「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 219 220 221 222 223 224 225 226 227 .... 366 367 次へ＞- A virtual dimension calculation part 307 calculates the dimensions of the defect in the virtual space using a plurality of space coordinates converted by the space coordinate conversion part 305.
仮想寸法算出部３０７は、空間座標変換部３０５が変換した複数の空間座標を用いて仮想空間における前記欠陥の寸法を算出する。 - 特許庁 - In addition, a function that expresses yield, which measures defect density depending on the value of wiring intervals, is also used to calculate wiring balance that improves yield.
また、配線間隔の大きさによって欠陥密度の大きさを計る歩留まりを表現する関数も有し、これによって歩留まりが向上する配線バランスも行う。 - 特許庁 - To provide a compact electrophotographic device having a toner recycle mechanism, prevented from causing an image defect such as surface staining, and capable of performing excellent image formation over a long term.
トナーリサイクル機構を有し、地汚れなどの画像欠陥が発生せず、長期に渡り、良好な画像形成を行うことが可能な小型の電子写真装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a verification device which extracts only an original defect from layout data of a semiconductor integrated circuit device including an intentionally introduced experiment unit.
意図的に導入された実験箇所を含む半導体集積回路装置のレイアウトデータから本来の欠陥のみを抽出する検証装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an electron microscope endowed with functions of direct-image observation of a high throughput by defect inspection of a semiconductor wafer or the like and scanned image observation at a high resolution.
半導体ウエハ等の欠陥検査による高スループットの直接写像観察と、高分解能での走査像観察機能を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - This bone prosthetic material 1 is so used as to fill a single osseous defect site with a plurality of bone prosthetic materials and each bone prosthetic material 1 has a pellet shape.
本発明の骨補填材１は、１つの骨欠損部に複数個を充填して使用されるものであり、各骨補填材１は、それぞれペレット状をなしている。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a small laminated ceramic electronic component, which has high reliability and no structure defect, and in which an internal electrode and ceramic layers can be made thin.
高信頼性で、構造欠陥がなく、内部電極およびセラミック層の薄層化を可能とする小型の積層セラミック電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁 - Consequently, in-plane unevenness is suppressed in all density regions and image quality defect (e.g. false contour line) caused by in-plane unevenness correction processing can be prevented from being actualized.
これにより、全ての濃度領域における面内むらを抑制し、かつ、面内むら補正処理に起因する画質欠陥（擬似輪郭など）の顕在化を防止することができる。 - 特許庁 - To actualize high reliability when ID information is reproduced by making it possible to correct a channel bit or word even if a defect is caused.
ディフェクトが発生したとしても、チャネルビット、またはワードの補正を行うことを可能とし、ID情報を再生するに際し、高い信頼性を実現することができるようにする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device having a good hetero structure that a crystal defect or the roughness of an interface is improved and having stable characteristics, and to provide a method of manufacturing the same.
結晶欠陥や界面の荒れが改善された良好なヘテロ構造を有し、安定した特性を有する半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a jig for heat treating semiconductor wafer and a method for manufacturing the same causing no crystal defect such as slip on the semiconductor wafer under high temperature heat treatment.
高温で熱処理を行っても、半導体ウェーハにスリップ等の結晶欠陥が発生しない半導体ウェーハ熱処理用治具およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - Thereby, hydrogen is bonded to a dangling bond in a crystal, thus producing the crystalline silicon particle 3 whose crystal defect is inactivated.
従って、簡素かつ安全な工程で、結晶中のダングリングボンドに水素が結合され、結晶欠陥が不活性化された結晶質シリコン粒子３を製造することができる。 - 特許庁 - The monthly fatal defect density of a reference product that is different in wiring pattern from, but identical in manufacturing process with the prediction subject product is calculated from measured data.
予測対象製品とは配線パターンが異なるが製造プロセスが同じであるリファレンス製品について、実測データから月別致命欠陥密度を算出する。 - 特許庁 - To manufacture good quality silicon carbide bulk single crystal having no micro-pipe defect and a small number of lattice defects at a melt temperature of ≤2000°C and at a high growth rate.
マイクロパイプ欠陥を含まない、格子欠陥の少ない良質な炭化珪素バルク単結晶を、２０００℃以下の融液温度で、高い成長速度で製造する。 - 特許庁 - The defect inspection apparatus 1 includes a coordinate table setting part 6 for setting a coordinate table 6a, which indicate the relation between the irradiating position of a laser light 5a and the order of irradiation.
欠陥検査装置１は、レーザ光５ａの照射位置とその照射順序との関係を示す座標テーブル６ａを設定する座標テーブル設定部６を有する。 - 特許庁 - To improve an error rate by continuing coefficient learning of a coefficient controller of an adaptive equalizer without detecting an optical disk with low quality of the playback signal as a defect.
再生信号の品位が低い場合はディフェクトとして検出せずに、適応型等化器の係数制御器の係数学習を継続し、エラーレートを向上する。 - 特許庁 - To provide an optical disk device capable of preventing the damaging of an objective lens or a disk caused by the defect of the disk, and its control method.
ディスクに欠陥があることによって対物レンズまたはディスクが損傷を受ける事態を防止することができる光ディスク装置及びその制御方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a sheet conveying equipment capable of generally performing a sheet conveying operation at a high speed and preventing a defect from occurring in the sheet conveying operation.
シート搬送動作全体として高速度で行うとともに、シート搬送動作で不具合が発生するのを防止することができるシート搬送装置を提供すること。 - 特許庁 - Thus, the thin film capacitor 10 high in permittivity and reliability (or a long life) is obtained by suppressing formation and movement of an oxygen defect through the donor-acceptor designing.
また、ドナー・アクセプタ設計を行って酸素欠陥の生成と移動を抑制するため、誘電率及び信頼性（ないし寿命）が高い薄膜コンデンサ１０が得られる。 - 特許庁 - To provide an infrared ray image correction apparatus detecting a blinking defect with high accuracy without being affected by lens shading correction deviation, offset correction deviation and sensitivity correction deviation.
レンズシェーディング補正ずれ、オフセット補正ずれ、及び感度補正ずれによる影響を受けずに精度よく点滅欠陥を検出できる赤外線画像補正装置を得る。 - 特許庁 - Consequently, a stress concentration etc. to a trench structure is alleviated upon the formation of the trench 5, and the occurrence of a crystal defect in the semiconductor substrate 2 can be prevented.
これにより、トレンチ５形成の際にトレンチ構造部への応力集中等が緩和され、半導体基板２に結晶欠陥が発生することが防止される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device having good silicide/silicon interface in which a crystal defect or roughness of the interface is improved and having stable characteristics, and to provide a method of manufacturing the same.
結晶欠陥や界面の荒れが改善された良好なシリサイド／シリコン界面を有し、安定した特性を有する半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a pressing die and a pressing method for a tailored blank having excellent press formability by solving the defect of the press formability of a conventional tailored blank.
従来のテーラードブランク材のプレス成形性の欠点を解決し、優れたプレス成形性能を有するテーラードブランク材プレス用金型およびプレス方法を提供すること。 - 特許庁 - Sphingomyelin has an effect for suppressing the reduction of a protein kinase C activity caused by aging and it is suggested that the compound is effective for preventing and treating the Alzheimer type defect of memory.
スフィンゴミエリンには、老化によるプロテインキナーゼＣ活性の低下を抑制する効果があり、アルツハイマー型記憶障害の予防や治療に有効であることが示唆された。 - 特許庁 - To provide a circuit board which hardly causes a defect such as a short circuit due to a wire flow, whose wiring process is easy, and which copes with a multilayer wire.
ワイヤ流れによる短絡等の不良が発生しにくく且つワイヤリング工程が容易であり、さらに多層ワイヤにも対応可能な回路基板を実現できるようにする。 - 特許庁 - To provide a signal processing circuit capable of easily detecting both a single defect and consecutive defects, and to provide an imaging device with the signal processing circuit.
単独欠陥の検出であっても連続欠陥の検出であっても容易に検出することができる信号処理回路及びそれを備えた撮像装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device for appropriately selecting a spare cell instead of a defective cell without generating a defect by the residual resistance of fuse wiring after laser irradiation.
レーザ照射後のヒューズ配線の残留抵抗によって不良が発生することなく、不良セルの替わりにスペアセルが適切に選択される半導体装置を得る。 - 特許庁 - To provide a compound semiconductor light emitting diode and a light emitting diode array having a high emission efficiency by reducing crystal defect on the interface of an emission layer and a clad layer.
発光層とクラッド層との界面の結晶欠陥を低減させ、発光効率の高い化合物半導体発光素子及び発光ダイオードアレイを提供する。 - 特許庁 - In this semiconductor device, point defects 24 are included in a region 32 where defect factor impurity included in a silicon substrate 12 is distributed with low concentration.
半導体デバイスにおいて、シリコン基板１２に含まれる欠陥要因不純物が低い濃度で分布した領域３２に、点欠陥２４を含むことを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which has no distortion or defect such as lattice mismatch or crystal dislocation when crystal growth is made on a substrate, and also to provide a method for manufacturing the semiconductor device.
基板上に結晶を成長させる際、格子不整合や結晶の転位などの歪みや欠陥がない半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a pixel defect correcting device which detects and corrects pixel defects with good accuracy so as to obtain high quality images with little degradation in the image quality.
画素欠陥を精度良く検出・補正することで、画質の劣化が少ない高品質な画像を得ることができる画素欠陥補正装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide design and test methodology for breaking a linear relation between a defect detecting range or test possibility and a design test or a cost related to production.
欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係をうち破る設計及びテスト方法論を得る。 - 特許庁 - To solve the problem that a memory defect cannot be decided only from the data outputted through latch circuits from a pair of read data buses, when a memory test is carried out by address degradation.
アドレス縮退によりメモリテストを行った時は、１対のリードデータバスからにラッチ回路を通じて出力されるデータだけではメモリ不良を判定できない。 - 特許庁 - To provide a toner capable of obtaining stable image quality without causing image defect even in use over a long term in high-speed development system.
高速現像システムにおいて、長期にわたる使用においても画像欠陥を生じることなく、安定した画像品質を得ることができるトナーを提供すること。 - 特許庁 - A material of removing a melamine resin layer of the melamine resin decorative sheet having the defect such as a gouge and a scratch on the surface by a sanding device, is used as the phenol resin laminated plate.
更に、該フェノール樹脂積層板として、表面に打痕、擦り傷等の欠点のあるメラミン樹脂化粧板のメラミン樹脂層をサンディング装置で除去した物を用いる。 - 特許庁 - To provide a molding sand by which, when the mold is produced by using urethane binder, the mold having a little gas defect and further, high strength and good surface flatness can be produced.
ウレタンバインダーを用いて鋳型を製造する際に、ガス欠陥が少なく、より高強度で、表面平滑性も良好な鋳型を製造できる鋳物砂を提供する。 - 特許庁 - To provide a distribution device and a program limiting the use of software when there is a defect in the software in the distribution device for distributing the software to a device of a distribution destination.
ソフトウェアを配布先装置に配布する配布装置においてソフトウェアに不具合がある場合に、その利用を制限する配布装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - A second interlayer insulation layer 7, the pixel electrodes 9a and an alignment layer 16 are flatly formed compatibly with the upper surface of the first interlayer insulation layer 4 and no alignment defect is generated.
第２層間絶縁膜（７）、画素電極（９ａ）、配向膜（１６）は、第１層間絶縁膜（４）上と整合的に平坦に形成され、配向不良が生じることはない。 - 特許庁 - To allow the work for irradiating a defect detection object with a radiation while detecting the defects of its solid insulator to be performed efficiently and easily without erroneous determination.
欠陥検出対象物に放射線を照射しながらその固体絶縁物の欠陥を検出する作業を、効率よく且つ誤判定なく容易に実施する。 - 特許庁 - To provide a multilayer printed wiring board where an insulating material is covered in a gap and surrounding of a thick circuit pattern in a state of high quality and can inhibit a peeling defect.
厚肉回路パターンの間隙や周辺に絶縁材が高品質な状態で被覆され、かつ剥離不具合を抑制することができる多層プリント配線板の提供。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a piezoelectric bimorph element and the piezoelectric bimorph element in which manufacturing is facilitated even when a width is made narrow, and a short-circuiting defect between electrodes does not occur, either.
幅を狭くしても製造が容易で電極間の短絡不良も発生することがない圧電バイモルフ素子の製造方法及び圧電バイモルフ素子の提供。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus equipped with an intermediate transfer unit where a toner conveyance path is formed, an opening defect of a toner exit portion being reliably eliminated while toner is prevented from scattering.
トナー搬送路が形成された中間転写ユニットを備えた画像形成装置において、トナーの飛散を防ぐ一方で、トナー出口部の開放不良を確実に抑止する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor substrate and a method for manufacturing the semiconductor substrate, with which GaAs is made to grow heteroepitaxially on an Si-off substrate with low defect density.
Ｓｉオフ基板上にＧａＡｓを低欠陥密度でヘテロエピタキシャル成長させることのできる半導体基板及び半導体基板の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent degradation of throughput in a scanning electron microscope having a function of imaging a defect on a semiconductor wafer and transferring a captured image to an external device.
半導体ウェーハ上の欠陥を撮像し、撮像画像を外部装置へ転送する機能を有する走査型電子顕微鏡において、スループットの低下を防止する。 - 特許庁 - The formed brightness signals are used for detecting the pixel defects and hence the pixel defect can be exactly detected, even if the signal level of pixels for every color filter varies.
画素欠陥検出には作成された輝度信号が使用されるので、色フィルタ毎の画素の信号レベルのばらつきがあっても正確に画素欠陥を検出できる。 - 特許庁 - To specify a soiled position when an image defect is caused by toner or the like in an image forming device equipped with plural image forming parts.
複数の画像形成部を備えた画像形成装置において、トナー等が原因で画像欠陥が生じた場合、その汚れの位置を特定することを課題とする。 - 特許庁 - By applying such a method for diagnosing deterioration in an organic material to a manufacturing process for an organic EL element, a defect occurrence process can be easily determined.
このような有機材料の変質を診断する方法を有機ＥＬ素子の製造工程に適用することで、欠陥発生工程を容易に特定することができる。 - 特許庁 - To prevent faulty electrification and an image defect by excellent removing residual toner left on the surface of a photoreceptor drum after transferring a toner image in a cleaner-less type image forming apparatus.
クリーナレス方式の画像形成装置において、トナー像転写後に感光ドラム表面に残った残留トナーを良好に除去して帯電不良、画像不良を防止する。 - 特許庁 - The phosphonium carboxylate is produced from phosphonium hydroxide and alicyclic polycarboxylic acid, however this method has a defect that many alicyclic carboxylic acids are solid and hard to handle.
ホスホニウムカルボキシレートは、ホスホニウムヒドロキシドと脂環族ポリカルボン酸から製造することができるが、脂環族ポリカルボン酸の多くは固体であり取り扱いにくいという欠点がある。 - 特許庁 - Or the vinylon triaxial net 3 is fastened by the staple 4, and waterproof rubber sheet 5 containing a mesh is spread on it to obtain a waterproof effect to solve the defect.
又、ビニロン三軸ネットを又釘で止め、その上に防水ゴムシートメッシュ入りを張ることにより、防水効果等が得られ上記の欠点を解決する事ができるのである。 - 特許庁
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