「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • As for each defective memory cell (unit bit defect) by a so-called random defect without providing any redundant cell array, data to be stored in the defective memory cell is held by a latch circuit 22 disposed between column data 12 and an I/O buffer 21, and the held data is output in place of the data of the defective memory cell.
    冗長セルアレイを持たず、所謂ランダム欠陥による各個の欠陥メモリセル（単ビット欠陥）に関して、この欠陥メモリセルに格納されようとするデータを、列データ１２と入出力バッファ２１との間に設けられたラッチ回路２２によってデータを保持し、また、該保持されたデータを欠陥メモリセルのデータに替えて出力するようにした。 - 特許庁
  • To provide a substrate for a display device capable of simplifying a defect repairing step and enhancing reliability, to provide the display device provided with the same, to provide a method for repairing the defect thereof, and to provide a manufacturing method including the same.
    本発明は、表示装置及びそれに用いられる表示装置用基板、並びにその欠陥修復方法及びそれを含む製造方法に関し、欠陥修復工程を簡略化でき、信頼性を向上できる表示装置用基板及びそれを備えた表示装置、並びにその欠陥修復方法及びそれを含む製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • Each TFT identifier 101 is imparted to a mother TFT substrate 3 before casting of a mother TFT substrate manufacturing step 610 to perform processing and defect inspection 611 and each CF identifier 102 is imparted to a mother CF (color filter) substrate 4 before casting of a mother CF substrate manufacturing step 620 to perform processing and defect inspection 621.
    ＴＦＴ識別子１０１をマザーＴＦＴ基板製造工程６１０の投入前のマザーＴＦＴ基板３に付与して各処理及び欠陥検査６１１を行い、ＣＦ識別子１０２をマザーＣＦ（カラーフィルター）基板製造工程６２０の投入前のマザーＣＦ基板４に付与して各処理及び欠陥検査６２１を行う。 - 特許庁
  • White pixel defect corrections wherein the added value is subtracted are performed for image signals of respective pixels on vertical lines on a vertical transfer destination side relative to the defective pixel and white pixel defect corrections wherein the value obtained by multiplying the added value by a correction coefficient is subtracted are performed for image signals of respective pixels on the vertical transfer source side relative to the defective pixel.
    欠陥画素より垂直転送先側の垂直ライン上の各画素の画像信号に対しては、上乗値を減算することにより白傷補正を行い、欠陥画素より垂直転送元側の各画素の画像信号に対しては、当該上乗値に補正係数を乗算した値を減算することにより白傷補正を行う。 - 特許庁
  • To provide a method for casting molten stainless steel performing an electromagnetic stirring by which the yield of good cast slab is improved and the cast slab excellent in the quality can stably be produced by preventing defect caused by blow hole and inclusion developed on the surface of the cast slab and inclusion defect in the inner part of the cast slab when the molten stainless steel is cast by using a vertical-bending type continuous caster.
    垂直曲げ型の連続機を用いてステンレス溶鋼を鋳造する際に鋳片の表面に生じる気泡や介在物に起因する欠陥と、鋳片の内部の介在物欠陥を防止して良鋳片の歩留まりを高め、品質に優れた鋳片を安定して製造することができる電磁攪拌を行うステンレス溶鋼の鋳造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a video recording device for recording video information, management information for managing the video information, and program information for managing the video information by a program unit, which is equipped with a means for recovering information lost due to a defect when the defect occurs in the management information to reduce damage to a user.
    映像情報と、前記映像情報を管理する管理情報、さらに前記映像情報を番組単位で管理する番組情報を記録する映像記録装置において、管理情報に欠陥が発生した場合に、欠陥により失われる情報を修復し、ユーザが被る被害を軽減する手段を有した映像記録装置を提供する。 - 特許庁
  • To reliably discriminate a main surface of a magnetic disk substrate, where a defect is detected in a magnetic recording layer in the defect inspection of a process for manufacturing the magnetic disk substrate, in a subsequent film-forming process, and to reduce costs by preventing the use of an expensive material for a substrate surface obviously not to be used as a recording surface.
    磁気ディスク基板の製造工程における欠陥検査で磁気記録層に不適切な欠陥が検出された磁気ディスク基板の主表面を、後の成膜工程において確実に判別することができ、初めから記録面として用いられないことが判っている基板面にまで高価な材料を用いることを回避してコストの削減を図ること。 - 特許庁
  • The device comprises a light source 14 irradiating a light on a PTP sheet, having a printed part on its surface, cameras 11 and 12 which selectively image infrared light in a reflected light from the PTP sheet, a seal defect deciding program 22 which the seal defect of the PTP sheet is detected, by calculating a photographed data taking by the cameras 11 and 12.
    表面に印刷部分の存在するＰＴＰシートに光を照射する光源１４と、ＰＴＰシートから反射する反射光のうち赤外線光を選択的に撮像するカメラ１１，１２と、カメラ１１，１２が撮像した映像データを演算することにより、ＰＴＰシートのシール不良を検出するシール不良判断プログラム２２とを有している。 - 特許庁
  • Note that the defects are added to the message where the problem was found, so for example, if a message nested inside amultipart/alternative had a malformed header, that nested message object would have a defect, but the containing messages would not.All defect classes are subclassed from email.Errors.MessageDefect, but this class is not an exception!
    注意: これらの障害は、問題が見つかったメッセージに追加されるため、たとえばmultipart/alternative 内にあるネストしたメッセージが異常なヘッダをもっていた場合には、そのネストしたメッセージが障害を持っているが、その親メッセージには障害はないとみなされます。 すべての障害クラスは email.Errors.MessageDefect のサブクラスですが、これは例外とは違いますので注意してください。 - Python
  • To provide a method of manufacturing semiconductor device which is suitable for improvement in the information storing characteristic of a semiconductor device such as DRAM and SRAM or the like through reduction of a junction leak current resulting from a defect, by processing vacant hole defect remaining in the source-drain diffusing layer.
    ソース・ドレイン拡散層に残留する空孔欠陥に対する処理を行うことにより、欠陥起因の接合リーク電流を低減する半導体装置の製造方法を提供し、これによってＤＲＡＭやＳＲＡＭ等の半導体記憶装置の情報保持特性を向上させるために好適な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a protection circuit for a voltage-conversion circuit capable of preventing mostly the damage to an element and a part, or a bad influence to the surrounding quickly coping with an abnormal condition caused by not only a defect of a load but also a defect of a circuit element, an electronic part and the like that constitute the voltage-conversion circuit.
    この発明は、負荷の不具合による異常状態だけでなく、電圧変換回路を構成する回路素子や電子部品等の不具合によって発生した異常状態にも速やかに対処して、素子や部品の破損や周囲への悪影響を極力防止することを可能とした電圧変換回路の保護回路を提供することを目的としている。 - 特許庁
  • The use of a waveform which reduces an ejection velocity to be lower than the recording waveform is effective for defect detection by an abnormality cause in the nozzle, and the use of a waveform which causes an amount of liquid raised from the nozzle to be larger than the recording wave form is effective for defect detection by an abnormality cause outside the nozzle.
    異常ノズル検知用波形として、記録用波形よりも吐出速度を低下させる波形を用いることにより、ノズル内部の異常原因による不良検知に効果的である、また、記録用波形よりもノズルからの液の盛り上がり量が大きくなる波形を用いることにより、ノズル外部の異常原因による不良検知に効果的である。 - 特許庁
  • A formula on a defect level is deduced by calculating the yield of the semiconductor device and using a fault distribution function having the same characteristics of those of a defect distribution function by assuming that faults themselves also have distribution functions, because the faults are the defects showing cleared-up physical phenomena.
    故障は、欠陥の物理現象が明らかになったものであるから、同じように故障自身も分布関数を持つと仮定して、半導体装置の歩留の算出と、欠陥分布関数と特性を同じくする故障分布関数とを用いて欠陥レベル式を導出することで、欠陥レベル推定する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The silicon wafer has a high-oxygen-concentration region where a solid solution oxygen concentration is ≥0.7×10^18 atoms/cm^3 in a no-defect region (DZ layer) 12 including at least the device active region of the silicon wafer 10, and contains interstitial silicon 14 in the no-defect region 12 in a supersaturation state.
    本発明に係わるシリコンウェーハは、シリコンウェーハ１０の少なくともデバイス活性領域が含まれる無欠陥領域（ＤＺ層）１２内に固溶酸素濃度が０．７×１０^１８ａｔｏｍｓ／ｃｍ^３以上の高酸素濃度領域を有し、かつ、無欠陥領域１２内には、格子間シリコン１４が過飽和状態で含有されている。 - 特許庁
  • To provide a particulate structure for a 3-dimensional photonic crystal or the like into which a defect, in which a defective volume is controlled, is introduced in an inverse structure, to provide a periodic particulate structure into which a defect is introduced locally without disturbing the global repetition of the structure and to provide a waveguide and a resonator using the 3-dimensional periodic structure.
    インバース構造において、欠陥ボリュームが制御された欠陥が導入された三次元フォトニック結晶などのための微粒子構造体、構造体全体の繰り返しを乱すことなく、局所的に欠陥が導入された周期的な微粒子構造体、このような三次元周期構造体を用いた導波路ならびに共振器を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor light receiving element in which carriers excited to the level of crystal defect in the heterointerface of lattice mismatch are not trapped but can migrate smoothly and can respond quickly, a recombination current caused by the level of crystal defect, i.e.,, a dark current in applying a reverse bias voltage, is reduced and noise of the element is suppressed.
    格子不整合のヘテロ界面での結晶欠陥による準位に励起されたキャリアがトラップされることなく、円滑に移動ができて高速応答ができ、結晶欠陥による準位に起因する再結合電流、すなわち逆バイアス電圧を印加したときの暗電流を低減させ、素子の雑音を抑えた半導体受光素子を提供する。 - 特許庁
  • To provide a practical method and device for detecting a small surface irregularity defect, capable of detecting surely a small concave and convex defect having a contour of the irregularity of several micrometers which is difficult to an automatic detection like the detection by a grinding stone, in an object to be inspected with a coarse surface roughness and a visual inspection which is usually difficult.
    表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な凹凸が数μm程度でなだらかな輪郭を持つ微小凹凸性疵を確実に検出できる実用的な微小凹凸表面欠陥の検出方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • In the dielectric ceramic, (a) a rectangular void type crystal defect exists in a dielectric particle, (b) the maximum diameter of the rectangular void type crystal defect is ≤3 nm, (c) the proportion occupied by dielectric particle having a perovskite type crystal structure of ABO_3 is ≥99 mass% and (d) the average particle diameter is ≤200 nm.
    （ａ）誘電体粒子内に四角空隙型の結晶欠陥を有するとともに、（ｂ）該四角空隙型の結晶欠陥の最大径が３ｎｍ以下であり、（ｃ）ＡＢＯ_３のペロブスカイト型結晶構造を有する誘電体粒子の占める割合が９９質量％以上であり、（ｄ）平均粒径が２００ｎｍ以下であることを特徴とする。 - 特許庁
  • Leakage and omission in extraction of quality defect information and a quality check mistake are prevented by linking the quality information with a component ratio of a circuit module of the lowest hierarchy based on configuration information of circuit data, extracting quality defect information fitting to the organization of circuit data to be reused, and providing information to a designer together with recurrence probability.
    品質情報を回路データの構成情報を基に最下位階層の回路モジュールの構成比率でリンク付けし、再利用する回路データの構成に合わせて品質不良情報を抽出し、再現確率と共に設計者に情報提供することで、品質不良情報の抽出漏れや抽出抜けおよび品質確認ミスを防止する。 - 特許庁
  • The device for inspecting the image defects is configured so that defect detecting processing S3 detecting the defects appearing in the sensed image on the sample surfaces, and reinspection processing S6 conducting reinspection or deciding truth or falsehood at a place of detection in the sensed image regarding the defects detected by the defect detecting processing are carried out by the same processor element.
    試料の表面の撮像画像に現れる欠陥を検出する欠陥検出処理Ｓ３と、この欠陥検出処理欠陥により検出された欠陥に関して撮像画像中の検出箇所を再検査する又は真偽を判定する再検査処理Ｓ６とが、同一のプロセッサエレメントによって実行されるように画像欠陥検査装置を構成する。 - 特許庁
  • To provide a charged particle beam defect inspecting device and method for correcting a dislocation of a focal position due to a charged-up state of a sample to be observed without troubling an operator, and resultingly ensure a focused clear observation and a precise defect inspection even under a charged-up state of the sample.
    観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁
  • A color image of a region on which the inspection of floating defect of the component electrode 20 is necessary, among the inspection regions determined by every soldering parts in which red, green and blue colors are distributed in the color image, is converted into a grayscale image, and the presence or absence of the floating defect is discriminated by extracting an edge from the image after the conversion.
    カラー画像中で赤、緑、青の各色彩が分布するはんだ付け部位毎に設定された検査領域のうち、部品電極２０の浮き不良の検査が必要な領域を対象に、領域内のカラー画像を濃淡画像に変換し、変換後の画像からエッジを抽出することによって、浮き不良の有無を判別する。 - 特許庁
  • An N+ region 14 and P+ regions 15 and 16 are opposed mutually through lattice defect regions 53 and 54 in a part of the opposed sections of these N+ region 14 and P+ regions 15 and 16.
    Ｎ^+領域１４とＰ^+領域１５、１６との対向部の一部でこれらのＮ^^+領域１４とＰ^+領域１５、１６とが格子欠陥領域５３、５４を介して互いに対向している。 - 特許庁
  • To provide a leakage inspecting agent, in various containers or piping, structural bodies, and so forth obstructed by a leakage part, which can simultaneously detect and repair a through-defect which is to cause it.
    漏れ部があると支障をきたす各種容器や配管、構造物などにおいて、その原因となる貫通欠陥を検出でき、同時に補修ができる漏洩検査剤を提供する。 - 特許庁
  • An image processing means 15 processes an image of a transparent object 3 imaged by an image pick-up means 14, and detects a defect of the transparent object 3 containing a dotlike printing portion in its one portion.
    画像処理手段１５は、撮像手段１４によって撮像された透明体３の画像を処理し、ドット状プリント部分を一部に含む透明体３の欠点を検出する。 - 特許庁
  • To appropriately discover an irregularity defect, or the like generated on the surface of a body to be inspected having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.
    可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁
  • To provide a seal which prevents from an occurrence of unclear seal shape and partial defect and wear of a sealing surface caused by variation in angles of seal impression due to nonuse of a stamping mat.
    捺印マットを使用しない事による捺印角度のバラツキに起因する不鮮明な印影、及び捺印面の部分的な欠けや磨り減り発生を生じない印鑑を提供する。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal display device capable of improving the response speed of a liquid crystal through the compensate of image signals and preventing the defect of a liquid crystal screen and a method of compensating the image signals.
    映像信号の補正を通じて液晶の応答速度を改善し、液晶画面の不良を防ぐことができる液晶表示装置及び映像信号補正方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a diaphragm in which the occurrence of an adhesion error or a connection defect with a piezoelectric element can be prevented by preventing the blocking of wetting and the spreading of an adhesive caused by the damming of the adhesive.
    接着剤のせき止めによる濡れ広がりの阻害を防止して、圧電素子との接着ミスや接続不良の発生を防止することが可能な振動板を提供する。 - 特許庁
  • To prevent reprojection (surface defect) from occurring on a work, to contrive the discontinuance of deburring work and the improvement of mold life and to reduce the manufacturing cost of a die provided with a projecting part on its upper surface.
    ワークに再突起（表傷）を生じさせず、バリ取り作業の廃止と金型寿命の向上を図るようにし、また、上面に突起部を設けたダイの製造コストを安価にする。 - 特許庁
  • To provide a correcting method for the rotational accuracy of a measuring instrument capable of solving the defect of the phase difference method and obtaining the high-reliability measured data without improving the existing device.
    位相差法の欠点を解消でき、かつ、既存の装置を改良することなく信頼性の高い測定データが得られる測定機の回転精度補正方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for inspecting a shape defect of patterned media, enabling inspection of the whole area throughout the total number of patterned media manufactured in the order of one sheet per a few seconds.
    数秒／枚程度で生産されるパターンドメディアを全面を全数に亘って検査することを可能にするパターンドメディアの形状欠陥検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a thermopile infrared sensor capable of detecting a defect in a wafered condition such as short-circuiting of a wiring to prevent delivery to a subsequent process, and a method of inspecting with the sensor.
    配線のショート等の不良をウェハ状態で検出して後工程に流出することを防ぐことができるサーモパイル式赤外線センサおよびその検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an organic EL display device which prevents scratches from being made on an inorganic solid layer and is improved in a yield of the organic EL display, and hardly has a display defect with the passage of time.
    無機質固体層に傷が付くのを防ぎ、有機ＥＬディスプレイの歩留まりの向上及び経時的な表示欠陥が生じ難い有機ＥＬ表示装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a mounting technique for increasing a permissible amount of warpage by suppressing the occurrence of a bridge defect by releasing excessive solder to a pattern arranged at a periphery of a land.
    余分な半田をランドの周辺に配置されたパターンに逃がすことでブリッジ不良の発生を抑制し、そりの許容量を増大することが可能となる実装技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device and method for inspecting surface defect capable of sufficiently inspecting even a concave flaw (or a part of it) substantially parallel with the incident surface.
    入射面に対して略平行な凹状の傷（またはその一部分）であっても、良好に検査することができる表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a seal defect prevention apparatus of a packaging bag manufacturing apparatus enabling the use of an incomplete sealing part of a once sealed film material.
    巻取りリールの交換の際に、一旦シールされたフィルム材の未完シール部をシール不良とすることなく使用できる包装袋製造装置のシール不良防止装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing an acrylic resin film laminated body coping with a complicated shape and suppressing generation of defect of appearance after embossing to the utmost, and the laminated body.
    複雑な形状にも対応でき、エンボス加工後の外観不良の発生を極力抑制しうるアクリル系樹脂フィルム積層体の製造方法、および積層体を提供する。 - 特許庁
  • To provide an image forming apparatus which does not cause an image defect such as irregularity of toner density even if irregular temperature is caused in an intermediate transfer body, a transfer means and a transfer fixing means.
    中間転写体及び転写手段、転写定着手段での温度ムラが生じても、トナー濃度ムラなどの画像不良を引き起こさない画像形成装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a write-once type recording medium having compatibility with a rewritable recording medium equipped with a defect management function, and a device and a method for recording/reproducing data on the write-once type recording medium.
    ディフェクト管理機能を備えた、書換型記録媒体と互換性のある追記型記録媒体、およびその追記型記録媒体にデータを記録再生する、装置、方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a liquid crystal display element with which occurrence of alignment defect is prevented by reducing stress given to a liquid crystal, and also to provide the liquid crystal display element.
    液晶にかかるストレスを緩和することにより、配向欠陥の発生を抑制することができる液晶表示素子の製造方法及び液晶表示素子を提供する。 - 特許庁
  • A control portion 41 determines whether or not a defect is occurring in the mobile telephone 21 based on a comparison result between a power level of the test signal received and a predetermined threshold value.
    そして、制御部４１は、受信された試験用信号の電力レベルと所定の閾値との比較結果に基づいて、携帯電話機２１に不具合が生じているか否かを判断する。 - 特許庁
  • To reduce noise while securing air volume, and to unify the air volume in the axial direction of a cross flow fan by securing the air volume at both ends, which is defect of the cross flow fan.
    風量を確保しつつ、騒音を低減させ、また、クロスフローファンの欠点でもある両端の風量を確保し、クロスフローファンの軸方向における風量の均一化を図ること。 - 特許庁
  • To provide a high-reliability flat plate type electrochemical cell which is easily made high in energy density, small-sized and thin and free of a defect in connection with a collector due to deformation and breakage of a lead terminal.
    高エネルギー密度且つ小型・薄型化が容易で、リード端子の変形、破損による集電体との接続不良発生が無く信頼性の高い平板型電気化学セルの提供。 - 特許庁
  • To provide a mechanism for improving the defect of a generated image at the time of automatically generating the three-dimensional image when aerial sightseeing service is provided on the Internet.
    空中遊覧サービスをインターネット上でビジネスを行う場合に、自動的に３次元画像を生成するときの、生成画像の欠陥を改良する仕組みをインターネットを用いて提供する。 - 特許庁
  • To provide an electron beam device that can prevent damages to the device and can make compatible low aberration, high resolution or high S/N ratio, with easiness of defect classification by obtaining a three-dimensional SEM image.
    デバイス損傷を防止することが可能であり、低収差、高分解能若しくは高Ｓ／Ｎ比と、立体的なＳＥＭ像を得ることによる欠陥分類の容易さと、を両立させる。 - 特許庁
  • To provide an aluminum alloy die-casting component in which the reduction of production cost can be achieved, and which is produced at high strength and high quality even if a casting defect is generated.
    製造コストの低減化を図ることができ、鋳造欠陥が生じていても高強度、高品質で製造することができるアルミニウム合金ダイカスト鋳物部品を提供する。 - 特許庁
  • To provide an image signal processing apparatus to process an image signal from an imaging element which eliminates noise of the defect correction or the like and conducts both a resolution maintenance and an outline correction properly.
    撮像素子からの画像信号を処理する画像信号処理装置において、欠陥補正等のノイズ除去と、解像度維持や輪郭補正との両方を好適に行うことが難しい。 - 特許庁
  • At this time, when a cleaning member 48 is moved along the extending direction of the discharge wire 46, a discharge defect occurs on a portion where the cleaning member 48 is brought into contact with the discharge wire 46.
    このとき清掃部材４８が放電ワイヤ４６の延びる方向に沿って移動されると清掃部材４８と放電ワイヤ４６が接触している部位に帯電不良が生じる。 - 特許庁
  • To provide a protection film for a polarizing plate which has little optical anisotropy, interference unevenness, etc., has excellent optical characteristics and is excellent in the workability of detecting the defect of the polarizing plate and a separation film therefor.
    光学異方性、干渉ムラ等が少なく光学特性に優れ、偏光板の欠点検出の作業性に優れた偏光板用のプロテクトフィルム、及びセパレートフィルムを提供する。 - 特許庁
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