To provide a means for eliminating a defect of an arterial graft due to an interception of blood flow in coronary bypass operation under heart beat, thereby maintaining the patency of an anastomosed arterial graft. 心拍動下での冠動脈バイパス手術において血流遮断による動脈グラフトの損傷をなくし、吻合された動脈グラフトの開損を維持する。 - 特許庁
To improve productivity by reducing manufacturing processes, to prevent the defect in breakdown voltage of a gate insulating film, and to improve the yield of a product in a bottom gate type TFT. ボトムゲート型TFTにおいて、製造工程を削減して生産性を向上させ、また、ゲート絶縁膜の耐圧不良を防止し、製品の歩留まりを向上させる。 - 特許庁
To eliminate a release defect in a high temperature and high humidity test of an AR (antireflection) coating 30 disposed on an inside surface of a light transmission plate of a liquid crystal display device with a front light attached thereto. フロントライト付き液晶表示装置の導光板内側表面に設けられたAR被膜30の高温高湿試験での剥がれ欠陥を無くす。 - 特許庁
By the transfer of the optical axis, the projected inspection image is transferred and the visibility of a point defect etc. is improved by an afterimage effect resulting from the transfer of the inspection image. この光軸の移動によって、投影された検査画像が移動され、検査画像の移動による残像効果によって点欠陥等の視認性が向上する。 - 特許庁
To provide a technique for inspecting quality defect of a linear control valve, by perceiving a behavior of pressure change in an initial period of a fluid passing through the linear control valve. リニア制御弁を通過する流体の初期期間の圧力変化の挙動に着目し、リニア制御弁の品質不良を検出するための技術を提案する。 - 特許庁
To suppress deformation of a bolt mounting part in fastening a set bolt, and to keep a seating face part flat even after fastening the bolt to prevent axial force degradation and an appearance defect of the bolt. セットボルト締め付け時のボルト装着部の変形を抑え、ボルト締め付け後においても座面部をフラットに維持してボルトの軸力低下や外観不良を防止する。 - 特許庁
To provide an electronic mail transfer system that can efficiently process an electronic mail depending on described contents of a main text and transfer the electronic mail to a mobile phone without any defect. 本文の記載内容によって電子メールを効率的に処理できるようにするとともに、電子メールを不具合なく携帯電話に転送できるようにする。 - 特許庁
To provide a method for producing a high quality silicon carbide single crystal ingot which is free of defect clustered zones including small tilt angle grain boundary and sub-grain boundary clustered zones. 小傾角粒界や亜粒界密集帯を始めとする欠陥密集領域の無い、高品質の炭化珪素単結晶インゴットを製造する方法を提供する。 - 特許庁
Reflected light from an irregular circuit pattern edge such as a logic pattern is eliminated with a simple spatial filter, thus making it possible to detect a defect on the circuit pattern with high precision. ロジックパターンのように不規則な回路パターンエッジからの反射光を簡易な空間フィルタで除去し、回路パターン上の欠陥を高精度に検出することが可能になる。 - 特許庁
To provide a method for producing a thermoplastic resin sheet in which in a static electricity applying cast method using tape electrodes, the generation of the defect of electricity application nonuniformity in the sheet is prevented stably for a long time. テープ電極を用いた静電印加キャスト法において、長時間安定して、印加ムラ欠点のない熱可塑性樹脂シートの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To prevent a defect in display due to foreign matter by easily removing the foreign matter of the display area of a liquid crystal display panel without disassembling a liquid crystal display module. 液晶表示モジュールを分解することなく、簡単に異物を液晶表示パネルの表示領域外に除去でき、異物による表示不良を防ぐようにする。 - 特許庁
To provide a fixing device which allows an unfixed toner image to be satisfactorily fixed by heat without a fixing defect or an excessive temperature rise even at the time of print start. 印刷開始時においても、定着不良や過剰温度上昇のない良好な未定着トナー画像の加熱定着を行える定着装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a manufacturing method for a lenticular lens sheet by which a black stripe with high contrast, free from a line defect or a printing spot and having small and uniform width is formed with good productivity. コントラストが高く、線状欠陥や印刷斑のない細く均一な幅のブラックストライプを生産性よく形成できるレンチキュラーレンズシートの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a sewing machine which is capable of decreasing the variations by an operator at the time of hook alignment and lessening the occurrence of a skip stitch, needle breakage and sewing defect. 釜合わせの際に作業者によるバラつきを少なくすることができ、目飛び、針折れ、縫い不良の発生を少なくすることができるミシンを提供する。 - 特許庁
To accurately carry out correction so that the concentration of a pixel corresponding to the defect position of a detection element being provided at a radiation solid-detecting device does not become specific concentration being different from the periphery. 放射線固体検出装置が備える検出素子の欠陥位置に対応する画素の濃度が周辺と異なる特異な濃度とならないように正確に補正する。 - 特許庁
To reduce defect in electrical characteristic caused by the conventional technique in the process of making antenna shared devices without changing the precision of the process of making an SAW filter. アンテナ共用器の作製過程において、SAWフィルタの作製プロセスの精度を変えることなく従来技術で発生する電気特性不良を低減する。 - 特許庁
Or by recording a characteristic amount to judge a defect in an inspection result, for example a shading difference, misinformation can be removed in a post handling after the inspection. もしくは、検査結果に欠陥を判定する特徴量、例えば、濃淡差を記録することにより検査後の後処理で虚報を除去することが可能とする。 - 特許庁
Level difference is eliminated from the surface of the electrodes by the insulating layer and reduction of contrast due to an alignment defect of a liquid crystal material, irregular reflection of light and the like can be prevented. また、絶縁層により電極表面には段差がなくなり、液晶材料の配向不良や光の乱反射等によるコントラストの低下等を防ぐことができる。 - 特許庁
To prevent an organic EL display from the defect caused by the short-circuit between the first display terminal (transparent terminal) and the second display terminal (metallic terminal) with improved yield. 有機ELディスプレイパネルにおいて、第1表示電極(透明電極)と第2表示電極(金属電極)のショートによる欠陥を防止し、歩留まりを向上させる。 - 特許庁
To substantially overcome or at least improve one defect and more in a conventional process, with regard to embedding or detecting watermark information into an image. 画像中への透かし情報の埋め込み又は検出に関する従来の処理における1つ以上の欠点を実質的に克服、或いは少なくとも改善する。 - 特許庁
To prepare a composition capable of imparting a natural appearance to the skin, simultaneously capable of deleting defect of undulation of the skin such as fine undulation, wrinkles and pores, and capable of imparting matted feeling. 皮膚に自然な外観を与えると同時に、微小起伏、しわ及び毛穴のような皮膚の起伏の欠陥を消す、つや消し感を与える組成物の提供。 - 特許庁
To overcome the defect of a conventional technique in the range of the framework of a rational and reliable solving means without requiring to frequently interfere with an operator during an operation. オペレーターに、オペレーション中、頻繁に干渉する必要をなくし、合理的で信頼性のある解決手段の枠組みの範囲内で、従来技術の欠点を克服すること。 - 特許庁
To provide a technique where, in the case a casting is produced by a precise casting process, occurrence of casting defect owing to mold reaction caused by substances at the inside of the mold can be made minimum. 精密鋳造法で鋳物を製作する際に、鋳型内部の物質に起因する鋳型反応による鋳造欠陥の発生を極小化できる技術を提供する。 - 特許庁
To provide an ultrasonic inspection method capable of accurately detecting the size of a defect in an inspection section near a fillet weld region of an object to be inspected. 被検査体のスミ肉溶接部の近傍の検査部位に対して、精度良く欠陥の大きさを検出することができる超音波検査方法を提供することである。 - 特許庁
With twice caulking, the fluorescent lamp having a caulking defect can be eliminated, and depending on the difference either in the positions or in the shapes of caulking parts, nonconformities can be detected easily. 2回のかしめにより、かしめ不良の蛍光ランプを削減するとともに、かしめ部の位置あるいは形状の違いにより、不具合の検出を容易にする。 - 特許庁
To prevent the generation of the short circuit, defect or the like of an electronic circuit caused by the contamination of a plating soln. and undesirable influences on a coating film without causing the contamination of the plating soln. or the like. メッキ液の汚染などを起こさず、メッキ液の汚染により発生する電子回路の短絡や不良などの発生、塗膜への悪影響を防止すること。 - 特許庁
To prevent a film unit from buckling and causing a discharge defect at the time of scraping out of a claw member by pressing the film unit of the lowermost layer to an arcuate shape by a unit supporting projection. ユニット支持突起により最下層のフイルムユニットを円弧状に押圧することでクロー部材の掻き出し時フイルムユニットが座窟して排出不良となることを防止する。 - 特許庁
To provide a sample preparing device or a defect inspecting device comprising a contact detecting means where the contact between a sample and a prove is detected regardless of kind of samples, at a low cost. 試料と探針の接触を試料の種類を問わず検知できる安価な接触検知手段を備えた試料作成装置または不良検査装置を提供する。 - 特許庁
To prevent toner from being consumed undesirably without lowering the performance of printing speed in order to detect toner concentration by preventing an image defect caused by the adhesion of a developer. 現像剤の付着による画像不良を防止し、トナー濃度検出のために印字スピードのパフォーマンスを低下させることなく、不所望にトナーを消費させないようにする。 - 特許庁
To produce a large, high purity, high-quality single crystal hardly containing grain boundary, micropipe defect, etc. 非常に大型で、しかも、結晶粒界、マイクロパイプ欠陥等が非常に少ない上に高純度できわめて良質の単結晶を生産性よく製造することができるようにする。 - 特許庁
To effectively prevent the occurrence of image defect and the like by excellently recovering toner left after transfer and scraped by a cleaning member in a cleaning container without leaking it to the outside. クリーニング部材で掻き取った転写残トナーを外部に漏らすことなくクリーニング容器内に良好に回収して、画像不良等の発生を有効に阻止できるようにする。 - 特許庁
The carbon catalyst is prepared, which has a defect in a carbon structure thereof and is characterized in that a parameter W of an X-band electron spin resonance spectrum appearing at 3,200-3,500 gauss is ≤11 gauss. 炭素構造の中に欠陥を有し、3200〜3500ガウスに現れるX−バンド電子スピン共鳴スペクトルのパラメータWが11ガウス以下であるカーボン触媒を調製した。 - 特許庁
The pellicle frame 10 constituting the pellicle is made of synthetic quartz glass having 0.2×10^15 to 7.0×10^15 cm^-3 oxygen-deficiency defect density. ペリクルを形成するペリクルフレーム10を、酸素欠乏型欠陥の濃度が0.2×10^15〜7.0×10^15ヶ/cm^3である合成石英ガラスで構成する。 - 特許庁
To make reduction in time for photographing images and high image quality photographing compatible in a scanning electron microscope for measurement, inspection, and defect review or the like of semiconductor wafers. 半導体ウェーハの測定、検査、欠陥レビュー用などの走査電子顕微鏡において、画像を撮像する時間の短縮と高画質撮像の両立を実現する。 - 特許庁
The defect detection parameters determine what degree the difference between the surface image of a normal semiconductor wafer and the surface image of a semiconductor wafer having defects is allowed. 欠陥検出パラメータは、正常な半導体ウェハの表面画像と、欠陥が生じている半導体ウェハの表面画像との差をどの程度許容するか定めている。 - 特許庁
To highly accurately evaluate a surface image quality defect such as a surface scratch, a toner level difference, nonuniform gloss when outputting a highly glossy image such as a photograph, in electrophotography. 電子写真において例えば写真調の高光沢画像を出力する場合、表面キズ、トナー段差、光沢ムラ等の表面画質欠陥を高精度で評価すること。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a lenticular sheet having a thick convex portion of the sheet, no defect and high quality, which can be manufactured with high productivity. シートの凸部の厚さが厚く、欠陥がなく高品質で、かつ、生産性よく製造することができるレンチキュラーシートの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor wafer defect inspecting apparatus for automatically determining serious defects and for reducing the observation work of defects by an operator. 重大欠陥の判定を自動的に行なうことができ、オペレータによる欠陥の観察作業を軽減させることができる半導体ウェーハ欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a photomask manufacturing method which can reduce the manufacturing cost by forming the pattern considering the demanded properties such as the positioning precision of each pattern and defect levels. パターン毎に必要な位置精度、欠陥レベル等の要求特性を考慮してパターンを形成することで、製造コストを削減可能なフォトマスクの製造方法を提供する。 - 特許庁
After removing the resist 15 and the SiO2 film 14, when heat treatment is performed at 1050°C by nitrogen and ammonia gas atmosphere, a low-defect GaN layer 16 is formed at the groove part by a mass transport phenomenon. レジスト15とSiO_2膜14を除去した後、窒素とアンモニアガス雰囲気で、1050℃で熱処理を行うと、マストランスポート現象により溝部に低欠陥なGaN層16が形成される。 - 特許庁
To provide information reproduction technology for stable data reproduction even when reflected light quantity is rarely changed in an optical disk such as birefringence defect. 複屈折欠陥のような光ディスクに反射光量の変化が生じにくい欠陥がある場合でも、安定したデータ再生が行える情報再生技術を提供すること。 - 特許庁
To properly detect a defect of a pixel cell drive circuit before completion as a semiconductor device, even if the ratio of wiring capacitors to pixel capacitors increases. 画素容量に対する配線容量の比率が増大しても、半導体装置として完成する前に画素セル駆動回路の不良を適切に検出できるようにする。 - 特許庁
To grow a rutile single crystal free from crystal defect by changing the size of a seed crystal in the EGF process as one of the processes for growing rutile single crystals. ルチル単結晶の育成方法の一つであるEFG法において、種結晶の大きさを変えることによって、結晶欠陥の無いルチル単結晶を育成する。 - 特許庁
To provide an internal surface reflection type simple matrix liquid crystal display element which can be manufactured in good yield by eliminating the occurrence of display defect due to a short circuit between electrodes. 電極同士の短絡による表示欠陥の発生を無くし、歩留り良く製造することができる内面反射型の単純マトリックス液晶表示素子を提供する。 - 特許庁
The upper limit value of the pulling speed required to suppress the defect density within the allowable range is previously calculated from the distribution state of the grow-in defects in the cross section of the crystal. 結晶断面におけるgrown-in欠陥の分布状態からその欠陥密度を許容範囲内に抑制するのに必要な引上げ速度の上限値を予め求めておく。 - 特許庁
To detect a fine and irregular defect such as a rivelling without being affected by illuminance change, and to eliminate an influence of a printed matter. 照度変化の影響を受けず、しわのような細かく、かつ不規則な不良を検出でき、印刷物の影響を受けないPTPシール検査装置を提供すること。 - 特許庁
The reticle pattern is replaced as coordinate data by a certain means and the pattern defect is extracted by differential processing of this coordinate data and CAD coordinate data. レチクル検査装置では、レチクルパターンを何らかの手段で座標データとして置き換え、その座標データとCAD座標データとの差分処理よりパターン欠陥を抽出する。 - 特許庁
When it is the record to the prescribed position related to the last address, a defect control table, exclusive information for the system, and lead out are all shifted forward by the prescribed length. 最終アドレスに関連した所定の位置への記録の場合であれば、欠陥管理テーブル、システム専用の情報およびリードアウトごと所定の長さだけ手前にずらす。 - 特許庁
Thus, the defect detection precision can be improved more in the case in which the amplitude level of the RF signal decreases, inclining toward the maximum value or the minimum value. これにより、RF信号の振幅レベルが最大値側又は最小値側に偏って低下した場合におけるデフェクト検出精度をより向上させることができる。 - 特許庁
To prevent a defect in temperature rising work of a refrigerator in the inspection, maintenance, regeneration of a cryopump, or the like by improving the strength of a displacer of the cryogenic refrigerator. 極低温冷凍機のディスプレーサの強度を向上させ、点検やメンテナンス、又はクライオポンプ等の再生時における、冷凍機の昇温作業時の不具合を防止する。 - 特許庁