「Defect」を含む例文一覧(18306)
＜前へ 1 2 .... 210 211 212 213 214 215 216 217 218 .... 366 367 次へ＞- To provide a technology capable of preventing occurrence of a consecutive pixel defect although the capacity of a memory for storing addresses of defective pixels is selected smaller than the capacity equivalent to the number of all pixels of an solid-state imaging element.
欠陥画素のアドレス記憶用のメモリの容量を固体撮像素子の全画素数相当より少ないものとしながら、連続画素欠陥を防止できるようにする。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a liquid droplet discharge head which improves a yield by preventing a defect caused by etching and can manufacture an accurate head.
エッチングによって生じる不良を防止することで歩留まりを向上させ、かつ高精度なものを製造できる、液滴吐出ヘッドの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To properly detect various defects by securing sufficient defect detection sensitivity regarding an optical disk device, e.g. a phase change optical disk device.
本発明は、光ディスク装置に関し、例えば相変化型光ディスク装置に適用して、充分なディフェクト検出の感度を確保して、種々のディフェクトを適切に検出する。 - 特許庁 - To provide a highly luminous display panel wherein a reduction in aperture ratio is minimized while light leakage of the display panel is prevented and a flicker defect caused by a kickback voltage is not generated.
表示パネルの光漏れを防止しながらも、開口率減少を最少化して、キックバック電圧によるフリッカー不良が発生しない高輝度の表示パネルを提供する。 - 特許庁 - Thereafter, it is judged in which area the defect exists from the result of the numerical analysis and thus, this process is used as a means for automatically judge the suitability to this casting plan.
その後、数値解析の結果から欠陥の存在があらかじめ設定したどちらの領域にあるかを判定し、その方案の適正を自動判定させる手法。 - 特許庁 - To provide a rubbing sheet which is hard to scratch an oriented film and is formed by integrally laminating a fabric and an elastic body, by improving a defect of the prior art.
本発明では従来技術の欠点を改良し、配向膜に傷ができ難い、布帛と弾性体が積層一体化されてなるラビングシートを提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a method of a machining of ceramic material by which method a strain is given without causing a crack even when a defect exists inside.
内部に欠陥部分が存在していたような場合でも、割れを発生すること無く歪みを与えることのできるセラミック材料の加工方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a slow cooling box for steel material with which the development of internal defect caused by hydrogen can further effectively be prevented, and also, the waiting time to the slow cooling can be shortened and a slow cooling method therefor.
水素性内部欠陥を発生をより効果的に防止でき、しかも徐冷待ち時間を短縮できる鋼材の徐冷ボックスおよび徐冷方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a bent part manufacturing method to manufacture a bent part by bending in the plane parallel to its surface without generating a defect of crack, etc.
亀裂などの不具合を発生させずに板材をその表面に平行な面内で曲げて曲げ加工品を製造する曲げ加工品製造方法を提供する。 - 特許庁 - In addition, since the lattice defect present therein can be reduced by, for example, allowing Al present in the phosphor to form a solid-solution with SrIn2O4, the emission intensity is further enhanced.
しかも、蛍光体には含まれるAlがSrIn_2O_4 に固溶すること等によって、それに存在する格子欠陥が減じられることから、発光強度が一層高められる。 - 特許庁 - To provide a radiation sensitive resin composition as a chemically amplified resist that is excellent in depth of focus, LWR (Line Width Roughness), and MEEF (Mask Error Enhancement Factor), and excellent also in preventing the occurrence of a defect in development.
焦点深度、ＬＷＲ、ＭＥＥＦに優れるとともに、現像欠陥にも優れた化学増幅型レジストである感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method of high accuracy by correcting a scattering attenuation amount in an inspection by an ultrasonic inspection method for a defect which is generated in the jointed part of a metal pipe.
金属管の接合部に生じる欠陥の超音波反射法による検査において、散乱減衰量の補正により精度の高い検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an image pickup device diagnostic system where a user using a device such as an image pickup device can recognize a defect of the device without the need for visiting a service center or the like so as to take a proper action.
ユーザが撮像装置等の機器を使用する際に、サービスセンター等に出向くことなく装置の不具合を認識し、適切な処置をとることを可能とする。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a biaxially oriented polyester film, the oxidative degradation of which is suppressed and which is extremely defect-free and excellent in surface quality, with a high productivity.
酸化分解が抑制され、極度に欠点がなく表面品質の優れた二軸配向ポリエステルフィルムを、高い生産性で製造するための方法を提供する。 - 特許庁 - The second protective layer overlie on the first protective layer after any defect generated during the formation of the first protective layer is removed by applying plasma to the first protective layer.
第１の保護層にプラズマを印加して第１の保護層の形成時に発生する欠陥を除去した後，第２の保護層が第１の保護層上に積層される。 - 特許庁 - After the linear combination representation (22) of the new overall image defect, the image defects of the movable element and of the stationary element are calculated (24) from the data thereby obtained.
新たな全体的結像収差の線形結合表現(22)に基づいて、可動部材および定置の部材の結像収差を、このようにして得られたデータから算出する(24)。 - 特許庁 - To provide a technology of obtaining an image with high image quality without lateral stripes or the like and being affected by variations in a dark output and pixels with a particularly greater dark output called a defect.
暗出力のばらつきや、キズと称される特別に暗出力の大きい画素の影響を受けず、横筋等のない高画質の画像を得ることを課題とする。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a laminated ceramic electronic component having a step of manufacturing the laminated ceramic electronic component in which a structural defect hardly occurs with high reliability.
構造欠陥が発生しにくく信頼性が高い積層セラミック電子部品を製造することができる、積層セラミック電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a film for heat-sensitive stencil process printing with such advantages that the film perforation sensitivity is high and void defect-free imaging properties are outstanding, and a base paper.
本発明は、フィルムの穿孔感度に優れ、かつ、白抜け欠点のない画像性に優れた感熱孔版印刷用フィルムおよび原紙を提供せんとするものである。 - 特許庁 - To allow imaging/inspection at a high speed, in an ultrasonic imaging system for emitting an ultrasonic wave toward an inspection object and for imaging a reflected echo to inspect a defect or the like.
超音波を検査対象に照射しその反射エコーを画像化して欠陥等を検査する超音波画像化装置において、より高速に画像化・検査すること。 - 特許庁 - To attain effective defect correction without substantially causing the deterioration of resolution by effectively utilizing the information on effective pixel thereby minimizing the deterioration of S/N.
有効画素の情報を無駄無く利用し、従ってＳＮの劣化を最小限にとどめつつ解像度の劣化を事実上生じない効果的な欠陥補正を可能にする。 - 特許庁 - In the hollow panel 10, a mass per unit area is made partially different, so that a sound insulation defect can be prevented from being caused by coincidence effects at a specific frequency.
この中空パネル１０は、面密度を部分的に異ならせることによって、特定周波数におけるコインシデンス効果による遮音欠損を防止するものである。 - 特許庁 - To provide a device for preparing cigar, affected with no conventional defect as a whole or partially and keeping operational function and economy.
全般的にあるいは部分的にでも従来の欠点の影響を受けずしかも運転の機能性及び経済性を維持する、葉巻を調整するための装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a new image forming apparatus capable of surely forming a high-quality image by surely preventing an image defect in a white spot state and the back surface staining of transfer material.
白ポチ状の画像欠陥や転写材の裏面汚れの発生が確実に防止され、画質の高い画像が確実に得られる新規な画像形成装置を提供すること。 - 特許庁 - To prevent both generation of a side lobe and generation of a resist defect even when using a halftone phase shift mask having a plurality of apertures in different dimensions.
異なる寸法を持つ複数の開口部が設けられたハーフトーン位相シフトマスクを用いる場合にも、サイドローブの発生及びレジスト欠陥の発生を同時に防止する。 - 特許庁 - An initial defect correction means 202 corrects digital image information by using initial defective pixel position information previously known at the time of shipment from a plant or the like.
初期欠陥補正手段２０２は、工場出荷時等で予め分かっている初期欠陥画素位置情報を用いて、ディジタル画像情報を補正（修正）する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing apparatus of a semiconductor device wherein the occurrence of an open defect resulting from separating an inner lead from a metallic projection electrode once bonded through a restoration force of a film base in an ILB process can be prevented.
ＩＬＢ工程において、フィルム基材の復元力によって、一旦接合されたインナーリードと金属突起電極が引き剥がれるオープン不良を防止する。 - 特許庁 - To manufacture an easy-to-manufacture escalator which has no defect of a prior art, is substantially improved in operating safety, and greatly improved in duration.
従来技術の欠点を有さない、本質的に動作の安全性を高め、耐用期間を著しく延ばし、かつ簡単に製造することのできるエスカレータを作り出す。 - 特許庁 - To provide a method for easily repairing a chip defect of a barrier rib.
この発明は、隔壁修理方法に関し、隔壁の欠け欠陥が生じた場合でも、その欠け欠陥を容易に修理することができる方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display where alignment defect generated due to the formation of a columnar spacer, when an alignment layer is subjected to rubbing treatment, is prevented, and display quality is enhanced.
柱状スペーサを形成したことで生じるラビング処理時の配向不良を防止し、さらに表示品位を向上させた液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - Namely, V(t) is obtained in each channel by the equation V(t)=Va(t)-V(b)*Ra/Rb, and the range where V(t) exceeds a prescribed threshold is extracted, to thereby extract a defect expectation region D.
すなわち、V(t)=Va(t)-V(b)*Ra/Rb により、各チャンネルごとにＶ（ｔ）を求め、これが所定の閾値を超える範囲を抽出することにより、欠陥候補領域Ｄを抽出する。 - 特許庁 - To suppress the occurrence of defect/failure in acquiring a clear display image by preventing reduction of an optical characteristic even if impact is applied to an end of an optical sheet.
光学シートの端部に衝撃が加わっても、光学特性の低下を防ぎ、鮮明な表示画像を得るうえでの欠陥不良の発生を抑制することができる。 - 特許庁 - Coordinates of a specific region on a mask are extracted, and only the specific region is subjected to a defect check process carried out by a checking device by the use of charged particles such as SEM or the like.
マスクの特定領域の座標を抽出し、その特定領域のみの欠陥検査を、ＳＥＭ等の荷電粒子を利用した検査装置を用いて行う。 - 特許庁 - In the case that components supplied to work stations are defective, the number of defective components is written in the component information storage part 6 through a defect information write part 7.
各作業ステーションで供給された部品が不良部品であった場合は、不良情報書込み部７を介して部品情報記憶部６に不良部品数を書き込む。 - 特許庁 - By this, defects existing in the outermost-part pattern 22 can be compared with the dummy pattern 24 existing at a place apart at the periodic pitch, thereby detecting accurate defect.
これにより、最外部パターン２２に存在する欠陥も、周期ピッチ離れた箇所に存在するダミーパターン２４と比較できるため、正確な欠陥の検出ができる。 - 特許庁 - The shape is corrected by filling a shape defective part 2 with optical material 3 when the defect of the surface shape of the lens 1 is based on the shape of a recessed part.
レンズ１の表面形状不良が凹部形状に基づく場合は形状不良部２に光学材料３を充填することにより形状修正を行う。 - 特許庁 - To eliminate defects of a solder ball and a connection defect without requiring mounting facility with high precision and also eliminate man-hours for visual inspection and later adjustment.
はんだボール及び接続不良による不具合をなくすと共に、高精度な実装設備を不要とし、かつ目視検査及び手直し作業にかかる労力を不要とする。 - 特許庁 - To provide a light shielding film for display device which is high in black density, has a high light shielding performance, suppresses occurrence of residue, unevenness, moire and an edge shape defect in development, and attains a clear image display of high contrast.
黒濃度が高く、高度の遮光性能を有し、現像残渣やムラ、モアレ、エッジ形状の不具合の発生を抑え、高コントラストで鮮明な画像表示を可能とする。 - 特許庁 - In addition to inspection of breaking of a data line and a digital data driver output, it can be decided whether a spot defect is caused by using the inspecting circuit provided on the opposite side of the data line.
データ線の反対側に設けられた検査回路を用いて、データ線の断線やデジタルドライバ出力の検査の他、点欠陥の有無も判定できるようになる。 - 特許庁 - To provide a method for working the edge part of a metal plate by which the formation of a defect on solder formed at a gap between a curl part and a core material can be prevented, and to provide a wind instrument.
カール部と芯材の隙間に形成された半田に欠陥が形成されるのを防ぐことができる金属板の縁部加工方法および管楽器を提供する。 - 特許庁 - A short circuit defect detecting wiring 91 for detecting the short circuit of the wiring 23a for repair is connected at the connection point of the first and second high resistance elements 19, 21.
第１及び第２の高抵抗素子１９、２１の接続点には、リペア用配線２３ａの短絡を検出する短絡欠陥検出用配線９１が接続されている - 特許庁 - To provide a means for measuring the finish dimension of a solid sample having a cylindrical structure or detecting a minute surface defect present on the inner surface of a tube.
筒状構造を有する固体試料の仕上がり寸法の計測や、管内面の表面に存在する微小な表面欠陥の検出などの手段を提供する。 - 特許庁 - To bend a precoated steel sheet with a film without generating a surface defect by suppressing the breakage of the film when applying a bending work to the steel sheet by using a surface protecting film.
表面保護フィルムを使用して鋼板に曲げ加工を施す際に、フィルム切れを抑制して表面欠陥を発生させることのなくフィルム付き鋼板を曲げ加工する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an SOI substrate with excellent electric characteristics wherein a defect density caused in an SOI layer is low, even after a device manufacturing process.
デバイス作製工程を経てもＳＯＩ層に発生する欠陥密度が低く、優れた電気特性を有するＳＯＩ基板の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - This method also includes a step of performing a test among the domains and implementing a second subset of the domain of the plurality of circuits provided with the dynamic defect detection test pattern.
本方法はまた、ドメイン間テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第２サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁 - From the correspondence of the position on the sample 1 and the irradiated position of the laser light 5, when the variation has appeared, the position of the disconnection defect 4 can be specifically detected.
このような変化が現れた試料１上の位置とレーザ光５の照射位置との対応から、断線欠陥４をその位置を特定して検出することができる。 - 特許庁 - In the present invention, a light-emission can be obtained in a visible light region from violet to red by utilizing the exciton recombination and the transition to defect levels of the crystals.
本発明においては、結晶の励起子再結合および欠陥準位への遷移を利用し、紫色から赤色までの可視光線領域に発光を得ることができる。 - 特許庁 - To provide an image forming apparatus which does not cause the hollow defect in letters even when using an amorphous silicon photoreceptor in the image forming apparatus of a tandem developing method.
タンデム現像方式の画像形成装置においてアモルファスシリコン感光体を用いた場合でも、文字中抜け現象が発生しない画像形成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a silicon carbide semiconductor device in which an active layer with a reduced defect density is formed on a substrate made of silicon carbide, and to provide a method of manufacturing the same.
炭化ケイ素からなる基板上に欠陥密度の低減された活性層が形成された炭化ケイ素半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To manufacture a vertical boat for heat treatment which can avoid generation of a surface defect called a slip in heat treatment steps of semiconductor substrate (silicon wafer) oxidization, CVD, annealing, etc.
半導体基板（シリコンウェーハ）の酸化、CVD、アニール等の熱処理工程のいてスリップと呼ばれる表面欠陥の発生のない縦型熱処理用ボートを作成する。 - 特許庁
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