「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 180 181 182 183 184 185 186 187 188 .... 366 367 次へ＞- To securely detect a defect of an electronic component module used for a portable telephone, a GPS receiver, etc., at its final inspection stage (electric inspection).
携帯電話やＧＰＳ受信機などに用いられる電子部品モジュールにおいて、その不良を最終的な検査工程（電気検査）において確実に検出する。 - 特許庁 - To provide a continuous casting method of high-carbon/high-manganese steel blooms and billets which are free from the occurrence of breakout, and also there is no blow hole defect in the strand surface.
ブレークアウトの発生がなく、鋳片表層部にブローホール性欠陥の発生がない高炭素高マンガン鋼のブルームやビレットの連続鋳造方法の提供。 - 特許庁 - The pellicle has a pellicle material comprising synthetic quartz glass having ≤100 ppm concentration of OH groups and not substantially containing a reduced form defect.
ＯＨ基濃度が１００ｐｐｍ以下であり実質的に還元型欠陥を含まない合成石英ガラスからなるペリクル材を有してなることを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a simulator capable of avoiding an abnormal state of simulation operation even if a circuit description to be simulated has a defect.
シミュレーション対象の回路記述に不具合があっても、シミュレーション動作が異常状態に陥ることを回避することのできるシミュレータを提供する。 - 特許庁 - To eliminate face contact between a storage tray for a translucent sheet and the translucent sheet to reduce the generation of a defect influencing an image.
透光性板材収納用トレイと透光性板材との面接触を無くし画像に影響を与える欠陥の発生を低減することにある。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device and its test method in which a defect relieving process using an anti-fuse and a time required for its test process can be shortened.
アンチヒューズを用いた不良救済工程及びそのテスト工程に要する時間を短縮できる半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection apparatus for a magnetic tape enabling higher accuracy judgment and assortment of stripes on the magnetic tape which are heretofore impossible with the conventional apparatus.
従来装置では不可能であった磁気テープ上のスジのより精度の高い判定と仕分けが可能な磁気テープ欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electronic camera capable of preventing a defect of a transmission operation in advance by inhibiting the transmission operation of image data during operations related to photographing.
撮影関連動作時は画像データの送信動作を禁止することにより、送信動作の不具合を未然に防ぐことができる電子カメラの提供。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device that prevents a crystal defect from being generated when an LDD layer or halo layer is formed.
ＬＤＤ層又はハロー層を形成する際に結晶欠陥の発生を防止できるようにした半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - Then, the cluster affected by the same defect from an appearance pattern of past defective cluster is predicted and the data to be recorded on the cluster is alternated.
そこで過去の欠陥クラスタの出現パターンから同じ欠陥の影響を受けるクラスタを予測し、そのクラスタに記録されるべきデータを交替させる。 - 特許庁 - A method for controlling the flow rate of slurry and reducing defect density in the chemical mechanical polishing system (100) of a semiconductor wafer is provided.
半導体ウエハの化学的機械的研磨を行う研磨システム（１００）においてスラリ流量を制御し欠陥密度を低減させる方法である。 - 特許庁 - OPTICAL INSPECTION DEVICE HAVING LENS UNIT WITH AT LEAST A PAIR OF BEAM PATHS INSIDE, AND METHOD OF DETECTING SURFACE DEFECT OF SUBSTRATE USING SAME
内部に少なくとも一対のビーム経路を有するレンズユニットを具備する光学的検査装置及びこれを用いて基板の表面欠陥を検出する方法 - 特許庁 - Then, the defect inspection apparatus is composed so that defects in the part to be inspected are inspected, based on the result of addition and computation by the signal processing means.
そして、その欠陥検査装置を、前記信号処理手段による加算演算の結果を基に前記被検査箇所の欠陥検査を行うように構成する。 - 特許庁 - Furthermore, since the inside and the outside of the housing are electrically connected via a through-hole, insulation defect is not caused even if the electrode spacing is narrow.
また、貫通孔を介して筐体内部と外部を電気的に接続することにより、電極間隔が狭い場合でも、絶縁不良を起こさない。 - 特許庁 - To provide a crucible for the growth of a SiC single crystal for producing a high quality SiC single crystal wafer which is reduced in transfer defect and has a large diameter, with high reproducibility.
転位欠陥の少ない良質の大口径SiC単結晶ウェハを再現性良く製造するための、SiC単結晶育成用坩堝を提供する。 - 特許庁 - To obtain a setting coating composition which has no defect by a conventional technique, and comprises a carbamate functional material and/or a urea-functional material.
公知技術による欠点を有しない、カルバメート−官能性材料及び／又は尿素−官能性材料を含有する硬化性被覆組成物を得る。 - 特許庁 - To provide a spontaneous light emission display module capable of giving notice to a user immediately in the case that a pixel of a light emission display panel has a defect.
発光表示パネルの画素に欠陥が発生した場合に、早急にユーザに対して報知することができる自発光表示モジュールを提供すること。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic wave probe that can evaluate deterioration in a subject and soundness of a subject surface layer part and detect the directionality of a defect.
被検体の劣化度評価と被検体表層部の健全性評価と欠陥の方向性を検出することができる超音波プローブを提供する。 - 特許庁 - The undercoat of the light shielding layer is subjected to a third etching process by using the light shielding layer and the resist pattern for correction as a mask to correct the excess defect.
遮光層及び修正用レジストパターンをマスクにして遮光層の下層に対して第３のエッチング処理を施し余剰欠陥箇所を修正する。 - 特許庁 - To reduce a defect of causing an undesirable increase in dynamic rigidity on a frequency of a resonance frequency or more of a conventional vibration control device.
従来型の防振デバイスの共振振動数以上の振動数に関する動的剛性において望ましくない増加を引き起こすという欠点を軽減する。 - 特許庁 - Then, the carbonation reaction uniformly runs, the curing defect or the deformation of the plate body is suppressed, and the excellent quality compound is manufactured.
これらにより、炭酸化反応を均一に行わせて、養生不良や板体の変形を抑制し、良好な品質の成形材料を製造することができる。 - 特許庁 - To provide an electrode pattern forming method by an offset printing, in which a feathering defect developing at the printing of an electrode pattern by the offset printing is solved.
オフセット印刷により電極パターンを印刷するときに生じるひげ欠陥を解消したオフセット印刷による電極パターンの形成方法を提供する。 - 特許庁 - The defect correction part 45 refers to colors, densities and the like of peripheral pixels and corrects the pixel (region) decided as a defective region into proper image.
欠陥修正部４５は、欠陥領域と判定された画素（領域）を周辺の画素の色、濃度等を参照して適正な画像に修正する。 - 特許庁 - To provide a method for easily obtaining an anisotropic substance consisting of a partial structure which is free of an alignment defect and has high resolution and different optical anisotropy.
配向欠陥がなく、解像度の高い異なった光学異方性を有する部分構造からなる光学異方体を、簡便に得る方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a display panel in which the leakage between a correction wiring and a data signal line due to step defect, in a lighting inspection step, can be detected surely.
工程不良による修正配線とデータ信号線との間でのリークを点灯検査段階で確実に検出することのできる表示パネルを実現する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of an organic EL display device in which high brightness can be maintained for a longer period, while surely repairing the defect part.
欠陥部を確実に修復しつつ、高い輝度をより長期間維持することができる有機ＥＬ表示装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a stable laser oscillation device by making a discharge smooth without raising a discharge start voltage even in case of a mixing ratio defect of laser gas.
レーザガスの混合比不良が発生した場合でも放電開始電圧を上昇させずに放電を円滑にし、安定したレーザ発振装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an authentication system for preventing in advance occurrence of a defect or a fault due to connection of a forged apparatus not provided with prescribed performance and standards.
所定の性能、規格を備えない偽造の装置が接続されることによる不具合や事故の発生を未然に防止する認証システムを提供する。 - 特許庁 - Since there is no step difference on the surfaces of the electronic component and first base material 122, such a defect as bulging or depression will not take place from the appearance viewpoint.
よって、電子部品と第１基材１２２の表面とに段差が無いことから外観上、膨れや凹み等の不良が生じることは無い。 - 特許庁 - To provide a compressor where the generation of the defect in the operation of a gate member caused by the remaining pressure of a briquette can be prevented without reducing operation efficiency.
稼働効率を低下させることなく、ブリケットの残圧に起因してゲート部材の作動不良を生じるのを防止することができる圧縮機を提供する。 - 特許庁 - To provide a germinating device capable of solving a conventional defect in the germination of grains and plant seeds by working out the way of using warm water.
穀物及び種子の発芽を、温水の使い方を工夫することにより、従来の欠点を解決することができる発芽装置を提供する。 - 特許庁 - Electron beam is further irradiated to the high-resistance region 12 to form a crystal defect for making the thermal characteristic of forward direction voltage negative.
高抵抗領域１２にはさらに、順方向電圧の熱特性を負にする種類の結晶欠陥を形成するために電子線が照射されている。 - 特許庁 - To get rid of aligmnent defect of liquid crystal molecules and to provide a method for manufacturing a liquid crystal display with high display quality and high reliability at a low cost.
液晶分子の配向不良をなくし、表示品位が高く高信頼性を有する液晶表示素子を安価に製造する方法を提供する。 - 特許庁 - To allow defect detection with a high S/N ratio without using plural magnetizers, and without adding a complicated function.
複数の磁化器を使用せず、かつ複雑な機能を付加することなく、Ｓ／Ｎ日の高い欠陥検出能を有する漏洩磁束探傷法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a semiconductor device capable of improving gate withstand voltage decline defect in the semiconductor device provided with a top gate type structure.
トップゲート型構造を有する半導体装置において、ゲート耐圧低下不良を改善できる半導体装置の製造方法を提供すること - 特許庁 - To reduce a defect (for instance, displacement) of a metamorphic substrate growing an InP-based semiconductor device by using a compression strain layer and a tensile strain layer.
圧縮歪層と引張歪層とを利用して、ＩｎＰ系半導体デバイスを成長させるメタモルフィック基板の欠陥（例えば転位）の低減を可能にする。 - 特許庁 - To adjust exposure etc. of a drawing device by detecting a defect produced corresponding to variation of a state of a resist or the drawing device, in forming a photomask.
フォトマスクの作成に際しレジストや描画装置の状態の変化に対応して発生している欠陥を検知し、描画装置の露光量などを調整する。 - 特許庁 - To improve merchantability of a ball by forming a pattern with the sense of depth on the ball while suppressing the molding defect of the ball.
ボールの成形不良を抑制しながら、ボールに奥行き感や深み感のある模様を形成できるようにしてボールの商品性を向上させる。 - 特許庁 - To produce a quartz glass worked component at low cost by making defect parts generating in the hot forming small and improving the production efficiency and yield.
熱間成形をする際に発生する不良部を小さくし、生産効率・歩留まりを高くして、低コストで石英ガラス加工部品を製造できるようにする。 - 特許庁 - Even if the defect is generated during the molding, only the primary board 33 of the screen can be disposed of as a failure article and the waste of a material can be reduced.
また、たとえ成形時に欠陥が生じたとしても、その画面前置板３３だけを不良品として処理すればよいので、資材の無駄も小さくできる。 - 特許庁 - To provide an image forming method that forms an image in decoration color and also suppresses image defect in the formed image.
装飾色による画像を形成することができ、しかも、形成された画像を画像欠損の抑制されたものとすることができる画像形成方法の提供。 - 特許庁 - To provide a method of treating semiconductor wafers which annihilates pit defects in order to prevent the operation defect of semiconductor devices and to improve the yield of production.
半導体デバイスの動作不良を防止し、製造の歩留まりを向上させるために、ピット欠陥を消失する半導体ウエハの処理方法を提供する。 - 特許庁 - To remove a defect of the conventional method for managing or controlling a height position of a piled sheet in a paper feeder of a sheet work machine.
シート加工機械の給紙装置内の積み重ねられたシートの高さ位置を制御又はコントロールする従来の方法の欠点を取り除くこと。 - 特許庁 - To provide a soldering method which can simplify a process and can prevent a defect of joining in electronic component mounting.
電子部品実装において工程簡略化を可能とするとともに接合不良を防止することができる半田付け方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The inspection unit blocks are all the same size and area, and their size is determined so it can be covered by performance of defect inspecting devices used in a manufacturing line of the device.
また、検査単位ブロックは全て同じ寸法面積で、その大きさはデバイスの製造ラインで使用される欠陥検査装置の性能が及ぶ程度にされる。 - 特許庁 - To improve the productivity of a solid-state electrolytic capacitor and to reduce a defect in connection between an anode lead and an anode terminal and bending of the anode terminal.
固体電解コンデンサの生産性を向上させると共に、陽極リードと陽極端子の接続不良や陽極端子の折れ曲がりを生じにくくする。 - 特許庁 - A surface defect detector 3 is provided on an inspection line and the surface defects of a cold-rolled steel sheet 1 are detected and input to a marking controller 5.
検査ラインには表面欠陥検出器３が設けられ、冷延鋼板１の表面欠陥を検出してマーキング制御装置５に入力する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor device where cost reduction of an element separation forming process, stabilization of a shape and suppression of a defect are performed simultaneously.
素子分離形成工程の低コスト化と形状の安定化及び欠陥の抑制を両立する半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - When a defect occurs in the normal memory cell MC and the dummy memory cell DMC, each memory cell column is replaced for repair by a redundant column 11C.
正規メモリセルＭＣおよびダミーメモリセルＤＭＣに不良が生じた場合には、冗長コラム１１Ｃによるメモリセル列単位での置換救済が行なわれる。 - 特許庁 - To provide a display device capable of further improving display quality by removing a line defect causing a first pixel row to become brighter or darker than other pixel rows.
先頭の画素行が他の画素行より明るく又は暗く見えるライン不良を除去して表示品質を更に向上可能な表示装置を提供する。 - 特許庁
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