AT SPECIFIED PITCH ALONG CIRCULAR ARC
円弧に沿って所定ピッチで同一形状の突出部を形成された物品の突出部の欠陥検出方法および欠陥検出装置 - 特許庁 - To provide a conductive paste capable of efficiently manufacturing a laminated ceramic electronic component without having any structural defect such as delamination or crack.
デラミネーションやクラックなどの構造欠陥のない積層セラミック電子部品を効率よく製造することが可能な導電性ペーストを提供する。 - 特許庁 - Therefore, composite processing device 4 compositely processes the binarization data, and can detect a defect on the surface of the inspecting object by light-dark detection.
このため、複合処理装置４は、前記２値化データを複合処理し、明暗検出により、前記被検査物の表面の欠陥を検出できる。 - 特許庁 - To provide a surface inspection device and a surface inspection method capable of detecting precisely even a micro defect depth, without being affected by a noise.
ノイズの影響を受けずに微小な欠陥深さでも高精度で検出できる表面検査装置および表面検査方法を提供する。 - 特許庁 - To suppress the generation of a defect or abnormal growth when for example, a diamond single crystal is synthesized from a gas phase and epitaxially grown.
例えばダイヤモンド単結晶を気相から合成してエピタキシャル成長させていくときに、欠陥や異常成長が生じるのを抑制する。 - 特許庁 - When a defect is not detected, the adjacent sector is not replaced, but as rewriting is performed, reliability of data of the adjacent sector is improved.
欠陥を検出できなければ隣接セクタの交替をしないが、先に再ライトをしているので、隣接セクタのデータの信頼性が向上している。 - 特許庁 - To deal with the problem of a defect caused by enlargement of area or an increment of faults in processing steps in a large-scale integrated circuit.
大規模集積回路構成の、面積を大きくすることによる欠陥や製造過程で生じる不良個所の増大に対応すること - 特許庁 - To provide a printed matter inspecting device capable of highly accurately marking a defect detected in printed matter at a predetermined location.
印刷物において検出した欠陥に対するマーキングを所定の位置で精度良く行なうことができる印刷物検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of fewer defect, high quality crystal of rare earth hexaboron which can grow at higher speed.
より高速での単結晶育成を可能にするとともに、欠陥の少ない良質な六ホウ化希土類単結晶を得る方法を提供する。 - 特許庁 - Hereby, the growth from the second surface is performed to cover the first surface 1, whereby defect density can be reduced.
これにより、第２の表面２からの成長が第１の表面１の成長に覆うように成長して、欠陥密度を低減させることができる。 - 特許庁 - To provide a display panel capable of preventing a display defect caused by a sealing material, and its manufacturing method.
本発明は、シール材により生じる表示不良を防ぐことが可能な表示パネル及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a surface coated cutting tool with a hard coating layer exhibiting excellent chipping resistance and defect resistance in high-speed intermittent cutting machining.
高速断続切削加工において硬質被覆層がすぐれた耐チッピング、耐欠損性を発揮する表面被覆切削工具を提供する。 - 特許庁 - The controller generates secondary defect information indicating a range of a peripheral area of the protrusive defective part detected by the detection module.
コントローラは、前記検出モジュールにより検出された凸状欠陥部の周辺エリアの範囲を示す補助的ディフェクト情報を作成する。 - 特許庁 - To provide a frictional agitation joining method and a frictional agitation joining device capable of joining at a high speed without generating a joining defect.
接合不良を生じさせないで高速で接合することのできる摩擦撹拌接合法及び摩擦撹拌接合装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an ashing apparatus having a novel structure that suppresses the generation of Si digging defect without a drop in throughput.
アッシング装置に関し、スループットを低下させることなくＳｉ掘られ欠陥の発生を抑制することが可能な新規な構成を提供する。 - 特許庁 - To provide a fixing device and an image forming apparatus, capable of suppressing a defect in an image caused by the deformation of a roll member.
ロール部材の変形に起因して生ずる画像の不具合を抑制することのできる定着装置および画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing fiber-reinforced plastic having no defect such as a wrinkle in the outside in the molding that uses the core and excellent in the appearance.
中子を用いた成形加工において、外面にシワなど欠陥がなく、外観に優れる繊維強化プラスチックの製造方法を提供する。 - 特許庁 - Among a plurality of ejecting parts, the content of the mask table produced based on the ejecting part with ejection defect is changed by a mask processing part 105.
複数の吐出部のうち、吐出不良が生じた吐出部に基づいて、生成されたマスクテーブルの内容をマスク処理部１０５で変更する。 - 特許庁 - The processing device is manually processed based on the defect prevention measures to improve the factors causing failures prior to production.
不良発生未然防止策に基づいて加工装置を人為的に処理して不良発生の原因となる要因を改善してから生産をする。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which forms an image free from an image quality defect, such as a color streak in a halftone image even when the apparatus is placed in a high temperature environment.
高温下に置かれることがあっても、ハーフトーン画像中の色筋という画質ディフェクトの無い画像を形成する画像形成装置。 - 特許庁 - To provide a compression molding method which sufficiently restrains or prevents a defect from being generated owing to a cutter mark of a synthetic resin workpiece (34).
合成樹脂素材（３４）のカッターマークに起因する欠陥の発生が充分に抑制乃至防止される圧縮成形方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a surface defect evaluation method of silicon wafers capable of simply detecting the regions where minute crystal defects exist.
簡便に微小な結晶欠陥の存在する領域を検出することが可能なシリコンウェーハの表面欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR INSPECTING/ANALYZING DEFECT AND INSPECTION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE PATTERN
半導体デバイスパターンの欠陥検査・不良解析方法、半導体デバイスパターンの欠陥検査・不良解析システム、および、半導体デバイスパターンの検査装置 - 特許庁 - To reliably detect a defect detection signal changing in short times in a high speed line via a low-cost device by reducing a load on data processing.
データ処理の負荷を軽減して、安価な装置により、高速ラインで短時間に変化する欠陥検出信号を確実に検出可能とする。 - 特許庁 - To accurately inspect an irregular defect throughout the whole area of a fluorescent screen by correcting degradation of luminance in the periphery of the fluorescent screen of a CRT panel.
ＣＲＴパネルの蛍光面の周辺での輝度の低下を補正し、蛍光面全域にわたって精度良く、ムラ状の欠陥を検査する。 - 特許庁 - To reduce a cost for radiographing the specific area, and to obtain a stable image causing no defect of an image of a boundary part of lens units.
一定面積を撮影するためのコストが低く、かつレンズユニットの境界部の画像欠落がなく安定した画像を得ることができる。 - 特許庁 - When two reference points are designated, measurement of the defect size is enabled, so that the complicated operation can be reduced to improve the operability.
２つの基準点を指定すれば欠損サイズの計測が可能となるので、操作の煩わしさを低減し操作性を向上することができる。 - 特許庁 - To provide a developing device that suppresses an image defect including density unevenness by ensuring proper amount of developer to be discharged even with developer having high aggregation degree.
現像剤の凝集度が高くなっても、現像剤が排出される量を適正にして、濃度ムラなどの画像不良を抑制する。 - 特許庁
- 特許庁
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