「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 216 217 218 219 220 221 222 223 224 .... 366 367 次へ＞- In a defect detector 10, a line sensor 12 picks up a test object 14, a binarizing circuit 18 prepares binary image data on the basis of a video signal of the line sensor 12.
欠陥検出装置１０は、ラインセンサ１２が検査対象１４を撮像し、２値化回路１８がラインセンサ１２の映像信号に基づいて２値画像データを作成する。 - 特許庁 - An image of a weld zone 4 welded with a laser welding is picked up with an image pick up means 1 and a texture analysis is performed for the obtained image with a defect decision device 2.
レーザ溶接による溶接部４の画像を撮像手段１により撮像し、不良判定装置２において、得られた画像についてテクスチャ解析を行う。 - 特許庁 - Or, the black defect region 3 is physically removed as high as the height of the recess of the original plate with the probe 5 of an inter-atomic force microscope harder than the material of the work piece.
あるいは被加工材質よりも硬い原子間力顕微鏡の探針５を用いて黒欠陥３をスクラッチングで原版の凹部の高さまで物理的に除去する。 - 特許庁 - To prevent a defect of folding around a ruled line from being generated and to improve appearance in a method for manufacturing a corrugated fiberboard box by processing a flat sheet-like corrugated fiberboard sheet.
平板状の段ボール板を加工して段ボール箱を製造する方法において、罫線の周辺で折り曲げ不良の発生を防止して見映えを向上させる。 - 特許庁 - To obtain an irreversible circuit element that employs a thin resin case with a prevents a defect at fitting of a yoke to the case, facilitates the fitting work and prevents the yoke fitted to the case from falling off.
薄厚の樹脂ケースを用い、且つヨークとの嵌合時の不良の防止、嵌合作業の容易化、および嵌合後の外れを防止した非可逆回路素子を得る。 - 特許庁 - To provide a method for correcting patterns capable of stably correcting a fine pattern and preventing the periphery of a defect part from being contaminated by correction fluid.
微細パターンを安定に修正することができ、修正液によって欠陥部周辺が汚染されるのを防止することが可能なパターン修正方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent the inclination of an accommodating container caused by a pressure on a transfer region side when the door of a partition is released to prevent a defect caused by the inclination of the accommodating container.
隔壁の扉開放時における移載領域側の圧力による収納容器の傾きを防止して、収納容器の傾きに起因する不具合を防止する。 - 特許庁 - To provide a method for forming a plated pattern with no defect at low cost, without changing a physical and electrical characteristics of a base material, or without damaging the base material.
基材の物理的特性、電気的特性を変化させることなく、あるいは損傷を生じさせることなく安価で、欠陥のないメッキパターンを形成することが可能である。 - 特許庁 - To surely discriminate only a true defect without being affected by irregularity or the like included in the photographed image of the package of an electronic component.
電子部品のパッケージの撮影画像に含まれるむら等の影響を受けず、真の欠陥のみを確実に判別できる電子部品の外観検査方法、を提供する。 - 特許庁 - To provide a coil former for air-core coils that is excellent in weld and formability, and product performance without lack of weld and adhesion and a rare short defect among self-welding insulating straight-angle electric wires.
自己融着性絶縁平角電線相互の融着不足やレアーショート不良のない融着成形性、品質性能に優れる空芯コイル用巻型を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for mounting a component capable of improving production efficiency by early detecting a possible cause that would be a defect in quality of a component mounted substrate.
部品実装基板の品質不良となる原因を早期に検出することにより生産効率を向上させることが可能な部品実装方法を提供する。 - 特許庁 - Even when new defect or the like are caused, since File Entry, that is, a position and size of image data are held at two places, even if one is lost, the image can be reproduced.
新たに欠陥等が生じた場合でも、File Entry即ち画像データの位置とサイズが２箇所に保持されているため、一方が失われても画像の再生が可能となる。 - 特許庁 - In the yoke, distortion generated at a rounding work is released by the grooves 2 while following to the metal 11, and a bending inclination defect is eliminated and the yoke is improved in the circularity and inner/outer diameter accuracy.
ヨークは芯金１１に倣いつつ溝２によって曲げ加工時の歪みが解放され、曲げ癖が除去されてヨークの真円度や内外径精度が向上する。 - 特許庁 - To inspect a mask defect with high accuracy even in a Levenson type phase shift mask having a configuration that an engraved region and a non-engraved region are adjacent to each other.
掘り込み領域と非掘り込み領域とが隣接するように構成されたレベンソン型位相シフトマスクであっても、高精度なマスク欠陥検査を行うことを可能とする。 - 特許庁 - To provide a device and a method for measuring web tension accurately in a printing machine by removing a defect in conventional technique.
上記のような従来技術における欠点を取り除いて、印刷機において正確なウェブテンションを測定することができるような装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an active matrix type liquid crystal display panel free from a black-spot irregularity even in a case where a defect part is present in the insulating film of a gate electrode.
ゲート電極における絶縁膜に欠損部分が存在する場合であっても黒点ムラが生じないアクティブマトリクス型液晶表示パネルの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To obtain a high-quality semiconductor substrate free from an interwiring short circuit, disconnection and the defect of a switching element due to static electricity generated during a manufacturing process and an electrooptical device.
製造工程中に発生する静電気による配線間短絡、断線及びスイッチング素子欠陥のない高品質の半導体基板及び電気光学装置を得る。 - 特許庁 - The defect inspection of the desired pipe portion can be conducted by moving the air plugs 12 and 13 in the pipe and fixing and setting them at the inspection position.
したがって、配管内を移動し、エアープラグ１２、１３を検査する位置に固定設定することによって希望する配管部分の欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁 - To easily, quickly and highly accurately detect a defect of a press plate by processing an image photographed by a plurality of cameras while rotating the press plate of photogravure printing.
グラビア印刷の刷版を回転させつつ複数のカメラで撮り込んだ画像を処理して、当該刷版の欠陥を簡易且つ迅速、高精度で検出すること。 - 特許庁 - Accordingly, a brazing defect such as the generation of a gap between the header tank 22 and the pipe 12 passing through the header tank 22 can be prevented.
したがって、ヘッダタンク２２内外を貫通するパイプ１２とヘッダタンク２２との間に隙間が発生してしまう等のろう付け不良が発生してしまうことを防止でき得る。 - 特許庁 - To provide a static Web site construction method for correcting such a defect that when the amount of information become large, management becomes extremely complicate in using a static Web site.
静的Ｗｅｂサイトを用いるにあたり、情報量が多くなると管理が非常に煩雑となるという欠点を改善した静的Ｗｅｂサイト構築方法の提供 - 特許庁 - To provide a method for automatically detecting an external surface defect (outside diameter dimple) of a tubular material in production equipment in which a sizer is installed downstream of an elongator.
延伸圧延機の下流に定径圧延機を設置した管材の製造設備において、管材の外面疵（外径凹み疵）を自動的に検出する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a wire surface inspection device capable of detecting accurately a defect such as a flaw or dirt on the surface of a linearly extending wire rod (wire to be inspected).
線状に伸びる線材（被検査線条）の表面の疵や汚れ等の欠陥を正確に検出することのできる線条表面検査装置を提供すること。 - 特許庁 - Next, comparison between a set threshold to be a defect criterion with the correction data, and comparison with a normal value of an inclination of the correction data in a set section are performed.
次に、設定された欠陥判断基準となる閾値と修正データとの比較と、設定された区間内での修正データの傾きの正常値との比較とを行う。 - 特許庁 - The image data is divided into the data in every of the display cells, using the minimum value in the standard deviation profile as coordinates of the each cell, and the defect is determined the display cell by the display cell.
そして、標準偏差プロファイルの極小値を各表示セルの座標として、画像データを表示セル毎のデータに分割し、表示セル毎に欠陥判定を行う。 - 特許庁 - The thickness of the organic layer 10 sandwiched between the cathode K and the anode A is about 100 nm, and whiskers or the like may form between these electrodes, often leading to a short circuit defect.
陰極Ｋと陽極Ａ間に挟持された有機層１０の厚みは１００ｎｍ程度であり、両極間にウイスカー等が生じて、短絡欠陥に至る場合が多い。 - 特許庁 - The defect reviewing system 10 obtains image data of regions subjected to a review of a semiconductor wafer WF which is placed on a stage 11 by a data obtaining mechanism 12 for reviewing.
欠陥レビュー装置１０は、レビュー用データ取得機構１２によってステージ１１に載置された半導体ウェハＷＦのレビュー対象領域を画像データ化する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a forging steel ingot particularly suitable to be used by being forged, by providing satisfactory uniform and fine structure mitigated with a casting defect.
鋳造欠陥の緩和された良好な均一・微細組織を有することで、特に鍛造されて使用するに適した鍛造用鋼塊の製造方法を提供する。 - 特許庁 - Thus, proportion of the presence of the crystal defect 4b by the growth of a GaN film 4 can be reduced by patterning the mask 3 into the shape of dots.
このように、マスク３をドット状にパターニングすることによって、ＧａＮ膜４の成長による結晶欠陥４ｂの存在する割合を減少させることができる。 - 特許庁 - To provide a method for easily producing a periodic index structure having a period nearly equal to light wavelength and usable as a defect-free or defective photonic structure.
光波長程度の周期を持ち無欠陥或いは欠陥のあるフォトニック構造体として使用し得る屈折率周期構造体の簡易な製造方法である。 - 特許庁 - This subframe 1 has no defect such as blow hole in a joined part, has no distortion in the vicinity of the joined part, and has sufficient strength for use as the subframe.
このサブフレーム１は、接合部にブローホール等の欠陥が無く、接合部分付近の歪みも無く、サブフレームとして使用するのに充分な強度を有するものであった。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which is capable of preventing the temperature in the apparatus from excessively rising and maintaining excellent image quality free from a fixation defect, etc.
機内温度の過度な上昇を防止すると共に、定着不良等が生じない良好な画像品質を維持することのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To precisely perform the inspection of a surface state such as defect inspection on an object to be inspected by removing the influence of variance of elements of a linear image sensor constituting a camera.
カメラを構成する一次元イメージセンサの素子ばらつきの影響を除去して、検査対象物上の欠陥検知などの表面状態の検査を精度よく行う。 - 特許庁 - A repair method repairs the bright spot defect in a pixel area (10a) when manufacturing an electrooptical device sandwiching an electrooptical substance (50) between a pair of substrates (10, 20).
一対の基板（１０、２０）間に電気光学物質（５０）を挟持してなる電気光学装置の製造の際、その画素領域（１０ａ）における輝点不良をリペアする。 - 特許庁 - To achieve a method and an apparatus for easily and accurately detecting such defect as fatigue cracks that are generated at a fillet-welding section using ultrasonic waves.
本発明は、隅肉溶接部に発生する疲労き裂等の欠陥を超音波を用いて、簡便、かつ、高精度に検出する方法およびその装置をを実現する。 - 特許庁 - To allow a position of a detected micro-defect to be marked by an inspection device itself by robot scanning during scanning of a coating face.
ロボット走査による検査装置自体で、検知された微小欠陥の位置をその塗面走査中にマーキングすることを可能にする塗面検査装置用マーキング方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a cathode film to eliminate a conventional technical defect, to reinforce work of a thermionic cathode and for a thermionic arc discharge lamp cathode.
従来の技術の欠点を排除し、熱電子陰極の働きを強化しかつ熱電子アーク放電ランプ陰極のための陰極被膜を提供することである。 - 特許庁 - To provide a surface inspection device and a surface inspection method for easily determining an optimum combination of image processing filters for detecting a defect on a substrate.
基板上の欠陥を検出するための画像処理フィルタの最適な組み合わせを、容易に特定することができる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁 - To solve the defect of a conventional technology related with the transmission of force feedback over a long distance, especially, the developed situation of a distributed virtual world and a telepresence system.
長い距離にわたる力フィードバックの伝送に関し、特に、分散された仮想世界およびテレプレゼンス・システムの展開の状況に関し、従来技術の欠点を解消する。 - 特許庁 - In this case, sheet defect information showing a defective spot on the first and/or second sheet material is read and the IC unit is not supplied to the defective spot.
第１のシート材及び／又は第２のシート材に付された不良箇所を示すシート不良情報を読み取り、不良箇所には前記ＩＣユニットを供給しない。 - 特許庁 - To provide a technology that improves a substantial sensitivity by suppressing a misreport, while keeping the entire defect capture rate at a high rate in an appearance inspection.
外観検査において、全体の欠陥捕捉率を高く維持しながら虚報を抑制することにより実質感度を向上する技術を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a method for managing regeneration of a diesel-particulate filter, capable of overcoming, at least partially, a defect such that temporal reliability is not guaranteed.
経時的な信頼性を保証しないなどの欠点を少なくとも部分的に克服することができるディーゼル粒子フィルターの再生を管理する方法を提供する。 - 特許庁 - The output signal detected is stored as an image signal, and the image stored is compared in an operation section 29 and a defect determining section 30 to thereby determine defects.
検出されたその出力信号は画像信号として記憶され、記憶された画像は演算部２９及び欠陥判定部３０で比較され、欠陥が判定される。 - 特許庁 - To prevent edge seam flaws as a surface defect in the vicinities of edges stretching in the rolling direction generated in a hot rolling stage in a method for producing a ferritic stainless steel sheet.
フェライト系ステンレス鋼板の製造方法において、熱間圧延過程で発生する圧延方法に延びたエッジ近傍の表面欠陥であるエッジシーム疵を防止する。 - 特許庁 - To reduce noise and vibration by simplifying a conveying constitution by reversing paper and to prevent occurrence of defect in image quality caused by vibration.
用紙を反転して搬送する構成を簡略化して騒音や振動を軽減することができるとともに、振動に起因する画質の不具合の発生を防止する。 - 特許庁 - To provide network packet transmission method and device which resolves a problem of wasting a bandwidth in the prior art, and at the same time prevents defect of the prior art.
先行技術の帯域幅を浪費する問題を解決すると同時に、先行技術の欠点を回避するネットワークパケット伝送方法および装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inspection device capable of inspecting precisely the presence of a defect in a wiring pattern, as to an inspected object with the wiring pattern formed on a polycrystal substrate.
多結晶基板上に配線パターンが形成されてなる被検査物について、その配線パターンの欠陥の有無を精度良く検出できる検査装置を提供する。 - 特許庁 - With the use of the variable index write technique, each data block in a cluster is written in a corresponding sector of a track to which the head encounters when the sector does not have a defect (506).
可変インデックス書き込み技術を使用して、クラスタの各データ・ブロックを、セクタに欠陥がないときにヘッドが遭遇するトラックの対応するセクタに書き込む(506)。 - 特許庁 - To provide a defect inspection method of a sheet material enabling continuous measurement and causing no lowering of the properties of the sheet material caused by the surface damage of the sheet material.
連続的な測定が可能であり、また、シート表面を損傷によるシート材の性能低下を生じさせることがない、シート材の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent the generation of a surface defect on a surface on which a resist film is formed at the time of etching an aperture of a current block layer by a semiconductor laser having a SAS structure.
ＳＡＳ構造の半導体レーザにおいて電流ブロック層の開口部のエッチングの際に、レジスト膜が形成された表面の表面欠陥の発生を防止する。 - 特許庁
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