「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 221 222 223 224 225 226 227 228 229 .... 366 367 次へ＞- To improve the fluidity of molten metal and to surely produce a high quality cast product without developing the cast defect at a low cost by reducing the oxidized film formed on the surface of molten metal.
溶湯の表面に形成される酸化被膜を還元して、溶湯の流動性を向上させ、鋳造欠陥のない高品質の鋳造製品を安価に確実に製造する。 - 特許庁 - The print head model based upon the scan is compared with the activated print head model to discriminate and store a print head defect in order to correct a future bar code scan.
スキャンに基づく印刷ヘッド・モデル及び活性化印刷ヘッド・モデルが比較されて、印刷ヘッド欠陥を識別して、将来のバーコード・スキャンを修正すべく保存される。 - 特許庁 - To solve a problem that a signal for correcting offset cannot be detected precisely because dust, a flaw or a defect is sometimes detected wrongly as a land pre-pit in the past.
従来は、光ディスクのごみや傷や欠陥なども間違えてランドプリピットと検出することがあるので、オフセット補正用の信号を正確に検出することができない。 - 特許庁 - To provide an insulation film for compensating a defect of a single resin film and eliminating an effect due to an adhesive such as a laminated film and a difference of a thermal shrinkage.
単一樹脂フィルムの欠点を補い、張り合わせフィルムのような接着剤の影響や熱収縮率の差による影響などのない絶縁フィルムを提供する。 - 特許庁 - To provide a radiation detector of little image defect and high quality by eliminating the generation of fault caused by static breakage of the sensor panel in the radiation detector.
放射線検出装置においてセンサーパネルの静電破壊による欠陥の発生をなくして、画像欠陥の無くい高品位な放射線検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a fluid control valve which allows for accurate detection of leakage of a fluid in a seal part due to a defect in a seal member or a dimensional error in a housing part therefor.
シール部材の不良やその収容部の寸法誤差等によるシール部での流体の漏洩を、正確に検出させることができる流体制御弁を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a glass substrate for a mask blank and the like which can suppress the occurrence of a protruded defect with a height of several nm and a size of 5 μm to 20 μm.
高さが数ｎｍ、大きさが５μｍ〜２０μｍ程度の凸状欠陥の発生を抑制できるマスクブランク用ガラス基板の製造方法等を提供する。 - 特許庁 - To provide an information recording method simplifying the setup work of attribute data such as defect management information when information is recorded in an information recording medium.
情報記録媒体への情報記録時に、欠陥管理情報などの属性データの設定作業を簡素化することが可能な情報記録方法を提供する。 - 特許庁 - Hereby, more detailed inspection can be made, by supplying only the FPD module D, where a defect is discovered by using the simplified inspecting signal with the analytical signal.
これにより、簡易検査用信号を用いて欠陥が発見されたＦＰＤモジュールＤのみに解析用信号を供給してより詳細な検査を行うことができる。 - 特許庁 - To provide an inspection accuracy verification system capable of verifying whether a defect to be detected can be detected properly by a printed matter inspection system easily and accurately.
検出すべき欠陥が印刷物検査システムによって適切に検出できるか否かを容易かつ正確に検証することができる検査精度検証システムを提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming method for forming an image having high image density, high light resistance and defect-free high image quality using a high sensitivity optical recording material.
画像濃度及び画像耐光性が高く、かつ欠陥のない高画質な画像を、高感度な光記録材料を用いて形成するための画像形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a medium to be printed of a multilayered structure which can suppress the printing defect by the ruggedness of a coating material for recording bonded to a release sheet.
剥離シートに付着した記録塗料の凹凸による印刷不良を抑制することができる多層構造の被印刷媒体を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The read of the defect data is performed from an EEPROM 118 to a RAM 112a not by every application of power but based on recognition of mounting of a battery.
毎回の電源投入のたびではなく、電池装着の認識に基づいてＥＥＰＲＯＭ１１８からＲＡＭ１１２ａへの欠陥データの読み出しが行われる。 - 特許庁 - It is judged whether the defect point reaches a predetermined threshold value, and the corresponding portion of the educational material is transmitted to a terminal 25 of a system administrator, based on the result of the judgement.
この不具合点数が所定の閾値に達したかが判定され、その判定の結果に基づき、該当教材箇所をシステム管理者端末２５に送信する。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method for solving a problem of requiring a high-rate data transfer means and a high-capacity memory or storage medium when using a configuration for simultaneously detecting images under multiple conditions and integrating them.
複数条件の画像を同時に検出して統合する構成を用いた場合、高レートのデータ転送手段と大容量のメモリや記憶媒体が必要となる。 - 特許庁 - To provide an alignment layer which is provided with high alignment regulating force to target molecules and wherein a defect brought on an element or the like when the alignment layer is formed is hardly caused.
対象分子に対する高い配向規制力を備えるとともに、配向膜形成時における素子等への不具合発生の生じ難い配向膜を提供する。 - 特許庁 - To provide a lens sheet in which the hardness of a lens part is improved and adhesion between a translucent base material and the lens part is improved, and with which images of high quality having no image defect can be obtained.
レンズ部の硬度が高く、透光性基材とレンズ部との密着性に優れ、画像欠陥のない高品位の画像が得られるレンズシートを提供する。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which produces no image defect and in which service life deterioration of a member is reduced by surely removing a foreign substance bitten into a cleaning blade.
本発明の課題は、クリーニングブレードに噛み込んだ異物を確実に除去して画像欠陥、部材寿命劣化の無い画像形成装置を提供することである。 - 特許庁 - WC-BASED CEMENTED CARBIDE CUTTING TOOL EXHIBITING EXCELLENT DEFECT RESISTANCE FOR HEAT-RESISTANT ALLOY CUTTING, AND SURFACE-COATED WC-BASED CEMENTED CARBIDE CUTTING TOOL
耐熱合金の切削加工で優れた耐欠損性を発揮するＷＣ基超硬合金製切削工具および表面被覆ＷＣ基超硬合金製切削工具 - 特許庁 - To avoid complication of manufacturing process, to more surely repair a pixel defect and to improve manufacturing yield in an active matrix type display device.
アクティブマトリクス型表示装置において、製造工程が煩雑にならず、絵素欠陥の修復をより確実に行うことができて、製造歩留まりの向上を図ることができる。 - 特許庁 - To provide a rework measurement system for measuring the result of a work for countermeasures against any defect generated in a manufacturing process (that is, a rework process).
製造工程内で発生している不良対策作業（即ちリワーク工程）の作業実績を測定することができるリワーク測定システムを提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method for cutting a lithographic printing plate material which has no defect on a lithographic printing plate after slitting, is safe in handling properties, and is excellent in printing performance, and to provide a printing method.
スリット後も平版印刷版に欠陥がなく、取り扱い性が安全で、印刷性能に優れた平版印刷版材料の断裁方法及び印刷方法の提供。 - 特許庁 - To provide an image processor and a control program of the image processor which correct the influence of a defect according to the kind of a document and inform a user that the influence cannot be corrected in such a case or make no wrong correction.
原稿の種類に応じて欠陥の影響を補正し、補正をすることができない場合にその旨をユーザに知らせ、又は誤補正をしない。 - 特許庁 - Thereby, the alignment defect caused by the columnar spacers 15 is hardly visually confirmed as the display abnormality on the straight line in the direction along the rubbing treatment direction.
これにより、柱状スペーサ１５に起因する配向不良がラビング処理方向に沿う方向の直線上の表示異常として視認されにくいようにすることができる。 - 特許庁 - To provide an electrooptical device which is bright and has excellent contrast by preventing occurrence of image defect due to light transmission in a region other than a pixel region, and to provide an electric device.
画素領域以外の領域での光透過による画像欠陥を防止し、明るく、コントラストに優れた電気光学装置、ならびに電気機器を提供する。 - 特許庁 - To provide a solid-state image pickup device by which image quality is improved by solving the defect of the deterioration of image quality due to the incapability of the correction of 'blurring' in one field in a conventional technique.
従来技術の１フィールド内の“ぼけ”を補正することができず画質が劣化していた欠点を解決し、画質が改善された固体撮像装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a fixing device with induction heating capable of preventing the occurrence of fixing defect, the low temperature offset, and the high temperature offset by adjusting the heat generation distribution in a fixing member.
定着部材における発熱配分を調整し、定着不良、低温オフセットおよび高温オフセットの発生を防止し得る誘導加熱定着装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection support system, product manufacturing system and product manufacturing method, capable of suppressing a defect having a risk of occurrence at a shipment destination.
本発明は、出荷先で発生するおそれがある不良を抑制することができる検査支援システム、製品の製造システムおよび製品の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a stamper for an optical disk and a substrate for the disk for manufacturing the disk having a small variation in the reflectance and a high recording characteristic without any defect.
反射率変動が少なく記録特性の高い光ディスクを欠陥無く製造する光ディスク用スタンパの製造方法及び光ディスク用基板を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and method for inspecting the defect of tools capable of efficiently and accurately inspecting workpieces being tool chips such as slow away chips of various tools.
各種工具のスローアウェイチップなどの工具チップであるワークを、効率良く正確に検査することができる工具欠陥検査装置と工具欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - The dummy patterns 2 are arranged in such a manner that at least one dummy pattern is present in the objective range of scanning by a mask pattern defect detecting device.
ダミーパターン２は、パターン点在領域２２内では、マスクパターン欠陥検査装置の走査対象範囲内に少なくとも１個が存在するようにして配置されている。 - 特許庁 - To provide a device and method for inspecting defects that are suitable for defect inspection of a relatively large sample imposed with strict tolerance in the height direction.
比較的大きな試料であって高さ方向に厳格な公差が課せられる試料の欠陥検査に好適な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image processor for quickly processing image data with a large capacity to be able to detect the defect of a work without using any exclusive hardware.
専用のハードウエアを用いることなく、しかも高速かつ大容量で画像データを処理してワークの欠陥の検出を行なうことが可能な画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent occurrence of an image defect by suppressing deformation of a screen pattern when an image processing is applied to compensate misalignment for an image which is already screen processed.
スクリーン処理済みの画像に対してレジずれを補正するための画像処理を施した場合におけるスクリーンパターンの変形を抑制し、画質欠陥の発生を防止する。 - 特許庁 - To provide a radiographic apparatus, accurately making image correction for a portion requiring image correction corresponding to a change in a defect size due to HV application.
ＨＶ印加に起因する欠陥サイズの変化に対応して、画像補正が必要な箇所に正確に画像補正することができる放射線画像撮影装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a reflective mask capable of preventing deterioration of defect detection sensitivity in mask pattern inspection while reducing an influence of a flare in exposure.
露光時のフレアの影響を低減しつつ、マスクパターン検査の際に欠陥検出感度の低下を防止できる反射型マスクおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive and high-resolution surface defect inspecting apparatus and its method for making a line sensor accurately track a location and a position fluctuation in an inspecting object.
本発明は、被検査物の位置や姿勢変動にラインセンサを精度よく追従し、低コストで高解像度化が容易な表面欠陥検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a die casting apparatus capable of suppressing generation of a chip-off defect in a product by effectively preventing a broken chilled layer from flowing into the product.
破断チル層が製品内へ流入するのを効果的に防止して、製品における欠け込み不良の発生を抑制したダイカスト鋳造装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method by which a magnetic recording medium having higher reliability and capable of reducing the occurrence of data recording/reproducing failure caused by the defect of a servo signal.
サーボ信号欠陥に起因するデータの記録／再生不良の発生を低減した、より信頼性の高い磁気記録媒体が得られる製造方法を提供する。 - 特許庁 - Since an open circuit defect portion is coated with the conductive paste 3, unintended increase in the line width is prevented during application of the conductive paste 3.
これにより、断線欠陥部分に導電性ペースト３が塗布されるので導電性ペースト３の塗布時に線幅が不用意に大きくなるのを抑えることができる。 - 特許庁 - Information on the defect echo inputted from the input part 12 is stored based on an indication to the effect that the output matter of the output part is agreed upon.
前記結果出力部の出力内容に同意する旨の指示に基づいて、音声入力部１２から入力された欠陥エコーの情報が記憶される。 - 特許庁 - To provide a needle holder from which the conventional defect is eliminated that the whole view soon becomes difficult in the case where a very largely different kinds of colored yarns are employed.
従来の針ホルダーで非常に多くの異なった色を用いる場合、全体を見渡すのがすぐに非常に難しくなるという欠点が除かれた針ホルダーを提供する。 - 特許庁 - To provide an electroplating apparatus for TFS (Tin Free Steel) which can surely prevent the occurrence of stain like defect caused by a peeled-off material produced from an anode, and stably can carry out the plating.
アノードから発生する剥離物に起因するしみ状欠陥の発生を確実に防でき、かつ安定してめっきのできるTFS用電気めっき装置を提供する。 - 特許庁 - To attain the implementation of an efficient and exact trimming in a short period of time without causing any defect by performing the test while optimizing erasing and writing speeds.
消去及び書き込み速度を最適化しながら試験を行い、不良を発生させることなく短時間で効率良く正確なトリミングを実行することを可能とする。 - 特許庁 - Since an Si rich silicon oxide film is employed, voids are extinguished, the SiO2 film is protected against cracking due to contraction during oxidation and the Si substrate is protected against eneration of defect due to expansion.
Ｓiリッチなシリコン酸化膜とすることにより、ボイドを消滅させ、酸化時の収縮によるSiO_2膜のクラックや、膨張によるSi基板への欠陥発生を防止する。 - 特許庁 - A crystal defect can be suppressed and the breakdown voltage can be increased by selecting the Al composition of the AlGaN layer 406 to be larger than the Al composition of the AlGaN buffer layer 404.
ＡｌＧａＮ層４０６のＡｌ組成をＡｌＧａＮバッファ層４０４のＡｌ組成以上とすることで、結晶欠陥を抑え、降伏電圧を高くすることができる。 - 特許庁 - The part recognized as a re-deposition region 8 of the black defect material is etched with an electron beam 4 to remove the re-deposition while xenon fluoride is introduced to flow from a gas gun 9.
黒欠陥材料の再付着領域８として認識したところにガス銃９からフッ化キセノンを流しながら電子ビーム４でエッチングを行い除去する。 - 特許庁 - In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing.
ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。 - 特許庁 - To provide a system and a method which efficiently investigates the cause of a defect occurred in continuously processing a plurality of products, using a cheap apparatus.
複数の製品を連続して加工する際に発生する不具合の発生原因を安価な装置を用いて効率的に究明可能とするシステム、及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a display device which has a structure connecting a display panel and a circuit board by a rubber connector and hardly gives rise to a contact defect and the shorting between terminals.
表示パネルと回路基板とをラバーコネクタによって接続した構造を持ち、しかも接触不良や端子間の短絡が起きにくい表示装置を提供する。 - 特許庁
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