「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 187 188 189 190 191 192 193 194 195 .... 366 367 次へ＞- To provide a data driving method and device for a liquid crystal panel that can prevent a boundary line defect between pixel blocks driven in block sequence.
本発明はブロック順次に駆動される画素ブロック間の境界線不良を防止することができる液晶パネルのデータ駆動方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a pixel defect detection method that can properly detect pixel defects, while taking characteristics of pixels into account, and to provide an electronic camera adopting the method.
画素の特性を考慮した上で、適切な画素欠陥を検出できる欠陥画素検出方法及びそれを用いた電子カメラを提供する。 - 特許庁 - To eliminate a restoration defect which is a problem in a conventional timer by arranging restoration voltages of a time limit circuit, an output relay and a thyristor for drive at the same levels.
時限回路，出力リレー，駆動用サイリスタの復帰電圧を同じレベルに揃えて従来のタイマーで問題となっていた復帰不良を解消する。 - 特許庁 - Accordingly, defect inspection can be performed in the state where a pattern of a polycrystal is not reflected on the image and a density image can be acquired only from a defective spot.
このことにより、多結晶体の模様が画像に映ることがないようにし、欠陥個所のみ濃淡のある画像を得ることにより欠陥検査を行う。 - 特許庁 - Liquid silicone rubber composition 6 excellent in adhesive property and fluidity is poured into a void (defect) 4 of the organic insulator sheath 3 and cured.
有機絶縁材外被３のボイド（欠陥部）４に接着性および流動性に優れる液状のシリコーンゴム組成物６を注入し硬化させる。 - 特許庁 - If a defect develops in a recording layer when manufacturing a disk, the usable layer information is included in the BCA information and recorded in the BCA.
ディスク製造時に何れかの記録層に欠陥が生じた場合、これを示す使用可能レイヤー情報がＢＣＡ情報に含まれてＢＣＡに書き込まれる。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device which prevents the deterioration of production yield, prevents the occurrence of defect and has high reliability.
製造歩留まりの低下を防止するとともに、欠陥の発生を防止して信頼性の高い液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To aim at improvement of image recognition when a defect of a pin mounted on a base is detected by an image processing so as to enhance accuracy and efficiency of pin inspection.
画像処理によって、口金に取り付けられたピンの不良を検出する場合の画像認識性向上を図り、ピンの検査の精度、効率を高める。 - 特許庁 - Consequently, a defect of the print mask or the like can be detected properly beforehand, and production of a defective product can be prevented effectively.
よって、事前に印刷マスクなどの不良を適切に検出することができ、不良品が生産されてしまうことを効果的に防止することが可能となる。 - 特許庁 - To prevent a defect in joining, etc., due to non-fusion of solder on a lower surface of a semiconductor device when a leadless type semiconductor device is soldered without contacting.
リードレス型の半導体装置を非接触ではんだ付けする際に、半導体装置下面のはんだ未溶融による接合不良等を防止する。 - 特許庁 - To provide a mask inspection method and an apparatus therefor in which a defect can be detected stably even in a region where surface roughness varies.
表面ラフネス（roughness）が変化している領域においても、安定して欠陥を検出することができるマスク検査方法およびその装置を提供する。 - 特許庁 - This analyzer includes the analytical tool 202 for for imaging a defect on a sample, and for generating a high-resolution image, and a display unit 211.
装置は、前記試料上の欠陥を画像化し、高解像度画像を生成するよう構成された分析ツール（２０２）、およびディスプレイ装置（２１１）を含む。 - 特許庁 - To suppress deterioration in sensitivity in imaging without causing a state similar to a pixel defect in the imaging while focus state detection is possible.
焦点検出が可能でありながら、撮像時に画素欠陥と同様の状態を引き起こすことがなく、しかも、撮像時の感度の低下を抑制する。 - 特許庁 - A EWS2 for analyzing data performs automatically fatal defect automatic extracting processing based on FBM information totalized by a computer 1A for test.
データ解析用ＥＷＳ２はテスタ用コンピュータ１Ａで集計されたＦＢＭ情報に基づき、致命不良自動抽出処理を自動的に行う。 - 特許庁 - To shorten the access time of a semiconductor memory having a redundant circuit for relieving the defect of a memory cell area.
本発明は、メモリセル領域の不良を救済するための冗長回路を有する半導体メモリに関し、アクセス時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁 - To improve inspection precision of a PTP sheet by reducing effects of continuous mesh on the surface of the PTP sheet on defect inspection of the sheet.
ＰＴＰシートの表面上にある連続的なメッシュがシートの欠陥検査に及ぼす影響を少なくし、ＰＴＰシートの検査の精度を上げることができる。 - 特許庁 - When necessity of relieving defect is tested, a low level is applied externally to the pad electrode PD, the n-channel field effect transistor TN0 is made an off-state.
欠陥救済の要否を検査する場合、パッド電極ＰＤに外部からロウレベルが印加され、ｎ型電界効果トランジスタＴＮ０がオフ状態とされる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device manufacturing method which inhibits a defect where the circumference of a semiconductor device is broken off, and to provide a semiconductor wafer.
半導体ウエハの周縁部が欠けてしまう不具合を抑制した半導体装置の製造方法及び半導体ウエハを提供することにある。 - 特許庁 - To provide a defect inspection device capable of replenishing the learning pattern of a neural network and capable of enhancing the recognition ratio to non-learned data.
ニューラルネットワークの学習用パターンの不足を補い、また、未学習データに対する認識率を高めることができる欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁 - In this defect inspection method, while moving a wafer, illumination having each different illuminance is irradiated to each measuring domain on the wafer (S1), and each measuring domain is imaged (S2).
ウェハを移動させながら、ウェハの各測定領域に対して異なる照度の照明を照らし（ステップＳ１）、各測定領域を撮像する（ステップＳ２）。 - 特許庁 - The occurrence of a pit of an epitaxial film 14 is restrained to decrease the surface defect of the film 14 even though the oxide film ends because of a problem in the ion implantation.
また、イオン注入の不具合で酸化膜が途切れても、エピタキシャル膜１４のピットの発生が抑制され、膜１４の表面欠陥が低減される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory and its test method which can detect a cell in which operation defect occur at the time of long-write in a short time.
ロングライト時に動作不良が発生するセルを短時間に検出することができる半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device with excellent electric characteristics by solving the problem in which: hydrogen existing in an oxide semiconductor of a transistor leads to a defect in electric characteristic of the transistor.
酸化物半導体を用いるトランジスタにおいては、酸化物半導体内に水素が存在することでトランジスタの電気特性不良に繋がる。 - 特許庁 - To provide an apparatus for producing a golf ball which is capable of ameliorating a tension defect, lessening rubber thread breakage and improving the quality of a rubber thread wound core.
テンション不良を改善し、糸ゴム切れを低減すると共に、糸巻コアの品質向上を図り得るゴルフボールの製造装置を提供することにある。 - 特許庁 - As path of electrons is not concentrated to a specific position of a tunnel oxide film, trap and defect due to movement of electrons are not caused in a tunnel oxide film.
電子の経路がトンネル酸化膜の特定の位置に集中しないので、電子の移動によりトンネル酸化膜にトラップや欠陥が発生しない。 - 特許庁 - In the fail safe mode, when a defect is detected in verify-operation after data is written in the flash memory, error correction is performed and use of the flash memory is continued.
フェイルセーフモードでは、フラッシュメモリにデータを書き込んだ後のベリファイ動作において不良を検出すると、エラー訂正してフラッシュメモリの使用は継続される。 - 特許庁 - To compensate the presence of a defect in the p-well ion-implant process step, enhance manufacturing yield of semiconductor devices, and reduce device unit cost.
ｐ−ウェルイオン注入プロセスステップにおける欠陥の存在を無力化し、半導体デバイスの製造歩留りを向上させ、デバイス単価を低下させる。 - 特許庁 - To provide such a solid electrolytic capacitor that a material constituting a cathode lead-out conductor layer never comes into direct contact with a defect part.
欠陥部分に陰極引出し導電体層を構成する材料が直接接触することのない固体電解コンデンサを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide such a method for administering nutrient matter which obviates the occurrence of a difference in nutrient states between animals and prevents the attainment of low nutrient states by feed intake defect.
動物間で栄養状態に差が生じたり、摂餌不良によって低栄養状態にならないような栄養物質の投与方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an SOS (silicon on sapphire) substrate reduced in surface defect density by solving a problem that defective density increases due to incompatibility in a lattice constant between silicon and sapphire.
シリコンとサファイアとの格子定数の不適合に起因して欠陥密度が増大する問題を克服し欠陥密度が小さいＳＯＳ基板を提供する。 - 特許庁 - Therefore, laser misirradiation due to a reset defect due to LSI malfunction and a performance address change of the program can be prevented or stopped.
したがって、ＬＳＩ誤動作によるリセット不良および上記プログラムの実行アドレス変化に起因するレーザー誤照射を、防止または停止できる。 - 特許庁 - To provide a golf club shaft excellent in surface smoothness, excellent in designability wherein appearance defect such as peeling does not occur, and excellent in mechanical properties.
表面平滑性に優れ、剥がれ等の外観不良を生じることのない意匠性に優れ、且つ機械的特性に優れたゴルフクラブシャフトを提供する。 - 特許庁 - To obtain an epitaxial wafer for a GaN field effect transistor in which a defect is less in one time growth on a sapphire substrate and which has high gate-drain resistance.
サファイア基板上への一回の成長で欠陥が少なくゲート−ドレイン耐圧の高いＧａＮ系電界効果トランジスタ用エピタキシャルウェハを得ること。 - 特許庁 - To provide a polyester film which causes neither unevenness nor a defect, realizes high luminance and enables to give a high-quality image when used as a lens sheet substrate.
レンズシート基材として使用した際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現し、高品質な画像を与えることができるポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁 - An IC chip reader 62 reads the defect portion information from the wireless IC chip, and inputs it to a laminate process control part for controlling whole of a laminate device 20.
ＩＣチップリーダ６２は、無線ＩＣチップから欠点部位情報を読み取って、ラミネート装置２０全体を制御するラミネート工程制御部に入力する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device capable of easily finding a defect due to division exposure in an early stage, its manufacturing method and a mask for the division exposure.
分割露光に起因した不良を早期に簡便に発見することが可能な半導体装置とその製造方法、及び露光用マスクを提供すること。 - 特許庁 - A light beam reflected at the welding zone is detected by a photo sensor when the laser beam is radiated and the welding defect is decided by analyzing the wave form of the reflected light.
レーザー照射時に溶接部からの反射光を光センサーで検知し、反射光の波形を解析することで溶接欠陥を判定する。 - 特許庁 - In the case that the read control part 112 detects the transport defect of the original, the output processing part 116 displays the detection result at the display part 118 or the like.
出力処理部１１６は、読取制御部１１２が原稿の搬送不良を検出した場合に、その結果を表示部１１８等に表示させる。 - 特許庁 - To detect simply and surely a failure of a circuit pattern such as a defect or a minute flaw, concerning a printed circuit board having a trend of miniaturization and densification.
小型化・高密度化が進むプリント基板において、回路パターンの瑕疵や微細な傷等の不良を簡単且つ確実に検出することができるようにする。 - 特許庁 - To provide an optical semiconductor device which prevents the generation of short-circuit defect due to the creep up of bonding material for an optical semiconductor element.
光半導体素子に対する接合材の這い上がりによるショート不良の発生を防止することができる光半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device with high reliability by preventing poor short circuit between electrodes due to a pinhole and a defect of an interlayer insulating film.
層間絶縁膜のピンホールや欠陥に起因する電極間の短絡不良を防止して、高信頼性を有する液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - Further, defect in the direction of Y line and X line is considered from the maximum capability decided by substitution capability of Y line and X line to zero.
さらに、Ｙライン及びＸライン置換能力で決定される最大能力からゼロにかけてＹライン及びＸライン方向の不良を考慮する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which can effectively inhibit a defect having ocurred in a substrate and has good performance, and its manufacturing method.
本発明の目的は、基板に生じる欠陥を効果的に抑制でき、性能の良好な半導体装置及び製造方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide shift information, considering a mode of action, which can generate particularly required torque, in view of a defect in the conventional technique.
従来技術における欠点に鑑み、特に、要求されたトルクを生成することのできる作動モードを考慮したシフト情報の提供を達成すること。 - 特許庁 - To provide a display device for IC defect analysis which can generate circuit diagram data without data input of pin input/output attribute information.
第１に、ピン入出力属性情報のデータ入力が不要で回路図データを生成可能とするＩＣ不良解析用表示装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a relatively simple and rapid measurement method for a semiconductor wafer in order to distinguish and evaluate the kind of a crystal defect formed in the semiconductor wafer.
半導体ウェーハに形成された結晶欠陥の種類を区別して評価するのに、より簡便で迅速な半導体ウェーハの測定方法を提供する。 - 特許庁 - The image processing device 8 finds the defect of the hologram color filter 1, based on a signal from the light receiving device 5 and determines acceptability of the hologram color filter 1.
画像処理装置８は、受光装置５からの信号に基づいてホログラムカラーフィルタ１の欠陥をみつけ、ホログラムカラーフィルタ１の合否を判定する。 - 特許庁 - A system control section 18 controls defect discrimination and interpolation processing of a signal processing section 36 of a digital camera 10 to compensate data with respect to a defective pixel.
ディジタルカメラ10は、システム制御部18により信号処理部36に対する欠陥判定、補間処理の制御を受けて、欠陥画素に対するデータ補償を行う。 - 特許庁 - Bridge wiring 6 made of tungsten or the like is formed by laser CVD using the third higher harmonic wave of YLF laser without arranging a circuit for repairing a dot defect.
点欠陥リペア用の回路を設けず、ＹＬＦレーザーの第３高調波を用いるレーザーＣＶＤにより、タングステン等からなるブリッジ配線６を作成する。 - 特許庁 - To provide a cermet excellent in defect resistance and abrasion resistance, a cutting tool using the cermet, and a manufacturing method of the cermet.
耐欠損性及び耐摩耗性の双方に優れるサーメット、及びこのサーメットを用いた切削工具、並びに上記サーメットの製造方法を提供する。 - 特許庁
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