「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 184 185 186 187 188 189 190 191 192 .... 366 367 次へ＞- To produce a large-size large-area and high-quality group-III nitride crystal having a practical size and having more reduced defect density compared to a conventional crystal.
従来よりもより一層、欠陥密度が低減された、実用的な大きさの大型，大面積の高品質なＩＩＩ族窒化物結晶を作製する。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of an image defect associated with environmental change and the change of transfer impedance caused by the kind of transfer material and the individual difference of a transfer member.
環境の変化や、転写材の種類、転写部材の個体差などによる転写インピーダンスの変化に伴う画像不良の発生を防止できるようにする。 - 特許庁 - By computing two signals of them, it is possible to cancel a noise component commonly contained in them and perform defect detection with a satisfactory signal-to-noise ratio.
この２つの信号を演算することにより、両者に共通に含まれるノイズ成分をキャンセルすることができ、Ｓ／Ｎ比の良い欠陥検出が可能である。 - 特許庁 - To provide a means for detecting a bonding defect by a simple configuration in a semiconductor device where a plurality of pads having the same function are disposed.
同一機能を有する複数のパッドが配設された半導体デバイスにおいて、ボンディング不良を簡便な構成にて検出する手段を提供する。 - 特許庁 - To correctly inspect the discharge state of a nozzle without requiring a complicated mechanism and to enhance treating efficiency by performing detection before occurrence of the defect of the nozzle.
複雑な機構を要することなくノズルの吐出状態を正確に検査し、ノズルが不良になる前に検出して処理効率の向上を図る。 - 特許庁 - To provide an ink-jet printer capable of simply and inexpensively executing purging processing in a mode corresponding to the degree that a user thinks of a defect of recording results.
簡単かつ安価に、使用者が考える記録結果の不良の程度に応じた態様のパージ処理を行うことができるインクジェットプリンタを提供する。 - 特許庁 - When a determination signal showing non-conformity is output from the comparison circuit 19, a logic simulator 11 determines that a defect is occurred in the hardware 13.
そして、論理シミュレータ１１は、比較回路１９から不一致を示す判定信号が出力されるとき、ハードウェア１３に不具合があると判断する。 - 特許庁 - To cope with detection/classification of a defect on different patterns photographed at different places of an inspection object, and to improve accuracy of an automatic classification result.
検査対象物の異なる場所で撮影した違うパターン上の欠陥の検出・分類に対応し、なおかつ自動分類結果の精度を向上させる。 - 特許庁 - A wafer boat 161 having a dielectric precursor layer formed is loaded into the thermal processing apparatus 101 at a speed at which no defect is produced in wafer W.
次に熱処理装置１０１内にウエハＷに不良が生じない速度で、誘電体前駆体層が形成されたウエハボート１６１をロードする。 - 特許庁 - To provide an electrooptical liquid crystal, especially an IPS display having no or decreased defect of conventional technology and provide a liquid crystal medium useful for the display.
従来技術の欠点がない、または減少された電気光学液晶ディスプレイ特にＩＰＳディスプレイおよびこのディスプレイに有用な液晶媒体の提供。 - 特許庁 - The carrier density of the defect cluster 14a of the semiconductor laser 50 is high and its electrical resistance is significantly decreased.
この半導体レーザ５０の欠陥集合部１４ａは、結晶欠陥が多いことから、キャリア濃度が高くなっており、電気抵抗が有意に低減されている。 - 特許庁 - To suppress the succession of the defect growth of the micro pipe in the seed crystal on its whole faces into the silicon carbide single crystal.
種結晶の全面において、種結晶中のマイクロパイプ欠陥が成長させる炭化珪素単結晶中へ承継することを抑制できるようにする - 特許庁 - To provide a semiconductor defect analysis support device which supports improvement of fail bit map preparation efficiency in the test device of a semiconductor device, and a support method.
半導体デバイスのテスト装置におけるフェイルビットマップ作成効率の向上を支援する半導体不良解析支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of an organic EL element having no defect and no unevenness by forming a film repelling no ink and having a uniform film thickness.
インキのはじき等がなく膜厚均一性に優れたな膜形成を行うことで、欠陥やムラのない有機ＥＬ素子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - It is checked for the image after the combination at which coordinate position and how many times defect pixels of the images depending upon deficit pixels of a CCD are overlapped during combination.
合成後の画像について、ＣＣＤの欠陥画素に応じた各画像のキズ画素が、合成時にどの座標位置に、何回重ね合わされたかを確認する。 - 特許庁 - To provide a developing device which supplies toner satisfactorily, does not cause the image defect for a long period of time and can be made small-sized.
トナー補給を良好に行って長期間に亘って画像不良の生じることがなく、しかも小型化可能な現像装置を提供すること。 - 特許庁 - To reduce image degradation even in a state where pixel defect in an OB pixel region causes image degradation without changing the structure of an image sensor.
撮像素子の構造を変えることなく、ＯＢ画素領域の画素欠陥によって画質劣化が起きるような状況下においても、画質劣化を軽減する。 - 特許庁 - To provide a method for treating a copper or copper alloy substrate surface with a composition and corrosion inhibitor solution to minimize defect formation and surface corrosion.
組成物及び腐食防止溶液を用いて銅又は銅合金を備える基板表面を処理して欠陥形成及び表面腐食を最少化すること。 - 特許庁 - Therefore, the pattern hole 12a is covered with the paste film P* and the printing defect resulting from drying of the paste P in the pattern hole 12a is prevented.
これにより、パターン孔１２ａをペースト膜Ｐ＊で覆うことができ、パターン孔１２ａ内のペーストＰの乾燥に起因する印刷不良を防止することができる。 - 特許庁 - Therefore, parts whose use periods are expired are prevented from being used in the production line 11 so that the defect production rate is lowered.
よって、使用期限切れとなった部品が生産ライン１１において使用されることを防止することができ、生産不良率を下げることができる。 - 特許庁 - Thus, since the core wire can be inspected from a plurality of directions, it can be certainly inspected whether there is a strand defect in the core wire or not.
これにより、複数の方向から芯線を検査することができるから、芯線に素線の欠損があるかないかを確実に検査することができる。 - 特許庁 - To provide a new industrially useful acrylic resin film which has characteristics excellent in transparency, heat resistance, defect-free property and processing characteristics.
透明性、耐熱性、無欠点性および加工特性にともに、優れた特性を有する新規かつ工業上有用なアクリル樹脂フィルムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a resin compound which is a raw material of a printing plate for laser engraving which enables production of a printing plate superior in resolution without causing printing defect.
印刷不良を生じずかつ解像度に優れた印刷版を製造できるレーザー彫刻用印刷原版の原料となる樹脂組成物を提供する。 - 特許庁 - To easily and properly judge defects in a defect judging device to judge the defects of an element constituting a radiographic solid-state detector.
放射線固体検出器を構成する素子の欠陥を判定する欠陥判定装置において、簡易且つ適正に欠陥を判定できるようにする。 - 特許庁 - To provide a method and a system estimating whether a defect detected in a test of a gas turbine engine is related to a performance problem of the engine or not.
ガスタービンエンジンの試験において検出された欠陥がエンジンの性能問題に関連するのか否かを評価する方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - To avoid a transfer defect caused by a seam part of a flat plate-shaped metal mold when servo pattern layers are continuously manufactured using a roll-shaped stamper.
ロール状スタンパを使用して連続してサーボパターン層を製造する場合に、平板状金型の継ぎ目部に起因する転写欠陥を回避する。 - 特許庁 - To provide a cross shaft coupling which prevents its durability from lowering, while preventing the transmission defect of torque, and also to provide a steering system for a vehicle.
トルクの伝達不良を防止しつつ耐久性の低下を抑制することができる十字軸継手、及びこれを用いた車両用操舵装置。 - 特許庁 - After normalization of a level of a reproduced RF signal, a frequency component of recorded data is eliminated, and plus and minus defect are put in the same quadrant by performing full-wave rectification.
再生ＲＦ信号のレベルを正規化後、記録データの周波数成分を除去し、全波整流してプラスとマイナスのディフェクトを同一象限にする。 - 特許庁 - To provide a defect detection method and device which can easily detect defects, and can detect even defects at a corner part of an object to be inspected.
被検査物の隅部であっても欠陥を検出でき、かつ、欠陥を容易に検出することができる欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent such a defect from occurring that a crack occurs in and near a stopper surface even if an impact force generated when a hood is closed is large.
フードを閉める際の衝突力が大きい場合であっても、ストッパ面及びその近傍に亀裂が発生する等の不具合が生じることを防止する。 - 特許庁 - To shorten the time for a visual inspection by an inspector by digitizing the result of the inspection of the distribution of the defect of a semiconductor element by analyzing the distribution by a computer.
半導体素子の欠陥の分布をコンピュータで解析してその検査結果を数値化し、検査員による目視検査の時間を短縮する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an optical waveguide in which an electromagnetic wave irradiation for generating a glass defect is performed for a necessary and sufficient period of time.
ガラス欠陥生成用の電磁波照射を必要十分な時間にわたって行うことができる光導波路製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor light emitting device which has a sufficient lifetime and high reliability and which can reduce the defect ratio and to provide a method for manufacturing the same.
充分な寿命を有し、不良品率を低減することが可能な、信頼性の高い半導体発光装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent that printing is halfway suspended or that printing defect occurs by lack of printing ink, and to allow a user to select optimum print.
印刷インクが不足して、印刷が途中で中断されたり、印刷不良が発生するのを防止し、ユーザが最適の印刷を選択できるようにする。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a separator for an electric storage device which has less defect such as a thin part or a pin hole, and can exhibit excellent safety and flatness.
薄肉部やピンホールといった欠点部分が少なく、安全性と平面性に優れた蓄電デバイス用セパレータの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a suggestion for manufacturing method of a Silicon on Insulator (SOI) substrate, capable of sufficiently suppressing a defect such as air void caused in lamination of substrates.
エアボイドなどの貼り合わせに起因する欠陥を十分に抑制できるＳＯＩ基板の作製方法を提案することを目的の一とする。 - 特許庁 - To provide an electrophotographic device where an image defect is not generated by electrification lateral cord from the initial time to the end of endurance even after it is stored on a severe condition.
苛酷な条件で保管した後も初期から耐久後まで、帯電横スジによる画像欠陥が発生しない電子写真装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a polylactic acid resin composition having extremely improved heat resistance which is a defect of the polylactic acid resin, and capable of being produced by a simple process.
ポリ乳酸樹脂の欠点であった耐熱性が大幅に向上され、かつ簡易なプロセスで製造し得るポリ乳酸樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁 - To provide a positive resist composition that forms a resist pattern in which defect is suppressed, with good lithography characteristics, and to provide a resist pattern forming method.
ディフェクトの発生が抑制されたレジストパターンを良好なリソグラフィー特性で形成できるポジ型レジスト組成物およびレジストパターン形成方法を提供する。 - 特許庁 - To acquire not only the position of a defective portion of an inspected body but a defect quantity thereof with high accuracy, as to a method of inspection using a guided wave.
ガイド波を用いた検査方法において、検査体の欠損部分の位置だけでなく、その欠損量を高精度に得ることができるようにする。 - 特許庁 - To provide a printed circuit board capable of preventing a defect wherein a liquid is absorbed by a base insulating layer, and to provide a fuel cell having the printed circuit board.
ベース絶縁層に液体が吸収されることによる不具合が防止された配線回路基板およびそれを備えた燃料電池を提供する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method capable of relatively easily determining a threshold even when a new product type is added to a manufacturing line.
製造ラインに新たな製品種別が追加された場合であっても、比較的容易にしきい値を決定することができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultrasonic flaw detection method which quickly grasps the dimensions of a detected defect and improves the accuracy of the dimensions.
検出された欠陥の寸法を迅速に把握することができ、且つその寸法の精度を向上させることができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁 - To provide: a solid-state imaging device that suppresses deterioration in pixel characteristics due to a crystal defect caused in a silicon layer; a method of manufacturing the same; and a camera.
シリコン層に結晶欠陥が生じて画素特性が悪化を抑制する固体撮像装置とその製造方法並びにカメラを提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming method capable of acquiring a stable image quality without generating an image defect, even in use of various types of transfer materials.
多種多様な品種の転写材の使用においても画像欠陥を生じることなく、安定した画像品質を得ることができる画像形成方法の提供。 - 特許庁 - To prevent a search time from being increased, even in selection field search for searching a specific field of a defect list of a recording disk partially.
記録ディスクの欠陥リストの特定フィールドを部分的に探索する選択フィールド探索の場合にも、検索時間が長期化する可能性を軽減する。 - 特許庁 - To provide an information processing method in which highly reliable data can be obtained even if there is a defect in one portion of data stored in storage means.
記憶手段に記憶されたデータの一部に不具合が発生しても、信頼性の高いデータを取得できる情報処理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a PPS composite film having little surface defect and showing excellence in surface smoothness and mold releasability, and to provide the PPS composite film.
表面欠陥が少なく、表面平滑性、離型性に優れたＰＰＳ複合フィルムの製造方法及びＰＰＳ複合フィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for defect inspection, capable of reliably detecting defects regardless of the kind of the defects, and to provide a method of manufacturing a pattern substrate.
欠陥の種別によらず、確実に欠陥を検出する欠陥検査装置、欠陥検査方法、及びパターン基板の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a reference signal generation device which enhances protection of a customer changeable parameter and facilitates restoration with respect to a parameter write defect and the like.
顧客変更可能なパラメータの保護を強化し、パラメータ書き込み不良等に対する復旧を容易にできる基準信号発生装置を提供する。 - 特許庁
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