「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 215 216 217 218 219 220 221 222 223 .... 366 367 次へ＞- To provide a liquid crystal display device and a method of manufacturing the device for reducing the number of mask processes, obtaining a storage capacitance and preventing a light leakage defect due to a step difference.
本発明は、マスク工程数を減らし、ストレージキャパシタンス確保、段差による光漏れの不良防止可能な液晶表示装置およびその製造方法に関する。 - 特許庁 - To provide an information processing apparatus capable of preventing a defect, such as damage of a connector part provided in a front panel to which a mobile recording medium is attached.
携帯型の記録媒体が取り付けられる前面パネルに設けられたコネクタ部が破損することなどの不具合を防止できる情報処理装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a correction liquid for correcting a color filter defect generating no clogging in an ejection port of a micro dispenser and no volume contraction of a coated film (corrected film).
マイクロディスペンサの吐出口に目詰まりを起こさず、また、被膜（修正膜）が体積収縮を起こさないカラーフィルタ欠陥修正用の修正液を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for controlling label feeding which prevents a malfunction such as piling-up sticking caused by defect of detection of a sensor to a tooth falling-out label which has no label on a label roll.
ラベルロール上にラベルのない、歯抜けラベルに対するセンサーの検知不良による重ね貼り等の誤動作を防ぐラベルの送り制御方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a double heating thermostat formed such that a product defect due to a solvent component hardly occurs when a plate-form object to be heated having a surface coated layer is thermally treated.
表面塗布層を有する板状被加熱物を熱処理する際に、溶剤成分に起因する製品欠陥を発生し難い二重加熱恒温槽を提供する。 - 特許庁 - To provide a disk cleaner which can adequately remove flaws or contamination on the disk without generating a defect such as waving on the disk and assuring an improved finish.
ディスクにうねり等の不具合を生じさせることなく、ディスクに付いた傷や汚れを適正に除去でき、かつ、仕上がりをより綺麗にできるディスククリーナを提供する。 - 特許庁 - To provide a structure for a liquid crystal display device in which a COG process is used and cause of display failure such as line defect is easily found, and to provide its inspecting method.
ＣＯＧ工法を採用した液晶表示装置において、線欠陥等の表示不良の原因究明が容易に行える構造及びその検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a butt welding method which causes no welding defect regardless of the irregularity of end face (cutting cross section) of a material to be butted.
本発明は突き合わせ溶接方法に関し、突き合わせのための素材端面（切断面）の凹凸に関らず、溶接欠陥を生じないようにすることを目的とする。 - 特許庁 - To materialize a structure for determining whether abnormality is caused or not based on a defect such as flaking or crack at a rolling contact part of an rolling bearing unit at low cost.
転がり軸受ユニットの転がり接触部に、剥離、亀裂等の欠陥に基づく異常が発生しているか否かを判定する為の構造を、低コストで実現する。 - 特許庁 - To provide printing equipment which enables adequate determination of a defect of an illuminating light source, in regard to the printing equipment having an image pickup part for picking up an image of printed matter.
印刷物を撮像する撮像部を有する印刷装置において照明光源の不良を適切に判定することができる印刷装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a developing device capable of suppressing occurrence of a defect in image formation even when a foreign matter such as agglomerates of a developer is produced in a developing chamber.
現像室において現像剤の凝集物などの異物が生じても、画像形成不良の発生を抑制することができる現像装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inspection device and method capable of inspecting an optical film by simple constitution, and capable of detecting easily a defect automatically.
光学フィルムの検査を簡単な構成で行うことが可能であり、欠陥の自動検出も容易に行うことが可能な検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an image reading apparatus capable of accurately detecting a printing defect without being affected by a setting value of a document scan resolution designated by a user.
ユーザが指定した原稿の読取解像度の設定値に影響を受けることなく、印字不良を精度よく検出することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a simple and convenient method for manufacturing a strain Si-SOI substrate wherein the surface of a strain Si layer is flat and has no defect, and only the strain Si layer is formed on an insulating layer.
歪Ｓｉ層表面が平坦で欠陥が少なくかつ絶縁層上に歪Ｓｉ層しか有しない歪Ｓｉ−ＳＯＩ基板を簡便に製造する。 - 特許庁 - At this time, as all memory cells 11 are in a non-selection state, when short circuit defect is not caused, a short circuit current is not generated independently of contents of the memory cells 11.
この時、すべてのメモリセル１１は非選択状態であるので、短絡不良が無ければこのメモリセル１１の内容に拘らず短絡電流の発生はない。 - 特許庁 - Thus, the generation of the shifting defect that the semiconductor element chip 20 is lifted locally, due to the thermal expansion of the air inside the void part 16 of the diamond chip part 14 is prevented.
従って、ダイアチップ部１４の空洞部１６内の空気の熱膨張に起因して半導体素子チップ２０が局所的に浮き上がるアオリ不良の発生が防止される。 - 特許庁 - To provide an image reading unit which reads both sides of a manuscript homogeneously in a short period of time, and at the same time, resolves a defect caused by the insufficient amount of light.
原稿の両面を同質で短時間に読み取ることができるとともに、光量不足による不具合を解消することができる画像読取装置を提供すること。 - 特許庁 - To prevent the inducement of defective formation, such as gas defect, caused by sucking of moisture remained in a fine gap between die parting part and a main die into a die cast product part.
金型分割部と主型との微小隙間に残留する水分が金型製品部へと吸い出され、ガス欠陥等の成形不良を誘発することを防ぐ。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile semiconductor memory in which a defect such as word line-bit line connection, word line-bulk connection, word line-word line connection, or the like can be relieved.
ワードライン−ビットライン連結、ワードライン−バルク連結及びワードライン−ワードライン連結等のような欠陥を救済できる不揮発性半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁 - The influence of the parameter of the gradation conversion is reduced from the extraction result of the feature quantity and the generation of the defect on the image is controlled, thereby.
これにより、特徴量の抽出結果から階調変換のパラメーターの影響を低減させることができ、画像上の不具合の発生を抑制することができる。 - 特許庁 - When a short circuit occurs between the contactors 42, 43, a positioning error or a defect is assumed on the insulating sheet 8 in the semi-fabricated product 4, and so the semi-fabricated product 4 is removed from the fabrication process.
コンタクタ71，72間が短絡している場合は、半製品４の絶縁シート８の位置のずれあるいは欠品があるため、半製品４を製造工程から排除する。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display element where a display defect due to light leakage from an oblique visual field angle is improved, high quality is realized and the manufacturing cost is not increased.
斜め視野角からの光漏れによる表示不良を改善し、高品位な液晶表素子を実現し、かつコストアップにもならない液晶表示素子を提供する。 - 特許庁 - To reliably output an alarm to the outside when a defect occurs and is detected in an alarming route or in an external alarm output circuit of a digital protection and control device.
ディジタル形保護制御装置の警報経路や外部警報出力回路に不良が発生してこれを検出したときに、確実に外部へ警報出力を行なう。 - 特許庁 - Consequently, a crystal defect due to re-crystallization can be prevented at a border part between a lightly-doped impurity diffusion region and a heavily-doped diffusion region.
これにより、低濃度不純物拡散領域と高濃度不純物拡散領域との境界部において、再結晶化による結晶欠陥の発生を防ぐことができる。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor which can securely suppress occurrence of a shape defect of an element separation region at the periphery of the end of an active region.
活性領域の端部周辺における素子分離領域の形状不良の発生を確実に抑制しうる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - Therefore, initial defect can be accelerated respectively in a circuit part to which VPP is applied and a circuit part to which VDDS is applied, and test efficiency is improved.
したがって、ＶＰＰが印加される回路部分とＶＤＤＳが印加される回路部分とで初期不良を別個に加速させることができ、テスト効率が高くなる。 - 特許庁 - To provide a high-strength dual-phase hot-dip galvannealed steel sheet which has high strength and superior formability, and can inhibit the occurrence of a surface defect such as an unplated pattern.
高強度で成形性に優れ、不めっき模様等の表面欠陥の発生を抑制できる高強度複合組織合金化溶融亜鉛めっき鋼板を提供すること。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device from which roughening of display is eliminated and further in which characteristics of a transmissive portion is not deteriorated by fixing the position of alignment defect to a reflective portion.
配向欠陥の位置を反射部に固定させることにより、表示ざらつきを無くし、かつ透過部の特性を劣化させることのない液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - Since the image pick-up part 18 uses a high-resolution line CCD 21, it can detect even a small defect that could not be detected by a conventional surface-inspecting device.
撮像部１８は、高解像度のラインＣＣＤ２１を使用しているため、従来の表面検査装置では検出できなかった小さな欠陥も検出する。 - 特許庁 - When a defect of a subordinate functional unit is detected, the subordinate functional unit is replaced with a subordinate functional unit among the wholly or partially preliminary functional units.
副機能単位の欠陥が検出される場合、その副機能単位は、切替えられて、全体又は部分的な予備機能単位内の副機能単位と交替される。 - 特許庁 - As one specified execution style, a trial inspection threshold setting method is provided but in that method, an initial threshold is corrected after the defect of a trial inspection storage data is analyzed.
１つの特定実施形態は試行検査しきい値設定方法を提供するが、そこでは初期しきい値が試行検査格納データの欠陥分析の後修正される。 - 特許庁 - To measure, effectively in a short time, an internal defect or a surface flaw generated in the diameter direction or the like by an ultrasonic inspection method relative to the side part of a rotor inspection object.
回転体被検査物の側面部に対する超音波探傷方法で径方向等に生じた内部欠陥や表面傷を短時間で効率よく測定する。 - 特許庁 - Therefore, ultrasonic sensors 21, 22 are arranged in the hole 12a for inspection, thus ultrasonically inspecting the defect D occurring at the seal welding section W11.
このため、検査用穴１２ａに超音波センサ２１，２２を配置することにより、シール溶接部Ｗ１１に発生した欠陥Ｄを、超音波検査することができる。 - 特許庁 - To maintain a favorable insulation property and to suppress the occurrence of defect at the edge part of a groove when forming the groove on a metallic film in the laminated substrate of a thin-film solar cell or the like.
薄膜太陽電池等の積層基板における金属膜に溝を形成する際に、良好な絶縁性を維持し、かつ溝の端部不良を抑える。 - 特許庁 - To provide a servo pattern inspecting device for magnetic tape, which is suitable for inspection of a defect of a magnetized pattern, recorded on a magnetic tape 1, which is thin and long along the length of the magnetic tape 1.
磁気テープ１に記録された磁化パターンのうち、磁気テープ１の長手方向の細長い欠陥を検査するのに適した磁気テープのサーボパターン検査装置を得る。 - 特許庁 - As a result, the occurrence of the defect of the resin layer in the resin coating stage is lessened and the time required for spreading of the resin is shortened.
これにより、樹脂広がり不良を無くし、樹脂膜厚の均一化、により複製製品の品質向上と、樹脂広がりに要する時間を無くし、生産性を向上させた。 - 特許庁 - To provide a pattern-inspecting device for reducing unneeded inspection time caused by the pattern defect of design-side data due to the inconveniences of a design data development circuit.
設計データ展開回路の不具合による設計側データのパターン欠陥に起因する無駄な検査時間を削減することが可能なパターン検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a dry high voltage resistor device capable of eliminating both chain disconnection incident to a structural defect and arc discharge following to chain disconnection, and to provide a chain disconnection preventing method.
構造的欠陥に伴う連鎖断線及び連鎖断線に連なるアーク放電も併せ解消する乾式高圧抵抗装置及び連鎖断線防止方位の提供。 - 特許庁 - A temperature-measuring device 19 measures the surface temperature of the specimen in a time series manner and outputs the measured data to a data-recording means 13 of a defect inspection controller 10.
温度計測器１９は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁 - To provide a disk drive which is insensitive to a positioning defect of a previously recorded servo field and has a magnetic recording disk with a servo pattern and a servo decoding system.
半径方向のトラック密度および円周方向の線密度が増加すれにつれて、サーボフィールドを円周方向に正確に位置合わせすることは困難になる。 - 特許庁 - The stored defect information is collated with the consumable information used in the analysis when obtaining the each measured result, or the consumable information set in the analyzer.
記憶した欠陥ロット情報と、各測定結果を得る際の分析に使用した消耗品情報、あるいは分析装置内に設置された消耗品情報とを照合する。 - 特許庁 - Furthermore, when automatic feeding is stopped by a conveyance defect such as a jam, the image reading unit 20 regards and determines a document to be read just after resuming conveyance as a damaged document.
さらに，画像読取部２０は，ジャム等の搬送不良によって自動搬送を停止させた際，搬送再開直後に読み取る原稿を破損原稿に見做し決定する。 - 特許庁 - When detecting the surface defect of an object 10 using a surface detect detector 1, an imaging part 2 obtains the image of the surface 10a of the object 10 at first.
表面欠陥検知装置１を用いて物体１０の表面欠陥を検知する場合、まず、撮像部２により、物体１０の表面１０ａの画像を取得する。 - 特許庁 - Since the structure of the interface smoothly changes, the defect level, such as the dangling bond, etc., of the interface can be reduced and the characteristics of the transistor can be improved.
界面の構造がなだらかに変化することにより、ダングリングボンド等の界面欠陥準位が低減され、トランジスタ特性を向上させることが可能となる。 - 特許庁 - To provide a device for integrating and manufacturing transistor(TR) segments to be highly effected by defect to a small processing area and spatially mounting the respective TRs onto a substrate.
不良の影響を強く受けるトランジスタ部分を、小さな処理面積上に集積して製造し、各トランジスタを離間して基板上に移載する装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a video signal processing apparatus capable of realizing excellent image quality for both still pictures and moving pictures in a simple configuration without causing a defect to a video image when an interlaced scanning signal is converted into a progressive signal.
飛び越し走査信号を順次走査信号に変換するとき、簡単な構成で映像の破綻をきたすことなく静止画・動画ともに良好な画質を得る。 - 特許庁 - To inhibit the generation of a defect of an image forming apparatus provided with an electrophotographic photoreceptor by preventing the occurrence of peeling in a photosensitive layer of the electrophotographic photoreceptor.
電子写真感光体において感光層の剥離が生じることを抑制し、電子写真感光体を備えた画像形成装置における画像欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁 - Then, in an inspected image inspection circuit 44, an inspected image showing the pattern of the other die is compared with the reference image, and a defect candidate included in the inspected image is detected.
続いて、被検査画像検査回路４４では、他のダイのパターンを示す被検査画像と基準画像とが比較され、被検査画像が有する欠陥候補が検出される。 - 特許庁 - To surely prevent the defect, such as crack, at the initial stage of casting with a simple method without using a complicate equipment.
複雑な設備を用いず、簡便な方法で鋳造初期段階での割れ等の欠陥を確実に予防できるアルミニウム合金ビレットの縦型連続鋳造方法を提案する。 - 特許庁 - To solve a problem that when a nozzle defect judging pattern is formed on a conveying belt, it is difficult to accurately read out it because the difference between the color of the conveying belt and the color of ink is small.
搬送ベルト上にノズル欠陥判定パターンを形成すると搬送ベルトの色とインクの色の差が小さいため正確に読取ることが困難である。 - 特許庁
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