「Defect」を含む例文一覧(18306)

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  • It also has the defect that because it was not revised after the Ansei era, it cannot identify the heads during the period from the last revision to the Meiji Restoration, when the status of Jige was discontinued.
    また、安政以降改定がなされなかったため、最後の改訂から明治維新で地下という身分が消滅した時点までの当主が判らないという欠点もある。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • After that time, defect in the regency that neither Sekkan-ke nor emperors could take the political initiative for social changes was exposed, leading to a lack of function.
    社会の変動に対応する政治的イニシアチブを摂関家と天皇のいずれもがとりえないという摂関政治の欠陥が露呈し、機能不全に陥っていった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To provide a manufacturing method of an electronic component capable of obtaining high inter-layer connection reliability without fine voids to be the cause of the connection defect of an inter-layer joining part and cracks.
    層間接合部の接続不良やクラックの原因となる微小ボイドの発生がなく高い層間接続信頼性が得られる電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The presence of the defect is thereby determined directly based on the evaluation value, and the same type of product is inspected quickly without executing the precision inspection.
    これにより、評価値から欠陥の有無を直接判定することができ、精密検査を行うことなく、素早く次の同じ型の製造物を検査することができる。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a thin-film transistor, for completely compensating defect level in a channel region and thus obtaining uniform characteristics between elements.
    チャネル領域における欠陥準位を完全に補完することができ、これによって素子間で均一な特性が得られる薄膜トランジスタの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for discriminating the presence or absence of defect in welding part which is convenient, allows quick and exact inspection and can be easily operated and a jig for discriminating welding part used therein.
    簡便で、しかも早く、正確に検査することができる操作容易な溶接部の欠陥の有無を判定する方法とそれに使用する溶接部判定治具を得ること。 - 特許庁
  • To reduce an image defect caused by a mutual parastic capacitance among a plurality of thin film transistors in a sampling circuit in a driving circuit of an electrooptical device such as a liquid crystal device.
    液晶装置等の電気光学装置の駆動回路において、サンプリング回路内の薄膜トランジスタ相互間の寄生容量に基づく画像不良を低減する。 - 特許庁
  • To provide an optical disk device which is superior in durability against external disturbance such as defect of a disk, noise of a transmission system, or the like, and which can generate a stable segment period PLL clock.
    ディスクのディフェクトや伝達系の雑音等の外乱に対する耐性に優れ、安定したセグメント周期ＰＬＬクロックを生成できる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁
  • To shorten a time required for determining the optimum device condition, concerning an inspection device for inspecting a defect on an inspection object such as a wafer.
    本発明は、ウエハ等の被検物体の欠陥検査を行う検査装置に関し、最適な装置条件の決定に掛かる時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁
  • When a carrier part of the wobble formed in the optical disk is measured, a fine defect of the wobble is checked by using ≥300 Hz VBW (Video Bandwidth).
    光ディスクに形成されたウォブルのキャリア部を測定する際に、ＶＢＷを３００Ｈｚ以上にすることにより、ウォブルの微細な欠陥を調べるようにする。 - 特許庁
  • To provide a method for evaluating a crystal defect of a silicon wafer, by which only an etch pit of an OSF (Oxidation-induced Stacking Fault) is detected by selective etching and an OSF can be accurately determined.
    選択エッチングによりＯＳＦのエッチピットのみを検出し、ＯＳＦを正確に判別することができるシリコンウェーハの結晶欠陥評価方法を提供する。 - 特許庁
  • To measure a light quantity excellent in an S/N ratio, without being affected by a defect in a picture element of a solid imaging element and refuse, dust or the like deposited on the solid imaging element.
    固体撮像素子の画素の欠陥や固体撮像素子に付着するゴミや塵などの影響を受けることなく、Ｓ／Ｎの良好な光量を測定する。 - 特許庁
  • To provide a display device which is improved in electrical characteristics by suppressing the occurrence of a defect, such as a short, and lowering overall specific resistance.
    短絡のような不良の発生を抑制すると共に、全体的な比抵抗を低くすることによって電気的特性を向上させた表示装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide powder for continuously casting steel which is hardly entrapped and has excellent lubrication and can obtain a product having high quality without generating any defect caused by the powder.
    難巻き込みで、かつ潤滑性に優れており、パウダー性欠陥の無い高品位の製品を得ることができる、鋼の連続鋳造用パウダーを提供すること。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing apparatus and a manufacturing method of a color filter by which occurrence of a defect resulting from dew condensation of a solvent can be prevented to raise yield.
    溶剤の結露に起因する欠陥の発生を防止して歩留まりを向上させることを可能とするカラーフィルタ製造装置及び製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The content of the crosslinked fluorocarbon resin particles is not so large, so that an image defect caused by aggregation of the particles in the photosensitive layer is suppressed.
    また、架橋フッ素樹脂粒子の含有量はさほど多くないから、感光層において粒子どうしが凝集してしまうことによる画像欠陥の発生も抑制できる。 - 特許庁
  • With only one movable optical element, a target position in which the overall image defect is minimized can be directly calculated (25) and adjusted (26) there from.
    可動光学部材が１つだけのときは、そこから直接的に、全体的結像収差が最低に抑えられる目標位置を算出し(25)、設定することができる(26)。 - 特許庁
  • To provide a product having no gas defect, to reduce a maintenance cost by simply performing a vacuum seal, to reduce variation of quality and to improve the productivity.
    ガス欠陥のない製品を提供し、真空シールを簡易に施すことが可能とし、このためメンテナンスコストを低減でき、また品質のバラツキの低減と生産性の向上を図る。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of a thin film transistor which can reduce defect of a gate wiring and a gate electrode and improve yield without increasing the number of masks by another process.
    別工程によりマスク枚数を増やすことなく、ゲート配線やゲート電極の欠陥を少なくでき、歩留まりを向上できる薄膜トランジスタの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optical disk device which can suppress occurrence of data errors by suppressing DC fluctuations of a reproducing RF signal caused by a slight defect such as a fingerprint or a scratch.
    指紋や傷などによる浅いディフェクトによる再生ＲＦ信号のＤＣ変動を抑制してデータエラーの発生を抑えることのできる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory with which single bit defect can be relieved efficiently without increasing chip area and power consumption.
    本発明は、チップ面積及び消費電力を増大させること無く単ビット不良を効率的に救済する半導体記憶装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • This opening part 25c enables the slider 25 to function as a gauge which detect not only a defect of a lance 2b of the connector, but also the deformation of the male terminal T.
    この開口部２５ｃにより、スライダ２５は、コネクタ１のランス２ｂの不具合を検出するばかりでなく、雄端子Ｔの変形を検出するゲージとしても機能する。 - 特許庁
  • To provide an evaluation method of a semiconductor device capable of accurately monitoring the variations in a local region and efficiently executing the cause analysis of product defect occurrence.
    局所領域のばらつきを精度良く監視でき、製品不良発生の原因解析を効率的に実施することができる半導体装置の評価方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a pattern forming method, capable of suppressing development defects by using a defect removing agent in formation of a fine resist pattern by liquid immersion exposure or the like.
    液浸露光法等により微細なレジストパターンを形成する際に、欠陥除去剤を用いることによって、現像欠陥を抑制できるパターン形成方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing an optical fiber coupler which can reduce a return loss defect of an unnecessary port by efficiently performing termination processing of the unnecessary port.
    不要ポートの終端加工を効率的に行うことによって、不要ポートの反射減衰量不良を低減することができる光ファイバカプラの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • A piercing discrimination means 11, which generates an action defect signal when a voltage level of the induction voltage induced to the coil does not reach a prescribed level, is additionally provided.
    このコイルに誘起された誘起電圧の電圧レベルが所定レベルに到達しない場合に動作不良信号を発生する穴あけ判断手段１１を付属させる。 - 特許庁
  • To provide an optical disk drive and optical disk recording method rewriting the key information on the optical disk by the defect management information without lowering the security level.
    セキュリティを低下させることなく、光ディスク上の鍵情報を欠陥管理情報により書替えていく光ディスク装置及び光ディスク記録方法を提供する。 - 特許庁
  • To improve the yield of a liquid crystal display device by reducing the contact defect of a light shielding layer for channel protection of a pixel TFT and a constat voltage wiring.
    液晶表示装置において、画素ＴＦＴのチャネル保護用遮光層と定電圧配線とのコンタクト不良を低減させ、歩留まりを向上させることを課題とする。 - 特許庁
  • Since the change print region have the high possibility that the contents desired to be actually transmitted are described, detailed inspection is severely performed to check for a defect in a printed image.
    変更印刷領域は、実際に伝達したい内容が記載されている可能性が高く、検査を厳しく行い、印刷画像に欠陥がないか細かく調べる。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and a method for easily regenerating tissues without spending much time for restoring a tissue defect in a patient by a composite implant.
    組合せ移植片が患者の組織の欠陥を修復するための、時間を費やさず実施が容易な組織再生のための新規な装置および方法の提供。 - 特許庁
  • A method for measuring the fluorescence comprises the step of measuring a defective fluorescence present from a defect level of a surface site mainly having an energy level existing in a forbidden band of the energy level in the semiconductor nanoparticles.
    半導体ナノ粒子内部のエネルギーレベルの禁制帯内に存在するエネルギーレベルを持つ主に表面サイトの欠陥準位から現れる欠陥蛍光を測定する。 - 特許庁
  • To provide a switching structure capable of preventing the charging defect by not feeding electric current to a load circuit but feeding the charging current to a battery.
    充電時に負荷回路側に電流が流れず、蓄電池側に充電電流が流れるようになって、充電不良をなくすことができるスイッチ構造を提供する。 - 特許庁
  • To provide a soldering method and soldering device for preventing soldering defect and soldering a flexible circuit board and an electric part stably and property.
    はんだ付け不良を防止し、フレキシブル回路基板と電気部品とのはんだ付けを安定的かつ適正に行なうはんだ付け方法およびはんだ付け装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an image that roughness in a highlighted part is prevented, sufficient image density is obtained and any defect is not caused by abnormal discharge by applying appropriate developing bias.
    適切な現像バイアスの印加により、ハイライト部のがさつきを防止し、画像濃度が十分に得られ、かつ異常放電による不良のない画像を得ることである。 - 特許庁
  • To provide a transparent polyester film which has no frosting defect on the film surface and is hardly wounded and has good sliding properties while high transparency is ensured.
    フィルム表面に霜降り欠陥がなく、さらに傷付きにくく、しかも高い透明性を確保しながら良好な滑り性を有する透明積層ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁
  • Information (servo sector address and cylinder address) specifying a servo sector on a disk 1 detected as a defect servo sector is registered in a management table 152 in an FROM (Flash ROM) 15.
    ディフェクトサーボセクタとして検出されたディスク１上のサーボセクタを特定する情報（サーボセクタアドレス及びシリンダアドレス）をＦＲＯＭ１５内の管理テーブル１５２に登録しておく。 - 特許庁
  • To reduce an image defect due to fluctuation of gate voltage between mutual thin film transistors in a sampling circuit in an electrooptical apparatus such as a liquid crystal display.
    液晶表示装置等の電気光学装置において、そのサンプリング回路内の薄膜トランジスタ相互間のゲート電圧のばらつきに基づく画像不良を低減する。 - 特許庁
  • When slit processing is performed, the collected thickness and defect data are allocated to slit-processed product in accordance with the positions of the slits to decide quality (S107).
    スリット加工が行なわれると、そのスリットの部位に応じて収集された厚みおよび欠点データがスリット後の製品に割付けられ、品質の判定が行なわれる（Ｓ１０７）。 - 特許庁
  • COMPOSITION CONTAINING GENETICALLY MODIFIED DONOR CELL AND USED FOR TREATING CELL HAVING DEFECT, DISEASE, OR INJURY IN CENTRAL NERVOUS SYSTEM, AND METHOD FOR PREPARING THE SAME
    遺伝子的に修飾されたドナー細胞を含み中枢神経系における欠陥、疾病又は損傷のある細胞を治療するための組成物及びその調製方法 - 特許庁
  • To surely detect only a recess-like defect existing on a surface of a substrate, without detecting a foreign matter deposited on the surface of the translucent substrate.
    光透過性の基板表面に付着している異物を検出することなく、基板の表面に存在する凹状の欠陥のみを確実に検出することができる。 - 特許庁
  • To provide an optical disk recording and playing-back device, in which the malfunction of the information recording is prevented by detecting the defect over the whole surface of the optical disk in a short time.
    短時間で光ディスク全面にわたりディフェクトを検出し、情報記録不具合を未然に防ぐことができる光ディスク記録再生装置を提供する。 - 特許庁
  • To economically provide a collar and a body belt, to each of which a name plate is attached, for a pet by replacing resin molding products with metallic wire products to solve the problem of defect caused by residual stress.
    樹脂成型品を金属線の成形品にして残留応力に起因する欠損問題を解決し、名札を付けたペットの首・胴輪を安価に提供できる。 - 特許庁
  • To surely prevent a defect of precision of a form at a corner due to a delay in follow-up of a plasma arc processing machine and a delay of cutting of a lower part of a cutting surface without generating a waste of material.
    材料の無駄を生じずに、加工機の追従遅れや切断面下部の切断遅れに起因するコーナ部での形状精度不良を確実に防止する。 - 特許庁
  • If the Office ascertains that the application for an invention does not comply with the requirements of Section 26 of the Law, it shall invite the applicant to remedy this defect within a set time limit.
    発明出願が法律第26条(1)の要件を満たさないと庁が認める場合は，庁は，出願人が一定期限内に当該瑕疵を補正するよう求める。 - 特許庁
  • Excluded application for an invention possesses the priority right of the original application if the applicant files them within three months after remedying the defect from the original application.
    拒絶された発明出願は，出願人が瑕疵を補正した上で最初の出願から3月以内に提出する場合は，最初の出願の優先権を有する。 - 特許庁
  • (1) If the Office ascertains that the application for an invention does not comply with the requirements of Section 26(1) of the Law, it shall invite the applicant to remedy this defect within a set time limit.
    (1) 発明出願が法律第26条(1)の要件を満たさないと庁が認める場合は，庁は，出願人が一定期限内に当該瑕疵を補正するよう求める。 - 特許庁
  • If the provisions contained in this paragraph have not been complied with in a timely manner, the Office shall give the applicant one opportunity to remedy that defect within a term to be stipulated by the Office.
    本項の規定が適時に遵守されなかっ た場合は，庁は，出願人に対して，庁が定める期間内にその不備を是正する機会を1度与えなければならない。 - 特許庁
  • To provide a developing device in which an image defect caused by the pinhole of the non-image part of a latent image carrier can be restrained and which has a developing roller which can be easily and inexpensively formed.
    潜像担持体の非画像部のピンホールによる画像欠陥を抑制でき、しかも簡単にかつ安価に形成できる現像ローラを有する現像装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an image forming device that transport property of a transfer belt and the intermediate transfer belt is stabilized, and the image defect such as the void is made preventable.
    転写ベルトや中間転写ベルトの搬送性を安定させるとともに、中抜け等の画像不良の発生を防止可能した画像形成装置を提供することである。 - 特許庁
  • To provide an image forming apparatus capable of eliminating probability of causing an image defect on a recording sheet and suppressing decrease in the productivity of image formation.
    記録紙における画像不良が生じるおそれをなくし、かつ画像形成の生産性の低下を抑制することが可能な画像形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
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